KR960013753B1 - Pcb 시험 시스템 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

PCB 시험 시스템
제1도는 본 발명에 따른 회로이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100 : 전압체크(Cheek)부
200 : 키 시뮬레이터(Key Simulator)부
300 : 센서 시뮬레이터(Sensor Simulator)부
400 : 디스플레이(Display)부 500 : 시스템(System)제어부
12 : 아날로그 스위치용 멀티플렉서(Analog Switching Multiplexer)
14 : 디코우더(Decorder) 21 : 버퍼(Buffer)
22 : 래치 IC(Latch Integrated Circuit)
31 : 논 인버팅 버퍼(Non Inverting Buffer)
41 : LCD 드라이브부 B : 버퍼 R,2R : 저항
RY1-RYn : 릴레이
본 발명은 PCB(Printed Circuit Board)기판 양부 검사 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 PCB 기판에 형성된 회로구성의 동작조건을 설정하면서 PCB기판의 동작특성을 측정할 수 있도록 한 PCB 시험시스템에 관한 것이다.
경제적인 풍요와 함께 문화생활을 즐기는 층이 증가하고 여유시간을 중요시하는 사회적인 욕구에 따라 가전제품의 기능도 함께 발전하여 가전제품의 종류와 기능이 다양화되고, 많은 수요자의 욕구를 충족시키기 위하여 대량생산체제를 갖추고 많은 양의 가전 제품을 생산할 수 있도록 하고 있다.
이같이 대량 생산 체제를 갖춘 공장에서는 가전제품의 규모가 조그마한 경우에는 가전제품을 완성하여 가전제품의 성능이나 기타 정상 동작 여부를 판정하게되나 가전제품의 규모가 큰 경우에는 가전제품을 일부 완성한 단계에서 가전제품의 성능이나 정상 동작 여부를 판정한다.
즉 규모가 간단한 가전제품은 하나의 공정으로 가전제품이 와성되고 검사되어 제품으로 출하되지만 가전제품의 규모(내부 구성도 더불어 증가한다.)가 증가함에 따라 가전제품을 구성하는 부분을 PCB 기판별로 나누어 생산한후 이를 결합하여 하나의 가전제품을 완성하기 때문에 각 PCB 기판을 생산하는 과정에서 1차 기능 및 동작 검사가 이루어지고 제품이 완성된 후에 다시 제품을 전체적으로 검사하여 수요자가 보다 나은 제품을 구입할 수 있도록 하고 있다.
이때 PCB 기판상에 구성된 전자 소자들의 정상동작 여부를 확인하기 위해서는 미완성된 PCB 기판에는 리드선이 노출되어 있지 않기 때문에 다수의 전자 부품들이 구성된 PCB 기판의 이면에 형성된 납땜부위에 테스터기를 접촉시켜 일부 완성된 자전제품의 기능검사를 수행하는데 테스터기의 리드선을 납땜부위에 직접 접촉시켜야하므로 점사시간이 길어지는 문제점이 있었다.
또한 PCB 기판상에 구성된 부품들의 개별적인 특성을 PCB 기판에 전원을 인가하지 않은 상태에서 측정해야 하며 PCB 기판에 구성된 부품들에 전원을 공급한후 PCB 기판의 부품중 일부 흑은 전체의 동작상태를 확인해야 하는 번거로움이 있었다.
따라서 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 시험하고자하는 PCB 기판에 PCB 기판에 형성된 회로의 동작조건을 설정하면서 PCB 기판에 형성된 회로의 각 노드점에서 출력되는 출력전압값을 확인하여 PCB 기판의 양부를 확인할 수 있도록 한 PCB 기판 시험시스템을 제공함에 그 목적이 있다.
상기한 바와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명 PCB 기판 시험시스템은 PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 킷값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부가 형성되고, PCB 기판상에 구성된 회로중 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부가 형성되며, 상기 키 시뮬레이터부와 센서 시뮬레이터부의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부가 형성되는 한편 상기 구성의 동작을 제어하는 제어수단과 상기 제어수단의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 갖는 것이다.
이하 본 발명의 구성을 첨부된 예시도면과 함께 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명은 예시도면 제1도에서와 같이 PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 키값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부(200)와, PCB 기판상에 구성된 회로중 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부(300)와, 상기 키 시뮬레이터부(200)와 센서 시뮬레이터부(300)의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부(100)와, 상기 전압체크부(100), 키 시뮬레이터부(200), 센서 시뮬레이터부(300), 디스플레이부(400)의 동작을 제어하는 제어수단(500)과, 상기 제어수단(500)의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부(400)로 구성된다.
