KR970054373A - 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 - Google Patents

대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970054373A
KR970054373A KR1019950050544A KR19950050544A KR970054373A KR 970054373 A KR970054373 A KR 970054373A KR 1019950050544 A KR1019950050544 A KR 1019950050544A KR 19950050544 A KR19950050544 A KR 19950050544A KR 970054373 A KR970054373 A KR 970054373A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
region
base
bipolar transistor
emitter
emitter region
Prior art date
Application number
KR1019950050544A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0169790B1 (ko
Inventor
현동호
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950050544A priority Critical patent/KR0169790B1/ko
Publication of KR970054373A publication Critical patent/KR970054373A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0169790B1 publication Critical patent/KR0169790B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/72Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
    • H01L29/73Bipolar junction transistors
    • H01L29/732Vertical transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/08Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • H01L29/0804Emitter regions of bipolar transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/10Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode not carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • H01L29/1004Base region of bipolar transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66007Multistep manufacturing processes
    • H01L29/66075Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
    • H01L29/66227Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
    • H01L29/66234Bipolar junction transistors [BJT]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)

Abstract

본 발명은 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터에 관한 것으로서, 콜렉터로 사용되는 제1전도형의 반도체기판; 상기 기판 상에 침적되어 있고, 상부가 요철(凹凸)을 이루는 제2전도형의 베이스 확산 영역; 상기 베이스 확산 영역의 철(凸)부에 형성된 제1전도형의 불순물이 주입된 에미터 영역; 상기 베이스 확산 영역의 상부에 침적된 절연막; 상기 절연막을 통해 하부의 메이터 영역 및 베이스 영역과 각각 연결된 제1 및 제2전극을 포함하여 이루어진 것으로, 에미터에서 베이스로 캐리어 주입시 측면으로의 주입을 방지하여 에미터 주입 효율이 커지므로 전류 특성이 향상되고 에미터 엣지로의 전류밀집 현상을 방지할 수 있으며, 또한 스위치 '온'시 콜렉터 저농도 영역에 축적된 캐리어가 '오프'시 베이스 전극으로 추출될 때 캐리어의 흐르는 경로의 저항이 줄어드는 효과가 있어 스위칭 속도가 개선된다.

Description

대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 바이폴라 트랜지스터의 구조 단면도.

Claims (5)

  1. 상기 기판 상에 침적되어 있고, 상부가 요철(凹凸)을 이루는 제2전도형의 베이스 확산 영역; 상기 베이스 확산 영역의 철(凸)부에 형성된 제1전도형의 불순물이 주입된 에미터 영역; 상기 베이스 확산 영역의 상부에 침적된 절연막; 상기 절연막을 통해 하부의 에미터 영역 및 베이스 영역과 각각 연결된 제1 및 제2전극을 포함하여 이루어진 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 에미터 영역내에 인액티브한 영역이 형성된 것을 특징으로 하는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
  3. 제1항에 있어서, 상기 에미터 영역내에 이의 접합깊이 보다 작은 두께의 도전 영역이 형성된 것을 특징으로 하는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
  4. 제1항에 있어서, 상기 베이스 영역에는 베이스 접합깊이 보다 작은 접합부위가 형성된 것을 특징으로 하는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터.
  5. 제1전도형의 반도체 기판 상에 제2전도형의 베이스 영역을 확산시키는 단계; 상기 베이스 확산 영역의 상부 전면에 에미터 영역을 형성을 위한 제1전도형의 불순물 이온 주입을 실시하는 단계; 상기 베이스 확산 영역의 상부를 선택적으로 식각하여 에미터 영역을 형성하는 단계; 상기 결과물의 상부에 절연막을 침적하는 단계; 상기 절연막을 통해 하부의 에미터 영역 및 베이스 영역에 연결되는 콘택홀을 형성하는 단계; 및 상기 결과물의 상부에 금속층을 형성/식각하여 하부의 에미터 영역과 베이스 영역에 연결되는 제1 및 제2전극을 형성하여 단계를 포함하여 이루어지는 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터의 제조 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950050544A 1995-12-15 1995-12-15 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법 KR0169790B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050544A KR0169790B1 (ko) 1995-12-15 1995-12-15 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050544A KR0169790B1 (ko) 1995-12-15 1995-12-15 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970054373A true KR970054373A (ko) 1997-07-31
KR0169790B1 KR0169790B1 (ko) 1999-01-15

Family

ID=19440508

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950050544A KR0169790B1 (ko) 1995-12-15 1995-12-15 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0169790B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100636777B1 (ko) * 1998-06-05 2006-10-20 스탠포드 유니버시티 동작 강화기를 갖는 반도체 전류-스위칭 디바이스 및 그방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100636777B1 (ko) * 1998-06-05 2006-10-20 스탠포드 유니버시티 동작 강화기를 갖는 반도체 전류-스위칭 디바이스 및 그방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR0169790B1 (ko) 1999-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970067933A (ko) 절연 게이트형 반도체 장치 및 그 제조방법
KR900004031A (ko) 바이폴러 트랜지스터 및 그 제조방법
KR890011106A (ko) 에미터 스위칭 형태로 집적된 고-전압 바이폴라 파워 트랜지스터 및 저-전압 mos 파워 트랜지스터 구조 및 이의 제조방법
KR20010006559A (ko) 실리콘 카바이드 전계제어 바이폴라 스위치
KR910014995A (ko) 낮은 콜렉터저항을 갖도록 얇고 유전체에 의해 격리된 영역으로 구성되는 트랜지스터의 구조
JP2003282848A5 (ko)
KR920001655A (ko) 바이폴라 트랜지스터용 자기정렬된 콜렉터 구조 및 이를 주입하는 방법
KR910010730A (ko) 헤테로 접합 바이폴라 트랜지스터 및 그의 제조 방법
KR890013793A (ko) 고전력 gto 싸이리스터 및 그 제조방법
JPH09116152A (ja) パワー半導体素子
KR970054373A (ko) 대전류 및 고속 스위칭 특성을 갖는 수직 구조 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조 방법
US5952682A (en) Semiconductor device with deep anode and lifetime reduction region
KR910008850A (ko) 반도체 디바이스
KR840005930A (ko) 반도체 장치(半導體裝置)
KR950034827A (ko) 절연게이트 바이폴라 트랜지스터의 구조 및 그 제조방법
JPH042169A (ja) 横形伝導度変調型半導体装置
KR0182251B1 (ko) 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
JP2502696B2 (ja) 半導体集積回路装置
KR970018770A (ko) 인슐레이티드 게이트 바이폴라 트랜지스터 및 다이오드를 동일기판 내에 갖는 반도체 장치 제조 방법
KR880003364A (ko) 수직형 퓨즈
JP2604176B2 (ja) 半導体スイッチング素子
KR0148699B1 (ko) 반도체소자
KR970010739B1 (ko) 고속 스위칭 반도체 장치 및 그 제조방법
JPS57130466A (en) Electrostatic induction type switching device
KR100269631B1 (ko) 반도체장치의 인슐레이티드 게이트 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110930

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120918

Year of fee payment: 15

LAPS Lapse due to unpaid annual fee