KR970007360A - 내부회로 테스터의 측정방법 및 그 시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 내부회로 테스터의 측정방법 및 그 시스템에 관한 것으로, 특히 현재 내부회로 테스터를 사용하는 생산공장에서 다품종 소량생산의 추세로 인하여 다양한 생산모델에 대응하기 위한 측정방법 및 그 시스템에 관한 것이다.
즉, 주제어부(10)에 내장된 캐드데이타에 의하여 인쇄회로기판(90)의 측정포인트를 선정하거나 캐드데이타가 유효하지 않을 경우에는 압력감지수단(50)으로 인쇄회로기판(90)의 측정포인트에 대한 압력치를 감지하여 측정포인트를 프로그래밍할 수 있도록 하고, 다양한 모델의 인쇄회로기판(90)의 측정포인트를 측정할 수 있는 멀티픽스쳐를 사용하여 생산모델의 변경에 따른 작업소요시간의 단축 및 생산성의 향상과, 전용의 픽스쳐를 제작하지 않아도 되므로 생산단가의 절감과, 픽스쳐의 보관공간을 줄일 수 있어 공간활용도를 향상시킬 수 있는 효과를 도모하기 위한 것이다.

Description

내부회로 테스터의 측정방법 및 그 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 내부회로 테스터의 측정시스템의 블록도, 제4도(가) 및 (나)는 본 발명에 따른 압력감지수단의 측정포인트의 판정을 도시한 그래프, 제5도는 본 발명에 따른 멀티픽스쳐의 개략도.

Claims (9)