여기서 PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 제품의 키입력과 동일한 킷값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부(200)는 제어수단(500)의 키 선택데이타를 전송하는 래치 IC(22)와, 상기 래치 IC(22)의 키선택 데이터를 완충증폭시키는 버퍼(21)와, PCB 기판의 키입력 노드점에 연결되며 상기 키 선택데이타에 의하여 구동하는 릴레이(RY1-RYn)로 구성되고, PCB 기판상에 구성된 회로중 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부(300)는 제어수단(300)의 디지탈 센싱값 선택데이타를 완충증폭하는 논 인버팅 버퍼(31)와, 상기 버퍼(31)의 디지탈 센싱값 선택데이타를 각기 다른 레벨의 아날로그 센싱값 선택데이타로 변환시키는 저항(R,2R)과, 상기 아날로그 센싱값 선택데이타를 완충중폭시켜 PCB 기판의 센서 노드점에 인가하는 버퍼(B)로 구성된다.
여기서, 저항(R,2R)의 저항값을 저항(2R)의 저항값이 저항(R)의 저항값에 두배가 되도록 설정한다.
그리고 상기 키 시뮬레이터부(200)와 센서 시뮬레이터부(300)의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부(100)는 제어수단(500)의 스위칭 신호 데이터를 해독하는 디코우더(14)와, 상기 디코우더(14)의 스위칭 신호에 의하여 스위칭 동작하여 PCB 기판의 전압검출 노드점으로부터 인가되는 전압을 선택하여 제어수단(500)에 공급하는 아날로그 스위칭용 멀티플렉서(12)로 구성되며, 상기 제어수단(500)의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부(400)는 상기 제어수단(500)의 표시데이타를 기초로 LCD(42)를 구동시키는 LCD드라이부 (41)로 구성된다.
이같이 구성된 본 발명의 동작효과를 설명하면 다음과 같다.
먼저 PCB 기판에 구성된 회로를 시험하기 위해서는 시험하고자하는 제품에 해당하는 프로그램을 제어수단(500)에 저장한다. 즉 양부시험하고자 하는 제품의 PCB 기판에 해당하는 프로그램에 저장된 제어수단(500)을 대처하여 PCB 기판의 양부시험을 실시하게 된다.
따라서 해당제품의 PCB 기판에 해당하는 프로그램이 저장된 제어수단(500)의 제어로 키 시뮬레이터(200), 센서 시뮬레이터(300), 전압체크부(100), 디스플레이부(400) 등이 구동하여 PCB 기판상에 구성된 회로의 양부여부를 판정하여 디스플레이부(400)에 디스플레이함으로 양부여부를 알수 있는 것이다.
이와같은 PCB 기판시험 시스템의 동작을 부분별로 상세히 살펴보면 먼저 PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 킷값에 대한 데이터를 PCB기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부(200)는 해당제품에 대한 키 선택 데이터가 제어수단(500)내에 저장된 프로그램에 따라 래치 IC(22)에 인가되면 래치 IC(22)에 인가된 키 선택데이타를 일시저장하였다가 다음 키 선택데이타가 입력될때마다 버퍼(21)에 인가하면 인가된 키 선택데이타가 버퍼(21)에 완충중폭되어 PCB 기판의 키입력노드점에 연결된 릴레이(RY1-RYn)가 선택적으로 동작하여 PCB 기판상에 구성된 회로가 PCB 기판에 형성된 키를 조작한 것과 동일한 조건으로 동작하게 된다.
또한 PCB 기판상에 구성된 회로중 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부(300)는 해당제품에 대한 센싱값 데이터가 제어수단(500)내에 저장된 프로그램에 따라 논 인버팅 버퍼(31)에 인가되면 논 인버팅 버퍼(31)에서 인가된 센싱값 데이터를 완충증폭시켜 PCB 기판의 센서노드점에 센싱값을 인가함으로 PCB 기판에 형성된 회로에서 센서가 구동한 것으로 인식하여 동작한다.
여기서 제어수단(500)의 프로그램에 따라 출력되는 센싱값 데이터가 디지탈값으로 논 인버팅 버퍼(31)에 인가되면 논 인버팅 버퍼(31)에서는 인가된 디지탈값의 센싱값 데이터를 완충 증폭시켜 논 인버팅 버퍼(31)의 출력단에 연결된 저항(R)에 선택적으로 인가하여 분압시킨 후 버퍼(B)의 일측단자(+ )에 인가한다.
즉 논 인버팅 버퍼(31)에서 출력된 디지탈 센싱값 데이터가 저항(R,2R)에 선택적으로 분압되어 버퍼(B)를 통하여 PCB 기판에 형성된 센서 노드점에 인가되므로 PCB 기판에 형성된 센서가 동작한 것과 동일한 조건으로 PCB 기판의 회로가 동작하게 된다.
그리고 키 시뮬레이터부(200)와 센서 시뮬레이터부(300)의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부(100)는 PCB 기판에 형성된 노드점중 전압을 검출하고자 하는 노드점을 선택하여 전압을 측정하는 것으로 제어수단(500)에 저장된 프르그램에 따른 스위칭 데이터가 디코우더(14)에 인가되면 디코우더(14)에서는 인가된 스위칭 데이터를 해독하여 아날로그 스위칭용 멀티플렉서(12)를 스위칭 동작시킨다.
따라서 해당 제품의 PCB 기판에 대한 프로그램에 의하여 PCB 기판의 노드점중 전압을 검출하고자 하는 노드점에 대한 전압이 검출되어 제어수단(500)에 인가된다.
이와같이 검출된 PCB 기판의 노드점에 대한 전압값은 제어수단(500)의 내부에 저장된 비교전압값과 대비되어 PCB 기판에 형성된 회로의 양부여부를 판정하며, PCB 기판의 노드점에서 검출된 전압값과 PCB기판의 양부여부는 LCD 드라이브부(41)를 통하여 LCD(42)에 디스플레이된다.
따라서 PCB 기판의 노드점에서 검출된 전압값과 PCB 기판의 양부여부를 LCD(42)를 통하여 확인할 수 있는 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명은 PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 킷값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부를 구성하고, PCB 기판상에 구성된 회로중 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부들 구성하며, 상기 키시뮬레이터부와 센서 시뮬레이터부의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부를 구성하는 한편, 상기 전압체크부, 키 시뮬레이터부, 센서 시뮬레이터부, 디스플레이부의 동작을 제어하는 제어수단을 구성하고, 상기 제어수단의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부를 구성함으로써 PCB 기판에 형성된 회로의 양부를 원활하게 시험할 수 있는 것이다.

Claims (5)

  1. PCB 기판상에 구성된 회로중 키 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 제품의 키입력과 동일한 킷값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 키 시뮬레이터부(200)와, PCB 기판상에 구성된 회로증 센서의 입력이 이루어지는 노드점이 연결되며 선택적으로 센서의 센싱값과 동일한 센싱값에 대한 데이터를 PCB 기판의 노드점에 출력하는 센서 시뮬레이터부(300)와.상기 키 시뮬레이터부(200)와 센서 시뮬레이터부(300)의 동작조건으로 동작되는 PCB 기판의 각 노드점에 연결되며 각 노드점의 임의의 노드점을 선택하여 출력전압을 체크하는 전압체크부(100)와, 상기 전압체크부(100), 키 시뮬레이터부(200), 센서 시뮬레이터부(300), 디스플레이부(400)의 동작을 제어하는 제어수단(500)과, 상기 제어수단(500)의 동작상태를 디스플레이하는 디스플레이부(400)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로하는 PCB 기판 시험시스템.
  2. 제1항에 있어서, 키 시뮬레이터부(200)는 제어수단(500)의 키 선택데이타를 전송하는 래치 IC(22)와, 상기 래치 IC(22)의 키선택 데이터를 완충증폭시키는 버퍼(21)와, PCB 기판의 키입력 노드점에 연결되며 상기 키 선택데이타에 의하여 구동하는 릴레이(RY1-RYn)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험시스템.
  3. 제1항에 있어서, 센서 시뮬레이터부(300)는 제어수단(300)의 디지탈 센싱값 선택데이타를 완충증폭하는 논 인버팅 버퍼(31)와, 상기 버퍼(31)의 디지탈 센싱값 선택데이타를 각기 다른 레벨의 아날로그 센싱값 선택데이타로 변환시키는 저항(R,2R)과, 상기 아날로그 센싱값 선택데이타를 완충증폭시켜 PCB 기판의 센서 노드점에 인가하는 버퍼(B)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로하는 PCB 기판 시험시스템.
  4. 제3항에 있어서, 저항(R,2R)의 저항값을 저항(2R)의 저항값이 저항(R)의 저항값에 두배가 되도록 설정함을 특징으로 하는 PCB 기판 시험시스템.
  5. 제1항에 있어서, 전압체크부(100)는 제어수단(500)의 스위칭 신호 데이터를 해독하는 디코우더(14)와, 상기 디코우더(14)의 스위칭 신호에 의하여 스위칭 동작하여 PCB 기판의 전압검출 노드점으로부터 인가되는 전압을 선택하여 제어수단(500)에 공급하는 아날로그 스위칭용 멀티플렉서(12)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로하는 PCB기판 시험시스템.
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