MD196Y - Coloana de diode de temperatura inalta - Google Patents
Coloana de diode de temperatura inalta Download PDFInfo
- Publication number
- MD196Y MD196Y MDS20090053A MDS20090053A MD196Y MD 196 Y MD196 Y MD 196Y MD S20090053 A MDS20090053 A MD S20090053A MD S20090053 A MDS20090053 A MD S20090053A MD 196 Y MD196 Y MD 196Y
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- diode
- column
- diodes
- temperature
- coefficient
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 20
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 5
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 3
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000413 arsenic oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- OEYOHULQRFXULB-UHFFFAOYSA-N arsenic trichloride Chemical compound Cl[As](Cl)Cl OEYOHULQRFXULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013590 bulk material Substances 0.000 description 1
- 230000000739 chaotic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004870 electrical engineering Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Rectifiers (AREA)
Abstract
Inventia se refera la domeniul electronicii temperaturilor inalte si poate fi utilizata in electrotehnica sau alte domenii ale tehnicii, unde sunt solicitate convertizoare de tensiune inalta de dimensiuni mici, de exemplu, in sursa de alimentare a generatorului instalatiilor roentgenotehnice sau in sursa de alimentare a magnetronului convertizorului dispozitivelor cu microunde. Coloana de diode de temperatura inalta contine diode de redresare de tensiune inalta, formate dintr-un semiconductor de tip A3B5 cu banda energetica interzisa mai mare decat 1,1 eV, si un strat de pasivizare si protectie din oxidul elementului A, depus pe suprafata de iesire a jonctiunii p-n la suprafata. Coloana de diode mai contine discuri metalice cu coeficientul de dilatare termica aproape de coeficientul de dilatare termica a semiconductorului diodei, amplasate intre diodele de redresare pe axa coloanei peste cel putin o dioda si conectate consecutiv cu acestea, asamblate si capsulate intr-un corp din masa plastica cu doua borne de iesire, care sunt unite flexibil cu diodele extreme prin discuri metalice. Rezultatul consta in majorarea temperaturii de lucru a coloanei de diode de temperatura inalta pana la 200°C si micsorarea timpului de revenire inversa mai jos de 60 ns.
Description
Invenţia se referă la domeniul electronicii temperaturilor înalte şi poate fi utilizată în electrotehnică sau alte domenii ale tehnicii, unde sunt solicitate convertizoare de tensiune înaltă de dimensiuni mici, de exemplu, în sursa de alimentare a generatorului instalaţiilor roentgenotehnice sau în sursa de alimentare a magnetronului convertizorului dispozitivelor cu microunde.
Cea mai apropiată soluţie este coloana de diode cu avalanşă, care conţine diode redresoare din siliciu conectate consecutiv, montate pe o bară din textolit de sticlă şi amplasate într-un corp din masă plastică cu două borne de ieşire [1].
Dezavantajele acestei soluţii constau în temperatura joasă de funcţionare, limitată la 120°C din cauza creşterii curenţilor de scurgere la tensiuni de blocare inversă şi timpul de revenire inversă mare la diode, factor determinat de proprietăţile electrofizice ale siliciului, care în funcţie de dimensiunile cristalului variază în intervalul 250…380 ns.
Problemele, pe care le rezolvă prezenta invenţie, sunt păstrarea stabilităţii proprietăţilor electrice ale coloanei de diode în condiţii de funcţionare la temperatură înaltă (peste 200°C) şi majorarea vitezei de funcţionare a dispozitivului.
Dispozitivul, conform invenţiei, înlătură dezavantajele menţionate mai sus prin aceea că conţine diode de redresare de tensiune înaltă, formate dintr-un semiconductor de tip A3B5 cu banda energetică interzisă mai mare decât 1,1 eV, şi un strat de pasivizare şi protecţie din oxidul elementului A, depus pe suprafaţa de ieşire a joncţiunii p-n la suprafaţă. Coloana de diode mai conţine discuri metalice cu coeficientul de dilatare termică aproape de coeficientul de dilatare termică a semiconductorului diodei, amplasate între diodele de redresare pe axa coloanei peste cel puţin o diodă şi conectate consecutiv cu acestea, asamblate şi capsulate într-un corp din masă plastică cu două borne de ieşire, care sunt unite flexibil cu diodele extreme prin discuri metalice.
Rezultatul invenţiei constă în majorarea temperaturii de lucru a coloanei de diode de temperatură înaltă până la 200°C, micşorarea timpului de revenire inversă mai jos de 60 ns şi sporirea randamentului la producţia coloanei de diode cu peste 40% prin implementarea tehnologiei de chloride epitaxie din fază gazoasă a semiconductorului de tip A3B5, de exemplu GaAs, precum şi protejarea joncţiunii p-n a diodei de redresare prin metode chimice cu oxidul elementului A, de exemplu, oxidul de galiu.
Invenţia se explică prin desenele din fig. 1 - 2, care reprezintă:
- fig. 1, schema electrică a coloanei de diode;
- fig. 2, construcţia coloanei de diode.
Coloana de diode este o succesiune de elemente de redresare 1…n (fig. 1), care conţine diode de redresare de tensiune înaltă 2, 5 în formă de disc, dintr-un semiconductor de tip A3B5 (de exemplu GaAs sau InP) cu diametrul mai mic de 5 mm, şi un strat de pasivizare şi protecţie 4 din oxidul elementului A, depus pe suprafaţa de ieşire a joncţiunii p-n la suprafaţă (fig. 2). Coloana de diode mai conţine discuri metalice 3 cu coeficientul de dilatare termică aproape de coeficientul de dilatare termică a semiconductorului diodei, amplasate între diodele de redresare pe axa coloanei peste cel puţin o diodă şi conectate consecutiv cu acestea, asamblate şi capsulate într-un corp 6 din masă plastică cu două borne de ieşire 1, 7, care sunt unite flexibil cu diodele extreme prin discuri metalice.
Prima deosebire a invenţiei constă în utilizarea unui compus semiconductor cu banda interzisă mai mare decât a siliciului, de exemplu, a unui compus de tip A3B5, pentru fabricarea diodei de redresare cu tensiune înaltă, utilizată în coloana de diode. Arseniura de galiu (GaAs), de exemplu, utilizată în dioda de redresare, micşorează curenţii de scurgere la tensiunile de blocare astfel încât prin majorarea temperaturii la 300°C curenţii de scurgere sunt mai mici decât aceiaşi curenţi la dioda din siliciu măsuraţi la 120°C. De asemenea, mobilitatea sporită a purtătorilor de curent în GaAs (4000…5000 cm2/V·s la temperatura de 25°C) duce la micşorarea timpului de revenire inversă (30…60 ns) la dioda de redresare.
Procedeul de fabricare a diodei de tensiune înaltă este legat de specificul tehnologiei materialului semiconductor.
Spre deosebire de cea mai apropiată soluţie, dioda de redresare conform invenţiei este fabricată din semiconductor de tip A3B5 datorită utilizării tehnologiei de obţinere a straturilor groase (60…100 µm) şi omogene din GaAs sau InP prin metoda de chloride epitaxie din fază gazoasă, care are un randament sporit pe scară industrială, fapt ce reduce costurile de producţie. Tehnologia chloride, considerată una din cele mai pure tehnologii de obţinere a materialelor semiconductoare de tipul A3B5, datorită gradului ridicat de puritate a componentelor iniţiale în producţie, cum ar fi galiul, triclorura de arsen etc., permite producerea eficientă a structurilor de redresare cu tensiune inversă peste 1500 V.
Altă deosebire a invenţiei constă în materialul stratului de pasivizare şi protecţie a joncţiunii p-n, utilizat la dioda din semiconductor de tip A3B5, care reprezintă oxidul elementului A al acestui semiconductor. Joncţiunile p-n de tensiune înaltă sunt caracterizate prin valori mari ale intensităţii câmpului electric (105…106 V/m) atât în masivul semiconductorului, cât şi la suprafaţa de ieşire a joncţiunii p-n. Sunt cunoscute mai multe metode de majorare a tensiunii de străpungere prin avalanşă a dispozitivului, aşa ca depunerea armăturii de câmp, formarea cercurilor de protecţie, formarea teşiturii la joncţiunea p-n. Aceste metode au ca scop micşorarea probabilităţii străpungerii electrice pe suprafaţa de ieşire a joncţiunii p-n, creând astfel condiţii de străpungere în volumul semiconductorului.
