MX2014000832A - Biosensores codificados y metodos para su elaboracion y uso. - Google Patents

Biosensores codificados y metodos para su elaboracion y uso.

Info

Publication number
MX2014000832A
MX2014000832A MX2014000832A MX2014000832A MX2014000832A MX 2014000832 A MX2014000832 A MX 2014000832A MX 2014000832 A MX2014000832 A MX 2014000832A MX 2014000832 A MX2014000832 A MX 2014000832A MX 2014000832 A MX2014000832 A MX 2014000832A
Authority
MX
Mexico
Prior art keywords
resistive element
primary
test sensor
resistance
analyte test
Prior art date
Application number
MX2014000832A
Other languages
English (en)
Other versions
MX349766B (es
Inventor
Abner D Joseph
John T Austera
Terry A Beaty
Nathan E Manlove
Steven K Moore
James L Pauley Jr
Randall K Riggles
Original Assignee
Hoffmann La Roche
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoffmann La Roche filed Critical Hoffmann La Roche
Publication of MX2014000832A publication Critical patent/MX2014000832A/es
Publication of MX349766B publication Critical patent/MX349766B/es

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28Electrolytic cell components
    • G01N27/30Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • G01N27/327Biochemical electrodes, e.g. electrical or mechanical details for in vitro measurements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/483Physical analysis of biological material
    • G01N33/487Physical analysis of biological material of liquid biological material
    • G01N33/4875Details of handling test elements, e.g. dispensing or storage, not specific to a particular test method
    • G01N33/48771Coding of information, e.g. calibration data, lot number
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28Electrolytic cell components
    • G01N27/30Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • G01N27/327Biochemical electrodes, e.g. electrical or mechanical details for in vitro measurements
    • G01N27/3271Amperometric enzyme electrodes for analytes in body fluids, e.g. glucose in blood
    • G01N27/3272Test elements therefor, i.e. disposable laminated substrates with electrodes, reagent and channels

Abstract

Se describe una tira sensor de prueba de analito que tiene información codificada en la misma así como un método para formarla y conducir una prueba de analito utilizando la tira sensor de prueba. La información relacionada con un atributo de la tira o grupo/lote de tiras puede codificarse con base en los valores de resistencia pertenecientes a los aspectos eléctricos de la tira, tal como un elemento resistivo primario y un elemento resistivo secundario, el elemento resistivo secundario tiene uno de una pluralidad de estados definidos por un lugar de un conector cerrado para formar una trayectoria resistiva única para el elemento resistivo secundario que incluye una porción del elemento resistivo primario dependiendo de la ubicación del conector cerrado. Los estados pueden formarse en la tira por medio de un paso de procesamiento secundario en la fabricación de la tira en donde una pluralidad de conectores se separa dejando solamente un conector en estado cerrado.

Description

BIOSENSORES CODIFICADOS Y METODOS PARA SU ELABORACION Y USO DESCRIPCION DE LA INVENCION La presente invención se refiere en general a un sensor de prueba de analito para utilizarse en la medición de concentraciones de un analito en un fluido biológico y, más particularmente, a una tira de prueba de analito que tiene información codificada formada en la misma.
Los biosensores proporcionan un análisis de un fluido biológico, tal como sangre entera, orina o saliva. La medición de la concentración de sustancias en fluidos biológicos es una herramienta importante para el diagnóstico y tratamiento de muchas afecciones médicas. Por ejemplo, la medición de glucosa en fluidos corporales, tal como sangre, es crucial para el tratamiento efectivo de diabetes. La muestra del fluido biológico puede recolectarse directamente o puede ser un derivado de un fluido biológico. Típicamente, los biosensores tienen un dispositivo de medición no desechable o medidor que se utiliza para analizar la muestra del fluido biológico que se coloca en la tira de prueba.
Muchos sistemas de biosensor proporcionan información de la calibración al dispositivo de medición antes del análisis. El dispositivo de medición típicamente utiliza esta información para ajusfar el análisis del fluido biológico en respuesta a uno o más parámetros. La exactitud y Ref. 245481 precisión del análisis se mejora por el uso de la información de calibración. Si la información de calibración no se utiliza, el dispositivo de medición no puede completar el análisis o puede hacer un análisis erróneo de la concentración del analito en el fluido biológico.
Es práctica común en tales sistemas de medidor/tira de prueba asegurar la apropiada identificación de la tira de prueba con el fin de asegurar apropiados resultados de la prueba. Por ejemplo, un medidor individual puede ser capaz de analizar varios diferentes tipos de tiras de prueba, en donde cada tipo de tira de prueba se designa para probar la presencia o ausencia de un analito diferente en el fluido biológico. Con el fin de conducir apropiadamente la prueba, el medidor debe conocer el tipo de prueba que se va a realizar para la tira de prueba actualmente en uso.
También, las variaciones de lote-a-lote en las tiras de prueba normalmente requieren que se cargue la información de calibración en el medidor con el fin de asegurar exactos resultados de la prueba. Una práctica común para descargar tal información de calibración en el medidor es el uso de una memoria (memoria ROM) que se inserta en una ranura o receptáculo correspondiente del medidor. Debido a que estos datos de calibración solamente pueden ser precisos para un lote de producción particular de tiras de prueba, se solicita al usuario usualmente confirmar que el número de lote de la tira de prueba actualmente en uso coincida con el número de lote para el cual se programó la memoria ROM.
Muchas otras instancias en donde se desea tener la información relacionada con la tira de prueba son conocidas por el experto en la técnica. Los intentos de la técnica anterior para leer la información de código en la tira de prueba por medio del medido han sufrido de muchos problemas, incluyendo una cantidad severamente limitada de información que puede codificarse y el uso de relativamente grandes cantidades de área de superficie de la tira de prueba para la función de codificación de información.
De esta forma, son necesarios un sistema y método que permitirán codificar la información en un biosensor para leer la información por medio del medidor.
Un aspecto de la presente invención describe una tira sensor de prueba de analito que se utiliza para medir la presencia o concentración de un analito en una muestra de fluido. La tira sensor de prueba incluye un sustrato no conductor. Además, la tira sensor de prueba incluye un elemento resistivo exterior o primario formado en el sustrato no conductor que tiene un primer extremo y un segundo extremo. El elemento resistivo primario tiene una configuración predeterminada, que es una configuración en serpentina en una forma que tiene una pluralidad de extremos próximos y una pluralidad de extremos distales. Además, un elemento resistivo interior o secundario también se forma en el sustrato no conductor que tiene un conector conectado al elemento resistivo primario en un punto de conexión predeterminado en la configuración predeterminada por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción de la configuración predeterminada.
La trayectoria resistiva única a través de la configuración predeterminada tiene asociada en la misma una resistencia que cae dentro de uno de la pluralidad de intervalos de resistencias respectivos. La resistencia se determina con base en, o como una función de una ubicación del punto de conexión predeterminado en la configuración predeterminada. La trayectoria resistiva única está asociada con un atributo de la tira sensor de prueba de analito. Un atributo de la tira deberá entenderse ampliamente para referirse a cualquier información relacionada con la tira, tal como el tipo de tira, información de calibración, información de fabricación, información del país, etc. Esencialmente cualquier información perteneciente a la tira que pueda ser deseable para transportar a un medidor que se utiliza con la tira.
Con el fin de proporcionar una oportunidad para definir la trayectoria resistiva única de entre más de una posible trayectoria resistiva única cada resistencia asociada correlacionada con un atributo diferente, el elemento resistivo secundario incluye una pluralidad de conectores . El conector respectivo que se conecta con la configuración predeterminada en el punto de conexión predeterminado se forma o mantiene en un estado cerrado y todos los otros conectores de la pluralidad de conectores están abiertos o se forman en un estado abierto.
El primer extremo del elemento resistivo primario se conecta con una primera almohadilla de contacto y el segundo extremo se conecta con una segunda almohadilla de contacto. El elemento resistivo secundario tiene un tercer extremo conectado con una tercera almohadilla de contacto. La trayectoria resistiva única corre desde la tercera almohadilla de contacto a través del elemento resistivo secundario y después dentro del elemento resistivo primario en el punto de conexión predeterminado y después a través de al menos una porción del elemento resistivo primario hacia una de la primera y segunda almohadillas de contacto.
Otro aspecto de la presente invención describe una tira sensor de prueba de analito que se utiliza para medir la concentración de un analito en una muestra de fluido. La tira sensor de prueba incluye un sustrato no conductor. Un elemento resistivo primario se forma en el sustrato no conductor con una configuración predeterminada con un primer extremo conectado con una primera almohadilla de contacto y un segundo extremo conectado con una segunda almohadilla de contacto. Un elemento resistivo secundario también se forma en el sustrato no conductor con una pluralidad de conectores. Un conector de la pluralidad de conectores se conecta con el elemento resistivo primario en un lugar predeterminado por lo tanto siendo formado y/o mantenido en un estado cerrado y definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción de la red resistiva primaria. Los demás conectores de la pluralidad de conectores están abiertos o se forman en un estado abierto por lo tanto estando desconectados de la red resistiva primaria. Una porción del elemento resistivo secundario está conectada con una almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario.
En una forma, los contactos que están en el estado abierto se eliminan con un láser. La trayectoria resistiva única está asociada con un atributo de la tira sensor de prueba de analito. En una forma, el atributo está asociado con una o más variables de algoritmo, tal como un gradiente y/o intersección para un algoritmo de correlación lineal, asociado con la tira sensor de prueba. En aún otra forma, la tira sensor de prueba de analito incluye un código óptico formado en el sustrato no conductor. El código óptico puede contener información relacionada con la tira sensor de prueba tal como una fecha de vencimiento del producto, identificación del producto (países o regiones) , intersección de sangre y soluciones de control, identificación del lote de tiras, y otras características. Además, la tira sensor de prueba también puede incluir un primer ciclo de resistencia formado en el sustrato no conductor que comprende un primer electrodo sentido de medición en una relación separada de un primer electrodo de medición. En una forma, el primer electrodo de medición se conecta con el segundo extremo del elemento resistivo primario.
Otro aspecto de la presente invención describe un método para formar una tira de prueba biosensor que se utiliza para medir la concentración de un analito. En este aspecto, un elemento resistivo primario se forma en un sustrato no conductor que tiene una configuración predeterminada incluyendo un primer extremo y un segundo extremo. Además, un elemento resistivo secundario se forma en el sustrato no conductor con al menos un conector conectado a un lugar de conexión predeterminado en el elemento resistivo primario por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción del elemento resistivo primario que tiene asociado al mismo una resistencia que cae dentro de uno de la pluralidad de intervalos de resistencias respectivos .
El elemento resistivo secundario se forma para incluir una pluralidad de conectores . Todos de la pluralidad de conectores excepto el conector conectado a un lugar predeterminado en el elemento resistivo primario se separan por lo tanto desconectando los conectores separados del elemento resistivo primario. El elemento resistivo primario incluye una pluralidad de lugares de conexión predeterminados . Un lugar de conexión a ser conectado con el conector se selecciona como una función de un atributo asociado con la tira de prueba biosensor. La trayectoria resistiva única a través de los elementos resistivos primario y secundario está asociada con un atributo de la tira de prueba biosensor. Además, cada intervalo de resistencias contenido en la pluralidad de intervalos de resistencias está asociado con un atributo único de la tira de prueba biosensor .
Aún otro aspecto de la presente invención describe una tira sensor de prueba de analito que se utiliza para medir la concentración de un analito. La tira sensor de prueba incluye un sustrato no conductor. Además, la tira sensor de prueba incluye medios para conducir un análisis cuantitativo o cualitativo del analito en una muestra de fluido. Se proporciona un circuito de información en el sustrato no conductor. El circuito de información incluye una trayectoria primaria conductora entre un primer extremo y un segundo extremo con una configuración predeterminada entre el primero y segundo extremos. La trayectoria primaria conductora tiene una resistencia que cae dentro de un primer intervalo predeterminado. El circuito de información también incluye una trayectoria conductora secundaria entre el primer extremo de la trayectoria conductora primaria y un tercer extremo. La trayectoria conductora secundaria se define sustancialmente por una pluralidad de conductores abiertos y un conductor cerrado. El conductor cerrado se conecta selectivamente con el tercer extremo por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única entre el primer extremo y el tercer extremo a través de al menos una porción de la trayectoria conductora primaria. La trayectoria resistiva única tiene una segunda resistencia que cae dentro de un segundo intervalo predeterminado.
En una forma, una relación de la primera resistencia y la segunda resistencia se correlaciona selectivamente con un atributo de la tira sensor de prueba de analito. El primer extremo está conectado con una primera almohadilla de contacto, el segundo extremo está conectado con una segunda almohadilla de contacto, y el tercer extremo está conectado con una tercera almohadilla de contacto. En una forma, la configuración predeterminada comprende una configuración de serpentina con una pluralidad de extremos próximos y una pluralidad de extremos distales. El conector cerrado se conecta a un extremo próximo respectivo de la configuración de serpentina. El conector que comprende el conector cerrado se selecciona como una función de un atributo de la tira sensor de prueba de analito.
Otro aspecto describe un método para medir una concentración de un analito en una muestra de fluido. El método comprende los pasos de proporcionar un medidor; proporcionando una tira de prueba, la tira de prueba comprende: un sustrato no conductor; un electrodo operativo en el sustrato no conductor conectable con el medidor; un contraelectrodo en el sustrato no conductor conectable al medidor; una parte reactiva formando un puente entre el electrodo operativo y el contraelectrodo; un elemento resistivo primario en el sustrato no conductor con un primer extremo conectable al medidor y un segundo extremo conectable al medidor, en donde el elemento resistivo primario tiene una configuración predeterminada; y un elemento resistivo secundario en el sustrato no conductor con un tercer extremo conectable al medidor, en donde el elemento resistivo secundario tiene un conector conectado al elemento resistivo primario en un punto de conexión predeterminado en la configuración predeterminada por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción de la configuración predeterminada con un valor de resistencia; recibiendo la tira de prueba en el medidor; operativamente conectando el electrodo operativo, el contraelectrodo, el elemento resistivo primario, y el elemento resistivo secundario con el medidor; y determinar un atributo asociado con la tira de prueba como una función de una medición asociada con al menos el valor de resistencia asociado con la trayectoria resistiva única.
En una forma, el elemento resistivo primario tiene un valor de resistencia del elemento primario y el atributo se determina como una función de una proporción de resistencia determinada mediante la comparación del valor de resistencia de la trayectoria resistiva única con el valor de resistencia del elemento primario. El medidor se ajusta para producir un resultado de la medición de la concentración asociado con el analito como una función del atributo. En una forma, un extremo del elemento resistivo primario se conecta con el contraelectrodo.
La invención además se ilustra a continuación sobre las bases de modalidades ilustrativas mostradas en las figuras.
La Fig. 1 ilustra una tira de prueba insertada en un medidor.
La Fig. 2 es una vista ampliada de una tira de prueba representativa.
La Fig. 3a ilustra una tira de prueba para utilizarse en la medición de la concentración de un analito de interés en un fluido biológico.
Las Figs . 3b y 3c ilustran modalidades alternativas de una porción de la tira de prueba ilustrada en la Fig. 3a.
La Fig. 4 ilustra una porción de la tira de prueba ilustrada en la Fig. 3a.
Las Figs . 5a-5g ilustran una porción de la tira de prueba ilustrada en la Fig. 3a con una pluralidad de conectores separados.
La Fig. 6 ilustra otra tira de prueba representativa para utilizarse en la medición de la concentración de un analito de interés en un fluido biológico .
La Fig. 7 ilustra otra tira de prueba representativa para utilizarse en la medición de la concentración de un analito de interés en un fluido biológico .
La Fig. 8 ilustra otra tira de prueba representativa para utilizarse en la medición de la concentración de un analito de interés en un fluido biológico .
La Fig. 9 ilustra una porción de otra tira de prueba representativa para utilizarse en la medición de la concentración de un analito de interés en un fluido biológico.
La Fig. 10 es un diagrama de flujo de un proceso representativo utilizado para medir una analito en un fluido biológico .
Con el propósito de promover el entendimiento de los principios de la invención, ahora se hará referencia a la modalidad ilustrada en las figuras, y se utilizará un lenguaje específico para describir esa modalidad. Sin embargo se entiende que no se previene ninguna limitación al alcance de la invención. Las alteraciones y modificaciones en el dispositivo ilustrado y aplicaciones adicionales de los principios de la invención como se ilustra en la presente, como se le ocurriría normalmente a un experto en la técnica a la cual pertenece la invención se contemplan, y se desean proteger. En particular, a pesar de que la invención se explica en términos de un medidor de glucosa en sangre, se contempla que la invención puede utilizarse con dispositivos para medir otros analitos y otros tipos de muestras. Tales modalidades alternativas requieren ciertas adaptaciones a las modalidades explicadas en la presente que serían obvias para los expertos en la técnica.
Haciendo referencia a la Fig. 1, se describe un dispositivo para medición de concentración o medidor 10 con una tira sensor de prueba de analito 12 montada en el mismo que se utiliza para medir la presencia o concentración de un analito en un fluido biológico, tal como sangre entera, orina o saliva. En esta forma, la tira de prueba 12 se inserta removiblemente en una terminal de conexión 14 del medidor 10. Después de la inserción de la tira de prueba 12, el medidor 10 se configura para encenderse automáticamente e iniciar el proceso de medición, como se ejemplifica con mayor detalle más adelante. El medidor 10 incluye una pantalla electrónica 16 que se utiliza para desplegar varios tipos de información al usuario incluyendo los resultados de la prueba.
Haciendo referencia a la Fig. 2, una tira de prueba general 12 se inserta para propósitos de fondo e incluye varios componentes. La tira de prueba 12 comprende un pequeño cuerpo que define una cámara en donde el fluido de muestra es recibido para la prueba. Esta cámara receptora de la prueba se llena con el fluido de muestra por medios adecuados, preferiblemente por acción capilar, pero también opcionalmente ayudado por la presión o vacío. La cámara receptora de la muestra incluye electrodos y química adecuada para producir una señal electroquímica indicativa del analito en el fluido de muestra.
En esta forma ilustrada, la tira de prueba 12 incluye un sustrato base 20, una capa de separación 22 y una capa de cubierta 24 que comprende una cubierta del cuerpo 26 y cubierta de la cámara 28. La capa de separación 22 incluye una porción hueca 30 para proporcionar una cámara receptora de la muestra que se extiende entre el sustrato base 20 y la capa de cubierta 24. El sustrato base 20 lleva un sistema de electrodos 32 incluyendo una pluralidad de electrodos 34 y trazas de electrodo 36 que terminan en las almohadillas de contacto 38. Los electrodos 34 se definen como aquellas porciones de las trazas de electrodo 36 que se colocan dentro de la cámara receptora de la muestra. Un sistema de reactivos adecuado 40 yace encima de al menos una porción de los electrodos 34 dentro de la cámara receptora de la muestra.
La cubierta del cuerpo 26 y la cubierta de la cámara 28 yacen sobre la capa de separación 22 definiendo una ranura entre ellos, la ranura define una abertura de descarga que se comunica con la cámara receptora de la muestra para permitir que el aire escape de la cámara como un fluido de muestra que entra en la cámara desde la abertura del borde o abertura que recibe el fluido. La tira de prueba 12 por lo tanto incluye un extremo de dosificación 42 y un extremo de inserción en el medidor 44. La forma del extremo de dosificación 42 típicamente se distingue del extremo de inserción en el medidor 44 para así ayudar al usuario. La cubierta del cuerpo 26 y la cubierta de la cámara 28 preferiblemente se aseguran a la capa de separación 22 por una capa adhesiva 46. Además, una segunda capa adhesiva 48 asegura la capa de separación 22 al sustrato base 20. Una explicación más detallada de la tira de prueba 12 ilustrada en la Fig. 2 puede encontrarse en la Patente de E.U.A. de propiedad común No. 7,829,023, que se incorpora en la presente por referencia en su totalidad.
Haciendo referencia a la Fig. 3a, una imagen más detallada de una forma preferida de una tira de prueba 50 que se configura para utilizarse con el medidor 10 se ilustra con las capas separadora, de cubierta y adhesiva removidas para revelar el sistema de electrodos 32 de la tira de prueba 50. La tira de prueba 50 incluye un sustrato base no conductor 52 que tiene formado en el mismo una pluralidad de electrodos, trazas y almohadillas de contacto, como se explicará con mayor detalle más adelante. Tal formación puede lograrse mediante el uso de cualquiera de un número de técnicas conocidas, tales como estampado por serigrafía, litografía, trazado con láser, o ablación láser. Para propósitos de ilustración, la formación utilizando una técnica de ablación con láser de campo amplio se describe en la presente en general .
Antes de la formación de los electrodos, trazas y almohadillas de contacto, el sustrato no conductor se cubre en su superficie superior con una capa conductora (por pulverización o deposición de vapor, por ejemplo) . Los electrodos, trazas y almohadillas de contacto después se estampan en la capa conductora formada en el sustrato no conductor mediante un proceso de ablación con láser utilizando una carátula que define el diseño deseado para los aspectos eléctricos de la tira de prueba. Una explicación más detallada del proceso de ablación con láser se determina en la Patente de E.U.A. de propiedad común No. 7,601,299, que se incorpora en la presente por referencia en su totalidad.
La capa conductora puede contener metales puros o aleaciones, u otros materiales, que son conductores metálicos. El material conductor es generalmente absorbente a la longitud de onda del láser utilizado para formar los electrodos, trazas y almohadillas de contacto en el sustrato no conductor 52. Los ejemplos no limitantes incluyen aluminio, carbón, cobre, cromo, oro, óxido de indio-estaño, paladio, platino, plata, óxido de estaño/oro, titanio, sus mezclas, y aleaciones o compuestos metálicos de estos elementos. En algunas formas, el material conductor incluye metales nobles o aleaciones o sus óxidos.
La tira de prueba 50 incluye un electrodo en operación 54, una señal perceptora en operación 56, un contraelectrodo 58, y una señal de contra-percepción 60 formada en el sustrato no conductor 52. La tira de prueba 50 incluye un extremo distal o zona de reacción 62 y un extremo próximo o zona de contacto 64 que se extiende a lo largo de un eje longitudinal. Como se determina con mayor detalle más adelante, la tira de prueba 50 incluye una traza del electrodo en operación 54a que se utiliza para conectar el electrodo en operación 54 a una almohadilla de contacto 70. Además, la tira de prueba 50 incluye una señal de contraelectrodo 58a que se utiliza para conectar el contraelectrodo 58 a una almohadilla de contacto 80. Como se ilustra, el extremo próximo 64 de la tira de prueba 50 incluye una pluralidad de almohadillas de contacto que se configura para estar conductivamente conectada con la terminal de conexión 14 del medidor 10. En una forma, el medidor 10 se configura para determinar el tipo de tira de prueba 50 insertada en el medidor 10 con base en la configuración, incluyendo, por ejemplo, cualquier interconexión, de las almohadillas de contacto. El extremo distal 62 de la tira de prueba 12 incluye una capa de reactivo 66 que cubre al menos una porción del electrodo en operación 54 y el contraelectrodo 58.
La capa de reactivo 66 de la tira de prueba 50 puede comprender reactivos de una naturaleza química o bioquímica para reaccionar con un analito objetivo para producir una señal detectable que representa la presencia y/o concentración del analito objetivo en una muestra. El término "reactivo", como se utiliza en la presente, es un reactivo químico, biológico o bioquímico para reaccionar con el analito y/o el objetivo para producir una señal detectable que representa la presencia o concentración del analito en la muestra. Los reactivos adecuados para utilizarse en los diferentes sistemas y métodos de detección incluyen una variedad de componentes activos seleccionados para determinar la presencia y/o concentración de varios analitos, tal como glucosa por ejemplo. La selección de los reactivos apropiados está bien dentro de la experiencia en la técnica. Como es bien conocido en la técnica, existen numerosas químicas disponibles para utilizarse con cada uno de los varios objetivos. Los reactivos se seleccionan con respecto al objetivo a evaluar. Por ejemplo, los reactivos pueden incluir una o más enzimas, co-enzimas, y co-factores que pueden seleccionarse para determinar la presencia de glucosa en la sangre .
La química reactiva puede incluir una variedad de adyuvantes para mejorar las propiedades o características del reactivo. Por ejemplo, la química puede incluir materiales que facilitan la colocación de la composición reactiva sobre la tira de prueba 50 y para mejorar su adherencia a la tira 50, o para aumentar el grado de hidratación de la composición reactiva por el fluido de muestra.
Adicionalmente , la capa de reactivo puede incluir componentes seleccionados para mejorar las propiedades físicas de la capa de reactivo 66 seca resultante, y la absorción de una muestra de prueba líquida para el análisis. Los ejemplos de materiales adyuvantes a ser utilizados con la composición reactiva incluyen, espesantes, moduladores de la viscosidad, formadores de película, abridores de película, agentes colorantes, y agentes que proveen tixotropía.
Como además se ilustra en la Fig. 3a, un extremo próximo 68 de la traza del electrodo en operación 54a se conecta con una almohadilla de contacto 70 para la medición del electrodo en operación. Un extremo distal 72 de la traza del electrodo en operación 54a se conecta con el electrodo en operación 54. Un extremo próximo 74 de la traza sentido en operación 56 se conecta con una almohadilla de contacto para la medición sentido en operación 75. Como se ilustra adicionalmente , un extremo distal 76 de la traza sentido en operación 56 se conecta con el extremo distal 72 de la traza del electrodo en operación 54a por lo tanto definiendo un ciclo de resistencia en operación.
En una forma, el ciclo de resistencia en operación tiene un valor de resistencia dentro de un intervalo predeterminado de valores de resistencia, cuyo intervalo corresponde a un atributo de la tira de prueba 12. La formación del ciclo de resistencia en operación para tener un valor de resistencia que cae dentro de uno u otro intervalo predeterminado de valores de resistencia está dentro déla experiencia en la técnica para formar delgadas capas conductoras. Sin embargo, para propósitos de ilustración, se sabe que los materiales conductores, tales como delgadas capas de metales tales como oro y paladio, tienen una resistencia de lámina característica que depende del grosor de la capa conductora. La resistencia de la lámina es esencialmente un multiplicador para calcular una resistencia pronosticada a través de una trayectoria de una configuración particular (por ejemplo largo y ancho) para un material particular de un grosor particular. De esta forma, la resistencia de la lámina y/o los aspectos de configuración de la señal conductora pueden alterarse con el fin de obtener una resistencia deseada a través de una trayectoria particular, tal como el ciclo de resistencia en operación.
De esta forma, por ejemplo, una capa de oro que tiene un grosor de 50 nm tiene una resistencia de lámina de 1.6 ohms/cuadrado . Un "cuadrado" es una medida sin unidades de la relación de aspecto de la trayectoria conductora, separada en el número de láminas cuadradas (con base en el ancho) que puede actual o teóricamente determinarse en la trayectoria conductora. En un sentido, el área de superficie efectiva de la trayectoria conductora se aproxima como un número de cuadrados . El número de cuadrados que puede determinarse en la trayectoria conductora se multiplica por la resistencia de la lámina para dar un cálculo para una resistencia pronosticada a través de esa trayectoria conductora .
En el contexto de la presente invención, las modalidades ilustrativas y ejemplares típicamente se describirán en el contexto de capa con un grosor de 50 nm e de oro, de esta forma una resistencia de la lámina de 1.6 ohms/cuadrado . De esta forma, con el fin de manipular la resistencia a lo largo de cualquier trayectoria conductora en los varios contextos de esta descripción (como será claro para el experto en la técnica) , se puede alterar el largo o ancho de la trayectoria conductora (de esta forma cambiando el número de "cuadrados") o se puede alterar el grosor o material de la capa conductora (de esta forma cambiando la resistencia de la lámina) con el fin de aumentar o disminuir un valor de resistencia pronosticado para esa trayectoria conductora particular para caer dentro de un intervalo deseado de valores de resistencia, en donde el intervalo de tales valores es indicativo de un atributo de la tira de prueba. La determinación del número de cuadrados para una trayectoria conductora particular en una variedad de patrones y configuraciones diferentes de las trayectorias de línea recta en general está dentro de la experiencia en la técnica y no requiere más explicación en la presente.
Como además se describirá, los valores de resistencia medidos actuales a través de la variables trayectorias conductoras identificadas incluidas en las modalidades de la presente invención se utilizan en varias formas para propósitos de indicar uno o más atributos de una tira de prueba. A este respecto, se entenderá que los valores de resistencia medidos, o intervalos de valores de resistencia predeterminados en donde un valor de resistencia medido se basa, o las proporciones de los valores de resistencia medidos entre diferentes trayectorias conductoras, pueden corresponder a un atributo particular. Independientemente de la forma que se utilice para el valor de resistencia correspondiente de una trayectoria conductora para un atributo está dentro de la discreción del experto en la técnica.
