KR950021135A - 반도체 장치 및 그의 제조방법 - Google Patents

반도체 장치 및 그의 제조방법 Download PDF

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KR950021135A
KR950021135A KR1019930032283A KR930032283A KR950021135A KR 950021135 A KR950021135 A KR 950021135A KR 1019930032283 A KR1019930032283 A KR 1019930032283A KR 930032283 A KR930032283 A KR 930032283A KR 950021135 A KR950021135 A KR 950021135A
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KR
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opening
tungsten
layer
semiconductor device
insulating layer
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KR1019930032283A
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김영선
박병율
배대록
박영욱
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

반도체 장치 및 그의 제조방법, 특히 콘택홀(Contact hole)이나 비아홀(Via hole)과 같은 개구부 매몰하는 배선 구조 및 그의 형성 방법이 개시된다. 반도체 기판에 불순물 확산영역을 형성하고, 상기 반도체 기판상에 절연층을 형성한 후, 상기 절연층에, 상기 불순물 확산영역을 노출시키는 개구부를 형성한다. 이어서, 상기 개구부 내부 및 상기 절연층 상에, H2플라스마를 사용한 PECVD방법에 의하여 텅스텐을 증착하여 텅스텐층을 형성한다. H2플라스마를 사용한 PECVD방법에 의하여 텅스텐을 증착하여 산화막과의 부착 특성을 개선함으로써, 텅스텐으로 이루어진 단일층 만으로 콘택홀을 매몰할 수 있어서 공정이 간단할 뿐만 아니라, 특히 높은 어스펙트 비를 갖는 작은 콘택홀의 매몰시에 단차도포성 등의 콘택 같은성을 향상시킬 수 있다.

Description

반도체 장치 및 그의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3A도 내지 제3E도는 본 발명에 의한 반도체 장치 및 그의 제조방법의 일 실시예를 나타내는 단면도.

Claims (14)

  1. 반도체 기판; 상기 반도체 기판상에 형성되고, 그 내부에 형성된 개구부를 포함하는 절연층; 및 H2플라스마를 사용한 PECVD방법에 의해, 상기 개구부의 내부 및 상기 절연층 상에 형성된 텅스텐층을 포함하는 반도체 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 텅스텐층의 구성물질보다 비저항이 낮은 물질로 이루어지고, 상기 텅스텐층의 구성물질보다 비저항이 낮은 물질로 이루어지고, 상기 텅스텐층 상게 형성된 도전층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 도전층을 구성하는 물질은 Al,Cu,Au,Ag,Mo 및 Co등으로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나의 물질이거나 그 물질의 합급인 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 텅스텐층은 상기 개구부 내부만을 채우면서 상기 절연층 상에서 형성되지 않는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 개구부의 바닥에 형성된 티타늄 실리사이드층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 개구부는 상기 반도체 기판의 불순물 확산영역을 노출시키는 콘택홀 또는 상기 반도체 기판상에 형성된 하부도전층을 노출하는 비아홀인 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  7. 반도체 기판상에 절연층을 형성하는 단계; 상기 절연층에, 개구부를 형성하는 단계; 및 상기 개구부 내부 및 상기 절연층 상에, PECVD방법에 의하여 텅스텐을 증착하여 텅스텐층을 형성하는 단계를 포함하는 반도체 장치의 제조방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 개구부는 상기 반도체 기판의 불순물 확산영역을 노출시키는 콘택홀 또는 상기 반도체 기판상에 형성된 하부도전층을 노출하는 비아홀인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  9. 제7항에 있어서, 상기 PECVD방법에 의한 텅스텐층의 형성 단계는 H2플라즈마를 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 PECVD방법은 온도 300-400℃; 증착압력, 150mTorr이하; H2/WF6의 가스 플로우, 500/6; 그리고 RF파워, 100W의 공저 조건하에서 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  11. 제7항에 있어서, 상기 텅스텐층의 형성 단계는 상기 텅스텐층이 상기 개구부를 완전히 매몰시키면서 상기 절연층을 덮도록 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  12. 제7항 또는 제11항에 있어서, 상기 개구부의 직경은 0.25㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  13. 제7항에 있어서, 상기 텅스텐층의 형성된계 직후에, 상기 결과물을 500℃이상의 온도에서 열처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  14. 제7항에 있어서, 상기 텅스텐층의 형성단계 이후에, 상기 텅스텐층 상에, 상기 텅스텐층의 구성물질보다 비저항이 낮은 물질을 증착하여 도전층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930032283A 1993-12-31 1993-12-31 반도체 장치 및 그의 제조방법 KR950021135A (ko)

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