La fabricarea diodei din siliciu, ca material de pasivizare şi protecţie este utilizat bioxidul de siliciu, ca oxid propriu formând cu siliciul o adeziune calitativă. Bioxidul de siliciu, ca şi nitrura de siliciu, sunt în prezent utilizate şi în producţia diodelor cu GaAs de tensiuni până la 600 V. Însă sarcina pozitivă fixă în stratul oxidului de siliciu, depus pe suprafaţa GaAs, provoacă efectul de invertire a suprafeţei semiconductorului, în urma căruia tensiunea de străpungere scade. Mobilitatea sarcinii electrice în stratul inversat, care apare din cauza prezenţei pe suprafaţă a oxizilor de arsen şi a altor impurităţi, provoacă instabilitatea caracteristicilor electrice. În intervalul tensiunilor de străpungere purtătorii fierbinţi injectaţi în stratul oxidului de siliciu duc la modularea conductibilităţii suprafeţei GaAs, care poate provoca o străpungere haotică sau aleatorie.
Depunerea stratului de oxid de galiu pe suprafaţa de ieşire a joncţiunii p-n se efectuează din contul materialului masiv (GaAs), ce asigură o adezivitate calitativă între materiale, stabilizează la suprafaţă potenţialul chimic Fermi şi măreşte rezistivitatea stratului la suprafaţă prin doparea lui cu oxigen, care în GaAs formează niveluri adânci în banda energetică interzisă. Deci, oxidul de galiu pasivizează şi în acelaşi timp protejează joncţiunea p-n, mărind tensiunea de străpungere a diodei la creşterea intensităţii câmpului electric.
Coloana de diode se mai deosebeşte de cea mai apropiată soluţie prin aceea că conţine discuri metalice cu coeficientul de dilatare termică aproape de coeficientul de dilatare termică a semiconductorului diodei, amplasate între diodele de redresare pe axa coloanei peste cel puţin o diodă şi conectate consecutiv cu acestea. Un astfel de metal pentru GaAs poate fi molibdenul sau aliajele lui. Conductibilitatea termică a metalului este mai mare decât conductibilitatea termică a GaAs, prin urmare, discurile îmbunătăţesc distribuirea radială a căldurii degajate în zona activă a semiconductorului diodei, omogenizează câmpul termic şi asigură caracteristicile termotehnice ale coloanei de diode într-un interval lărgit de temperaturi (peste 200°C). Pentru evacuarea căldurii din coloana de diode sunt utilizate şi bornele de ieşire executate din cupru, fiind unite cu diodele extreme prin discuri metalice. Totodată bornele de ieşire sunt unite flexibil cu discuri metalice cu scopul compensării deplasărilor termice axiale.
Exemplu de realizare a invenţiei
Structurile crescute prin metoda de chloride epitaxie din fază gazoasă aveau tensiunea de blocare 900 V. La controlul de clasificare a tensiunii de blocare toate diodele obţinute de pe structură s-au aranjat în intervalul de valori 700…900 V.
Pentru montarea coloanei de diode au fost fabricate discuri din molibden cu diametrul 2 mm, grosimea 0,2 mm şi două borne de ieşire cilindrice cositorite cu diametrul 1,3 mm, transformate la un capăt în folie cu grosimea 0,4…0,5 mm şi arcuite la 90° faţă de axă. Elementele coloanei de diode au fost unite prin lipire cu aliaj PbSnAg (temperatura de topire 305°C) în formă de folie cu grosimea 100 µm şi diametrul 1,2 mm, numită în continuare prefaţă. Montarea coloanei s-a efectuat în suport tehnologic din grafit prin instalarea în ordine consecutivă, conform desenului din fig. 2, a elementelor: borna de ieşire - prefaţă - disc metalic - prefaţă - diodă - prefaţă - … - diodă - prefaţă - disc metalic - prefaţă - borna de ieşire. Procedeul de lipire s-a realizat în flux de hidrogen la temperatura 340°C timp de 7…10 min. Pentru capsulare a fost utilizată răşină KJR-9033E cu regim de polimerizare: la temperatura de 150°C - 2 ore, apoi la temperatura de 200°C - 6 ore.
Două modele de coloane de diode au fost montate cu trei şi şase diode de redresare cu tensiunile de blocare inversă 1,8 şi 4,2 kV respectiv la curenţi de scurgere 10 µA la temperatura de 200°C, limitată doar de proprietăţile materialelor auxiliare utilizare, de exemplu răşină pentru capsulare.
