NL1022155C2 - Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat. - Google Patents
Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat. Download PDFInfo
- Publication number
- NL1022155C2 NL1022155C2 NL1022155A NL1022155A NL1022155C2 NL 1022155 C2 NL1022155 C2 NL 1022155C2 NL 1022155 A NL1022155 A NL 1022155A NL 1022155 A NL1022155 A NL 1022155A NL 1022155 C2 NL1022155 C2 NL 1022155C2
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- plasma
- source
- treatment fluid
- plasma source
- fluid supply
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32366—Localised processing
- H01J37/32376—Scanning across large workpieces
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/04—Coating on selected surface areas, e.g. using masks
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/513—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using plasma jets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
Description
Titel: Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat.
De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat, waarbij het ten minste ene substraat in een proceskamer wordt geplaatst, waarbij de druk in de proceskamer relatief laag is, waarbij een plasma wordt opgewekt 5 door een op de proceskamer gemonteerde plasmabron, waarbij een deel van het plasma contact maakt met het substraatoppervlak.
Deze werkwijze is bekend uit het Europese octrooi EP-0-295-752. Aangezien de plasmabron op de proceskamer is gemonteerd wordt het plasma in hoofdzaak buiten de proceskamer gegenereerd. Ten gevolge van 10 de lage druk in de proceskamer kan een deel van het plasma vanuit de plasmabron naar de proceskamer expanderen via een doorgang tussen genoemde bron en kamer om contact te maken met het substraatoppervlak.
De bekende werkwijze kan voor verschillende doeleinden worden toegepast. Zo kan met deze werkwijze bijvoorbeeld een laag materiaal op het 15 substraatoppervlak van het ten minste ene substraat worden gedeponeerd, in het bijzonder door middel van Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition (PECVD). In dat geval wordt doorgaans een mengsel van behandelgassen in het plasma gevoerd om tot reactieve fragmenten uiteen te vallen. Deze fragmenten kunnen met elkaar en/of het substaatoppervlak 20 reageren ten behoeve van depositie van de laag. Verder kan de bekende werkwijze worden gebruikt om juist materiaal van het substraatoppervlak te verwijderen door middel van plasma-etsen, ook wel droog-etsen genoemd. In dat geval heeft de samenstelling van het plasma doorgaans een etsende werking op het substraatoppervlak. De relatief lage druk in de proceskamer 25 is doorgaans onderatmosferisch, bijvoorbeeld minder dan 5000 Pa, in het bijzonder minder dan 500 Pa.
1022155 I Voordeel van de bekende werkwijze is, dat het plasma door een op I de proceskamer gemonteerde plasmabron wordt opgewekt, hetgeen het I verrassende voordeel biedt dat daardoor een relatief hoge behandelsnelheid, zoals een hoge depositiesnelheid bij PECVD, kan worden verkregen. Dit is I 5 in tegenstelling tot een conventionele plasmareactor waarbij de plasmabron I zich juist in de proceskamer bevindt en het te behandelen substraat tussen I elektroden van de plasmabron wordt geplaatst, hetgeen tot een ongewenst lage behandelsnelheid leidt.
Nadeel van de werkwijze volgens de aanhef is, dat controle over de 10 uniformiteit van de behandeling te wensen over laat. Daardoor kunnen I delen van het substraatoppervlak bijvoorbeeld te veel of te weinig I behandeling ondergaan, zodat daarop in het geval van PECVD resp.
I plasma-etsen een ongewenst dikke of dunne laag materiaal wordt gedeponeerd resp. weggenomen ten opzichte van andere delen van het 15 substraatoppervlak.
I De uitvinding beoogt de genoemde nadelen van de in de aanhef H genoemde werkwijze op te heffen, in het bijzonder een werkwijze waarmee I de uniformiteit van de behandeling zeer goed kan worden beheerst.
I Hiertoe wordt de werkwijze volgens de uitvinding gekenmerkt, I 20 doordat althans één plasmabron en/of althans één eventueel voorziene behandelfluïdumtoevoerbron tijdens de behandeling wordt bewogen ten I opzichte van het substraatoppervlak.
I Op deze manier kan de behandeling en met name de uniformiteit I daarvan zeer nauwkeurig worden beheerst. Door de beweging kan de I 25 hoeveelheid plasma die een deel van het substraatoppervlak bereikt, naar I wens worden aangepast. Zo kan de ten minste ene plasmabron en/of I behandelfluïdumtoevoerbron zodanig worden bewogen, dat elk deel van het I substraatoppervlak in hoofdzaak dezelfde mate van behandeling ondergaat, I in het bijzonder doordat elk deel van dat oppervlak door dezelfde I 30 hoeveelheid plasma wordt bereikt. Op deze manier kan bijvoorbeeld een I >155 · 3 zeer goede uniformiteit van de behandeling worden verkregen, zodat een laag materiaal zeer uniform op het substraatoppervlak kan worden gedeponeerd door PECVD of daarvan worden geëtst door droogetsen met het plasma. Anderzijds kan het gewenst zijn om juist een niet-uniforme 5 behandeling te laten plaatsvinden, bijvoorbeeld wanneer een deel van het substraatoppervlak beduidend meer of minder materiaal dient te verkrijgen of verliezen. In dat geval kan dé plasmabron en/of de behandelfluïdumtoevoerbron zodanig ten opzichte van het oppervlak worden bewogen, dat ten minste een eerste deel van het substraatoppervlak in 10 hoofdzaak een grotere mate van behandeling ondergaat dan een tweede deel van dat oppervlak, in het bijzonder doordat het eerste oppervlakdeel door een grotere hoeveelheid plasma wordt bereikt dan het tweede oppervlakdeel.
De plasmabron en/of de behandelfluïdumtoevoerbron kan op 15 verscheidene manieren worden bewogen. Zo kan de plasmabron en of de behandelfluïdumtoevoerbron om ten minste één rotatieas geroteerd, welke as zich in hoofdzaak evenwijdig aan het substraatoppervlak uitstrekt. Verder kan de plasmabron en/of de behandelfluïdumtoevoerbron in een naar het substraatoppervlak toe of daarvan afgekeerde richting worden bewogen. 20 De plasmabron en/of de behandelfluïdumtoevoerbron kan bovendien in ten minste één zijwaartse richting wordt bewogen ten opzichte van het substraatoppervlak. Voorts kan de plasmabron en/of behandelfluïdumtoevoerbron worden geroteerd om een as die zich haaks uitstrekt ten opzichte van het substraatoppervlak. Een dergelijke beweging 25 ressorteert met name effect wanneer de bron geen rotatiesymmetrisch plasma genereert. Elke plasmabron kan een combinatie van deze bewegingen uitvoeren. Wanneer de werkwijze onder gebruikmaking van verscheidene plasmabronnen wordt uitgevoerd, kan een aantal of elk van deze bronnen bijvoorbeeld ten minste één van de genoemde manieren van 30 beweging uitvoeren.
1 022155 I In het geval een behandelfluïdum aan het plasma wordt I toegevoegd, in het bijzonder ten behoeve van PECVD, is het voordelig I wanneer de hoeveelheid aan het plasma toe te voegen behandelfluïdum is gerelateerd aan de beweging van de ten minste ene plasmabron.
I 5 Zo kan het effect van de beweging van de tenminste ene I plasmabron bijvoorbeeld worden versterkt of verzwakt door meer of minder behandelfluïdum aan het plasma toe te voegen vóór, gedurende en/of na die I beweging. Verder kan op deze manier de hoeveelheid behandelfluïdum I nauwkeurig worden afgestemd op bewegingen van de plasmabron om 10 behandeling van het substraatoppervlak zeer precies onder controle te houden. Het is bijvoorbeeld mogelijk dat plasma vanuit de plasmabron een I kleinere afstand naar het substraatoppervlak hoeft af te leggen wanneer de bron zich in een eerste stand bevindt ten opzichte van de afstand wanneer de bron zich na een bepaalde beweging in een tweede stand bevindt.
I 15 Daardoor is het mogelijk dat minder plasma het substraatoppervlak bereikt bij de bron in de tweede stand, hetgeen tot verlies van effectiviteit van een I in het plasma opgenomen behandelfluïdum kan leiden. In dat geval kan meer behandelfluïdum aan het plasma worden toegevoegd bij de bron in de tweede stand ter compensatie van het genoemde verlies aan effectiviteit.
20 Volgens een nadere uitwerking van de uitvinding is de ten minste ene plasmabron een cascadebron, waarbij een behandelfluïdum in een voorkamer van de cascadebron, nabij een zich in die voorkamer bevindende cascadebron-kathode, wordt toegevoerd.
I Op deze manier kan het behandelfluïdum met relatief eenvoudig en 25 goedkoop uit te voeren middelen in de voorkamer aan het plasma worden toegevoerd.
Volgens een voordelige uitwerking van de uitvinding is tussen de ten minste ene plasmabron en het substraatoppervlak ten minste één genoemde behandelfluïdumtoevoerbron opgesteld om het behandelfluïdum 30 aan het plasma toe te voegen. In het vakgebied wordt een dergelijk I : S ^ ' 5 behandelfluïdumtoevoerbron ook wel een doucheknop (e. showerhead) genoemd.
Met een douchekop kan het behandelfluïdum gemakkelijk en evenredig gedistribueerd aan het plasma worden toegevoegd. Bij voorkeur 5 wordt de ten minste ene douchekop tijdens de behandeling bewogen ten opzichte van het substraatoppervlak, waarbij de beweging van de douchekop gerelateerd is aan de beweging van de ten minste ene plasmabron zodat de genoemde voordelige effecten van de beweging van de plasmabron optimaal kunnen worden, althans niet door de aanwezigheid van de douchekop teniet 10 worden gedaan. De douchekop kan hiertoe bijvoorbeeld aan de plasmabron zijn gekoppeld.
De uitvinding heeft voorts betrekking op een inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat, waarbij de inrichting is voorzien van een proceskamer en een op die proceskamer 15 gemonteerde plasmabron.
Een dergelijke inrichting is eveneens bekend uit het Europese octrooi EP-0-295-752. Nadeel van deze inrichting is dat deze niet voldoende controle verschaft over de uniformiteit van een met de inrichting uit te voeren behandeling op het substraatoppervlak.
20 Volgens de onderhavige uitvinding wordt het genoemde nadeel opgeheven doordat de ten minste ene plasmabron en/of althans één eventueel voorziene behandelfluïdumtoevoerbron beweegbaar is opgesteld.
Met de beweegbaar opgestelde plasmabron en/of behandelfluïdumtoevoerbron kunnen verschillende delen van het 25 substraatoppervlak door daardoor gegenereerd plasma worden bereikt ter behandeling van dat oppervlak, hetgeen een zeer hoge mate van controle over de uit te voeren behandeling schept.
De uitvinding verschaft verder een substraat voorzien van een oppervlak met ten minste één daarop door middel van PECVD 30 gedeponeerde laag materiaal, gekenmerkt doordat de laag is gedeponeerd 1 Π 2 215 5 H met een werkwijze volgens één van de conclusies 1-12 en/of onder I gebruikmaking van een inrichting volgens één van de conclusies 13-25.
I De laag van dit substraat is op een met het oog op een bepaalde I gewenste uniformiteit zeer goed gecontroleerde wijze op het I 5 substraatoppervlak gedeponeerd. Derhalve zijn de eigenschappen van deze I laag uniek ten opzichte van lagen van substraten die volgens conventionele I PECVD technieken zijn gedeponeerd. De laag kan bijvoorbeeld zeer uniforme dikte hebben of juist een dikte die op een bepaalde manier varieert.
