KR960012464A - 트랜지스터 보호회로 - Google Patents

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KR960012464A
KR960012464A KR1019950030094A KR19950030094A KR960012464A KR 960012464 A KR960012464 A KR 960012464A KR 1019950030094 A KR1019950030094 A KR 1019950030094A KR 19950030094 A KR19950030094 A KR 19950030094A KR 960012464 A KR960012464 A KR 960012464A
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KR1019950030094A
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신이찌 후쿠자코
야스히로 후쿠다
Original Assignee
가나미야지 준
오끼뎅끼 고오교오 가부시끼가이샤
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Abstract

바이폴라 트랜지스터에서 되는 반도체 집적회로에 대한 외부에서의 정전기서지에 대하여 충분한 크램프 특성이 얻게 되도록 한 트랜지스터 보호회로를 제공한다.
바이폴라 트랜지스터에 있어서 트랜지스터 보호회로(10)는 입력단자(1)와 전원전위 Vcc의 사이에 접속된 다이오드(3)와 입력단자(1)와 접지전위 Vee과의 사이에 접속된 다이오드(5)와 다이오드(3)(5) 각각의 기생저항인 저항(2)(6)과 바이폴라 트랜지스터(8)의 E-B접합간에 해당 E-B접합의 방향이 역으로 되도록한 방향으로 접속된 보호소자인 다이오드(7)로 된다.

Description

트랜지스터 보호회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1의 실시예를 나타내는 트랜지스터 보호회로,
제2도는 본 발명의 제2의 실시예를 나타내는 트랜지스터 보호회로,
제3도는 본 발명의 제3의 실시예에 의한 크램프 특성의 향상을 표시하는 비교도.

Claims (10)

  1. 적어도 하나 이상의 단자를 구비하는 바이폴라 트랜지스터로 있어 해당단자에 외부에서의 정전기 서지가 가하게 되는 경우 에미터 베이스 접합이 역바이어스로 되도록한 상기 바이폴라 트랜지스터를 보호하는 트랜지스터 보호회로에 있어서, 상기 에미터 ·베이스 접합간에 배치 접속한 보호소자를 설치한 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  2. 적어도 하나 이상의 단자를 구비하는 바이폴라 트랜지스터로 있어 해당 단장 외부에서의 정전기 서지가 가하게 되는 경우 에미터 ·베이스 접합이 역바이어스로 되도록한 상기 바이폴라 트랜지스터를 보호하는 트랜지스터 보호회로에 있어서, 상기 에미터·베이스 접합간에 배치 접속한 보호소자와, 상기 바이폴라 트랜지스터의 베이스와, 상기 보호소자와의 사이에 배치 접속한 저항을 설치한 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 보호소자는 다이오드 혹은 트랜지스터 PN 접합인 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 보호소자는 상기 에미터·베이스 접합간과 역의 극성을 가지는 PN 접합인 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  5. 베이스가 입력에 접속되어 해당입력에 정전기 서지가 걸린 경우에 에미터 ·베이스 접합이 역바이어스로 되도록한 바이폴라 트랜지스터를 보호하는 트랜지스터 보호회로에 있어서, 상기 에미터 ·베이스 접합간에 배치 접속한 보호소자를 설치한 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  6. 베이스가 입력에 접속되어 행당 입력에 정전기 서지가 걸린 경우에 에미터 ·베이스 접합이 역바이어스로 되도록한 바이폴라 트랜지스터를 보호하는 트랜지스터 보호회로에 있어서, 상기 에미터 ·베이스 접합간에 배치 접속한 보호소자와 상기 바이폴라 트랜지스터의 베이스와 상기 보호소자와의 배치 접속한 제1의 저항체과를 설치한 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  7. 베이스가 입력에 접속되어 해당입력에 정전기 서지가 걸린 경우에 에미터 ·베이스 접합이 역바이어스로 되도록한 바이폴라 트랜지스터를 보호하는 트랜지스터 보호회로에 있어서, 상기 에미터 ·베이스 접합간에 배치 접속한 보호소자와 상기 바이폴라 트랜지스터의 베이스와 상기 보호소자과의 사이에 배치 접속한 제1의 저항체와 입력단자와 상기 보호소자과의 사이에 재치 접속한 제2의 저항체과를 설치한 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  8. 제5항에 있어서, 입력단자와 상기 보호소자과의 사이에 배치 접속한 제2의 저항체를 설치한 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
  9. 제5항에 있어서, 상기 보호소자는 다이오드 혹은 트랜지스터 PN접합인 것을 특징으로 하는 트랜지스터의 보호회로.
  10. 제5항에 있어서, 상기 보호소자는 상기 에미터 ·베이스 접합과 역의 극성을 가지는 PN 접합인 것을 특징으로 하는 트랜지스터 보호회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950030094A 1994-09-14 1995-09-14 트랜지스터 보호회로 KR960012464A (ko)

