KR970054373A - 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 abstract 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 abstract 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 abstract 1
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- H01L29/08—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
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- H01L29/66007—Multistep manufacturing processes
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Abstract
본 발명은 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터에 관한 것으로서, 콜렉터로 사용되는 제1전도형의 반도체기판; 상기 기판 상에 침적되어 있고, 상부가 요철(凹凸)을 이루는 제2전도형의 베이스 확산 영역; 상기 베이스 확산 영역의 철(凸)부에 형성된 제1전도형의 불순물이 주입된 에미터 영역; 상기 베이스 확산 영역의 상부에 침적된 절연막; 상기 절연막을 통해 하부의 메이터 영역 및 베이스 영역과 각각 연결된 제1 및 제2전극을 포함하여 이루어진 것으로, 에미터에서 베이스로 캐리어 주입시 측면으로의 주입을 방지하여 에미터 주입 효율이 커지므로 전류 특성이 향상되고 에미터 엣지로의 전류밀집 현상을 방지할 수 있으며, 또한 스위치 '온'시 콜렉터 저농도 영역에 축적된 캐리어가 '오프'시 베이스 전극으로 추출될 때 캐리어의 흐르는 경로의 저항이 줄어드는 효과가 있어 스위칭 속도가 개선된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 바이폴라 트랜지스터의 구조 단면도.
Claims (5)
- 상기 기판 상에 침적되어 있고, 상부가 요철(凹凸)을 이루는 제2전도형의 베이스 확산 영역; 상기 베이스 확산 영역의 철(凸)부에 형성된 제1전도형의 불순물이 주입된 에미터 영역; 상기 베이스 확산 영역의 상부에 침적된 절연막; 상기 절연막을 통해 하부의 에미터 영역 및 베이스 영역과 각각 연결된 제1 및 제2전극을 포함하여 이루어진 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, 상기 에미터 영역내에 인액티브한 영역이 형성된 것을 특징으로 하는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, 상기 에미터 영역내에 이의 접합깊이 보다 작은 두께의 도전 영역이 형성된 것을 특징으로 하는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, 상기 베이스 영역에는 베이스 접합깊이 보다 작은 접합부위가 형성된 것을 특징으로 하는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
- 제1전도형의 반도체 기판 상에 제2전도형의 베이스 영역을 확산시키는 단계; 상기 베이스 확산 영역의 상부 전면에 에미터 영역을 형성을 위한 제1전도형의 불순물 이온 주입을 실시하는 단계; 상기 베이스 확산 영역의 상부를 선택적으로 식각하여 에미터 영역을 형성하는 단계; 상기 결과물의 상부에 절연막을 침적하는 단계; 상기 절연막을 통해 하부의 에미터 영역 및 베이스 영역에 연결되는 콘택홀을 형성하는 단계; 및 상기 결과물의 상부에 금속층을 형성/식각하여 하부의 에미터 영역과 베이스 영역에 연결되는 제1 및 제2전극을 형성하여 단계를 포함하여 이루어지는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터의 제조 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950050544A KR0169790B1 (ko) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950050544A KR0169790B1 (ko) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970054373A true KR970054373A (ko) | 1997-07-31 |
KR0169790B1 KR0169790B1 (ko) | 1999-01-15 |
Family
ID=19440508
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950050544A KR0169790B1 (ko) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0169790B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100636777B1 (ko) * | 1998-06-05 | 2006-10-20 | 스탠포드 유니버시티 | 동작 강화기를 갖는 반도체 전류-스위칭 디바이스 및 그방법 |
-
1995
- 1995-12-15 KR KR1019950050544A patent/KR0169790B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100636777B1 (ko) * | 1998-06-05 | 2006-10-20 | 스탠포드 유니버시티 | 동작 강화기를 갖는 반도체 전류-스위칭 디바이스 및 그방법 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR0169790B1 (ko) | 1999-01-15 |
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|
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