10 De uitvinding zal nader worden toegelicht aan de hand van een uitvoeringsvoorbeeld en de tekening. Daarin toont: I fig. 1 een bovenaanzicht van een uitvoeringsvoorbeeld; I fig. 2 een doorsnede-aanzicht over lijn II-II van het in fig. 1 weergegeven bovenaanzicht; en 15 fig. 3 detail Q van het in fig. 2 weergegeven doorsnede-aanzicht.
De figuren 1-3 tonen een inrichting voor het behandelen van een oppervlak van een substraat S. De inrichting is voorzien van een proceskamer 1 en een daarbij opgestelde substraathouder 2 waarop het te behandelen substraat S is geplaatst. Op de proceskamer 1 en tegenover het I 20 te behandelen substraatoppervlak is een plasmabron 3 gemonteerd.
I Zoals fig. 3 toont is de plasmabron een cascadebron 3. De bron 3 is voorzien van een kathode 4 die zich in een voorkamer 6 bevindt en een I anode 5 die zich aan een naar de proceskamer 1 toegekeerde zijde van de I bron 3 bevindt. De voorkamer 6 mondt via een relatief nauw kanaal 7 uit in I 25 de proceskamer 1. Het kanaal 7 wordt begrensd door onderling elektrisch I van elkaar geïsoleerde cascadeplaten 8 en de genoemde anode 5. Tijdens I gebruik wordt de proceskamer 1 op een relatief lage druk gehouden, in het I bijzonder lager dan 5000 Pa, en bij voorkeur lager dan 500 Pa. Tussen de kathode 4 en anode 5 wordt een plasma gegenereerd, bijvoorbeeld door I 30 ontsteking van een zich daartussen bevindend edelgas of anderszins ή’ „il > I.- 7 daarvoor geschikt fluïdum. Wanneer het plasma in de bron 3 is gegenereerd is de druk P2 in de voorkamer 6 hoger dan de druk in de proceskamer 1. Eerstgenoemde druk P2 kan bijvoorbeeld in hoofdzaak atmosferisch zijn en liggen in het bereik van 0,5-1,5 bar. Doordat de druk in de proceskamer 1 5 aanzienlijk lager is dan de druk in de voorkamer 6 expandeert een deel 20 van het gegenereerd plasma zodanig, dat het zich via het relatief nauwe kanaal 7 tot in de proceskamer 1 uitstrekt om contact te maken met het substraatoppervlak.
De plasmabron 3 is beweegbaar opgesteld ten opzichte van het 10 substraatoppervlak. Hiertoe is de plasmabron 3 is op een bovenste huisdeel 16 van de inrichting gemonteerd. Het bovenste huisdeel 16 is aan een onderste huisdeel 17 gekoppeld door middel van een flexibele, in hoofdzaak gasdichte afdichting. In het onderhavige uitvoeringsvoorbeeld is de afdichting uitgevoerd als een cilindrisch verend lichaam 11. Het verend 15 lichaam 11 is bovendien ingericht om een zodanige veerkracht op de ten minste ene plasmabron 3 uit te oefenen, althans via het bovenste huisdeel 16, dat de plasmabron 3 onder invloed van die veerkracht telkens naar de in de figuren getoonde uitgangspositie kan bewegen wanneer de plasmabron 3 naar een andere positie is gebracht. In het onderhavige 20 uitvoeringsvoorbeeld wordt het verende lichaam 11 gevormd door een dunwandige RVS-balg.
Ten behoeve van het bewegen van de plasmabron 3 is het bovenste huisdeel 16 om twee verschillende assen 14, 15 roteerbaar aan het onderste huisdeel 17 gekoppeld. Hiertoe is het bovenste huisdeel 16 roteerbaar om 25 een rotatieas 15 verbonden aan een draagring 19, terwijl deze draagring 19 roteerbaar om een rotatieas 14 verbonden is aan steunen 18 die op het onderste huisdeel 17 zijn bevestigd. De inrichting is voorzien van een eerste motor 12 en een tweede motor 13 om het bovenste huisdeel 16 met de bron 3 naar een gewenste positie te bewegen. Aangezien de twee rotatieassen 14 en 1022155 8 15 zich haaks op elkaar uitstrekken kan de plasmabron 3 naar zeer veel verschillende standen worden bewogen.
Zoals figuren 2 en 3 tonen is de proceskamer 1 voorzien van een douchekop 9. De douchekop is ingericht om het behandelfluïdum aan het 5 zich via het relatief nauwe cascadebronkanaal 7 tot in de proceskamer 1 uitstrekkende plasma 20 toe te voegen, in het bijzonder voor het uitvoeren van PECVD. De douchekop 9 is voorzien van tenminste één plasmadoorgangen 21 waardoorheen het plasma 20 zich kan uitstekken. De doucheknop kan bijvoorbeeld een ringvormige leiding omvatten die is 10 voorzien van een aantal uitstroomopeningen 22 waardoorheen het behandelfluïdum in het plasma 20 kan worden gebracht. De douchekop 9 is aan de plasmabron 3 is gekoppeld, althans via het bovenste huisdeel 16, zodat de douchekop 9 bewegingen van de plasmakop 3 kan volgen.
