KR960039214A - 모스 트랜지스터 제조 방법 - Google Patents

모스 트랜지스터 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960039214A
KR960039214A KR1019950008279A KR19950008279A KR960039214A KR 960039214 A KR960039214 A KR 960039214A KR 1019950008279 A KR1019950008279 A KR 1019950008279A KR 19950008279 A KR19950008279 A KR 19950008279A KR 960039214 A KR960039214 A KR 960039214A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
forming
insulating layer
conductive
insulating
Prior art date
Application number
KR1019950008279A
Other languages
English (en)
Inventor
김천수
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950008279A priority Critical patent/KR960039214A/ko
Publication of KR960039214A publication Critical patent/KR960039214A/ko

Links

Landscapes

  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 기판상에 게이트 산화막, 게이트 전극용 전도막을 차례로 형성하는 단계; 상기 전도막상에 제1절연막을 형성하는 단계; 게이트 마스크를 사용하여 상기 제1절연막 및 전도막을 차례로 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 제1절연막 및 전도막 측벽에 제2절연막으로 스페이서를 형성하는 단계; 상기 제1절연막을 제거하는 단계; 노출된 전도막 및 반도체 기판 표면에 금속막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터제조 방법에 관한 것으로, 낮은 면저항을 갖는 게이트 및 얕은 접합이 형성된 고집적 반도체 소자의 모스 트랜지스터를 제조하여 소자의 고집적화 및 모스 트랜지스터의 특성을 향상시키는 효과가 있다.

Description

모스 트랜지스터 제조 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1A도 내지 제1E도는 본 발명의 일실시예에 따른 모스 트랜지스터 제조 공정도.

Claims (6)

  1. 반도체 기판상에 게이트 산화막, 게이트 전극용 전도막을 차례로 형성하는 단계; 상기 전도막상에 제1절연막을 형성하는 단계; 게이트 마스크를 사용하여 상기 제1절연막 및 전도막을 차례로 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 제1절연막 및 전도막 측벽에 제2절연막으로 스페이서를 형성하는 단계; 상기 제1절연막을 을 제거하는 단계; 노출된 전도막 및 반도체 기판 표면에 금속막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모스트랜지스터 제조 방법.
  2. 제1항에 있어서; 상기 제1절연막은 PSG막인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터 제조 방법.
  3. 제2항에 있어서; 상기 스페이서 제2절연막은 질화막인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터 제조 방법.
  4. 제1항에 있어서; 상기 전도막은 폴리실리콘막인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터 제조 방법.
  5. 제4항에 있어서; 상기 금속막은 실리콘 또는 폴리실리콘 표면에서 선택적으로 형성된 텅스텐막인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터 제조 방법.
  6. 제5항에 있어서; 상기 텅스텐막을 선택적으로 형성하기 이전에 기판을 HF 용액에서 세정하는 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터 제조 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950008279A 1995-04-10 1995-04-10 모스 트랜지스터 제조 방법 KR960039214A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950008279A KR960039214A (ko) 1995-04-10 1995-04-10 모스 트랜지스터 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950008279A KR960039214A (ko) 1995-04-10 1995-04-10 모스 트랜지스터 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR960039214A true KR960039214A (ko) 1996-11-21

Family

ID=66553442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950008279A KR960039214A (ko) 1995-04-10 1995-04-10 모스 트랜지스터 제조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960039214A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960024604A (ko) 이중 채널 박막트랜지스터 및 그 제조방법
KR960019770A (ko) 상보형 모스 소자의 게이트 전극 형성 방법
KR950001901A (ko) 콘택홀 제조방법
KR960039214A (ko) 모스 트랜지스터 제조 방법
KR970072497A (ko) 액티브 매트릭스 기판의 제조방법 및 그 방법에 의해 제조되는 액티브 매트릭스 기판
KR970054431A (ko) 모스 트랜지스터 및 그 제조방법
KR940016887A (ko) 반도체 소자의 미세 게이트전극 형성방법
KR950004584A (ko) 오프셋 구조의 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 제조방법
KR960039285A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970053822A (ko) 반도체소자의 커패시터 제조방법
KR970004037A (ko) 반도체 소자의 트랜지스터 제조방법
KR930020716A (ko) Itldd 구조의 반도체장치의 제조방법
KR970030905A (ko) 트랜지스터 제조방법
KR960002696A (ko) 박막트랜지스터 제조 방법
KR970053050A (ko) 반도체 소자의 모스 트랜지스터 제조방법
KR970053014A (ko) 반도체 소자의 스페이서 형성방법
KR970024226A (ko) 반도체 메모리소자의 스토리지 전극 형성방법
KR970024168A (ko) 모스 트랜지스터 및 그의 제조방법(A MOS transistor and a method of fabricating the same)
KR970052415A (ko) 이중 절연막을 사용하는 반도체 장치의 콘택 형성 방법
KR970018072A (ko) 미세 접촉창을 형성할 수 있는 반도체 장치의 제조 방법
KR920008971A (ko) 소오스/드레인 자기정합 방식의 반도체 장치의 제조방법
KR970053093A (ko) 반전층 드레인 트랜지스터 제조방법
KR970030498A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR970003613A (ko) 반도체소자의 트랜지스터 형성방법
KR920010827A (ko) 반도체 장치의 소자격리 방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination