KR960024957A - 메모리 테스트 방법 - Google Patents

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KR960024957A
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Abstract

본 발명은 메모리 테스트 방법에 관한 것이다.
종래의 메모리 테스트 방법은 메모리측의 제어버스나 데이타 버스의 오류를 감지할 수 있으나, 특정 어드레스 라인간의 단락이나 특정 어드레스 라인이 기판상에서 절단된 경우 등과 같은 어드레스 버스상의 오류는 감지할 수 없었다.
본 발명은 메모리 테스트시 어드레스 상에서의 오류를 감지하여 오류 발생된 어드레스 라인을 운용자에게 알려주므로 보다 정밀한 테스트가 가능하다.

Description

메모리 테스트 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 메모리 테스트 방법을 설명하기 위한 흐름도.

Claims (1)

  1. 메모리 테스트 방법에 있어서, 어드레스 영역을 지정하기 위한 첫번째 어드레스와 마지막 어드레스를 선정함과 동시에 소정의 특정값을 설정하는 제1과정, 상기 제1과정 이후 어드레스의 첫번째 비트만을 "1"로 하고 메모리의 해당 어드레스에 상기 특정값을 기록하는 제2과정, 상기 제2과정 이후 메모리의 전체 어드레스 영역에 기록되어 있는 상기 특정값 기록 갯수 해당 특정값이 기록된 어드레스를 저정하는 제3과정, 상기 제3과정에서 저장된 특정값 기록갯수가 1개 이내 인지의 여부를 확인하는 제4과정, 상기 제4과정에서 특정값 기록갯수가 1개 이내가 아닌 경우 해당 특정값이 기록된 어드레스를 출력하고 출력된 해당 어드레스에서 "1"로 셋팅된 비트를 출력한 후 메모리가 비정상 상태임을 판정하는 제5과정, 상기 제4과정에서 특정값 기록갯수가 1개 이내가 아닌 경우 특정값을 기록했던 어드레스가 상기 마지막 어드레스에 도달했는지의 여부를 확인하는 제6과정, 상기 제6과정에서 특정값을 기록했던 어드레스가 마지막 어드레스에 도달하지 않을 경우 메모리를 클리어 시키고 어드레스의 다음 비트만을 "1"로 하고 메모리의 해당 어드레스에 상기 특정값을 기록한 후 상기 제3과정으로 귀환하는 제7과정, 상기 제6과정에서 특정값을 기록했던 어드레스가 마지막 어드레스에 도달한 경우 메모리가 정상 상태임을 판정하는 제8과정을 포함하는 것을 특징으로 하느 메모리 테스트 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940039441A 1994-12-30 1994-12-30 메모리 테스트 방법 KR0121094B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7486509B2 (en) 2005-07-18 2009-02-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Bracket for disk drive

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