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JP94-219943 1994-09-14
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Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5751052A (en) * 1996-04-01 1998-05-12 Motorola, Inc. Inductive driver circuit and method therefor
AU6964698A (en) * 1997-04-16 1998-11-11 Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Distributed esd protection device for high speed integrated circuits
US6876529B2 (en) * 2000-12-15 2005-04-05 Skyworks Solutions, Inc. Electrostatic discharge protection circuit
JP4768591B2 (ja) * 2005-12-26 2011-09-07 株式会社東芝 電力増幅器
US9520486B2 (en) 2009-11-04 2016-12-13 Analog Devices, Inc. Electrostatic protection device
US8665571B2 (en) 2011-05-18 2014-03-04 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for integrated circuit protection
US8432651B2 (en) 2010-06-09 2013-04-30 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for electronic systems reliability
US8416543B2 (en) * 2010-07-08 2013-04-09 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for electronic circuit protection
US8553380B2 (en) 2010-07-08 2013-10-08 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for electronic circuit protection
US10199482B2 (en) 2010-11-29 2019-02-05 Analog Devices, Inc. Apparatus for electrostatic discharge protection
US8466489B2 (en) 2011-02-04 2013-06-18 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for transient electrical overstress protection
US8592860B2 (en) 2011-02-11 2013-11-26 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for protection of electronic circuits operating under high stress conditions
US8680620B2 (en) 2011-08-04 2014-03-25 Analog Devices, Inc. Bi-directional blocking voltage protection devices and methods of forming the same
US8947841B2 (en) 2012-02-13 2015-02-03 Analog Devices, Inc. Protection systems for integrated circuits and methods of forming the same
US8829570B2 (en) 2012-03-09 2014-09-09 Analog Devices, Inc. Switching device for heterojunction integrated circuits and methods of forming the same
US8946822B2 (en) 2012-03-19 2015-02-03 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for protection of precision mixed-signal electronic circuits
US8610251B1 (en) 2012-06-01 2013-12-17 Analog Devices, Inc. Low voltage protection devices for precision transceivers and methods of forming the same
US8637899B2 (en) 2012-06-08 2014-01-28 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for protection and high voltage isolation of low voltage communication interface terminals
US8796729B2 (en) 2012-11-20 2014-08-05 Analog Devices, Inc. Junction-isolated blocking voltage devices with integrated protection structures and methods of forming the same
US8860080B2 (en) 2012-12-19 2014-10-14 Analog Devices, Inc. Interface protection device with integrated supply clamp and method of forming the same
US9006781B2 (en) 2012-12-19 2015-04-14 Analog Devices, Inc. Devices for monolithic data conversion interface protection and methods of forming the same
US9123540B2 (en) 2013-01-30 2015-09-01 Analog Devices, Inc. Apparatus for high speed signal processing interface
US9275991B2 (en) 2013-02-13 2016-03-01 Analog Devices, Inc. Apparatus for transceiver signal isolation and voltage clamp
US9147677B2 (en) 2013-05-16 2015-09-29 Analog Devices Global Dual-tub junction-isolated voltage clamp devices for protecting low voltage circuitry connected between high voltage interface pins and methods of forming the same
US9171832B2 (en) 2013-05-24 2015-10-27 Analog Devices, Inc. Analog switch with high bipolar blocking voltage in low voltage CMOS process
US9484739B2 (en) 2014-09-25 2016-11-01 Analog Devices Global Overvoltage protection device and method
US9478608B2 (en) 2014-11-18 2016-10-25 Analog Devices, Inc. Apparatus and methods for transceiver interface overvoltage clamping
US10068894B2 (en) 2015-01-12 2018-09-04 Analog Devices, Inc. Low leakage bidirectional clamps and methods of forming the same
US10181719B2 (en) 2015-03-16 2019-01-15 Analog Devices Global Overvoltage blocking protection device
US9673187B2 (en) 2015-04-07 2017-06-06 Analog Devices, Inc. High speed interface protection apparatus
US9831233B2 (en) 2016-04-29 2017-11-28 Analog Devices Global Apparatuses for communication systems transceiver interfaces
US10734806B2 (en) 2016-07-21 2020-08-04 Analog Devices, Inc. High voltage clamps with transient activation and activation release control
US10249609B2 (en) 2017-08-10 2019-04-02 Analog Devices, Inc. Apparatuses for communication systems transceiver interfaces
TWI647909B (zh) * 2018-01-19 2019-01-11 立積電子股份有限公司 開關裝置
US10700056B2 (en) 2018-09-07 2020-06-30 Analog Devices, Inc. Apparatus for automotive and communication systems transceiver interfaces
US11387648B2 (en) 2019-01-10 2022-07-12 Analog Devices International Unlimited Company Electrical overstress protection with low leakage current for high voltage tolerant high speed interfaces

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0766957B2 (ja) * 1986-12-12 1995-07-19 三菱電機株式会社 半導体集積回路装置の静電破壊防止装置
JPH0821632B2 (ja) * 1987-01-10 1996-03-04 三菱電機株式会社 半導体集積回路
US4736271A (en) * 1987-06-23 1988-04-05 Signetics Corporation Protection device utilizing one or more subsurface diodes and associated method of manufacture
US5189588A (en) * 1989-03-15 1993-02-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Surge protection apparatus
JPH03148865A (ja) 1989-11-06 1991-06-25 Seiko Epson Corp 入力保護装置
US5287241A (en) * 1992-02-04 1994-02-15 Cirrus Logic, Inc. Shunt circuit for electrostatic discharge protection
US5357393A (en) * 1992-05-05 1994-10-18 Xerox Corporation Integrated ultra low leakage high voltage protection circuit
US5521783A (en) * 1993-09-17 1996-05-28 Analog Devices, Inc. Electrostatic discharge protection circuit

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Publication number Publication date
EP0702410A3 (en) 1996-11-06
EP0702410A2 (en) 1996-03-20
JPH08139528A (ja) 1996-05-31
US5781389A (en) 1998-07-14

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