KR980005978A - 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로 - Google Patents
반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로를 개시한다.
본 발명은 디스터번스 테스트 회로는 n 비트의 정보를 최대 2ⁿ개의 서로 다른 출력으로 바꾸는 디코더와, 디코더의 각 출력단과 연결되고, 디코더의 출력단을 모두 활성화시키는 일괄 선택 수단을 포함하는 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따르면, 하나의 라인을 선택하기 위한 디코더의 출력단 각각에 일괄 선택 수단의 출력단을 연결하여, 복수개의 디코더의 출력 라인을 동시에 선택하게 된다. 이로써, 고집적 반도체 소자의 디스터번스 테스트 공정시 공정 시간을 감소할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 디스터번스 테스트시 블록 활성화시키기 위한 회로도.
Claims (2)
- n 비트의 코딩된 정보를 최대 2n개의 서로 다른 출력으로 바꾸는 디코더와, 상기 디코더의 각 출력단과 연결되고, 디코더의 출력단을 모두 활성화시키는 일괄 선택 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 일괄 선택 수단은 입력 전원을 인가 받는 패드부와 패드부의 신호를 반전시키기 위한 제1 및 제2 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960026377A KR980005978A (ko) | 1996-06-29 | 1996-06-29 | 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960026377A KR980005978A (ko) | 1996-06-29 | 1996-06-29 | 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR980005978A true KR980005978A (ko) | 1998-03-30 |
Family
ID=66241132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960026377A KR980005978A (ko) | 1996-06-29 | 1996-06-29 | 반도체 소자의 디스터번스 테스트 회로 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR980005978A (ko) |
-
1996
- 1996-06-29 KR KR1019960026377A patent/KR980005978A/ko not_active Application Discontinuation
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| WITN | Withdrawal due to no request for examination |