1. RU 2003121273 A1 2005.02.27
Claims (1)
- Coloană de diode de temperatură înaltă, care conţine diode de redresare de tensiune înaltă, formate dintr-un semiconductor de tip A3B5 cu banda energetică interzisă mai mare decât 1,1 eV, şi un strat de pasivizare şi protecţie din oxidul elementului A, depus pe suprafaţa de ieşire a joncţiunii p-n la suprafaţă; mai conţine discuri metalice cu coeficientul de dilatare termică aproape de coeficientul de dilatare termică a semiconductorului diodei, amplasate între diodele de redresare pe axa coloanei peste cel puţin o diodă şi conectate consecutiv cu acestea, asamblate şi capsulate într-un corp din masă plastică cu două borne de ieşire, totodată bornele de ieşire sunt unite flexibil cu diodele extreme prin discuri metalice.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20090053A MD196Z (ro) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | Coloană de diode de temperatură înaltă |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20090053A MD196Z (ro) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | Coloană de diode de temperatură înaltă |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD196Y true MD196Y (ro) | 2010-04-30 |
| MD196Z MD196Z (ro) | 2010-11-30 |
Family
ID=43569613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20090053A MD196Z (ro) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | Coloană de diode de temperatură înaltă |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD196Z (ro) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD4182C1 (ro) * | 2011-04-15 | 2013-04-30 | Государственный Университет Молд0 | Dispozitiv semiconductor cu joncţiune p-n în relief (variante) |
| MD4261B1 (ro) * | 2011-05-12 | 2013-11-30 | Государственный Университет Молд0 | Procedeu de fabricare a dispozitivului semiconductor cu joncţiune p-n în relief (variante) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2003121273A (ru) * | 2003-07-09 | 2005-02-27 | Ооо "Атом-Пиф" (Ru) | Столб диодный лавинный |
| MD2937C2 (ro) * | 2004-02-05 | 2006-09-30 | Производственно-Коммерческая Фирма "Discret Element" Ооо | Procedeu de curăţire a utilajului tehnologic de deşeuri după creşterea epitaxiala a straturilor semiconductoare de tipul A3B5 |
| MD3257G2 (ro) * | 2006-03-17 | 2007-09-30 | Производственно-Коммерческая Фирма "Discret Element" Ооо | Procedeu de recuperare a galiului şi arsenului din deşeul format după creşterea epitaxială a straturilor semiconductoare de tip A3B5 |
| MD176Z (ro) * | 2009-04-15 | 2010-10-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Procedeu de fabricare a diodei de tensiune înaltă |
-
2009
- 2009-04-15 MD MDS20090053A patent/MD196Z/ro not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD196Z (ro) | 2010-11-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Pearton et al. | Perspective: Ga2O3 for ultra-high power rectifiers and MOSFETS | |
| JP6815285B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP6139340B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| WO2020186700A1 (zh) | 肖特基二极管及其制备方法 | |
| US8178940B2 (en) | Schottky barrier diode and method for using the same | |
| CN103681969A (zh) | 一种基于SiC衬底光导开关制作方法 | |
| James et al. | Photoemission from cesium‐oxide‐activated InGaAsP | |
| CN105720110A (zh) | 一种SiC环状浮点型P+结构结势垒肖特基二极管及制备方法 | |
| JPH0786620A (ja) | ダイヤモンド半導体デバイス | |
| CN117476773B (zh) | 一种具有低漏电的ldmos及制备方法 | |
| MD196Y (ro) | Coloana de diode de temperatura inalta | |
| MD176Y (ro) | Procedeu de fabricare a diodei de tensiune inalta | |
| CN103137772B (zh) | 新型多层结构碳化硅光电导开关及其制备方法 | |
| US7557385B2 (en) | Electronic devices formed on substrates and their fabrication methods | |
| US11322626B2 (en) | Tunnel drift step recovery diode | |
| CN203038959U (zh) | 新型多层结构碳化硅光电导开关 | |
| US6730538B1 (en) | Fabricating electronic devices using actinide oxide semiconductor materials | |
| CN102386267A (zh) | 太阳能电池及其制造方法 | |
| CN103579388B (zh) | 一种含有双背场结构的太阳电池 | |
| CN202633316U (zh) | 脉冲功率晶闸管 | |
| CN117497578B (zh) | 一种具有低漏电的igbt及制备方法 | |
| US12310086B2 (en) | Monolithic growth of epitaxial silicon devices via co-doping | |
| US3054912A (en) | Current controlled negative resistance semiconductor device | |
| Kaushika et al. | Wafer-based solar cells: materials and fabrication technologies | |
| Blundell et al. | Silicon power rectifiers |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| KA4Y | Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) |