KR960008326A - Pcb 시험 시스템 - Google Patents

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KR960008326A
KR960008326A KR1019940020129A KR19940020129A KR960008326A KR 960008326 A KR960008326 A KR 960008326A KR 1019940020129 A KR1019940020129 A KR 1019940020129A KR 19940020129 A KR19940020129 A KR 19940020129A KR 960008326 A KR960008326 A KR 960008326A
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김진호
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배순훈
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
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Abstract

본 발명은 PCB(Printed Circit Board) 기판 양부 검사 시스템에 관한 것으로, 종래에는 PCB기판상에 구성된 전자 소자들의 정상동작 여부를 확인하기 위해서는 미완성된 PCB기판에는 리드선이 노출되어 있지않기 때문에 다수의 전자 부품들이 구성된 PCB기판의 이면에 형성된 납땜부위에 테스터기를 접촉시켜 일부 완성된 가전제품의 기능검사를 수행하는데 테스터기의 리드선을 납땜부위에 직접 접촉시켜야하므로 검사시간이 질어지는 문제점이 있었다.
본 발명은 예시도면 제1도에서 같이 PCB기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 키값에 대한 데이타를 PCB기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부(200)를 구성하고, PCB기판상에 구성된 회로중 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이타를 PCB기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부(300)를 구성하며, 상기 키 시뮬레이터부(200)와 센서 시뮬레이터부(300)의 동작조건으로 동작되는 PCB기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부(100)를 구성하는 한편, 상기 전압체크부(100), 키 시뮬레이터부(200), 센서시뮬레이터부(300), 디스플레이부(400)의 동작을 제어하는 제어수단(500)을 구성하고, 상기 제어수단(500)의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부(400)를 구성하여 된 것이다.

Description

PCB 시험 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 회로이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100 : 전압체크(Cheek)부
200 : 키 시뮬레이터(Key Simulator)부
300 : 센서 시뮬레이터(Sensor Simulator)부
400 : 디스플레이(Display)부 500 : 시스템(System)제어부
12 : 아날로그 스위치용 멀티플렉서(Analog Switching Multiplexer)
14 : 디코우더(Decorder) 21 : 버퍼(Buffer)
22 : 래치 IC(Latch Integrated Circuit)
31 : 논 인버팅 버퍼(Non Inverting Buffer)
41 : LCD 드라이브부 B : 버퍼 R,2R : 저항
RY1-RYn : 릴레이

Claims (5)

  1. PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 킷값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부(200)를 구성하고, PCB 기판상에 구성된 회로증 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부(300)와.상기 키 시뮬레이터부(200)와 센서 시뮬레이터부(300)의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부(100)와, 상기 전압체크부(100), 키 시뮬레이터부(200), 센서 시뮬레이터부(300), 디스플레이부(400)의 동작을 제어하는 제어수단(500)과, 상기 제어수단(500)의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부(400)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로하는 PCB 기판 시험시스템.
  2. 제1항에 있어서, 키 시뮬레이터부(200)는 제어수단(500)의 키 선택데이타를 전송하는 래치 IC(22)와, 상기 래치 IC(22)의 키선택 데이타를 완충증폭시키는 버퍼(21)와, PCB 기판의 키입력 노드점에 연결되며 상기 키 선택데이타에 의하여 구동하는 릴레이(RY1-RYn)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험시스템.
  3. 제1항에 있어서, 센서 시뮬레이터부(300)는 제어수단(300)의 디지탈 센싱값 선택데이타를 완충증폭하는 논 인버팅 (31)와, 상기 버퍼(31)의 디지탈 센싱값 선택데이타를 각기 다른 레벨의 아날로그 센싱값 선택데이타로 변환시키는 저항(R,2R)과, 상기 아날로그 센싱값 선택데이타를 완충증폭시켜 PCB 기판의 센서 노드점에 인가하는 버퍼(B)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로하는 PCB 기판 시험시스템.
  4. 제3항에 있어서, 저항(R,2R)의 저항값을 저항(2R)의 저항값이 저항(R)의 저항값에 두배가 되도록 설정함을 특징으로 하는 PCB 기판 시험시스템.
  5. 제1항에 있어서, 전압체크부(100)는 제어수단(500)의 스위칭 신호 데이터를 해독하는 디코우더(14)와, 상기 디코우더(14)의 스위칭 신호에 의하여 스위칭 동작하여 PCB 기판의 전압검출 노드점으로부터 인가되는 전압을 선택하여 제어수단(500)에 공급하는 아날로그 스위칭용 멀티플렉서(12)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로하는 PCB기판 시험시스템.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940020129A 1994-08-16 1994-08-16 Pcb 시험 시스템 KR960013753B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100858442B1 (ko) * 2007-02-15 2008-09-16 삼성전자서비스 주식회사 온도 센서 기판 점검 장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100858442B1 (ko) * 2007-02-15 2008-09-16 삼성전자서비스 주식회사 온도 센서 기판 점검 장치

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KR960013753B1 (ko) 1996-10-10

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