MD1740Z - Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 - Google Patents
Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 Download PDFInfo
- Publication number
- MD1740Z MD1740Z MDS20230010A MDS20230010A MD1740Z MD 1740 Z MD1740 Z MD 1740Z MD S20230010 A MDS20230010 A MD S20230010A MD S20230010 A MDS20230010 A MD S20230010A MD 1740 Z MD1740 Z MD 1740Z
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- tio2
- vapors
- flow
- titanium isopropoxide
- reactor
- Prior art date
Links
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 34
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N titanium(IV) isopropoxide Chemical compound CC(C)O[Ti](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 36
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 18
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 13
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 abstract description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
Abstract
Invenţia se referă la tehnologia de obţinere a semiconductoarelor, şi poate fi utilizată pentru fabricarea dispozitivelor optoelectronice.Procedeul de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 include degresarea unui substrat de sticlă în toluen, uscarea lui în vapori de alcool izopropilic şi plasarea acestuia într-un reactor de depunere chimică din faza de vapori, care se purjează cu argon timp de 20 min cu viteza fluxului de 100 cm3/min, apoi se măreşte temperatura substratului până la 400°C. Procedeul mai include producerea vaporilor de izopropoxid de titan prin barbotare la temperatura de 90°C. Depunerea straturilor epitaxiale de TiO2 se realizează prin debitarea separată în reactor a vaporilor de izopropoxid de titan, transportaţi cu un flux de argon cu viteza de 40 cm3/min, şi unui flux de oxigen cu viteza de 40 cm3/min, timp de 30 min.
Description
Invenţia se referă la tehnologia de obţinere a semiconductoarelor, şi poate fi utilizată pentru fabricarea dispozitivelor optoelectronice.
Este cunoscut un procedeu de preparare a straturilor TiO2 prin metoda MOCVD (Metalorganic chemical vapour deposition) pentru diferite temperaturi a tetraizopropoxidului de titan. În acest caz straturile au fost crescute la temperaturi de 60°C, 65°C şi 75°C cu temperatura substratului de 400°C. Straturile au fost crescute pe substraturi de sticlă, preventiv spălate cu acetonă, etanol şi apă deionizată, la presiunea în reactor de 8,2·10-2 Torr, fără utilizarea barbotării tetraizopropoxidului de titan [1].
Neajunsul acestui procedeu constă în faptul ca straturile de TiO2 au o perfecţiune cristalină joasă.
Cea mai apropiată soluţie tehnică de obţinere a straturilor de TiO2 prin metoda MOCVD este procedeul de depunere a straturilor de TiO2 la temperatura izopropoxidului de titan 90°C. Straturile subţiri de TiO2 au fost depuse pe substraturi de sticlă. Izopropoxidul de titan a fost menţinut în barbotor, încălzit până la 90°C şi transportat în reactor cu ajutorul oxigenului pur. Straturile au fost depuse la temperatura substraturilor de 400°C, la presiunea în reactor de 0,5 Torr pentru un debit a oxigenului de 7 cm3/min [2].
Neajunsul acestui procedeu constă în faptul ca nu este posibil de schimbat raportul dintre presiunea vaporilor izopropoxidului de titan şi fluxului de oxigen, ceea ce nu permite schimbarea raportului dintre fluxul de izopropoxid de titan şi fluxul de oxigen.
Problema pe care o soluţionează prezenta invenţie constă în separarea vaporilor de izopropoxid de titan şi fluxului de oxigen, fapt care ar conduce la reglarea raportului dintre fluxul de izopropoxid de titan şi fluxul de oxigen, precum şi în majorarea rezistenţei stratului epitaxial.
Procedeul de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2, conform invenţiei, înlătură dezavantajele menţionate mai sus prin aceea că include degresarea unui substrat de sticlă în toluen, uscarea lui în vapori de alcool izopropilic şi plasarea acestuia într-un reactor de depunere chimică din faza de vapori, care se purjează cu argon timp de 20 min cu viteza fluxului de 100 cm3/min, apoi se măreşte temperatura substratului până la 400°C. Procedeul de asemenea include producerea vaporilor de izopropoxid de titan prin barbotare la temperatura de 90°C. Depunerea straturilor epitaxiale de TiO2 se realizează prin debitarea separată în reactor a vaporilor de izopropoxid de titan, transportaţi cu un flux de argon cu viteza de 40 cm3/min, şi unui flux de oxigen cu viteza de 40 cm3/min, timp de 30 min.
Rezultatul tehnic al invenţiei constă în asigurarea posibilităţii reglării raportului dintre fluxul de izopropoxid de titan şi fluxul de oxigen, care îi conferă stratului epitaxial de TiO2 rezistenţă sporită.
Rezultatul tehnic obţinut se datorează faptului că fluxul de izopropoxid de titan şi fluxul de oxigen sunt introduse în reactor separat.
Exemplul de realizare a procedeului
Procedeul de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri a TiO2 constă în degresarea substratului de sticlă în toluen, uscarea în vapori de alcool izopropilic şi plasarea acestuia în reactorul de depunere chimică din faza de vapori. Reactorul se purjează cu argon timp de 20 min cu viteza fluxului de 100 cm3/min, apoi se măreşte temperatura substratului până la 400°C. Într-un barbotor se produc vapori de izopropoxid de titan la temperatura de 90°C. Depunerea straturilor epitaxiale de TiO2 se realizează prin debitarea separată în reactor a vaporilor de izopropoxid de titan, transportaţi cu fluxul de argon, şi fluxului de oxigen. Fluxul de oxigen este debitat în reactor printr-un canal separat. Se efectuează depunerea stratului de TiO2 la un flux de 40 cm3/min de argon şi 40 cm3/min de oxigen. Durata de depunere este de 30 min.
Procedeul descris îi conferă stratului epitaxial de TiO2 rezistenţă sporită.
1. Sang Hum Nam, Sang Jin Cho, Jin Hyo Boo. Growth behavior of titanium dioxide thin films at different precursor temperatures, Nanoscale Research Letters, 2012, nr. 7, art. nr. 89
2. M. I. B. Bernardi, E. J. H. Lee, P. N. Lisboa-Filho, E. R. Leite, E. Longo, J. A. Varela. TiO2 thin film growth using the MOCVD method, Materials Research, 2001, nr. 4(3), p. 1-5
Claims (1)
- Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2, care include degresarea unui substrat de sticlă în toluen, uscarea lui în vapori de alcool izopropilic şi plasarea acestuia într-un reactor de depunere chimică din faza de vapori, care se purjează cu argon timp de 20 min cu viteza fluxului de 100 cm3/min, apoi se măreşte temperatura substratului până la 400°C, precum şi producerea vaporilor de izopropoxid de titan prin barbotare la temperatura de 90°C, totodată depunerea straturilor epitaxiale de TiO2 se realizează prin debitarea separată în reactor a vaporilor de izopropoxid de titan, transportaţi cu un flux de argon cu viteza de 40 cm3/min, şi unui flux de oxigen cu viteza de 40 cm3/min, timp de 30 min.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20230010A MD1740Z (ro) | 2023-02-02 | 2023-02-02 | Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20230010A MD1740Z (ro) | 2023-02-02 | 2023-02-02 | Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD1740Y MD1740Y (ro) | 2024-01-31 |
| MD1740Z true MD1740Z (ro) | 2024-08-31 |
Family
ID=89843888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20230010A MD1740Z (ro) | 2023-02-02 | 2023-02-02 | Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD1740Z (ro) |
-
2023
- 2023-02-02 MD MDS20230010A patent/MD1740Z/ro active IP Right Grant
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD1740Y (ro) | 2024-01-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102613047B1 (ko) | 층상 전이금속 칼코겐 화합물막 형성용 조성물 및 이를 이용한 층상 전이금속 칼코겐 화합물막의 제조방법 | |
| US7135207B2 (en) | Chemical vapor deposition method using alcohol for forming metal oxide thin film | |
| JP6209168B2 (ja) | モリブデンアリル錯体及び薄膜堆積におけるその使用 | |
| KR100297719B1 (ko) | 박막제조방법 | |
| KR100343822B1 (ko) | 화학적증착법에유용한탄탈륨및니오븀시약,및상기시약을이용하여피막을침착하는방법 | |
| TWI586827B (zh) | 薄膜製成方法及原子層沈積裝置 | |
| TWI265558B (en) | Method for depositing III-V semiconductor layers on a non-III-V substrate | |
| TWI848976B (zh) | 原子層堆積法用薄膜形成用原料、薄膜形成用原料、薄膜之製造方法及化合物 | |
| KR20160093375A (ko) | 금속 칼코게나이드 박막의 제조 방법 | |
| KR20220159490A (ko) | 사이클로펜타디에닐 리간드를 포함하는 금속 착화합물 | |
| MD1740Z (ro) | Procedeu de obţinere a straturilor epitaxiale subţiri de TiO2 | |
| TW202102708A (zh) | 用於原子層沉積法之含氮化鎵薄膜形成用原料及含氮化鎵薄膜之製造方法 | |
| JP2005209766A (ja) | ハフニウム含有酸化膜の製造方法 | |
| KR102491073B1 (ko) | 실리콘 전구체 화합물, 이를 포함하는 실리콘-함유 막 형성용 조성물, 및 실리콘-함유 막 형성용 조성물을 이용한 막 형성 방법 | |
| KR20180040854A (ko) | 적층구조 박막 제조방법, 이에 의해 제조된 적층구조 박막 및 이를 이용한 반도체 소자 제조방법 | |
| CN118441261A (zh) | 一种具有逐层扭曲角度的螺旋ws2层状二维纳米材料及其制备方法 | |
| EP0365645A1 (en) | METHOD FOR THE DISPLAY OF LEAD SCANDIUM TANTALATE PEROVSKIT. | |
| KR20200123722A (ko) | 형성재료, 형성방법 및 신규화합물 | |
| KR102845952B1 (ko) | 비스(메틸시클로펜타디에닐) 니켈의 제조방법 및 이를 이용한 니켈옥사이드 박막 | |
| KR102902155B1 (ko) | 균일한 그래핀의 cvd 성장을 위한 웨이퍼 및 이의 제조 방법 | |
| KR100243267B1 (ko) | 반도체소자의박막형성방법및그박막을갖춘반도체소자 | |
| CN115003853B (zh) | 选择性形成含金属膜的方法 | |
| CN114746573B (zh) | 用于选择性形成含金属膜的化合物及方法 | |
| CN102779845A (zh) | 一种叠层金属氧化物栅介质层及其制备方法 | |
| JP4289141B2 (ja) | 有機シリコン化合物及びその溶液原料並びに該化合物を用いたシリコン含有膜の形成方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG9Y | Short term patent issued |