  1. 주제어부의 제어로 캐드데이타가 존재시에 캐드데이타를 변환하는 단계와, 모니터상에 도트매트릭스형태로 디스플레이하는 단계와, 납땜포인트와 멀티픽스쳐의 측정포인트가 만나는 점을 판정하는 단계를 갖는 측정포인트를 선정하는 방법.
  2. 캐드데이타가 존재하지 않을 경우에 압력감지수단으로 각 포인트의 압력을 측정하는 단계와, 압력측정치를 모니터상에 디스플레이하는 단계와, 측정치가 현저하게 높는 영역을 판정하는 단계와, 판정한 영역중에 그 값이 급격하게 커지는 포인트를 판정하는 단계와, 급격히 커지는 포인트를 전자부품의 리드로 판정하는 단계와, 리드로 판정한 영역이외의 포인트를 측정포인트로 선택하는 단계로 이루어진 측정포인트를 선정하는 방법.
  3. 소형으로 제작한 멀티픽스쳐로 인쇄회로기판의 전체를 일부분씩 여러번 이동하여 측정포인트를 측정하는 방법.
  4. 시스템의 제어와 측정용 프로그램이 내장된 주제어부와, 다수의 릴레이를 포함하고 해당하는 부품을 측정하는 릴레이브와, 하나의 인쇄회로기판에 장착된 전자부품을 측정하는 다수의 핀이 구성된 전용 픽스쳐와, 상기 주제어부의 제어신호를 릴레이부로 전달하고 릴레이부로부터 입력된 측정데이타를 주제어부로 출력하는 측정부와, 상기 주제어부로 입력된 측정데이타를 외부로 출력하기 하는 모니터로 구성된 내부회로 테스터에 있어서, 상기 시스템을 제어하는 제어신호를 출력하는 주제어부와, 상기 주제어부의 측정데이타를 외부로 출력하는 모니터와, 상기 주제어부의 제어로 인쇄회로기판에 측정신호를 인가하고 측정된 측정데이타를 주제어부로 출력하는 측정부와, 상기 측정부로부터 입력된 측정신호로 다수의 스위치를 온/오프하는 스위치부와, 다양한 인쇄회로기판에 대응하는 팁으로 구성되어 상기 스위치부의 온/오프로 측정포인트를 측정하는 멀티픽스쳐와, 상기 멀티픽스쳐를 좌우로 이동시키는 스텝모터와, 상기 주제어부의 제어신호로 상기 스텝모터를 제어하는 모터 제어부와, 상기 인쇄회로기판의 납땜부분에 대한 압력차를 산정하여 상기 주에부로 출력하는 압력감지수단을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 내부회로 테스터의 측정시스템.
  5. 제4항에 있어서, 상기 주제어부는 내장프로그램으로 시스템제어용 프로그램, 측정포인트 측정용 프로그램, 압력감지용 프로그램, 캐드데이타변환용 프로그램 및 멀티픽스쳐구동용 프로그램을 포함하는 것을 특징으로 하는 내부회로 테스터의 측정시스템.
  6. 제4항에 있어서, 상기 멀티픽스쳐의 팁을 일정간격으로 다수로 구성한 것을 특징으로 하는 내부회로 테스터의 측정시스템.
  7. 제6항에 있어서, 다수로 이루어진 팁의 상단일측에는 팁의 완충을 위한 스프링을 구성한 것을 특징으로 하는 내부회로 테스터의 측정시스템.
  8. 제4항에 있어서, 상기 스위치부는 상기 주제어부의 측정프로그램에 의해 온/오프하는 시모스스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부회로 테스터의 측정시스템.
  9. 제4항에 있어서, 상기 스위치부의 시모스스위치와 멀티픽스쳐의 팁이 일대일 대응으로 이루어진 것을 특징으로 하는 내부회로 테스터의 측정시스템.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5952833A (en) * 1997-03-07 1999-09-14 Micron Technology, Inc. Programmable voltage divider and method for testing the impedance of a programmable element
US6137299A (en) * 1997-06-27 2000-10-24 International Business Machines Corporation Method and apparatus for testing integrated circuit chips
US6690284B2 (en) 1998-12-31 2004-02-10 Daito Corporation Method of controlling IC handler and control system using the same
JP3407192B2 (ja) * 1998-12-31 2003-05-19 株式会社ダイトー テストハンドの制御方法及び計測制御システム
US6496010B1 (en) * 2001-02-07 2002-12-17 Unisys Corporation Power system having pressed electrical contacts and which detects faults in the contacts
US7346332B2 (en) * 2002-01-25 2008-03-18 Ksc Industries Incorporated Wired, wireless, infrared, and powerline audio entertainment systems
US7853341B2 (en) 2002-01-25 2010-12-14 Ksc Industries, Inc. Wired, wireless, infrared, and powerline audio entertainment systems
US8103009B2 (en) 2002-01-25 2012-01-24 Ksc Industries, Inc. Wired, wireless, infrared, and powerline audio entertainment systems
US7512504B2 (en) * 2002-09-19 2009-03-31 Marvell World Trade Ltd. Testing system using configurable integrated circuit
US6970794B2 (en) * 2002-09-19 2005-11-29 Marvell International Ltd. Semiconductor having reduced configuration pins and method thereof
US7483538B2 (en) 2004-03-02 2009-01-27 Ksc Industries, Inc. Wireless and wired speaker hub for a home theater system
US6979997B1 (en) * 2004-05-19 2005-12-27 Unisys Corporation Method of controlling the operation of a digital state machine from a master controller in an IC-chip testing system
CN100388001C (zh) * 2004-05-24 2008-05-14 名威科技实业有限公司 具有多个侦测单元的检测芯片
US7504841B2 (en) * 2005-05-17 2009-03-17 Analog Devices, Inc. High-impedance attenuator
JP4919617B2 (ja) * 2005-05-27 2012-04-18 ヤマハファインテック株式会社 プリント基板の電気検査装置および電気検査方法
JP4940643B2 (ja) * 2005-12-08 2012-05-30 日本電気株式会社 電源ノイズ耐性検査回路及び電源ノイズ耐性検査方法
DE102006053398A1 (de) * 2006-11-10 2008-05-15 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Elektronisches Gerät
US8604709B2 (en) 2007-07-31 2013-12-10 Lsi Industries, Inc. Methods and systems for controlling electrical power to DC loads
US8903577B2 (en) 2009-10-30 2014-12-02 Lsi Industries, Inc. Traction system for electrically powered vehicles
US7598683B1 (en) 2007-07-31 2009-10-06 Lsi Industries, Inc. Control of light intensity using pulses of a fixed duration and frequency
CN101377756B (zh) * 2007-08-30 2011-04-27 联想(北京)有限公司 一种评估计算机系统老化的方法
US9459307B2 (en) * 2013-03-05 2016-10-04 Flextronics Ap, Llc ICT fixture auto open and eject system
TWI500945B (zh) * 2013-12-17 2015-09-21 Primax Electronics Ltd 電路板之測試系統
CN105203944A (zh) * 2015-09-15 2015-12-30 欧朗科技(苏州)有限公司 智能化传动控制pcba的自动快速检测装置
US10712398B1 (en) 2016-06-21 2020-07-14 Multek Technologies Limited Measuring complex PCB-based interconnects in a production environment
CN115014427A (zh) * 2021-03-05 2022-09-06 奥特斯(中国)有限公司 基于设计数据测量部件载体的物理特性

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5030907A (en) * 1989-05-19 1991-07-09 Knights Technology, Inc. CAD driven microprobe integrated circuit tester
US5408189A (en) * 1990-05-25 1995-04-18 Everett Charles Technologies, Inc. Test fixture alignment system for printed circuit boards
US5469064A (en) * 1992-01-14 1995-11-21 Hewlett-Packard Company Electrical assembly testing using robotic positioning of probes
GB9212646D0 (en) * 1992-06-15 1992-07-29 Marconi Instruments Ltd A method of and equipment for testing the electrical conductivity of a connection

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