KR970013044A - 반도체소자의 비아콘택 형성방법 - Google Patents

반도체소자의 비아콘택 형성방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 반도체소자의 비아콘택 형성방법에 관한 것으로, 하부구조물이 형성된 반도체기판 상부에 제1금속배선물질과 반사방지막을 순차적으로 형성하고 비아콘택될 부분을 제와한 부분을 일정두께 식각한 다음, 전체표면상부에 제1금속층간절연막을 일정두께 형성하고 표면에 평탕화층을 형성한 다음, 전면식각공정으로 상기 평탄화층을 일정두께 식각함과 동시에 상기 제1금속배선의 식각면에 제1금속층간절연막 스페이서를 형성하고 전체표면상부에 제2금속층간절연막을 형성한 다음, 비아콘택마스크를 이용한 식각공정으로 상기 제1금속배선을 노출시키는 비아콘택홀을 형성하고 상기 제1금속배선에 접속되는 제2금속배선을 형성함으로써 안정된 비아콘택을 형성하여 반도체소자의 특성, 수율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있는 기술이다.

Description

반도체소자의 비아콘택 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1C도 내지 제1E도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체소자의 비아콘택 형성공정을 도시한 단면도.

Claims (7)

  1. 하부구조물이 형성된 반도체기판 상부에 제1금속배선물질을 일정 두께 형성하는 공정과, 상기 제1금속배선물질 상부에 반사방지막을 형성하는 공정과, 마스크를 이용한 식각공정으로 상기 비아콘택될 부분을 제외한 부분을 일정두께 식각함으로써 제1금속배선을 형성하는 공정과, 전체포면상부에 제1금속충간절연막을 형성하는 공정과, 전체표면상부에 제1금속충간절연막을 형성하는 공정과, 전체표면상부에 평탄화층을 형성하는 공정과, 전체표면상부에 평탄화층을 형성하는 공정과, 전면식각공증으로 상기 평탄화층을 일정두께 식각하는 동시에 상기 제1금속배선의 식각면에 제1금속충간절연막 스페이서를 형성하는 공정과, 전체표면상부에 제2금속충간절연막을 형성하는 공정과, 비아콘택마스크를 이용한 식각공정으로 상기 제1금속배선을 노출시키는 비아콘택홀을 형성하는 공정과. 상기 비아콘택홀을 통하여 상기 제1금속배선에 접속되는 제2금속배선을 형성하는 공정을 포함하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1금속배선은 알루미늄박막으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1금속배선은 상기 제2금속배선이 형성될 부분까지 두껍게 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 반사방지막은 티타늄막/티타늄빌화막 적층구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제1, 2층간절연막은 TEOS 산화막으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 평탄층은 SOG 막으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제2금속배선은 알루미늄박막으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택 형성방법.
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