Tijdens gebruik van deze inrichting kan de plasmabron 3 worden 15 bewogen om een zeer goede beheersing van een plasmabehandeling van het substraatoppervlak te verkrijgen. Dit is bijzonder voordelig aangezien daardoor bijvoorbeeld materiaal op het substraat S kan worden gedeponeerd met een zeer uniforme laagdikte. Het bovenste huisdeel met de bron 3 kan bijvoorbeeld zodanig worden bewogen dat delen van het substraatoppervlak 20 welke te weinig plasma ontvangen, bijvoorbeeld nabij de rand van het substraat, een extra hoeveelheid plasma ontvangen om toch voldoende behandeling te ondergaan. Anderzijds kan juist materiaal op zeer uniforme wijze van het substraatoppervlak worden drooggeëtst. Daarnaast kan door beweging van de bron 3 worden bereikt dat bepaalde delen van het 25 substraatoppervlak een aanzienlijk grotere mate van behandeling ondergaan dan andere delen. Zo kan bijvoorbeeld in hoofdzaak een helft van het substraatoppervlak worden behandeld door een rotatie van de bron om een van de twee weergegeven rotatieassen 14, 15 terwijl de andere helft van het oppervlak in hoofdzaak onbehandeld blijft.
»1 η n ; ,,s VV," 'w» 9
Het spreekt vanzelf dat de uitvinding niet beperkt is tot het beschreven uitvoeringsvoorbeeld. Diverse wijzigingen zijn mogelijk binnen het raam van de uitvinding.
Zo dient de bewoording dat de ten minste ene bron "op de 5 proceskamer is gemonteerd" ruim te worden uitgelegd en kan bijvoorbeeld de betekenis bevatten dat de bron bovenop, naast, nabij, onder de proceskamer of anderszins ten opzichte van de proceskamer is gemonteerd, doch ten minste zodanig dat althans een deel van een door die bron gegenereerd plasma een oppervlak van een in de proceskamer opgesteld 10 substraat S kan bereiken.
Verder kan de proceskamer zijn ingericht om één of meer dan één substraat in te plaatsen.
Een te behandelen substraat kan bijvoorbeeld een halfgeleiderwafer, een compact of DVD-disk zoals voor opslag van muziek, 15 video, computergegevens, een zonnecelsubstraat, een displaysubstraat of dergelijke omvatten. Het substraat kan schijfvormig, cirkelvormig, hoekig of anderszins zij uitgevoerd.
Het door PECVD te deponeren materiaal kan verscheidene materialen omvatten, waarvan een opsomming buiten de grenzen van deze 20 tekst liggen, maar een verwijzing naar de elementen van het periodiek systeem en mogelijke atomaire en/of moleculaire combinaties van die elementen geeft een aardige indruk van hetgeen te deponeren is.
De uitvinding is niet beperkt tot een beweegbare bron maar omvat tevens een vast opgestelde bron met een beweegbare behandelfluïdumtoevoerbron. 25 De uitvinding omvat ook een van meerdere beweegbare bronnen en/of beweegbare behandelfluïdumtoevoerbronnen voorziene werkwijze en inrichting.
/** ' K J ·%~ <4^, /; .. . -
Claims (25)
1. Werkwijze voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat, waarbij het ten minste ene substraat in een proceskamer wordt geplaatst, waarbij de druk in de proceskamer relatief laag is, waarbij een plasma wordt opgewekt door ten minste één op de proceskamer 5 gemonteerde plasmabron, met het kenmerk, dat de althans één plasmabron (3) en/of althans één eventueel voorziene behandelfluïdumtoevoerbron tijdens de behandeling wordt bewogen ten opzichte van het substraatoppervlak.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de 10 plasmabron (3) en/of de eventuele behandelfluïdumtoevoerbron om ten minste één rotatieas (14, 15) wordt geroteerd, welke as (14, 15) zich in hoofdzaak evenwijdig aan het substraatoppervlak uitstrekt.
3. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat de plasmabron (3) en/of de eventuele behandelfluïdumtoevoerbron in een naar 15 het substraatoppervlak toe of daarvan afgekeerde richting wordt bewogen.
4. Werkwijze volgens één van de voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de plasmabron (3) en/of de eventuele behandelfluïdumtoevoerbron in ten minste één zijwaartse richting wordt bewogen ten opzichte van het substraatoppervlak.
5. Werkwijze volgens één van de voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de plasmabron (3) en/of de eventuele behandelfluïdumtoevoerbron wordt geroteerd om een as die zich haaks uitstrekt ten opzichte van het substraatoppervlak.
6. Werkwijze volgens één van de voorgaande conclusies, met het 25 kenmerk, dat een behandelfluïdum aan het plasma wordt toegevoegd, in het bijzonder ten behoeve van PECVD. 1027155
7. Werkwijze volgens conclusie 6, met het kenmerk, dat de hoeveelheid aan het plasma toe te voegen behandelfluïdum is gerelateerd aan de beweging van de ten minste ene plasmabron (3).
8. Werkwijze volgens conclusie 6 of 7, met het kenmerk, dat de 5 plasmabron een cascadebron (3) is, waarbij een behandelfluïdum in een voorkamer (6) van de cascadebron (3), nabij een zich in die voorkamer (6) bevindende cascadebron-kathode (4), wordt toegevoerd.
9. Werkwijze volgens ten minste conclusie 6 of 7, met het kenmerk, dat tussen de ten minste ene plasmabron (3) en het substraatoppervlak ten 10 minste één behandelfluïdumtoevoerbron (9) is opgesteld om het behandelfluïdum aan het plasma toe te voegen.
10. Werkwijze volgens conclusie 9, met het kenmerk, dat de ten minste ene behandelfluïdumtoevoerbron (9) tijdens de behandeling wordt bewogen ten opzichte van het substraatoppervlak, waarbij de beweging van de 15 behandelfluïdumtoevoerbron (9) gerelateerd is aan de beweging van de ten minste ene plasmabron (3).
11. Werkwijze volgens één van de voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de ten minste ene plasmabron (3) zodanig wordt bewogen, dat elk deel van het substraatoppervlak in hoofdzaak dezelfde mate van 20 behandeling ondergaat, in het bijzonder doordat elk deel van dat oppervlak door dezelfde hoeveelheid plasma wordt bereikt.
12. Werkwijze volgens één van de conclusies 1-10, met het kenmerk, dat de ten minste ene plasmabron (3) zodanig wordt bewogen, dat ten minste een eerste deel van het substraatoppervlak in hoofdzaak een grotere 25 mate van behandeling ondergaat dan een tweede deel van dat oppervlak, in het bijzonder doordat het eerste oppervlakdeel door een grotere hoeveelheid plasma wordt bereikt dan het tweede oppervlakdeel.
13. Inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat, waarbij de inrichting is voorzien van een proceskamer en een 30 op die proceskamer gemonteerde plasmabron, met het kenmerk, dat de ten ' > * \ 1 ·-- ./. ; ;· minste ene plasmabron (3) en/of althans één eventueel voorziene behandelfluïdumtoevoerbron beweegbaar is opgesteld.
14. Inrichting volgens conclusie 13, met het kenmerk,dat de plasmabron een cascadebron (3) is, waarbij ten minste één kathode (4) van 5 de cascadebron (3) zich in een voorkamer (6) bevindt waarin tijdens gebruik een relatief hoge druk (P2) heerst ten opzichte van een in de proceskamer (1) heersende druk (PI), waarbij de voorkamer (6) via een relatief nauw kanaal (7) dat wordt begrensd door onderling elektrisch van elkaar geïsoleerde cascadeplaten (8), uitmondt in de proceskamer (1), zodanig dat 10 tijdens gebruik het plasma zich via het relatief nauwe kanaal (7) tot in de proceskamer (1) uitstrekt.
15. Inrichting volgens conclusie 13 of 14, met het kenmerk, dat de inrichting is voorzien van veermiddelen (11) die zijn ingericht om een zodanige veerkracht op de ten minste ene plasmabron (3) uit te oefenen, dat 15 de plasmabron (3) onder invloed van die veerkracht naar een uitgangspositie kan bewegen wanneer de plasmabron (3) zich niet in die uitgangspositie bevindt.
16. Inrichting volgens één van de conclusies 13-15, met het kenmerk, dat tussen de ten minste ene plasmabron (3) en de proceskamer (1) een 20 flexibele, in hoofdzaak gasdichte afdichting is aangebracht.
17. Inrichting volgens één van de conclusies 13-16, met het kenmerk, dat de inrichting is voorzien van een eerste huisdeel (16) en een tweede huisdeel (17), waarbij ten minste ene plasmabron op het eerste huisdeel (16) is aangebracht, waarbij het eerste huisdeel (16, 17) in hoofdzaak gasdicht en 25 beweegbaar aan het tweede huisdeel (17) is gekoppeld, in het bijzonder door een dunwandige RVS-balg (11).
18. Inrichting volgens één van de conclusies 13-17, met het kenmerk, dat de inrichting is voorzien van ten minste één motor (12, 13) ten behoeve van het bewegen van de ten minste ene plasmabron (3).
19. Inrichting volgens één van de conclusies 13-18, met het kenmerk, dat de ten minste ene plasmabron (3) roteerbaar om ten minste een eerste (14) rotatieas en een tweede rotatieas (15) is opgesteld, waarbij de eerste en tweede rotatieas (14 resp. 15) zich elk in hoofdzaak evenwijdig aan het 5 substraatoppervlak en in een verschillende richting uitstrekken.
20. Inrichting volgens één van de conclusies 13-19, met het kenmerk, dat de proceskamer (1) is voorzien van ten minste één behandelfluïdumtoevoerbron (9) om een behandelfluïdum aan het plasma toe te voegen, in het bijzonder ten behoeve van PECVD.
21. Inrichting volgens ten minste conclusie 14 en 20, met het kenmerk, dat de ten minste ene behandelfluïdumtoevoerbron (9) is ingericht om behandelfluïdum aan het zich via elk relatief nauwe cascadebronkanaal (7) tot in de proceskamer (1) uitstrekkende plasma toe te voegen.
22. Inrichting volgens conclusie 21, met het kenmerk, dat de ten 15 minste ene behandelfluïdumtoevoerbron (9) is voorzien van ten minste één plasmadoorgang waardoorheen het plasma zich tijdens gebruik uitstrekt.
23. Inrichting volgens één van de conclusies 20-22, met het kenmerk, dat de ten minste ene behandelfluïdumtoevoerbron (9) beweegbaar in de proceskamer (1) is op gesteld.
24. Inrichting volgens conclusie 23, met het kenmerk, dat de ten minste ene behandelfluïdumtoevoerbron (9) aan de ten minste ene plasmabron is gekoppeld, zodanig dat de beweging van de ten minste ene behandelfluïdumtoevoerbron (9) gerelateerd is aan de beweging van de ten minste ene plasmabron (3).
25. Substraat, voorzien van een oppervlak met ten minste één daarop door middel van PECVD gedeponeerde laag materiaal, met het kenmerk, dat de laag is gedeponeerd met een werkwijze volgens één van de conclusies 1-12 en/of onder gebruikmaking van een inrichting volgens één van de ! conclusies 13-24. • ί j 5 -· 30
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1022155A NL1022155C2 (nl) | 2002-12-12 | 2002-12-12 | Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat. |
AT03782978T ATE358192T1 (de) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Verfahren und vorrichtung zum behandeln eines substrats |
AU2003296050A AU2003296050A1 (en) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Method and apparatus for treating a substrate |
US10/538,652 US7645495B2 (en) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Method and apparatus for treating a substrate |
CNB2003801086599A CN100489155C (zh) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | 用于处理至少一个基底的表面的方法和设备 |
EP03782978A EP1604049B1 (en) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Method and apparatus for treating a substrate |
KR1020057010737A KR100895913B1 (ko) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | 적어도 하나의 기판에 표면을 처리하는 방법 및 장치 |
DE60312902T DE60312902T2 (de) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Verfahren und vorrichtung zum behandeln eines substrats |
PCT/NL2003/000886 WO2004053190A1 (en) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Method and apparatus for treating a substrate |
JP2004558567A JP4578979B2 (ja) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | 少なくとも1つの基板の表面を処理する方法および装置 |
ES03782978T ES2283848T3 (es) | 2002-12-12 | 2003-12-12 | Procedimiento y aparato para tratar un sustrato. |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1022155A NL1022155C2 (nl) | 2002-12-12 | 2002-12-12 | Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat. |
NL1022155 | 2002-12-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL1022155C2 true NL1022155C2 (nl) | 2004-06-22 |
Family
ID=32501543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL1022155A NL1022155C2 (nl) | 2002-12-12 | 2002-12-12 | Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat. |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7645495B2 (nl) |
EP (1) | EP1604049B1 (nl) |
JP (1) | JP4578979B2 (nl) |
KR (1) | KR100895913B1 (nl) |
CN (1) | CN100489155C (nl) |
AT (1) | ATE358192T1 (nl) |
AU (1) | AU2003296050A1 (nl) |
DE (1) | DE60312902T2 (nl) |
ES (1) | ES2283848T3 (nl) |
NL (1) | NL1022155C2 (nl) |
WO (1) | WO2004053190A1 (nl) |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005081592A1 (en) * | 2004-02-20 | 2005-09-01 | The University Of Sydney | An apparatus for plasma treatment |
US8420435B2 (en) | 2009-05-05 | 2013-04-16 | Solexel, Inc. | Ion implantation fabrication process for thin-film crystalline silicon solar cells |
US9508886B2 (en) | 2007-10-06 | 2016-11-29 | Solexel, Inc. | Method for making a crystalline silicon solar cell substrate utilizing flat top laser beam |
US8399331B2 (en) | 2007-10-06 | 2013-03-19 | Solexel | Laser processing for high-efficiency thin crystalline silicon solar cell fabrication |
NL1030896C2 (nl) * | 2006-01-11 | 2007-07-12 | Otb Group Bv | Werkwijze en inrichting voor het gecontroleerd deponeren van materiaal door middel van plasma op een driedimensionaal substraat. |
EP2383368A2 (en) * | 2006-04-14 | 2011-11-02 | Silica Tech, LLC | Plasma deposition apparatus and method for making solar cells |
US20080210290A1 (en) * | 2006-04-14 | 2008-09-04 | Dau Wu | Plasma inside vapor deposition apparatus and method for making multi-junction silicon thin film solar cell modules and panels |
WO2008007944A1 (en) * | 2006-07-12 | 2008-01-17 | Technische Universiteit Eindhoven | Method and device for treating a substrate by means of a plasma |
US20100304521A1 (en) * | 2006-10-09 | 2010-12-02 | Solexel, Inc. | Shadow Mask Methods For Manufacturing Three-Dimensional Thin-Film Solar Cells |
US7999174B2 (en) * | 2006-10-09 | 2011-08-16 | Solexel, Inc. | Solar module structures and assembly methods for three-dimensional thin-film solar cells |
US20080264477A1 (en) * | 2006-10-09 | 2008-10-30 | Soltaix, Inc. | Methods for manufacturing three-dimensional thin-film solar cells |
US8193076B2 (en) | 2006-10-09 | 2012-06-05 | Solexel, Inc. | Method for releasing a thin semiconductor substrate from a reusable template |
US8035028B2 (en) * | 2006-10-09 | 2011-10-11 | Solexel, Inc. | Pyramidal three-dimensional thin-film solar cells |
US8084684B2 (en) | 2006-10-09 | 2011-12-27 | Solexel, Inc. | Three-dimensional thin-film solar cells |
US8293558B2 (en) * | 2006-10-09 | 2012-10-23 | Solexel, Inc. | Method for releasing a thin-film substrate |
US8512581B2 (en) * | 2006-10-09 | 2013-08-20 | Solexel, Inc. | Methods for liquid transfer coating of three-dimensional substrates |
USH2207H1 (en) * | 2007-01-05 | 2007-12-04 | Bijker Martin D | Additional post-glass-removal processes for enhanced cell efficiency in the production of solar cells |
US8039052B2 (en) * | 2007-09-06 | 2011-10-18 | Intermolecular, Inc. | Multi-region processing system and heads |
US20100144080A1 (en) * | 2008-06-02 | 2010-06-10 | Solexel, Inc. | Method and apparatus to transfer coat uneven surface |
WO2010057060A2 (en) | 2008-11-13 | 2010-05-20 | Solexel, Inc. | Methods and systems for manufacturing thin-film solar cells |
US8288195B2 (en) * | 2008-11-13 | 2012-10-16 | Solexel, Inc. | Method for fabricating a three-dimensional thin-film semiconductor substrate from a template |
EP2371006A4 (en) * | 2008-11-26 | 2013-05-01 | Solexel Inc | TRUNCATED PYRAMID STRUCTURES FOR TRANSPARENT SOLAR CELLS |
US9076642B2 (en) | 2009-01-15 | 2015-07-07 | Solexel, Inc. | High-Throughput batch porous silicon manufacturing equipment design and processing methods |
US8906218B2 (en) | 2010-05-05 | 2014-12-09 | Solexel, Inc. | Apparatus and methods for uniformly forming porous semiconductor on a substrate |
US8926803B2 (en) * | 2009-01-15 | 2015-01-06 | Solexel, Inc. | Porous silicon electro-etching system and method |
MY162405A (en) * | 2009-02-06 | 2017-06-15 | Solexel Inc | Trench Formation Method For Releasing A Thin-Film Substrate From A Reusable Semiconductor Template |
US8828517B2 (en) | 2009-03-23 | 2014-09-09 | Solexel, Inc. | Structure and method for improving solar cell efficiency and mechanical strength |
EP2419306B1 (en) * | 2009-04-14 | 2016-03-30 | Solexel, Inc. | High efficiency epitaxial chemical vapor deposition (cvd) reactor |
US9099584B2 (en) * | 2009-04-24 | 2015-08-04 | Solexel, Inc. | Integrated three-dimensional and planar metallization structure for thin film solar cells |
US9318644B2 (en) | 2009-05-05 | 2016-04-19 | Solexel, Inc. | Ion implantation and annealing for thin film crystalline solar cells |
MY165969A (en) | 2009-05-05 | 2018-05-18 | Solexel Inc | High-productivity porous semiconductor manufacturing equipment |
US8445314B2 (en) * | 2009-05-22 | 2013-05-21 | Solexel, Inc. | Method of creating reusable template for detachable thin film substrate |
WO2010138976A1 (en) * | 2009-05-29 | 2010-12-02 | Solexel, Inc. | Three-dimensional thin-film semiconductor substrate with through-holes and methods of manufacturing |
NL2002980C2 (en) * | 2009-06-05 | 2010-12-07 | Otb Solar Bv | Method for passivating al least a part of a substrate surface. |
US9111729B2 (en) | 2009-12-03 | 2015-08-18 | Lam Research Corporation | Small plasma chamber systems and methods |
US20130233378A1 (en) | 2009-12-09 | 2013-09-12 | Solexel, Inc. | High-efficiency photovoltaic back-contact solar cell structures and manufacturing methods using semiconductor wafers |
WO2011100647A2 (en) | 2010-02-12 | 2011-08-18 | Solexel, Inc. | Double-sided reusable template for fabrication of semiconductor substrates for photovoltaic cell and microelectronics device manufacturing |
US9190289B2 (en) | 2010-02-26 | 2015-11-17 | Lam Research Corporation | System, method and apparatus for plasma etch having independent control of ion generation and dissociation of process gas |
WO2011156657A2 (en) | 2010-06-09 | 2011-12-15 | Solexel, Inc. | High productivity thin film deposition method and system |
MY158500A (en) | 2010-08-05 | 2016-10-14 | Solexel Inc | Backplane reinforcement and interconnects for solar cells |
US9155181B2 (en) | 2010-08-06 | 2015-10-06 | Lam Research Corporation | Distributed multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
US9449793B2 (en) | 2010-08-06 | 2016-09-20 | Lam Research Corporation | Systems, methods and apparatus for choked flow element extraction |
US8999104B2 (en) | 2010-08-06 | 2015-04-07 | Lam Research Corporation | Systems, methods and apparatus for separate plasma source control |
US9967965B2 (en) | 2010-08-06 | 2018-05-08 | Lam Research Corporation | Distributed, concentric multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
CN102534568B (zh) * | 2010-12-30 | 2014-12-17 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 等离子体增强化学气相沉积设备 |
US9748414B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-08-29 | Arthur R. Zingher | Self-activated front surface bias for a solar cell |
CN102796993B (zh) * | 2011-05-27 | 2014-05-28 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | Cvd设备和该cvd设备的控制方法 |
US9177762B2 (en) | 2011-11-16 | 2015-11-03 | Lam Research Corporation | System, method and apparatus of a wedge-shaped parallel plate plasma reactor for substrate processing |
US10283325B2 (en) | 2012-10-10 | 2019-05-07 | Lam Research Corporation | Distributed multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
US9783889B2 (en) * | 2012-03-26 | 2017-10-10 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for variable substrate temperature control |
US8735210B2 (en) * | 2012-06-28 | 2014-05-27 | International Business Machines Corporation | High efficiency solar cells fabricated by inexpensive PECVD |
US10413932B2 (en) * | 2012-12-21 | 2019-09-17 | Doosan Fuel Cell America, Inc. | Deposition cloud tower with an insert for adjusting the deposition area |
JP2015090916A (ja) * | 2013-11-06 | 2015-05-11 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3735727A (en) * | 1970-11-05 | 1973-05-29 | Siemens Ag | Device for the precipitation of layers of semiconductor material |
GB2165990A (en) * | 1984-10-22 | 1986-04-23 | Alsthom Sa | Electron-beam external butt welding of tubes |
EP0295752A1 (en) * | 1987-06-16 | 1988-12-21 | Shell Internationale Researchmaatschappij B.V. | Apparatus suitable for plasma surface treating and process for preparing membrane layers |
US5403399A (en) * | 1987-04-03 | 1995-04-04 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for vapor deposition of diamond |
US6490994B1 (en) * | 1999-06-22 | 2002-12-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Plasma processing apparatus |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6179774A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 容器内面のコ−テイング方法 |
JPS6428297A (en) * | 1987-04-03 | 1989-01-30 | Fujitsu Ltd | Vapor phase synthesis of diamond |
NL8701530A (nl) * | 1987-06-30 | 1989-01-16 | Stichting Fund Ond Material | Werkwijze voor het behandelen van oppervlakken van substraten met behulp van een plasma en reactor voor het uitvoeren van die werkwijze. |