Generalmente, el valor de resistencia medido por sí mismo es útil en el caso de un valor de resistencia medido, actual que cercanamente corresponde al valor de resistencia pronosticado (calculado como se describe anteriormente) . Si las tolerancias de la fabricación son tales que el valor medido no corresponde bien al valor pronosticado, entonces puede ser aconsejable predeterminar un intervalo de valores de resistencia dentro del cual una trayectoria conductora que tiene un cierto valor de resistencia pronosticado casi ciertamente tendrá un valor de resistencia medido. En este caso, las mediciones de sistema del valor de resistencia actual de una trayectoria conductora, identifica el intervalo predeterminad en el cual se basa el valor de resistencia, y corresponde al intervalo predeterminado identificado con el atributo de la tira de prueba. Finalmente, si las tolerancias de la fabricación son simplemente no conductoras para pronosticar precisamente el valor de resistencia medido actual para una trayectoria conductora, o simplemente como se desea, puede ser útil relacionar un valor de resistencia medido frente a otro valor de resistencia medido a través de una diferente trayectoria conductora, con el fin de determinar un valor esencialmente normalizado. El valor normalizado puede utilizarse similarmente como un valor de resistencia medido o compararse contra uno o más intervalos predeterminados de valores con el fin de identificar un atributo correspondiente de los valores de resistencia medidos, pronostícaos y normalizados que la presente invención además describe y entiende.
Para propósitos ilustrativos solamente, en una forma el ciclo de resistencia en operación que tiene un valor de resistencia de aproximadamente 380.8 Ohms. (En esta forma ilustrativa, se asume que se utiliza oro de 50mm de grosor para formar las trazas y almohadillas de contacto y que el área de superficie asociada con las trazas y almohadillas de contacto del ciclo de resistencia en operación es igual a aproximadamente 238 cuadrados. Es decir, el ciclo de resistencia en operación tiene un valor de resistencia de aproximadamente 380.8 Ohms.) En una modalidad, este valor de resistencia está dentro de un intervalo predeterminado, por ejemplo 250-450 Ohms, y corresponde a un atributo tal como el tipo tira, es decir, un reactivo depositado en una tira que se configura para la determinación de la concentración de glucosa. A manera de ejemplo, un intervalo predeterminado diferente, por ejemplo 550-750 Ohms, para el valor de resistencia del ciclo de resistencia en operación puede corresponder una tipo de tira diferente, tal como para la determinación de la concentración de cetona. Como con todas las formas, y como se describe anteriormente, el valor de resistencia del ciclo de resistencia en operación así como todos los valores de resistencia descritos en la presente pueden ajustarse por varios métodos, tales como, por ejemplo, mediante el ajuste del largo, ancho y grosor de la traza sentido en operación 56 así como el material el cual se fabrica la traza sentido en operación 56. Ver, por ejemplo, Patente de E.U.A. No. 7,601,299, la descripción de la cual se incorpora por referencia en la presente.
Un extremo próximo 78 de la traza del contraelectrodo 58a se conecta con una almohadilla de contacto para la medición del contraelectrodo 80. Un extremo distal 82 de la traza del contraelectrodo 58a se conecta con el contraelectrodo 58. Además, un extremo próximo 84 de la traza contrasentido 60 se conecta con una almohadilla de contacto para la medición contrasentido 86. Un extremo distal 88 de la traza contrasentido 60 se conecta con el extremo distal 82 de la traza del contraelectrodo 58a por lo tanto definiendo un ciclo de contraresistencia. En una forma, el ciclo de contraresistencia tiene un valor de resistencia dentro de un intervalo predeterminado de valores de resistencia, cuyo intervalo corresponde a un atributo de la tira de prueba 50. Para propósitos ilustrativos solamente, en una forma el ciclo de contraresistencia tiene un valor de resistencia de aproximadamente 384 Ohms, con base en una capa de oro con un grosor de 50 nm y una configuración de área de superficie de aproximadamente 240 cuadrados. En una modalidad, este valor de resistencia está dentro de un intervalo predeterminado, por ejemplo 250-450 Ohms, cuyo intervalo corresponde a un atributo de la tira de prueba. En otras modalidades, el valor de resistencia del ciclo de resistencia en operación se relaciona con el valor de resistencia del ciclo de contraresistencia en donde el valor de la relación corresponde a un atributo de la tira, tal como el tipo de tira o mercado de distribución geográfica.
Como se entenderá en general, la designación de un electrodo como un electrodo "en operación" o "contraelectrodo" es meramente una indicación de una funcionalidad predeterminada particular o uso previsto para un electrodo durante el método de medición electroquímica como ya sea un ánodo o cátodo en la presencia de un campo eléctrico particular o potencial aplicado. Los expertos en la técnica similarmente entenderán que la referencia a tales electrodos genéricamente como primero y segundo electrodos de medición (y trazas, trazas de percepción, almohadillas de contacto, etc. correspondientes), en tanto que tales electrodos participan en la medición de un analito u objetivo particular, en contraste con, por ejemplo, electrodos que ser específicamente diseñados solamente para utilizarse como electrodos para la detección de dosis y/o suficientes como muestras de acuerdo con técnicas conocidas, ver, por ejemplo, Patente de E.U.A. No. 7,905,997, la descripción de la cual se incorpora en la presente por referencia. En vista de estas nociones, las designaciones "en operación" y "contra" se utilizan solamente para la ilustración y descripción conceptual, y no pretenden limitar el alcance de la presente invención, ya sea que se recite o no en las reivindicaciones, para una funcionalidad del electrodo de medición particular.
En términos generales, con el fin de iniciar un ensayo, el sensor de prueba 50 se inserta en la terminal de conexión 14 del medidor 10 de tal forma que todas las almohadillas de contacto del sensor de prueba 50 se conectan a las terminales de contacto dentro de la terminal de conexión 14. El electrodo en operación 54 y contraelectrodo 58 permanecen en un estado abierto con respecto entre sí (es decir, generalmente aislados eléctricamente entre sí) hasta que se coloca una cantidad adecuada del fluido, tal como sangre, en el sensor de prueba 50. La aplicación de una cantidad adecuada de fluid sobre la capa de reactivo 66 crea una reacción electroquímica que pueden detectarse por el medidor 10.
En un sentido general, el medidor 10 aplica un voltaje predeterminado a través de la almohadilla de contacto para la medición del electrodo en operación 70 y la almohadilla de contacto para la medición del contraelectrodo 80 para crear una diferencia potencial entre el electrodo en operación 54 y el contraelectrodo 58, y después mide el flujo de corriente resultante. La magnitud y dirección del voltaje se selecciona con base en el potencial de activación electroquímico para una especie de medición eléctrica a ser detectada, que se genera de la reacción electroquímica del reactivo 66 y el fluido aplicado. Para glucosa, por ejemplo, una diferencia potencial aplicada típicamente está entre aproximadamente +100 mV y +550 mV cuando se utiliza un potencial DC. Cuando se utilizan potenciales AC, estos pueden estar entre aproximadamente +5 mV y + 100 mV RMS pero también pueden tener una mayor amplitud dependiendo del propósito para la aplicación del potencial AC. La cantidad medida del flujo de corriente, particularmente resultando de un potencial DC o potencial AC de suficiente grande amplitud, es indicativo de la concentración del analito a ser medido. La forma exacta en la cual trabaja este proceso está más allá del alcance de la presente invención, pero conocida por los expertos en la técnica. Ver, por ejemplo, Patentes de E.U.A. Nos. 7,727,467; 5,122,244; y 7,276,146, la descripción de las cuales se incorpora por referencia en la presente.
Con el fin de compensar la caída I-R parasitaria (corriente x resistencia) en la traza del electrodo en operación 54a y la traza del contraelectrodo 58a, el sensor de prueba 50 incluye la traza sentido en operación 56 y la traza contrasentido 60. Como se determina anteriormente, la traza sentido en operación 56 se conecta con la traza del electrodo en operación 54a en el extremo distal 62 del sensor de prueba 50 y la almohadilla de contacto para la medición sentido en operación 75 en el extremo próximo 64 del sensor de prueba 50. La taza contrasentido 60 se conecta con la traza contraelectrodo 58a en el extremo distal 62 del sensor de prueba 50 y la almohadilla de contacto para la medición contrasentido 86 en el extremo próximo 64 del sensor de prueba 50.
En una forma, durante un procedimiento de prueba, se aplica un voltaje potencial a la almohadilla de contacto para la medición del contraelectrodo 80, que producirá una corriente entre el contraelectrodo 58 y el electrodo en operación 54 que es proporcional a la cantidad de analito presente en la muestra biológica aplicada a la capa de reactivo 66. Para asegurar que se aplique el potencial de voltaje apropiado al contraelectrodo 58, el medidor 10 incluye circuitos (no mostrados) que aseguran que un voltaje potencial (o diferencia potencial absoluta) aplicado a la traza contrasentido 60 sea el mismo que el potencial de voltaje deseado (o diferencia potencial absoluta) en el contraelectrodo 58. Típicamente, el medidor 10 asegurará que fluya poca o nada de corriente a través de la traza contrasentido 60, por lo tanto asegurando que el potencial de voltaje visto en el contraelectrodo 58 corresponda al potencial de voltaje deseado. Para una explicación más detallada de la funcionalidad de compensación de la traza sentido en operación 56 y la traza contrasentido 60 se puede hacer referencia a la Patente de E.U.A. de propiedad común No. 7,569,126, que se incorpora en la presente por referencia en su totalidad.
La habilidad para codificar información directamente sobre la tira de prueba 50 puede dramáticamente aumentar las capacidades de la tira de prueba 50 y mejorar su interacción con el medidor 10. Por ejemplo, es bien conocido en la técnica suministrar al medidor 10 información o datos de calibración aplicables a múltiples lotes de tiras de prueba 50. Los sistemas de la técnica anterior se han basado en la memoria de solo lectura (memoria ROM) que se suministra, por ejemplo, con cada frasco de tiras de prueba y se inserta en un receptáculo o ranura correspondiente en el medidor 10 cuando el frasco de tiras de prueba aplicable se utiliza por el usuario. Debido a que este proceso se basa en que el usuario realice esta tarea, no hay forma de garantizar que se hace o no en una forma correcta o cada vez que se utiliza un nuevo frasco de tiras. Con el fin de eliminar la posibilidad de un error o negligencia humana, la presente invención provee varias formas en las cuales el código, tal como un código correspondiente a datos de calibración pre- determinados o pre-almacenados , puede colocarse directamente en la tira de prueba 50. Esta información después puede leerse por el medidor 10, que tiene los datos de calibración pre-determinados , o pre-almacenados almacenados en la memoria interna, para ajustar el medidor 10 de tal forma que pueda proveer mediciones precisas.
Para obtener tal codificación, en una modalidad, la tira de prueba 50 incluye un elemento resistivo interno o secundario 100 y un elemento resistivo externo o primario 102 que forman una red de resistencia base 104 en la superficie del sustrato 52. Un extremo del elemento resistivo secundario 100 se conecta con una almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103. El elemento resistivo primario 102 tiene un primer extremo 106, un segundo extremo 108 y una forma o configuración predeterminada. En una forma, el elemento resistivo primario 102 tiene una forma de serpentina o configuración que corre paralela al eje longitudinal de la tira de prueba 50. Sin embargo, se concibe que el elemento resistivo primario 102 puede tener otras formas y configuraciones en diferentes formas. En una forma, el elemento resistivo primario 102 tiene un valor de resistencia pronosticado asociado con el mismo que cae dentro de un intervalo predeterminado de valores de resistencia que puede ser indicativo de un atributo de la tira de prueba 50. El valor de resistencia puede ser medido por el medidor 10 utilizando primera y segunda almohadillas de contacto 110 y 112 del elemento resistivo primario (como se define más adelante) .
En la modalidad de la Fig. 3a, el segundo extremo 108 del elemento resistivo primario 102 se define por el extremo próximo 78 de la traza del contraelectrodo 58a, y de esta forma la almohadilla de contacto 112 es generalmente coextensiva con la almohadilla de contacto del contraelectrodo 80. Excepto que se requiera específicamente lo contrario para un uso o propósito particular, se entenderá que ya sea cualquier extremo 106 o 108 del elemento resistivo primario 102 se define por el extremo próximo 68 de la traza del electrodo en operación 54a o extremo próximo 78 déla traza del contraelectrodo 58a es una cuestión de elección de diseño, y la presente invención incluye modalidades en donde los extremos 106 y 108 están separados y tienen diferentes estructuras de los aspectos del electrodo en operación 54 y el contraelectrodo 58 y las trazas 54a, 58a y sus extremos próximos 68, 78. Ver, por ejemplo, Fig. 3b; en contraste, ver la descripción anterior con respecto al uso de una o ambas trazas sentido 56, 60 para propósitos de compensación de voltaje en modalidades en donde una o ambas almohadillas de contacto 110, 112 pueden ser coextensivas con las almohadillas de contacto 70, 80. La capa de reactivo 66 ha sido eliminada de las demás figuras para facilitar la referencia pero se debe apreciar que cada tira de prueba 50 descrita en la presente incluirá una capa de reactivo 66 relevante para el análisis particular deseado a ser realizado .
En particular, el medidor 10 puede medir el valor de resistencia del elemento resistivo primario 102 mediante la aplicación de un voltaje a través de las almohadillas de contacto 110, 112 del elemento resistivo primario y después midiendo la cantidad de corriente que fluye a través del elemento resistivo primario 102. En una forma, el área de superficie asociada con el elemento resistivo primario 102 es igual a aproximadamente 1372 cuadrados. Es decir, para propósitos ilustrativos solamente, para una capa de oro de 50 nm de grosor, el valor de resistencia pronosticado asociado con el elemento resistivo primario 102 es de aproximadamente 2195.2 Ohms.
Haciendo referencia a la Fig. 3c, se ilustra otra porción representativa de una tira de prueba 50 descrita en la presente en donde el elemento resistivo secundario 100 y el elemento resistivo primario 102 tienen una diferente configuración predeterminada. Como se determina con detalle a continuación, el elemento resistivo secundario 100 incluye una pluralidad de conectores 120a-120g que está conectada al elemento resistivo primario 102 en una pluralidad de puntos de conexión predeterminada 122a-122g. Todas las otras características y aspectos de la modalidad representativa permanecen iguales como se describe más adelante en conexión con la modalidad ilustrada en conexión con las Figs . 3a, 4 y 5a-g .
