JP2006329964A - ディスプレイパネル自動検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 画像処理回路4は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路5は画像処理回路4の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路6は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置6aに出力する。これにより、検査者の目視による表示ムラの検出・判定が精度よく簡単に行えるようになる。
【選択図】 図1
Description
図2は、従来のディスプレイパネル自動検査装置の構成を示す図である。
なお、点欠陥や線欠陥の検出結果を表示装置などに表示することは、例えば特許文献1に開示されている。
図1は、本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置の構成を示す図である。
ディスプレイパネル自動検査装置は、ステージ1に設置された液晶パネルなどのディスプレイパネル2の表示を撮像して画像データを取得するCCDカメラ3と、CCDカメラ3で取得した画像データをもとに、点欠陥、線欠陥などの表示ムラ以外の検査項目を検出するための画像処理を行う画像処理回路4と、画像処理の結果により欠陥を判定する判定回路5と、を有している。さらに、本実施の形態のディスプレイパネル自動検査装置は、CCDカメラ3で撮像して取得した画像データをもとに表示ムラ(輝度ムラや色ムラ)が顕著になるような画像処理を行い表示装置6aに出力する画像処理回路6を有することを特徴としている。
画像処理回路4は、CCDカメラ3で撮像して取得した画像データをもとに、点欠陥または線欠陥の検出処理のための画像処理を行う。例えば各種フィルタを用いてノイズを除去したり、画像データ(輝度データ)の2値化処理などを行う。
画像処理回路6は、CCDカメラ3で撮像して取得した画像データをもとに、表示ムラが顕著になるような画像処理、例えば、コントラストを上げるなどして、表示装置6aに出力する。
ディスプレイパネル2の表示をCCDカメラ3で撮像して画像データを取得すると、その画像データは画像処理回路4、6に送られる。画像処理回路4では、ノイズの除去処理及び画像データ(輝度データ)の2値化処理などを行い判定回路5に処理データを出力する。判定回路5は処理データにより、所定のしきい値と比較して明点のデータまたはデータ群を点欠陥、線欠陥として判定する。さらに、ここでの判定結果を表示装置6aに出力して表示させるようにしてもよい。一方、CCDカメラ3からの画像データを取得した画像処理回路6では、画像データをもとに、コントラストを上げるなどして、表示ムラが顕著になるような画像処理を行い、表示装置6aに出力して表示させる。
2 ディスプレイパネル
3 CCDカメラ
4、6 画像処理回路
5 判定回路
6a 表示装置
Claims (3)
- ディスプレイパネルの表示を撮像して取得した画像データをもとに前記ディスプレイパネルの異常を検査するディスプレイパネル自動検査装置において、
前記画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行う第1の画像処理部と、
前記第1の画像処理部の処理結果から欠陥を判定する欠陥判定部と、
前記画像データをもとに前記表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置に出力する第2の画像処理部と、
を有することを特徴とするディスプレイパネル自動検査装置。 - 前記所定の検査項目は、点欠陥または線欠陥であることを特徴とする請求項1記載のディスプレイパネル自動検査装置。
- 前記第2の画像処理部は、前記画像データのコントラストを上げることで前記表示ムラが顕著になるようにすることを特徴とする請求項1記載のディスプレイパネル自動検査装置。
Priority Applications (1)
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JP2005158084A JP2006329964A (ja) | 2005-05-30 | 2005-05-30 | ディスプレイパネル自動検査装置 |
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JP2005158084A JP2006329964A (ja) | 2005-05-30 | 2005-05-30 | ディスプレイパネル自動検査装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012169423A1 (ja) * | 2011-06-07 | 2012-12-13 | シャープ株式会社 | パターン検査装置およびパターン検査方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004279239A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Japan Science & Technology Agency | 液晶パネルの表示欠陥検出方法及び表示欠陥検査装置 |
JP2004294290A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Seiko Instruments Inc | 表示パネルの表示欠陥検査装置 |
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2005
- 2005-05-30 JP JP2005158084A patent/JP2006329964A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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