KR970062700A - Lcd 검사용 프로브 블록 - Google Patents

Abstract

본 발명은 제조된 LCD(Liquid Crystal Display)를 제품에 장착하기전 불량여부를 검사하는 고 정밀도의 프로브 블록(probe block)에 관한 것이다.

종래 LCD의 검사및 시험에 사용되는 프로브(54)는 제11도와 같이 단면이 둥근 도전성 와이어(Wire)의 끝 부분을 테이퍼형상으로 가공한 핀(56)을 여러층으로 어긋지게 배열시킨 다음 절연재질(58)로 몰딩(molding)시켜 일체화 한 구성이므로 제작과정이 복합할 뿐 아니라 제작시간이 많이 소요되고, 또한 몰딩에 의해 접속핀의 갯수와 간격이 고정되므로 검사대상 LCD 단자의 간격이나 갯수가 변화하는 경우 이에 적절히 대응할 수 없는 문제점이 있었다.

본 발명은 이러한 종래의 문제점을 개선하기 위하여 다단층으로 행하던 조립과정을 없애고 단층으로 구성하되 핀(pin)의 이격거리(pitch)를 미리 가공된 상태로 조립만 하면 핀 서로의 이격거리가 맞도록 하였으며, 접촉자는 복수개로 형성하여 접촉불량 원인을 대폭개선하고, 조립공정의 간략화와 신뢰성등이 향상되게 한 것이다.

Description

LCD 검사용 프로브 블록

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명의 사시도.

제4도는 본 발명의 일부 분해사시도.

제5도는 본 발명 접촉핀의 정면확대도.

Claims (9)

1. 접촉핀과 완층부를 갖는 경질의 도전성 접촉판 사이에 절연판을 배열한 다음 체결수단으로 체결하여서 LCD 검사용 프로브 블록.
2. 제1항에 있어서, 접촉판 사이에 삽입되는 절연판을 접촉판의 몸체와 완충부 외면에 일체에 피복함을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 절연판은 체결압력 정도에 따라 팽창, 수축하는 재질로 형성하여 접촉판의 피치간격을 정밀조정할 수 있게 함을 특징으로 하는 LCD검사용 프로브 블록.
4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 접촉핀과 완충부의 두께는 접촉판 몸체의 두께보다 얇게 형성함을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 접촉핀과 완충부를 한개 이상으로 형성함을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 접촉판 몸체의 양측에 접촉핀과 완충부를 형성하는 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 접촉핀의 첨두부는 한 개 이상으로 형성함을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 접촉핀의 첨두부는 한개 이상으로 형성함을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 접촉핀과 완충부의 경사각도(θ)는 100도 전후로 형성함을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.