Haciendo referencia a la Fig. 4, que ilustra una vista simplista de los aspectos eléctricos de la tira de prueba 50 ilustrada en la Fig. 3a pero sin el sustrato no conductor 52, el elemento resistivo secundario 100 incluye una pluralidad de conectores 120a-120g que está conectada al elemento resistivo primario 102 en una pluralidad de puntos de conexión predeterminados 122a-122g. En la forma ilustrada, el elemento resistivo primario 102 tiene una forma de serpentina o configuración que comprende un extremo próximo 124 y un extremo distal 126. Los conectores 120a-120g se conectan a los puntos de conexión 122a-122g en el extremo próximo 124 del elemento resistivo primario 102. En particular, los conectores 120a-120g se conectan en los extremos próximos de cada escalón de la configuración de serpentina. Sin embargo, se debe apreciar que los conectores 120a-120g podrían conectarse al elemento resistivo primario 102 en otros lugares también, tal como se ilustra en las Figs. 3c y 6.
En la forma ilustrada en la Fig. 4, un primer extremo 130 del elemento resistivo primario 102 se conecta con una primera almohadilla de contacto del elemento resistivo primario 110. Un segundo extremo 132 del elemento resistivo primario 102 se conecta con la traza contraelectrodo 58a, por lo tanto conectando el segundo extremo 132 del elemento resistivo primario 102 a la almohadilla de contacto del contraelectrodo 80. Como se determina anteriormente, en otras formas, el segundo extremo 132 del elemento resistivo primario 102 podría conectarse a una diferente almohadilla de contacto 112 diferente de la almohadilla de contacto del contraelectrodo 80. Ver, por ejemplo Fig. 3b.
Como se ilustra en las Figs . 3a y 4, la red de resistencia base 104 inicialmente se estructura en el sustrato no conductor 52 mediante el proceso original que forma los electrodos, trazas y almohadillas de contacto globales en la tira de prueba 50, tal como por ablación con láser de campo amplio. Como se determina con mayor detalle más adelante, durante el procesamiento secundario puede colocarse un código sobre la tira de prueba 50 separando todos menos uno de los conectores 120a-120g de la red resistiva secundaria 100. Es decir, los conectores separados entre 120a- 12 Og se colocan en un estado abierto o no conductor mientras el conector restante 120a-120g se coloca en un estado cerrado o conductor en con relación al elemento resistivo primario 102. La separación puede lograrse por medios manuales u otros medios, tales como ablación o trazado con un láser apropiado.
Durante la fabricación, una vez que se produce un lote de tiras de prueba 50 respectivo con la red de resistencia base 104 formada en el mismo, se determinan uno o más atributos pertinentes del lote con el fin de codificar cada tira de prueba 50 en el lote respectivamente para comunicar el (los) atributo (s) al medidor 10. Por ejemplo, en una modalidad una o más de las tiras de prueba 50 del lote se prueban con un analito objetivo que tiene una concentración conocida. Los resultados de la prueba típicamente indican un atributo que comprende los datos de calibración, tales como los valores del gradiente e intersección para un algoritmo con base en una relación generalmente lineal para medir el analito objetivo, cuyos datos de calibración deberán utilizarse por el medidor 10 en una determinación de la medición final que utiliza las tiras de prueba 50. En un procesamiento secundario del lote de tiras de prueba 50 restante, la red de resistencia base 104 se modifica con el fin de colocar un código en la tira de prueba 50 que está asociado con los datos de calibración para ese lote de tiras de prueba 50.
En una forma, el atributo que comprende datos de calibración para el lote de tiras de prueba 50 permite al medidor 10 ajustarse a sí mismo automáticamente para proporcionar mediciones precisas del analito objetivo. En particular, la red resistiva que se crea en la tira de prueba 50 durante el procesamiento secundario se utiliza para transportar la información al medidor 10 relacionada con el funcionamiento de la tira tal como los gradientes del algoritmo y el tipo de producto. En una modalidad particular, el elemento resistivo secundario 100 se modifica para exhibir solamente uno de una pluralidad de posibles estados, en donde cada estado comprende al menos una porción de código en la tira de prueba 50.
De acuerdo con un aspecto, la red de resistencia base 104 se forma de tal manera que todos los conectores 120a-120g están en un estado cerrado prestablecido en la fabricación. El estado prestablecido transporta al medidor 10 el denominado código nominal para un tipo de tira de prueba particular, por ejemplo los valores de gradiente y/o intersección nominales para un algoritmo de correlación lineal. Cada uno de la pluralidad de otros posibles estados creados por la separación anterior o abertura de todos excepto uno de los conectores 120a-120g (detectados como se determina anteriormente) entonces puede transportar los valores de ajuste en incremento al código nominal o los valores calculados del algoritmo utilizando el código nominal. Por ejemplo, para los conectores 120a-120g existen siete posibles estados en los cuales solamente un conector permanece cerrado. Cada uno de tales estados puede representar un factor positivo o negativo (por ejemplo un multiplicador) que cuando se transporta al medidor 10 se utiliza por el medidor para ajustar la respuesta calculada en forma ascendente o descendente dependiendo de cómo se evalúa el lote de tiras particular comparado con el código nominal. De esta forma, los estados 1-3 pueden representar multiplicadores -1%, -2%, y -3% respectivamente, mientras los estados 4-7 pueden representar multiplicadores +1%, +2%, +3% y +4% respectivamente. Tales modalidades proporcionan una alternativa a los estados que cada uno representa un grupo de valores de código (por ejemplo de gradiente e intersección) pre-almacenados en el medidor 10 que después se utilizan por el medidor en el algoritmo de correlación.
En una forma alternativa, todos los conectores 120a-120g pueden separarse o colocarse en un estado abierto durante el procesamiento primario. En esta forma, un conector respectivo 120a- 12Og se coloca en un estado cerrado durante el procesamiento secundario en los resultados de la prueba del lote de tiras de prueba 50. El conector 120a-120g que se requiere para ser colocado en el estado cerrado puede colocarse en el estado cerrado durante el procesamiento secundario por impresión con chorro de tinta, soldadura, distribución por goteo, impresión de pantalla, grabado en cinta conductora, etc. En otras formas alternativas, se utilizan carátulas para formar las tiras de prueba 50 que pueden ya formarse con un conector 120a-120g colocado en un estado cerrado y los demás en un estado abierto por lo tanto eliminando la necesidad de procesamiento secundario de las tiras de prueba 50.
Haciendo referencia a la Fig. 5a, durante el procesamiento secundario de las tiras de prueba 50, la red de resistencia base 104 se modifica de tal forma que la información del código indicativa de un atributo asociado con la tira de prueba 50 se coloca en las tiras de prueba 50. Como se determina anteriormente, la red de resistencia base modificada 104 puede utilizarse para transferir la información básica al medidor 10 relacionada con el funcionamiento de la tira tal como gradientes del algoritmo y tipo de producto. Como se ilustra en la Fig. 5a, durante el procesamiento secundario todos excepto uno de los conectores 120a-120g, que son los conectores 120a-120f en este ejemplo ilustrativo, han sido separados por un láser, por lo tanto definiendo un primer estado (Estado 1) en el que la tira de prueba 50 puede producirse. En particular, en el Estado 1 solamente el conector 12Og permanece conectado al elemento resistivo primario 102 en el lugar 122g por lo tanto definiendo una primera trayectoria resistiva única para el elemento resistivo secundario 100 a través de una porción del elemento resistivo primario 102. Los conectores separados 120a-120f por lo tanto se colocan en un estado abierto y el conector no separado 120g está en un estado cerrado por lo tanto permitiendo que fluya la corriente a través del elemento resistivo secundario 100, y dentro de una porción selecta del elemento resistivo primario 102.
Como se ilustra en la Fig. 5a, una primera trayectoria resistiva única se define a partir de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 a través del elemento resistivo secundario 100 incluyendo el conector no separado 12Og y una porción del elemento resistivo primario 102 entre la ubicación 122g y la almohadilla de contacto 112 en el segundo extremo 132. La primera trayectoria resistiva única se define al menos en parte por el conector no separado 12Og y una porción del elemento resistivo primario 102. En una forma, para propósitos de ilustración, en el Estado 1 la primera trayectoria resistiva única tiene un valor de resistencia asociado con la misma de aproximadamente 38.4 Ohms . Para claridad ilustrativa, la primera trayectoria resistiva única se muestra en la Fig. 5a entre las almohadillas de contacto 103 y 112 en una línea truncada sombreada.
Como con todas las formas explicadas a continuación, el valor de resistencia asociado con la primera trayectoria resistiva única puede ser medido por el medidor 10 utilizando la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 y la almohadilla de contacto 112 (que como se ilustra es coextensiva con la almohadilla de contacto del contraelectrodo 80) . En particular, el valor de resistencia puede ser medido por el medidor 10 por la aplicación de un voltaje predeterminado a través de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 y la almohadilla de contacto 112 y después por la medición del flujo de corriente resultante a través de la primera trayectoria resistiva única y después calculando la resistencia de acuerdo con la Ley de Ohm, R = U/I.
Alternativamente, una segunda trayectoria resistiva única se define por el Estado 1 de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 a través del elemento resistivo secundario 100 incluyendo el conector no separado 120g y una porción del elemento resistivo primario 102 entre la ubicación 122g y la almohadilla de contacto del elemento resistivo primario 110 en el primer extremo 130. En esta forma alternativa, la segunda trayectoria resistiva única tiene un valor de resistencia asociado con la misma de aproximadamente 2182.4 Ohms . Como con todas las formas descritas más adelante, el valor de resistencia asociado con la segunda trayectoria resistiva única para cada estado puede ser medido por el medidor 10 utilizando la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 y la almohadilla de contacto del elemento resistivo primario 110. El valor de resistencia puede ser medido por el medidor 10 por la aplicación de un voltaje predeterminado a través de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 y la almohadilla de contacto del elemento resistivo primario 110 y después por la medición del flujo de corriente resultante a través de la segunda trayectoria resistiva única y calculando la resistencia como se describe anteriormente.
Haciendo referencia a la Figs . 5b-5g, pueden definirse estados adicionales (por ejemplo Estados 2-7) cada uno incluyendo primera y segunda trayectorias resistivas únicas para cada estado sobre las bases de cual conector 120a-120f permanece sin separar. En cada instancia, una primera trayectoria resistiva única se define de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 a través del elemento resistivo secundario 100 incluyendo el conector no separado particular 120f-120a (tal como se muestra en las Figs. 5b-5g, respectivamente) y una porción del elemento resistivo primario 102 entre la ubicación particular 122f-122a (respectivamente) y la almohadilla de contacto 112 en el segundo extremo 132. (Para claridad ilustrativa, la primera trayectoria resistiva única en cada una de las Figs. 5b-5g se muestra entre las almohadillas de contacto 103 y 112 en líneas truncadas sombreadas) . Inversamente, en cada instancia una segunda trayectoria resistiva única se define de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 a través del elemento resistivo secundario 100 incluyendo el conector no separado particular 120f-120a (tal como se muestra en las Figs . 5b-5g, respectivamente) y una porción del elemento resistivo primario 102 entre la ubicación particular 122f-122a (respectivamente) y almohadilla de contacto 110 en el primer extremo 130.
Para propósitos de ilustración adicional, la Tabla 1 determina los valores de resistencia ilustrativos (en Ohms, O) asociados con la primera (URP#1) y segunda (URP#2) trayectorias resistivas únicas ("URP", por sus siglas en inglés) definidas para cada uno de los Estados 1-7 mostrados en las Figs. 5a-5g, en donde las trayectorias se forman de oro que tiene un grosor de 50 nm. Se entenderá que otros materiales, grosores y configuraciones de trayectorias tendrán diferente valores de resistencias asociadas para cada estado .
Tabla 1: Valores de Resistencia Asociados (en Ohms O) para la primera (URP#1) y segunda (URP#2) trayectorias resistivas únicas Como se determina anteriormente con respecto a las Figs. 5a-g, la tira de prueba 50 descrita en la presente puede configurarse durante la fabricación para transmitir un mínimo de siete (7) estados básicos del f ncionamiento del producto e información de atributos del análisis comparativo de trazas de resistencia en la tira sensor de prueba 50. A pesar de haber determinado anteriormente los valores se resistencias discretos en la formas ilustrativas y como se describe además anteriormente con respecto a los valores de resistencia pronosticados, se debe apreciar que en algunas modalidades estos valores variarán en alguna forma debido a las variaciones en el proceso de fabricación. Es decir, cada estado en el que la tira de prueba 50 puede fabricarse durante el procesamiento secundario típicamente caerá dentro de un intervalo de valores de resistencia. De esta forma, en una modalidad, cada intervalo discreto de valores de resistencia en lugar de los valores de resistencia mismos discretos, corresponderá a un estado de la tira de prueba 50. Por ejemplo, en una forma, el valor de resistencia de la primera trayectoria resistiva única en el Estado 1 podría caer dentro de un intervalo de 20- 150 Ohms, en el Estado 2 podría caer dentro de un intervalo de 310-450 Ohms, etc.
El método utilizado para medir la resistencia y otros factores, tales como la temperatura de la tira de prueba 50 y la configuración electrónica interna del medidor 10, también puede afectar la resistencia medida por el medidor 10 y de esta forma minimizar el tamaño de cada intervalo discreto de resistencias que pueden utilizarse. Por ejemplo, la resistencia medida también puede incluir la resistencia de al menos un interruptor interno en el medidor 10, en donde la resistencia del interruptor varía dependiendo de la temperatura del interruptor y las tolerancias de fabricación. En una modalidad, las resistencias del interruptor interno así como las resistencias de contacto (es decir, la resistencia del contacto de una terminal de contacto del medido a una almohadilla de contacto particular) se toman en cuenta para y de esta forma se compensan automáticamente en el cálculo de los valores de resistencia para cada elemento resistivo primario 102 y elemento resistivo secundario 100.
En otras formas, el medidor 10 puede configurarse para determinar el estado de la tira de prueba 50 en una forma en la cual el valor de resistencias se relaciona, o compara proporcionalmente , con al menos otro valor de resistencia en la tira de prueba 50. Es decir, el medidor 10 puede configurarse para medir el valor de resistencia de la primera o segunda trayectorias resistivas únicas a través del elemento resistivo secundario 100 y elemento resistivo primario 102 y después los compara co otro valor resistivo medido de la tira de prueba 50. Por ejemplo, el medidor 10 podría relacionar el valor de resistencia de la primera o segunda trayectorias resistivas únicas medido del elemento resistivo secundario 102 y elemento resistivo primario 102 contra la resistencia medida de uno o más del elemento resistivo primario 102, el ciclo de resistencia en operación, y el ciclo de contraresistencia para determinar el estado de la tira de prueba 50.
Haciendo referencia de nuevo a la Fig. 3a, en otra forma, la tira de prueba 50 es provista con un código bidimensional óptico 200 en el extremo próximo 64 de la tira de prueba 50. En algunas formas, el medidor 10 es provisto con un lector de código óptico (no mostrado) que permite al medidor 10 leer el código bidimensional óptico 200. La información adicional que puede ser provista por el código bidimensional óptico 200 puede ser la fecha de vencimiento del producto, la identificación del producto (países o regiones) , intersecciones de soluciones de sangre y de control, identificación del lote de tiras, y otras características .
Haciendo referencia a la Fig. 6, se describe otra forma representativa de una tira de prueba 50 que puede incorporar las características descritas en la presente. En esta forma, en donde los elementos numerados similares corresponden a las mismas características, el elemento resistivo primario 102 se forma con una forma de serpentina diferente. En particular, en lugar de correr paralelo al eje longitudinal de la tira de prueba 50, la configuración de serpentina corre perpendicular al eje longitudinal de la tira de prueba 50. Esta con iguración también se modifica en donde los puntos de conexión 122a- 122g del elemento resistivo secundario 100 se conectan con el elemento resistivo primario 102. Además, los conectores 120a-120g del elemento resistivo secundario 100 se orientan perpendiculares al eje longitudinal de la tira de prueba 50.
En esta forma, el segundo extremo 132 del elemento resistivo primario 102 se conecta con una segunda almohadilla de contacto del elemento resistivo primario 210. En la forma previa ilustrada en la Fig. 3a, el segundo extremo 132 del elemento resistivo primario 102 se forma con la traza del contraelectrodo 58a (con la almohadilla de contacto del contraelectrodo 80 mostrada como coextensiva con la almohadilla de contacto 112) . Sin embargo, como se explica anteriormente, el segundo extremo 132 del elemento resistivo primario 102 puede estar conectado con la almohadilla de contacto 210 separado de la traza del contraelectrodo 58a y la almohadilla de contacto del contraelectrodo 80, como se ilustra en la Fig. 6. Como con la forma ilustrada en la Fig. 3a, durante el procesamiento secundario de las tiras de prueba 50, todos excepto uno de los conectores 120a-120g se separa para colocar la tira de prueba 50 en un estado predefinido (por ejemplo - Estados 1-7) . En esta forma, el medidor 10 se configura para determinar la resistencia del elemento resistivo primario 102 utilizando la primera almohadilla de contacto del elemento resistivo primario 110 y la segunda almohadilla de contacto 210 del elemento resistivo primario. Todas las demás características permanecen igual como se explica en conexión con la forma ilustrada en la Fig. 3a.
Haciendo referencia a la Fig. 7, se ilustra otra forma de una tira de prueba 50 que incluye un una serpentina sentido operativa 220 en el ciclo de resistencia en operación. En esta forma, la serpentina sentido operativa 220 se utiliza para codificar la información adicional en la tira de prueba 50 relacionada con un atributo de la tira de prueba 50. Como se describe, la traza sentido en operación 56 ha sido formada para incluir la serpentina sentido operativa 220, que en la modalidad ilustrada se localiza en el extremo distal 62 de la tira de prueba 50. La serpentina sentido operativa 220 permite que el ciclo de resistencia operativo se forme selectivamente con un valor de resistencia predeterminado que cae dentro de un rango de resistencias. El valor de resistencia puede depender de la presencia o ausencia de una serpentina sentido operativa 220, y en el presente de la misma también depende del ancho, largo, grosor y material conductor utilizado para formar una serpentina sentido operativa 220 en la tira de prueba. El valor de resistencia del ciclo de resistencia en operación puede ser medido por el medidor 10 por la aplicación de un voltaje predeterminado a través de la almohadilla de contacto para la medición sentido en operación 75 y la almohadilla de contacto para la medición del electrodo en operación 70 y después midiendo el flujo de corriente resultante y calculando la resistencia respectivamente.
Haciendo referencia a la Fig. 8, se ilustra otra forma de una tira de prueba 50 que incluye un una serpentina contrasentido 230 en el ciclo de contraresistencia. Como con la forma ilustrada en la Fig. 7, en esta forma la serpentina contrasentido 230 se utiliza para codificar información adicional en la tira de prueba 50 relacionada con un atributo de la tira de prueba 50. La traza contrasentido 60 ha sido formada para incluir la serpentina contrasentido 230, que en la modalidad ilustrada se localiza en el extremo distal de la tira de prueba 50. La serpentina contrasentido 230 permite que el ciclo de contraresistencia se forme selectivamente con un valor de resistencia predeterminado que cae dentro del intervalo de resistencias. El valor de resistencia del ciclo de contraresistencia puede ser medido por el medidor 10 por la aplicación de un voltaje predeterminado a través de la almohadilla de contacto 86 de medición contrasentido y la almohadilla de contacto para la medición del contraelectrodo 80 y después midiendo el flujo de corriente resultante.
Haciendo referencia a la Fig. 9, se describe una forma alternativa de una tira de prueba 50 que se configura para para probar la concentración de un analito que se codifica con información perteneciente a al menos dos atributos de la tira de prueba 50. En esta forma, un primer elemento resistivo 300 se define entere una primera almohadilla de contacto 302, tal como, por ejemplo, una almohadilla de contacto del contraelectrodo, y una segunda almohadilla de contacto 304. Como se ilustra, un segundo elemento resistivo 306 incluyendo un primer grupo de conectores 308a-308l se conecta con el primer elemento resistivo 300. Como con las formas previas, todos excepto uno del primer grupo de conectores 308a-308l ha sido separado por lo tanto colocando los conectores 308a-308b y 308d-3081 en un estado abierto. El conector 308c está en un estado cerrado por lo tanto definiendo una primera trayectoria resistiva única de una tercera almohadilla de contacto 310 a través del segundo elemento resistivo 306 y al menos una porción de la primer elemento resistivo 300 para la primera almohadilla de contacto 302. Una segunda trayectoria resistiva única también se define de la tercera almohadilla de contacto 310 a través del segundo elemento resistivo 306 y al menos una porción de la primer elemento resistivo 300 para la segunda almohadilla de contacto 304. En esta forma, pueden definirse hasta doce (12) estados por la primera y segunda trayectorias resistivas únicas dependiendo de cuál conector 308a-308l se coloca en el estado cerrado.
Un tercer elemento resistivo 312 incluyendo un segundo grupo de conectores 314a-314l también se conecta co el primer elemento resistivo 300. De nuevo, todos excepto uno del segundo grupo de conectores 314a-314l han sido separados por lo tanto colocando los conectores 314a-314d y 314f-314l en un estado abierto. Para propósitos ilustrativos solamente, el conector 314e ha sido colocado en un estado cerrado por lo tanto definiendo una tercera trayectoria resistiva única de una cuarta almohadilla de contacto 316 a través del tercer elemento resistivo 312 y al menos una porción del primer elemento resistivo 300 para la primera almohadilla de contacto 302. Una cuarta trayectoria resistiva única también se define de la cuarta almohadilla de contacto 316 a través del tercer elemento resistivo 312 y al menos una porción de la primer elemento resistivo 300 para la segunda almohadilla de contacto 304. En esta forma, se pueden definir hasta doce (12) estados por la tercera y cuarta trayectorias resistivas únicas dependiendo de cuál conector 314a-314l se coloca en el estado cerrado. El número de conectores 314a-314l asociado con el tercer elemento resistivo 312 dicta cuántos estados pueden definirse en la tira de prueba 50. En otras formas, elementos resistivos, almohadillas de contacto y conectores adicionales podrían colocarse en las tiras de prueba para codificar información adicional en las tiras de prueba.
Haciendo referencia a las Figs . 5a-g y 10, se determina una descripción general de un proceso representativo que permite al medidor 10 medir la concentración de un analito en un fluido biológico.
El proceso empieza por la inserción de una tira de prueba 50 (paso 340) en el medidor 10. En esta forma, el medidor 10 se configura para encenderse automáticamente una vez que se inserta una tira de prueba 50 en el medidor 10. En este punto, el medidor 10 se configura para medir la conductividad de la red de resistencia base 104 para determinar al menos un atributo asociado con la tira de prueba 50, que se representa en el paso 342. En una forma, el medidor 10 se configura para aplicar un voltaje predeterminado a través de la almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario 103 y una de las almohadillas de contacto 110, 112 (dependiendo de si la primera o segunda trayectoria resistiva única se está consultando) y entonces mide el flujo de corriente resultante para calcular la resistencia y determinar el estado de la tira de prueba 50 (por ejemplo uno de los Estados 1-7) . Como se determina anteriormente, el estado de la tira de prueba 50 se determina como una función de un primer valor de resistencia que está asociado con cualquiera de la primera o segunda trayectoria resistiva única que define el elemento resistivo secundario 100.
En otras formas, el medidor 10 también se configura para determinar un segunda valor de resistencia asociado con el elemento resistivo primario 102. En esta forma, el medidor 10 se configura para aplicar un voltaje predeterminado a través de las almohadillas de contacto 110, 112 del elemento resistivo primario y después medir el flujo de corriente resultante y calcular la resistencia respectivamente. El medidor 10 después calcula una proporción del primer valor de resistencia (es decir, la resistencia asociada con la trayectoria resistiva única seleccionada) y el segundo valor de resistencia (es decir, la resistencia asociada con el elemento resistivo primario 102) y después correlacionad esta proporción con un atributo de la tira de prueba 50 tal como mediante una tabla de búsqueda prealmacenada en la memoria del medidor 10. Como se determina anteriormente, en una forma el atributo que el medidor 10 determina durante este proceso se correlaciona con un gradiente e intersección del algoritmo para el lote particular de las tiras de prueba 50.
Una vez que el medidor 10 determina el atributo, el medidor 10 se configura para utilizar automáticamente la información relacionada con el atributo, que se representa en el paso 344. Por ejemplo, en una modalidad el medidor 10 es instruido para realizar un tipo particular de prueba específica para la tira de prueba 50 que ha sido insertada; o el medidor 10 calibra el medidor de acuerdo con información de calibración prealmacenada para el lote de tiras de prueba. El medidor 10 se configura como una función del atributo que se determina en el paso 342. De esta forma, en la modalidad de calibración, dependiendo del estado determinado de la tira de prueba 50, el medidor 10 incluye gradientes de algoritmo almacenados en la memoria que permiten al medidor 10 ser ajustado para el tipo particular de tira de prueba 50 que has sido insertada en el medidor 10. Esto permite al medidor 10 proporcionar resultados más precisos sin requerir que el usuario tenga que interactuar con el medidor 10 durante el proceso de prueba.
Después de que el medidor 10 se configura de acuerdo con la información de atributo codificada, la secuencia de medición está lista para ser iniciada tal como apremiando al usuario a aplicar sangre, por ejemplo, a la tira de prueba 50, que se representa en el paso 346. Una vez que ha sido aplicada la sangre a la tira de prueba 50, el medidor 10 entonces inicia el ciclo de medición de glucosa en sangre que se representa en el paso 348. Después de que el medidor 10 realiza el ciclo de medición de glucosa en sangre, el medidor se configura para desplegar los resultados en la pantalla 16 (paso 350) . Se debe apreciar que este ejemplo ilustrativo es solamente un ejemplo básico y que el medidor 10 se configura para hacer muchas otras tareas también. Por ejemplo, el medidor 10 puede configurarse para almacenar los resultados de la prueba en la memoria de tal forma que el usuario puede ver los resultados de la prueba desde el pasado.
Como se utiliza en la presente, el término separar deberá construirse ampliamente para significar remover o destruir, que puede hacerse por ejemplo, cortando, por abrasión, o vaporización. En una forma, al menos una porción de los conectores 120a- 120g se separa por un láser, que puede ser un láser en estado sólido bombeado con diodos o un láser de fibra. En una forma ilustrativa, el láser en estado sólido bombeado con diodos es un láser en estado sólido bombeado con diodos de 355 nanómetros y el láser de fibra es un láser de fibra de 1090 nanómetros.
Las modalidades ilustradas del elemento resistivo secundario 100 muestran que son posibles siete estados dependiendo de cuál de los conectores 120a- 120g se dejan cerrados. Se entenderá muy bien por los expertos en la técnica que el número de estados puede aumentar o disminuir según se desee o sea necesario mediante la adición o remoción de conectores 120 del diseño para la red de resistencia base 104, con un aumento o reducción correspondiente en el número de puntos de conexión predeterminados 122.
A pesar de que las modalidades de la invención han sido descritas utilizando términos específicos, tal descripción es para propósitos ilustrativos solamente, y se entiende que los cambios y variaciones obvias para el experto en la técnica se considerarán dentro del alcance de las reivindicaciones siguientes y sus equivalentes.
Se hace constar que con relación a esta fecha, el mejor método conocido por la solicitante para llevar a la práctica la citada invención, es el que resulta claro de la presente descripción de la invención.

Claims (33)

REIVINDICACIONES Habiéndose descrito la invención como antecede, se reclama como propiedad lo contenido en las siguientes reivindicaciones:
1. Una tira sensor de prueba de analito, caracterizada porque comprende: un sustrato no conductor; un elemento resistivo primario en el sustrato no conductor con un primer extremo y un segundo extremo, en donde el elemento resistivo primario tiene una configuración predeterminada; y un elemento resistivo secundario en el sustrato no conector que tiene una pluralidad de conectores, en donde al menos un conector está conectado al elemento resistivo primario en un punto de conexión predeterminado en la configuración predeterminada por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción de la configuración predeterminada a través de la cual fluye la corriente a través del elemento resistivo primario y el elemento resistivo secundario, en donde al menos un conector que está conectado con la configuración predeterminada en tal punto de conexión predeterminado está en un estado cerrado para definir la red resistiva única y todos los otros conectores de la pluralidad de conectores están en estado abierto.
2. El sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque la trayectoria resistiva única a través de la configuración predeterminada tiene asociada a la misma una resistencia que cae dentro de uno de la pluralidad de intervalos de resistencias respectivos .
3. El sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 2, caracterizado porque la resistencia se determina como una función de una ubicación del punto de conexión predeterminado en tal configuración predeterminada.
4. El sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque la trayectoria resistiva única está asociada con un atributo de la tira sensor de prueba de analito.
5. El sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque la configuración predeterminada se forma con una forma de serpentina que define una pluralidad de extremos próximos y a pluralidad de extremos distales, en donde el punto de conexión predeterminado se localiza en un extremo próximo respectivo .
6. El sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque el primer extremo del elemento resistivo primario se conecta con una primera almohadilla de contacto y el segundo extremo se conecta con una segunda almohadilla de contacto, y en donde el tercer extremo del elemento resistivo secundario se conecta con una tercera almohadilla de contacto.
7. El sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 6, caracterizado porque la trayectoria resistiva única corre desde la tercera almohadilla de contacto a través de la elemento resistivo secundario y después dentro del elemento resistivo primario en tal punto de conexión predeterminado y después a través de al menos una porción del elemento resistivo primario a una de la primera y segunda almohadillas de contacto.
8. Una tira sensor de prueba de analito, caracterizada porque comprende: un sustrato no conductor; un elemento resistivo primario en el sustrato no conductor con una configuración predeterminada que tiene un primer extremo conectado con una primera almohadilla de contacto y un segundo extremo conectado con una segunda almohadilla de contacto; un elemento resistivo secundario en el sustrato no conductor con una pluralidad de conectores, en donde un conector de la pluralidad de conectores está conectado con el elemento resistivo primario en un lugar predeterminado por lo tanto siendo formado en un estado cerrado y definiendo una trayectoria resistiva única a través de la red resistiva primaria, el al menos un conector, y el elemento resistivo secundario, en donde los demás conectores de la pluralidad de conectores se forman en un estado abierto por lo tanto estando desconectados de tal red resistiva primaria, en donde una porción del elemento resistivo secundario se conecta con una almohadilla de contacto del elemento resistivo secundario .
9. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 8, caracterizada porque los conectores en estado abierto se separan con un láser.
10. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 8, caracterizada porque trayectoria resistiva única está asociada con un atributo de la tira sensor de prueba de analito.
11. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 8, caracterizada porque además comprende un código óptico en el sustrato no conductor .
12. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 8, caracterizada porque además comprende un primer ciclo de resistencia en el sustrato no conductor que comprende un primer electrodo sentido de medición en una relación separada de un primer electrodo de medición.
13. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 12, caracterizada porque el primer electrodo de medición está conectado al segundo extremo del elemento resistivo primario.
14. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 8, caracterizada porque la configuración predeterminada comprende una configuración de serpentina .
15. Un método para formar una tira de prueba biosensor, caracterizado porque comprende: formar un elemento resistivo primario en un sustrato no conductor con una configuración predeterminada incluyendo un primer extremo y un segundo extremo; y formar un elemento resistivo secundario en el sustrato no conductor que tiene una pluralidad de conectores, en donde al menos un conector está conectado en un lugar de conexión predeterminado en el elemento resistivo primario, por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción del elemento resistivo primario que tiene asociado al mismo una resistencia que cae dentro de uno de la pluralidad de intervalos de resistencia respectivos .
16. El método de conformidad con la reivindicación 15, caracterizado porque todos de la pluralidad de conectores excepto el conector conectado en un lugar predeterminado en el elemento resistivo primario se separa, por lo tanto desconectando los conectores separados del elemento resistivo primario .
17. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque el elemento resistivo primario incluye un pluralidad de ubicaciones de conexión predeterminada, el método además comprende el paso de seleccionar una ubicación para la conexión a ser conectada con el conector como una función de un atributo asociado con la tira de prueba biosensor.
18. El método de conformidad con la reivindicación 15, caracterizado porque además comprende formar1 un código óptico en el sustrato no conductor.
19. El método de conformidad con la reivindicación 15, caracterizado porque la trayectoria resistiva única está asociada con un atributo de la tira de prueba biosensor.
20. El método de conformidad con la reivindicación 15, caracterizado porque la configuración predeterminada comprende una configuración de serpentina.
21. El método de conformidad con la reivindicación 20, caracterizado porque la configuración de serpentina incluye un pluralidad de extremos próximos y una pluralidad de extremos distales, en donde el conector conectado en el lugar de conexión predeterminado se conecta con un extremo próximo respectivo de la configuración de serpentina.
22. El método de conformidad con la reivindicación 15, caracterizado porque cada intervalo de resistencias contenido en la pluralidad de intervalos de resistencias está asociado con un atributo único de la tira de prueba.
23. Una tira sensor de prueba de analito, caracterizada porque comprende: un sustrato no conductor; medios para conducir un análisis cuantitativo o cualitativo de un analito en una muestra de fluido; y un circuito de información provisto en el sustrato no conductor, el circuito de información comprende: una trayectoria conductora primaria entre un primer extremo y un segundo extremo con una configuración predeterminada entre el primero y segundo extremos, en donde la trayectoria conductora primaria tiene una resistencia que cae dentro un primer intervalo predeterminado; y una trayectoria conductora secundaria entre el primer extremo de la trayectoria conductora primaria y un tercer extremo, en donde la trayectoria conductora secundaria se define sustancialmente por una pluralidad de conectores abiertos y un conector cerrado, en donde el conector cerrado selectivamente conecta el tercer extremo con la trayectoria conductora primaria en un lugar predeterminado, por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única entre el primer extremo y el tercer extremo a través de al menos una porción de la trayectoria conductora primaria, en donde la trayectoria resistiva única tiene una segunda una resistencia que cae dentro una segundo intervalo predeterminado.
24. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 23, caracterizada porque la proporción de la primera resistencia y la segunda resistencia se correlaciona selectivamente con un atributo de la tira sensor de prueba de analito.
25. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 23, caracterizada porque el primer extremo se conecta con una primera almohadilla de contacto, el segundo extremo se conecta con una segunda almohadilla de contacto, y el tercer extremo se conecta con una tercera almohadilla de contacto.
26. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 23, caracterizada porque la configuración predeterminada comprende una configuración de serpentina con una pluralidad of extremos próximos y una pluralidad de extremos distales.
27. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 26, caracterizada porque el conector cerrado se conecta a un extremo próximo respectivo.
28. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 23, caracterizada porque el conector comprende el conector cerrado que se selecciona como una función de un atributo de la tira sensor de prueba de analito .
29. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 23, caracterizada porque además comprende un código óptico en el sustrato no conductor.
30. La tira sensor de prueba de analito de conformidad con la reivindicación 29, caracterizada porque el código óptico contiene al menos un atributo informacional asociado con la tira sensor de prueba de analito seleccionada del grupo que consiste de una fecha de vencimiento del producto, una identificación del producto, información de las intersecciones de la solución de sangre y control, una identificación del lote de tiras, y un identificador del algoritmo de funcionamiento de la tira.
31. Un método para medir una concentración de un analito en una muestra de fluido, caracterizado porque comprende : proveer un medidor; proveer una tira de prueba, la tira de prueba comprende : un sustrato no conductor; un electrodo en operación en el sustrato no conductor conectable al medidor; un contraelectrodo en el sustrato no conductor conectable al medidor; una parte reactiva para puentear el electrodo en operación y el contraelectrodo; un elemento resistivo primario en el sustrato no conductor con un primer extremo conectable al medidor y un segundo extremo conectable al medidor, en donde el elemento resistivo primario tiene una configuración predeterminada; y un elemento resistivo secundario en el sustrato no conductor con un tercer extremo conectable al medidor, en donde el elemento resistivo secundario tiene un conector conectado al elemento resistivo primario en un punto de conexión predeterminado en la configuración predeterminada, por lo tanto definiendo una trayectoria resistiva única a través de al menos una porción de la configuración predeterminada con un valor de resistencia; recibir la tira de prueba en el medidor; conectar operativamente el electrodo en operación, el contraelectrodo, el elemento resistivo primario, y el elemento resistivo secundario con el medidor; y determinar un atributo asociado con tira de prueba como una función de una medición asociada con al menor el valor de resistencia asociado con la trayectoria resistiva única ; ajustar el medidor para presentar un resultado de la medición de la concentración asociado con el analito como una función del atributo.
32. El método de conformidad con la reivindicación 31, caracterizado porque el elemento resistivo primario tiene un valor de resistencia del elemento primario y el atributo se determina como una función de una proporción de resistencia determinada mediante la comparación del valor de resistencia de la trayectoria resistiva única con el valor de resistencia del elemento primario.
33. El método de conformidad con la reivindicación 31, caracterizado porque un extremo del elemento resistivo primario está conectado con el contraelectrodo.
MX2014000832A 2011-07-29 2012-07-25 Biosensores codificados y metodos para su elaboracion y uso. MX349766B (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/194,031 US8888973B2 (en) 2011-07-29 2011-07-29 Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof
PCT/EP2012/003131 WO2013017218A1 (en) 2011-07-29 2012-07-25 Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MX2014000832A true MX2014000832A (es) 2014-02-27
MX349766B MX349766B (es) 2017-08-11

Family

ID=46601740

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MX2017007746A MX356609B (es) 2011-07-29 2012-07-25 Biosensores codificados y metodos para su elaboracion y uso.
MX2014000832A MX349766B (es) 2011-07-29 2012-07-25 Biosensores codificados y metodos para su elaboracion y uso.

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MX2017007746A MX356609B (es) 2011-07-29 2012-07-25 Biosensores codificados y metodos para su elaboracion y uso.

Country Status (10)

Country Link
US (2) US8888973B2 (es)
EP (2) EP4141433A1 (es)
JP (2) JP6158805B2 (es)
KR (3) KR101622529B1 (es)
CN (2) CN103733056B (es)
CA (1) CA2838759C (es)
ES (1) ES2935572T3 (es)
MX (2) MX356609B (es)
PL (1) PL2737306T3 (es)
WO (1) WO2013017218A1 (es)

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9754708B2 (en) 2011-07-29 2017-09-05 Roche Diabetes Care, Inc. Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof
CN102967637B (zh) * 2012-03-31 2016-07-06 艾康生物技术(杭州)有限公司 自动编码装置和具有该装置的生物传感器和制造方法
US8894831B2 (en) 2012-06-27 2014-11-25 Roche Diagnostics Operations, Inc. Printed memory on strip
JP6048109B2 (ja) * 2012-12-14 2016-12-21 オムロンヘルスケア株式会社 生体成分測定用の試験片およびその製造方法
US10168313B2 (en) 2013-03-15 2019-01-01 Agamatrix, Inc. Analyte detection meter and associated method of use
JP6378169B2 (ja) 2013-03-15 2018-08-22 エヌ・イーケムキャット株式会社 ディーゼルエンジン排気ガス浄化用の軽油の酸化触媒及びそれを用いたディーゼルエンジンの排気ガス浄化装置
KR102133530B1 (ko) * 2013-07-26 2020-07-13 삼성전자주식회사 센서 스트립 카트리지, 이를 이용한 생체 정보 측정 장치 및 생체 정보 측정 방법
TWI583947B (zh) * 2013-12-16 2017-05-21 聖高拜塑膠製品公司 電極及製造電極的方法
US9897566B2 (en) 2014-01-13 2018-02-20 Changsha Sinocare Inc. Disposable test sensor
US9939401B2 (en) 2014-02-20 2018-04-10 Changsha Sinocare Inc. Test sensor with multiple sampling routes
JP2015212685A (ja) * 2014-04-15 2015-11-26 アークレイ株式会社 センサおよび測定装置
CN104034876B (zh) * 2014-06-24 2016-04-20 杭州微策生物技术有限公司 电阻结构、电阻结构单元、辨认信息装置及生物传感器
CN104090964A (zh) * 2014-07-15 2014-10-08 上海斐讯数据通信技术有限公司 电子设备测试方法及系统
US10444177B2 (en) * 2015-05-26 2019-10-15 Bbb Inc. No coding type biosensor and method for manufacturing the same
JP6842823B2 (ja) * 2015-06-22 2021-03-17 Koa株式会社 電流検出用抵抗器
CA2992283C (en) * 2015-08-11 2023-03-07 F. Hoffmann-La Roche Ag Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof
DK178995B1 (en) * 2015-09-13 2017-07-31 Pro-Ino Dev Aps Handheld apparatus for testing a sample of body fluid
KR20180098599A (ko) * 2015-12-28 2018-09-04 라이프스캔 스코트랜드 리미티드 전극 전압 감지 접속부를 갖는 전기화학-기반 분석 검사 스트립 및 이와 함께 사용하기 위한 핸드헬드 검사 측정기
CN107817337B (zh) * 2016-09-13 2020-09-22 华广生技股份有限公司 一种分析物量测模块
KR102372113B1 (ko) 2016-10-05 2022-03-07 에프. 호프만-라 로슈 아게 다중 분석물 진단 테스트 엘리먼트들을 위한 검출 시약들 및 전극 배열들, 그리고 그것을 사용하는 방법들
EP3529612A4 (en) * 2016-10-24 2020-05-20 H. Hoffnabb-La Roche Ag METHODS OF CORRECTING UNCENSATED RESISTORS IN CONDUCTIVE ELEMENTS OF BIOSENSORS, AS WELL AS DEVICES AND SYSTEMS
US10794851B2 (en) 2016-11-30 2020-10-06 Saint-Gobain Performance Plastics Corporation Electrode and method for making an electrode
US11408881B2 (en) * 2017-05-04 2022-08-09 Roche Diabetes Care, Inc. Test meter and method for detecting undue pressure applied to an inserated test strip
KR20190063762A (ko) * 2017-11-30 2019-06-10 비케이전자 주식회사 온도 센서를 구비한 뇨당 검출 장치
CN110160563B (zh) * 2018-02-12 2021-03-09 杭州微策生物技术股份有限公司 一种生物传感器电阻调节编码信息的方法
WO2021138405A1 (en) 2019-12-30 2021-07-08 Roche Diabetes Care, Inc. Temperature compensated biosensors and methods of manufacture and use thereof

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4003194A1 (de) 1990-02-03 1991-08-08 Boehringer Mannheim Gmbh Verfahren und sensorelektrodensystem zur elektrochemischen bestimmung eines analyts oder einer oxidoreduktase sowie verwendung hierfuer geeigneter verbindungen
JPH10163013A (ja) * 1996-11-29 1998-06-19 Hokuriku Electric Ind Co Ltd 抵抗体のトリミング方法
DE29814997U1 (de) 1998-08-20 1998-12-03 Lre Technology Partner Gmbh Teststreifenmeßsystem
US7276146B2 (en) 2001-11-16 2007-10-02 Roche Diagnostics Operations, Inc. Electrodes, methods, apparatuses comprising micro-electrode arrays
JP2002156358A (ja) * 2000-11-20 2002-05-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd バイオセンサ、通知装置、及び測定装置
WO2003029804A1 (fr) 2001-09-28 2003-04-10 Arkray, Inc. Instrument de mesure et appareil de mesure de concentration
US6797150B2 (en) * 2001-10-10 2004-09-28 Lifescan, Inc. Determination of sample volume adequacy in biosensor devices
PL1642117T3 (pl) 2003-06-20 2018-11-30 F.Hoffmann-La Roche Ag Pasek odczynnika do paska testowego
US7645421B2 (en) 2003-06-20 2010-01-12 Roche Diagnostics Operations, Inc. System and method for coding information on a biosensor test strip
US7718439B2 (en) 2003-06-20 2010-05-18 Roche Diagnostics Operations, Inc. System and method for coding information on a biosensor test strip
US7645373B2 (en) 2003-06-20 2010-01-12 Roche Diagnostic Operations, Inc. System and method for coding information on a biosensor test strip
US7773216B2 (en) 2004-05-10 2010-08-10 Panasonic Corporation Composite sheet material selection method for use in ultra-fast laser patterning
US7556723B2 (en) 2004-06-18 2009-07-07 Roche Diagnostics Operations, Inc. Electrode design for biosensor
CA2984221C (en) * 2004-06-18 2019-06-04 F. Hoffmann-La Roche Ag System and method for quality assurance of a biosensor test strip
US7601299B2 (en) * 2004-06-18 2009-10-13 Roche Diagnostics Operations, Inc. System and method for coding information on a biosensor test strip
US7569126B2 (en) * 2004-06-18 2009-08-04 Roche Diagnostics Operations, Inc. System and method for quality assurance of a biosensor test strip
US7418285B2 (en) 2004-12-29 2008-08-26 Abbott Laboratories Analyte test sensor and method of manufacturing the same
US7713392B2 (en) 2005-04-15 2010-05-11 Agamatrix, Inc. Test strip coding and quality measurement
JP4662354B2 (ja) * 2005-05-30 2011-03-30 エプソンイメージングデバイス株式会社 電気光学装置及び電子機器
WO2006133878A2 (en) 2005-06-14 2006-12-21 Roche Diagnostics Gmbh Methods and devices for controlling the impact of short circuit faults on co-planar electrochemical sensors
PL1971460T3 (pl) 2005-12-27 2016-01-29 Bayer Healthcare Llc Sposób formowania wielowarstwowego czujnika pomiarowego do testów
US7593097B2 (en) 2006-05-26 2009-09-22 Lifescan Scotland Limited Method for determining a test strip calibration code for use in a meter
US7474391B2 (en) 2006-05-26 2009-01-06 Lifescan Scotland Limited Method for determining a test strip calibration code using a calibration strip
US7846321B2 (en) 2006-10-18 2010-12-07 Agamatrix, Inc. Error detection in analyte measurements based on measurement of system resistance
EP2101634A1 (en) 2006-12-13 2009-09-23 Bayer Healthcare, LLC Biosensor with coded information and method for manufacturing the same
DE102007003341B4 (de) * 2007-01-17 2018-01-04 Eyesense Ag Okularsensor und Messsystem zum Nachweis eines Analyten in einer Augenflüssigkeit
US9029157B2 (en) * 2007-04-12 2015-05-12 Nipro Diagnostics, Inc. Error detection and rejection for a diagnostic testing system
CN101715555A (zh) * 2007-04-27 2010-05-26 艾伯特糖尿病护理公司 使用导电图案的测试带识别
US8206564B2 (en) 2007-07-23 2012-06-26 Bayer Healthcare Llc Biosensor calibration system
KR100915383B1 (ko) * 2007-09-04 2009-09-03 주식회사 휴빛 바이오센서 및 바이오센서 측정기
TW200918896A (en) 2007-10-19 2009-05-01 Hmd Biomedical Inc Test stripe with identification function and testing device thereof
US7809512B2 (en) 2007-11-11 2010-10-05 Bayer Healthcare Llc Biosensor coding system
JP2009231359A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Hitachi Ltd 厚膜抵抗器
US8424763B2 (en) 2008-10-07 2013-04-23 Bayer Healthcare Llc Method of forming an auto-calibration circuit or label
JP5237914B2 (ja) * 2009-09-30 2013-07-17 グンゼ株式会社 検体の基質成分量の測定装置、バイオセンサ、および計測表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP4141433A1 (en) 2023-03-01
JP6158805B2 (ja) 2017-07-05
ES2935572T3 (es) 2023-03-08
CN107064257B (zh) 2019-06-14
PL2737306T3 (pl) 2023-02-20
JP6473776B2 (ja) 2019-02-20
KR20160060151A (ko) 2016-05-27
CN107064257A (zh) 2017-08-18
CN103733056B (zh) 2016-11-16
KR101632123B1 (ko) 2016-06-20
JP2014521943A (ja) 2014-08-28
EP2737306B1 (en) 2022-11-16
US8888973B2 (en) 2014-11-18
JP2017181523A (ja) 2017-10-05
US9267911B2 (en) 2016-02-23
KR20140042887A (ko) 2014-04-07
MX356609B (es) 2018-06-06
KR101622529B1 (ko) 2016-05-18
CA2838759C (en) 2018-01-02
WO2013017218A1 (en) 2013-02-07
CN103733056A (zh) 2014-04-16
US20150076010A1 (en) 2015-03-19
EP2737306A1 (en) 2014-06-04
CA2838759A1 (en) 2013-02-07
MX349766B (es) 2017-08-11
US20130027064A1 (en) 2013-01-31
KR101656650B1 (ko) 2016-09-09
KR20150132599A (ko) 2015-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9267911B2 (en) Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof
US9012232B2 (en) Diagnostic strip coding system and related methods of use
AU2007275548B2 (en) Diagnostic strip coding system with conductive layers
CA2992283C (en) Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof
EP3427039B1 (en) Systems and methods for correction of on-strip coding
WO2012064648A1 (en) Auto-coded analyte sensors and apparatus, systems, and methods for detecting same
US9754708B2 (en) Encoded biosensors and methods of manufacture and use thereof
US20200033287A1 (en) Method of operation of a meter
WO2021138405A1 (en) Temperature compensated biosensors and methods of manufacture and use thereof
TW201920950A (zh) 具有積體式電阻器的分析測試條
EP4281761A1 (en) Biosensor for determination of hemoglobin

Legal Events

Date Code Title Description
FG Grant or registration