JPH06330324A (ja) * | 1993-05-17 | 1994-11-29 | Fuji Electric Co Ltd | 乾式薄膜加工装置 |
US6051114A (en) * | 1997-06-23 | 2000-04-18 | Applied Materials, Inc. | Use of pulsed-DC wafer bias for filling vias/trenches with metal in HDP physical vapor deposition |
JP2000109979A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-18 | Tokujiro Okui | 直流アーク放電プラズマによる表面処理方法 |
US6068201A (en) * | 1998-11-05 | 2000-05-30 | Sulzer Metco (Us) Inc. | Apparatus for moving a thermal spray gun in a figure eight over a substrate |
US6344416B1 (en) * | 2000-03-10 | 2002-02-05 | International Business Machines Corporation | Deliberate semiconductor film variation to compensate for radial processing differences, determine optimal device characteristics, or produce small productions |
JP2002118027A (ja) * | 2000-10-10 | 2002-04-19 | Anelva Corp | 磁性膜形成装置および磁性膜形成方法 |
US6397776B1 (en) * | 2001-06-11 | 2002-06-04 | General Electric Company | Apparatus for large area chemical vapor deposition using multiple expanding thermal plasma generators |
AU2002323204A1 (en) * | 2001-08-16 | 2003-03-03 | Dow Global Technologies Inc. | Cascade arc plasma and abrasion resistant coatings made therefrom |
-
2002
- 2002-12-12 NL NL1022155A patent/NL1022155C2/nl not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-12-12 EP EP03782978A patent/EP1604049B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-12 JP JP2004558567A patent/JP4578979B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-12 CN CNB2003801086599A patent/CN100489155C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-12 AU AU2003296050A patent/AU2003296050A1/en not_active Abandoned
- 2003-12-12 US US10/538,652 patent/US7645495B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-12 KR KR1020057010737A patent/KR100895913B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-12-12 ES ES03782978T patent/ES2283848T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-12 WO PCT/NL2003/000886 patent/WO2004053190A1/en active IP Right Grant
- 2003-12-12 DE DE60312902T patent/DE60312902T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-12 AT AT03782978T patent/ATE358192T1/de not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3735727A (en) * | 1970-11-05 | 1973-05-29 | Siemens Ag | Device for the precipitation of layers of semiconductor material |
GB2165990A (en) * | 1984-10-22 | 1986-04-23 | Alsthom Sa | Electron-beam external butt welding of tubes |
US5403399A (en) * | 1987-04-03 | 1995-04-04 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for vapor deposition of diamond |
EP0295752A1 (en) * | 1987-06-16 | 1988-12-21 | Shell Internationale Researchmaatschappij B.V. | Apparatus suitable for plasma surface treating and process for preparing membrane layers |
US6490994B1 (en) * | 1999-06-22 | 2002-12-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Plasma processing apparatus |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
BUURON A J M ET AL: "FAST DEPOSITION OF AMORPHOUS HYDROGENATED CARBON AND SILICON LAYERS", APPLIED POLYMER SYMPOSIA, JOHN WILEY AND SONS,INC. NEW YORK, US, vol. 54, 1994, pages 115 - 121, XP000468649, ISSN: 0570-4898 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7645495B2 (en) | 2010-01-12 |
EP1604049B1 (en) | 2007-03-28 |
JP2006509907A (ja) | 2006-03-23 |
WO2004053190A1 (en) | 2004-06-24 |
DE60312902T2 (de) | 2007-12-06 |
JP4578979B2 (ja) | 2010-11-10 |
AU2003296050A1 (en) | 2004-06-30 |
US20060231031A1 (en) | 2006-10-19 |
KR20050100599A (ko) | 2005-10-19 |
EP1604049A1 (en) | 2005-12-14 |
CN1738923A (zh) | 2006-02-22 |
ES2283848T3 (es) | 2007-11-01 |
ATE358192T1 (de) | 2007-04-15 |
DE60312902D1 (de) | 2007-05-10 |
CN100489155C (zh) | 2009-05-20 |
KR100895913B1 (ko) | 2009-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL1022155C2 (nl) | Werkwijze, alsmede inrichting voor het behandelen van een oppervlak van ten minste één substraat. | |
US6206976B1 (en) | Deposition apparatus and related method with controllable edge exclusion | |
US5674574A (en) | Vapor delivery system for solid precursors and method regarding same | |
EP0474369B1 (en) | Diamond-like carbon coatings | |
CN106463342B (zh) | 用于衬底表面处理的方法及装置 | |
JP6953999B2 (ja) | 半導体装置の製造方法及び基板処理装置 | |
JPH09190986A (ja) | 窒化チタンバリア層の形成のための連続プロセス | |
KR20190022054A (ko) | 자장여과 아크 소스를 이용하여 도핑된 박막을 코팅하는 장치 및 방법 | |
JP2007502917A (ja) | 調整可能な光学的性質およびエッチング特性を有する材料を堆積させる方法と装置。 | |
WO1999028955A3 (en) | Chemical vapor deposition of titanium on a wafer comprising an in-situ precleaning step | |
US7744771B2 (en) | Method for removing protective film on article | |
US9869014B2 (en) | Formation of an alignment film for a liquid crystal on a substrate | |
JP6235974B2 (ja) | 基板処理方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び基板処理システム | |
WO2018155421A1 (ja) | 樹脂膜の形成方法および樹脂膜の成膜装置 | |
AU734117B2 (en) | Rotary apparatus for plasma immersion-assisted treament of substrates | |
GB2122224A (en) | Ion beam carbon layers | |
JP2018048393A (ja) | 導電性構成部品をコーティングするための方法および導電性構成部品用コーティング | |
JP4540144B2 (ja) | Cvd法及び真空処理装置 | |
CN109841510A (zh) | 蚀刻方法和蚀刻装置 | |
WO2005083143A2 (en) | Thin-film deposition methods and apparatuses | |
WO2018181642A1 (ja) | 窒化物及び酸化物の成膜方法並びに成膜装置 | |
JPH04362121A (ja) | 熱処理コーティング装置 | |
CN116065136A (zh) | 用于选择性去除衬底边缘处的材料的方法和系统 | |
JP2020113795A (ja) | エッチング方法およびエッチング装置 | |
CN112771200A (zh) | 成膜方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PD2B | A search report has been drawn up | ||
VD1 | Lapsed due to non-payment of the annual fee |
Effective date: 20090701 |