KR970058514A - 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사 장치 및 방법 - Google Patents

화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970058514A
KR970058514A KR1019950052411A KR19950052411A KR970058514A KR 970058514 A KR970058514 A KR 970058514A KR 1019950052411 A KR1019950052411 A KR 1019950052411A KR 19950052411 A KR19950052411 A KR 19950052411A KR 970058514 A KR970058514 A KR 970058514A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
nozzle
component
image processing
area
Prior art date
Application number
KR1019950052411A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100190707B1 (ko
Inventor
진상훈
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR1019950052411A priority Critical patent/KR100190707B1/ko
Publication of KR970058514A publication Critical patent/KR970058514A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100190707B1 publication Critical patent/KR100190707B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0408Incorporating a pick-up tool
    • H05K13/0409Sucking devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

본 발명은 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 영상 처리부로부터 노즐의 영상 데이타를 받아 노즐에 흡착된 부품의 영상의 면적을 산출하여 그 면적이 임계값 이하이면 부품이 흡착노즐에 흡착되지 않은 것으로 판단하고, 그 면적이 임계값 이상이면 부품이 흡착노즐에 흡착된 것으로 판단한다.

Description

화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사 장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 화상처리에 의한 부품 오류 검사 장치의 구성을 보이는 블록도.
제3도는 (a),(b) 및 (c)는 본 발명에 의해 카메라로 흡착 노즐을 촬영한 영상의 예.

Claims (3)

  1. 화상처리 장치를 이용하여 칩 마운터의 노즐의 부품 흡착 오류를 검사하는 장치에 있어서, 상기 노즐부를 촬영하여 그 영상을 출력하는 카메라와, 상기 카메라로부터 영상을 입력받아 영상처리 과정을 실행하여 영상데이타로 출력하는 영상처리부와, 상기 영상처리부로부터 상기 노즐의 영상 데이타를 받아 상기 노즐에 흡착된 부품의 영상의 면적을 산출하여 그 면적이 임계값 이하이면 부품이 상기 흡착노즐에 흡착되지 않은 것으로 판단하고, 그 면적이 임계값 이상이면 부품이 상기 흡착노즐에 흡착된 것으로 판단하는 주제어부와, 상기 주제어부로부터 검사결과 데이타를 받아 표시하는 모니터를 구비하는 것을 특징으로 하는 화상처리 장치를 이용한 부품 흡착 오류 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 노즐에 흡착된 노즐의 영상의 면적 A는
    T(xi,yi): 영상부분 1, 배경부분 0
    식에 의해 산출하는 것을 특징으로 하는 화상처리 장치를 이용한 부품 흡착 오류 검사장치.
  3. 칩 마운터의 화상처리 장치를 이용하여 부품의 흡착 오류를 검사하는 장치의 제어 방법에 있어서, 화상인식 카메라가 촬영한 흡착노즐의 영상데이타를 영상 처리부로부터 입력받고, 상기 화상처리부로부터 입력 받은 영상 데이타를 2치화 처리한 후, 상기 2치화 처리된 영상 데이타로부터 다음 식에 의해 영상의 면적을 산출하고,
    T(xi,yi): 영상부분 1, 배경부분 0
    상기 영상의 면적 A가 흡착노즐만의 면적인 문턱값 TA보다 큰지를 판단하여, 상기 영상면적 A가 문턱값 TA보다 큰 경우 부품흡착 양호로 판단하고, 상기 영상의 면적 A가 문턱값 TA보다 크지 않은 경우 부품흡착 불량으로 판단하는 것을 특징으로 하는 화상처리 장치를 이용한 부품 흡착 오류 검사 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950052411A 1995-12-20 1995-12-20 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사장치및방법 KR100190707B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950052411A KR100190707B1 (ko) 1995-12-20 1995-12-20 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사장치및방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950052411A KR100190707B1 (ko) 1995-12-20 1995-12-20 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사장치및방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970058514A true KR970058514A (ko) 1997-07-31
KR100190707B1 KR100190707B1 (ko) 1999-06-01

Family

ID=19441679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950052411A KR100190707B1 (ko) 1995-12-20 1995-12-20 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사장치및방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100190707B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101594091B1 (ko) * 2010-02-22 2016-02-16 한화테크윈 주식회사 칩마운터에서의 최종 장착점 확인 방법 및 그 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR100190707B1 (ko) 1999-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910012993A (ko) 땜납 접합부 탐지 시스템 및 방법
JPH06347419A (ja) 装着部品検査装置
JP3472443B2 (ja) 実装部品検査装置
KR970058514A (ko) 화상 처리 장치를 이용한 부품의 흡착 오류 검사 장치 및 방법
KR101126759B1 (ko) 칩 마운터의 부품 정보 티칭방법
KR970053233A (ko) 부품영상의 외곽선 길이를 이용한 흡착 오류검사장치및방법
JPH02251714A (ja) 実装極性部品の極性検査方法および実装基板外観検査方法
CN106872483A (zh) 解决光学检测设备因透明材质中的气泡影响检测的方法
JPH05130512A (ja) 固体撮像素子の画素欠陥測定装置
KR970025356A (ko) 화상처리를 이용한 부품 흡착불량 검사장치 및 그 제어방법
KR970016621A (ko) 칩 장착 상태 검사방법
JP2532513B2 (ja) 物体有無検査方法
JP2803388B2 (ja) 部品検査装置
JPH05113409A (ja) 装着後部品位置検査装置
KR940015526A (ko) 레이져 센서를 이용한 전자부품 리드 휨 검사 방법
JPH04364446A (ja) 欠陥検査装置
JPS61117897A (ja) 電子部品の位置検出方法
KR960042085A (ko) 회로기판의 부품장착상태 검사방법
KR970078815A (ko) 미삽 검사장치 및 그 방법
JPH04121646A (ja) 電子部品極性検査装置
JP2006329964A (ja) ディスプレイパネル自動検査装置
JPH04148854A (ja) 表面欠陥探傷装置
KR20000037704A (ko) 마스크 연산을 이용한 인쇄물 표면의 이물질 검사장치 및 검사방법
KR980005990A (ko) I c 리드프레임의 리드간격 자동 시각검사 장치 및 방법
JPH11120355A (ja) 画像処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee