KR960042085A - 회로기판의 부품장착상태 검사방법 - Google Patents

회로기판의 부품장착상태 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960042085A
KR960042085A KR1019950013080A KR19950013080A KR960042085A KR 960042085 A KR960042085 A KR 960042085A KR 1019950013080 A KR1019950013080 A KR 1019950013080A KR 19950013080 A KR19950013080 A KR 19950013080A KR 960042085 A KR960042085 A KR 960042085A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mounting state
circuit board
matrix
correlation matrix
component mounting
Prior art date
Application number
KR1019950013080A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0141154B1 (ko
Inventor
임헌민
마연수
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950013080A priority Critical patent/KR0141154B1/ko
Priority to JP8102936A priority patent/JPH08327322A/ja
Publication of KR960042085A publication Critical patent/KR960042085A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0141154B1 publication Critical patent/KR0141154B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

비접촉식 시각인식방법으로 회로기판에 장착되는 부품의 장착상태를 검사하는 회로기판의 부품장착상태 검사방법에 관한것으로, 검사결과에 미치는 외부 빛의 영향을 줄이고, 인식신뢰성이 우수한 부품장착상태 검사방법을 제공하기 위하여,촬영된 카메라의 영상데이타 행렬과 찾고자하는 소정의 기준행렬로부터 상관관계 행렬을 구하고, 이 상관관계 행렬을 근거로 부품장착상태를 판단하도록 하였다. 즉, 부품의 위치와 모양의 닮은 정도를 이용하여 회로기판에 장착되는 부품의장착상태를 검사하였다.

Description

회로기판의 부품장착상태 검사방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 부품장착상태 검사방법을 설명하기 위한 사시도이다, 제3도는 종래에 따른 부품장착 상태 검사장치의 카메라에 의하여 촬영된 영상을 도시한 도면이다, 제4도는 본 발명에 따른 부품장착상태 검사 방법을 설명하기 위하여 카메라에 의하여 촬영된 영상을 도시한 도면이다.

Claims (3)

  1. 상기 회로기판의 검사할 소정의 부분을 카메라로써 촬영하는 단계와, 상기 촬영된 카메라의 영상데이타 행렬과 찾고자하는 기준행렬로부터 상관관계 행렬을 구하는 단계와, 상기 상관관계 행렬을 근거로 부품장착상태를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판의 부품장착상태 검사방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 상관관계 행렬이 상기 영상데이타 행렬의 크기와 같은 것을 특징으로 하는 회로기판의 부품장착상태 검사방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 부품장착상태를 판단하는 단계는 상기 상관관계 행렬의 요소중에서 가장 큰 값을 찾는 단계와, 상기 가장 큰 위치를 찾는 단계와, 상기 큰 값을 기준값에 비교하는 상기 위치를 기준위치에 비교하여 판단하는 단계를포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판의 부품장착상태 검사방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950013080A 1995-05-24 1995-05-24 회로기판의 부품장착상태 검사방법 KR0141154B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950013080A KR0141154B1 (ko) 1995-05-24 1995-05-24 회로기판의 부품장착상태 검사방법
JP8102936A JPH08327322A (ja) 1995-05-24 1996-04-24 回路基板の部品装着状態の検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950013080A KR0141154B1 (ko) 1995-05-24 1995-05-24 회로기판의 부품장착상태 검사방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960042085A true KR960042085A (ko) 1996-12-19
KR0141154B1 KR0141154B1 (ko) 1998-07-15

Family

ID=19415282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950013080A KR0141154B1 (ko) 1995-05-24 1995-05-24 회로기판의 부품장착상태 검사방법

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH08327322A (ko)
KR (1) KR0141154B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101659305B1 (ko) * 2011-03-21 2016-09-26 한화테크윈 주식회사 부품 장착 후 검사방법
CN111421425B (zh) * 2020-03-11 2021-07-13 东北大学 一种基于工业视觉的金属表面修磨系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3066137B2 (ja) * 1991-10-16 2000-07-17 三洋電機株式会社 パターンマッチング方法
JP3325120B2 (ja) * 1994-07-29 2002-09-17 ヤマハ発動機株式会社 部品認識方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR0141154B1 (ko) 1998-07-15
JPH08327322A (ja) 1996-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5097516A (en) Technique for illuminating a surface with a gradient intensity line of light to achieve enhanced two-dimensional imaging
TW561427B (en) Image processing system for use with inspection systems
KR920003030A (ko) 프린트회로기판의 패턴검사 방법과 그 장치
DE69834946D1 (de) Inspektionssystem für strassenschäden
KR910013026A (ko) 번호판 인식장치
KR920003208A (ko) 지문촬영장치
KR950703773A (ko) 화상 일치 검출장치 및 화상 일치 검출방법(Device and method for detecting image matching)
US6639624B1 (en) Machine vision methods for inspection of leaded components
JP3472443B2 (ja) 実装部品検査装置
JP3170598B2 (ja) 外観検査装置
KR960042085A (ko) 회로기판의 부품장착상태 검사방법
KR900010601A (ko) 패턴 위치인식 장치
CN113640303B (zh) 一种用于笔记本电脑的表面瑕疵检验设备及其检测方法
KR101126759B1 (ko) 칩 마운터의 부품 정보 티칭방법
KR900702357A (ko) 테이프주름의 검사방법 및 그 장치
KR930022093A (ko) 집적회로의 경사 검출방법
JP2565000B2 (ja) コンデンサ極性検査装置
Kaufmann et al. Visual inspection using linear features
KR910010660A (ko) 내부리드본딩 검사방법
JP2532513B2 (ja) 物体有無検査方法
SE9102892D0 (sv) Anordning foer maetning av bildkvalitet mede optisk moensterigenkaenning
JPH05191100A (ja) 部品挿入検査装置
KR920005682A (ko) 전자부품 조립상태 검사기의 조명방법
JPH0333983A (ja) 物体位置検出方法
JP3052734B2 (ja) 電子部品の欠品検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070227

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee