KR960026929A - 트랜지스터 제조방법 - Google Patents
트랜지스터 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960026929A KR960026929A KR1019940034738A KR19940034738A KR960026929A KR 960026929 A KR960026929 A KR 960026929A KR 1019940034738 A KR1019940034738 A KR 1019940034738A KR 19940034738 A KR19940034738 A KR 19940034738A KR 960026929 A KR960026929 A KR 960026929A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- film
- insulating film
- semiconductor substrate
- forming
- transistor
- Prior art date
Links
Landscapes
- Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
본 발명은 얕은 접합(shallow junction)의 소스/드레인을 갖는 트랜지스터 제조방법에 관한 것으로, 반도체 기판(1)에 게이트산화막(2), 게이트전극(3)을 형성하는 단계와; 상기 반도체기판과 반대되는 형의 불순물이 도핑된 절연막(4)을 형성하고, 열처리하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1A도 내지 제1C도는 본 발명의 일실시예에 트랜지스터 제조 공정 단면도.
Claims (7)
- 트랜지스터 제조방법에 있어서, 반도체기판에 게이트산화막, 게이트전극을 형성하는 단계와; 상기 반도체기판과 반대되는 형의 불순물이 도핑된 절연막을 형성하고, 열처리하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 얕은 소스/드레인의 접합을 갖는 트랜지스터 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 절연막은 PSG막인 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 절연막은 3000Å 내지 7000Å 두께로 형성되는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법.
- 제3항에 있어서,상기 열터리 단계는 RTA 방법으로 900℃ 내지 1100℃의 온도하에서 5 내지 10초간 이루어지는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 열처리 단계후 상기 절연막을 소정정도 식각한 다음 불순물을 고농도로 주입하는 단계를 더 포함함으로써 저도핑드레인 구조를 이루는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법.
- 제5항에 있어서, 상기 절염막은 블랭킷으로 식각되되, 800Å내지 1200Å 잔류되는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 절연막은 BSG막인 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940034738A KR960026929A (ko) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 트랜지스터 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940034738A KR960026929A (ko) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 트랜지스터 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960026929A true KR960026929A (ko) | 1996-07-22 |
Family
ID=66688591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940034738A KR960026929A (ko) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 트랜지스터 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960026929A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030049590A (ko) * | 2001-12-15 | 2003-06-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 트랜지스터 형성 방법 |
-
1994
- 1994-12-16 KR KR1019940034738A patent/KR960026929A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030049590A (ko) * | 2001-12-15 | 2003-06-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 트랜지스터 형성 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960026929A (ko) | 트랜지스터 제조방법 | |
KR100192364B1 (ko) | 모스 트랜지스터 제조방법 | |
KR970003447A (ko) | 모스 트랜지스터의 소스/드레인 영역의 어닐링 방법 | |
KR950004584A (ko) | 오프셋 구조의 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 제조방법 | |
KR970003682A (ko) | 저도핑 드레인 구조의 모스 트랜지스터 제조 방법 | |
KR930005272A (ko) | Ldd형 mos 트랜지스터 및 그의 제조방법 | |
KR960015954A (ko) | 전계효과트랜지스터 제조방법 | |
KR940016946A (ko) | T형 폴리사이드 구조에 의한 게이트 전극 형성 방법 | |
KR950009978A (ko) | 모스트랜지스터의 제조방법 | |
KR970053053A (ko) | 모스트랜지스터 제조 방법 | |
KR970008588A (ko) | 반도체 기억소자 및 그 제조방법 | |
KR950012645A (ko) | 반도체 장치의 박막 트랜지스터 제조방법 | |
KR920007233A (ko) | 절연게이트형 전계효과 트랜지스터 제조방법 | |
KR960026936A (ko) | 반도체 소자의 트랜지스터 제조방법 | |
KR970004073A (ko) | 저도핑 드레인 (ldd) 구조의 모스 (mos) 트랜지스터 및 그 제조 방법 | |
KR980005878A (ko) | 반도체 장치의 모스트랜지스터 제조방법 | |
KR930009109A (ko) | 트랜지스터 제조방법 | |
KR960026959A (ko) | 저도핑 드레인(ldd) 구조의 모스 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR970053071A (ko) | 모스펫의 제조방법 | |
KR940010387A (ko) | 반도체 소자 제조방법 | |
KR970018116A (ko) | 반도체메모리장치의 제조방법 | |
KR950004602A (ko) | 폴리실리콘 박막트랜지스터 제조방법 | |
KR950034669A (ko) | 반도체 소자의 제조방법 | |
KR970054399A (ko) | 모스트랜지스터 제조 방법 | |
KR950012712A (ko) | Cmos 트랜지스터의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |