JP2006329964A - ディスプレイパネル自動検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。
【解決手段】 画像処理回路4は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路5は画像処理回路4の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路6は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置6aに出力する。これにより、検査者の目視による表示ムラの検出・判定が精度よく簡単に行えるようになる。
【選択図】 図1

Description

本発明はディスプレイパネル自動検査装置に関し、特にディスプレイパネルの異常を検査するディスプレイパネル自動検査装置に関する。
従来、液晶パネルなどのディスプレイパネル上の輝点や黒点などの点欠陥、線欠陥、表示ムラを検出するために、例えば以下のような欠陥検出方法が知られている。
図2は、従来のディスプレイパネル自動検査装置の構成を示す図である。
従来のディスプレイパネル自動検査装置は、ステージ11に設置された液晶パネルなどのディスプレイパネル12の表示を撮像して画像データを得るCCDカメラ13と、CCDカメラ13で取得した画像データをもとに、点欠陥、線欠陥、表示ムラなどを検出するための画像処理を行う画像処理回路14と、画像処理の結果により欠陥を判定する判定回路15と、を有している。
CCDカメラ13はディスプレイパネル12の解像度より高いものが用いられ、ここで撮像されて取得した画像データは画像処理回路14に送られる。画像処理回路14では、例えばノイズを除去したのち画像データ(輝度データ)を2値化し、判定回路15は2値化したデータにより、明点のデータまたはデータ群を点欠陥、線欠陥として判定する。また、表示ムラも同様に画像処理回路14にてノイズ除去したのち、判定回路15にて所定のしきい値との比較を行うことで表示ムラか否かを判定していた。
このようにすることで、ディスプレイパネルの異常のうち、点欠陥または線欠陥は比較的正確に検出・判定が可能であった。
なお、点欠陥や線欠陥の検出結果を表示装置などに表示することは、例えば特許文献1に開示されている。
特開2001−228050号公報(段落番号〔0023〕)
しかし、画像データに重畳されたノイズを完全に除去することは困難であることから、特に表示ムラの検出・判定の際のしきい値設定が難しくなり、精度よく自動的に表示ムラを検出し判定することは困難であった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供することを目的とする。
本発明では上記問題を解決するために、ディスプレイパネルの表示を撮像して取得した画像データをもとに前記ディスプレイパネルの異常を検査するディスプレイパネル自動検査装置において、図1に示すように、画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行う第1の画像処理部(画像処理回路4)と、第1の画像処理部の処理結果から欠陥を判定する欠陥判定部(判定回路5)と、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置6aに出力する第2の画像処理部(画像処理回路6)と、を有することを特徴とするディスプレイパネル自動検査装置が提供される。
上記の構成によれば、第1の画像処理部は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、欠陥判定部は第1の画像処理部の処理結果から欠陥を判定し、第2の画像処理部は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置6aに出力する。
本発明は、自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を行わず、表示ムラを顕著にするような画像処理を行い表示装置に出力して表示させるので、表示ムラの検出・判定を、検査者の目視により精度よく行うことができる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置の構成を示す図である。
ディスプレイパネル自動検査装置は、ステージ1に設置された液晶パネルなどのディスプレイパネル2の表示を撮像して画像データを取得するCCDカメラ3と、CCDカメラ3で取得した画像データをもとに、点欠陥、線欠陥などの表示ムラ以外の検査項目を検出するための画像処理を行う画像処理回路4と、画像処理の結果により欠陥を判定する判定回路5と、を有している。さらに、本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置は、CCDカメラ3で撮像して取得した画像データをもとに表示ムラ(輝度ムラや色ムラ)が顕著になるような画像処理を行い表示装置6aに出力する画像処理回路6を有することを特徴としている。
本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置で用いるCCDカメラ3は、検査するディスプレイパネル2の解像度より高いものを用いる。
画像処理回路4は、CCDカメラ3で撮像して取得した画像データをもとに、点欠陥または線欠陥の検出処理のための画像処理を行う。例えば各種フィルタを用いてノイズを除去したり、画像データ(輝度データ)の2値化処理などを行う。
判定回路5は、画像処理回路4で2値化したデータにより、所定のしきい値を超える明点のデータまたはデータ群を点欠陥、線欠陥として判定する。
画像処理回路6は、CCDカメラ3で撮像して取得した画像データをもとに、表示ムラが顕著になるような画像処理、例えば、コントラストを上げるなどして、表示装置6aに出力する。
このような構成のディスプレイパネル自動検査装置は、例えば、CCDカメラ3を搭載したコンピュータで実現される。判定回路5は、例えばCPU(Central Processing Unit)である。なお、画像処理回路4、6は1つのLSI(Large Scale Integrated circuit)としてもよい。
以下、本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置の動作を説明する。
ディスプレイパネル2の表示をCCDカメラ3で撮像して画像データを取得すると、その画像データは画像処理回路4、6に送られる。画像処理回路4では、ノイズの除去処理及び画像データ(輝度データ)の2値化処理などを行い判定回路5に処理データを出力する。判定回路5は処理データにより、所定のしきい値と比較して明点のデータまたはデータ群を点欠陥、線欠陥として判定する。さらに、ここでの判定結果を表示装置6aに出力して表示させるようにしてもよい。一方、CCDカメラ3からの画像データを取得した画像処理回路6では、画像データをもとに、コントラストを上げるなどして、表示ムラが顕著になるような画像処理を行い、表示装置6aに出力して表示させる。
このように、比較的正確に検出・判定が可能な点欠陥または線欠陥などの表示ムラ以外の欠陥は自動的に検出・判定し、画像処理などで自動的に検出・判定が困難な表示ムラは、表示ムラが顕著になるような画像処理の後、表示装置6aに表示するので、表示ムラの検出・判定を、検査者の目視により精度よく行えるようになる。
本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置の構成を示す図である。 従来のディスプレイパネル自動検査装置の構成を示す図である。
符号の説明
1 ステージ
2 ディスプレイパネル
3 CCDカメラ
4、6 画像処理回路
5 判定回路
6a 表示装置

Claims (3)

  1. ディスプレイパネルの表示を撮像して取得した画像データをもとに前記ディスプレイパネルの異常を検査するディスプレイパネル自動検査装置において、
    前記画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行う第1の画像処理部と、
    前記第1の画像処理部の処理結果から欠陥を判定する欠陥判定部と、
    前記画像データをもとに前記表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置に出力する第2の画像処理部と、
    を有することを特徴とするディスプレイパネル自動検査装置。
  2. 前記所定の検査項目は、点欠陥または線欠陥であることを特徴とする請求項1記載のディスプレイパネル自動検査装置。
  3. 前記第2の画像処理部は、前記画像データのコントラストを上げることで前記表示ムラが顕著になるようにすることを特徴とする請求項1記載のディスプレイパネル自動検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2012169423A1 (ja) * 2011-06-07 2012-12-13 シャープ株式会社 パターン検査装置およびパターン検査方法

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JP2004294290A (ja) * 2003-03-27 2004-10-21 Seiko Instruments Inc 表示パネルの表示欠陥検査装置

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