KR950021301A - 반도체 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 장치에 관한 것으로서, 반도체 칩의 전기적 테스트에 사용되는 테스트 패드의 일부 또는 전부를 소자 분리선인 스크라이브 라인상에 형성하였으므로, 소장의 동작에 사용되는 입출력 단자인 본딩 패드의 설계 및 배치가 용이하며, 반도체 칩내에서 테스트 패드가 차지하는 면적이 감소되므로 그만큼 반도체 칩을 고집적화, 미세화할 수 있고, 상기 테스트 패드들간의 간격이 증가되므로 웨이퍼 상태에서의 다칩 테스트 공정이 용이하여 반도체 장치의 테스트 시간 및 비용을 절감할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 장치의 평면도이다.
제3도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 장치의 평면도이다.
Claims (3)
- 웨이퍼 상에 일정간격으로 형성되어 있으며, 소자 분리 영역인 스크라이브 라인에 의해 분리되어 있는 반도체 장치에 있어서, 상기 반도체 장치의 전기적 테스트에 사용되는 테스트 패드들의 전부 또는 일부가 상기 스크라이브 라인 상에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제1항에 있어서, 상기 반도체 장치와 스크라이브 라인의 사이에 상기 반도체 장치의 습도 테스트시의 손상을 방지하기 위한 실이 형성되어 있는 경우에 상기 스크라이브 라인 상에 형성되어 있는 테스트 패드가 상기 실을 통과하는 배선에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930026083A KR950021301A (ko) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | 반도체 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930026083A KR950021301A (ko) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | 반도체 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR950021301A true KR950021301A (ko) | 1995-07-26 |
Family
ID=66826602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019930026083A KR950021301A (ko) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | 반도체 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR950021301A (ko) |
-
1993
- 1993-12-01 KR KR1019930026083A patent/KR950021301A/ko not_active Application Discontinuation
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Legal Events
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