KR940704056A - 층 형성방법 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract 28
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract 15
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000011800 void material Substances 0.000 claims abstract 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 4
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
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- H01L21/67207—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
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- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
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- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
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Abstract
본 발명은 층(10)이 밀폐입구 아래에 공극을 남기고 홈(3)의 입구를 덮는 방식으로 제품(1) 표면에 물질층(10)을 용착하는 것이다. 그후 승온없이 제품(1)과 층(10)은 홈(3)속으로 층(10)을 변형하기에 충분한 승압상태로 유지(가압액체)한다. 더욱이 본 발명은 제품을 마그네트론 스퍼터링 및 가열하는 방법을 사용하여 용착물질이 이동성을 증가시키는 표면상의 층형성방법을 제공한다. 또한 이 방법을 실행하는데 사용하는 장치를 제공하고 이 방법은 특히 반도체 웨이퍼 처리에 이용된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 층형성전 반도체 웨이퍼의 단면도, 제2도는 본 발명의 층형성 중간단계에서 제1도의 웨이퍼 단면도, 제3도는 층이 완성된 후 웨이퍼의 단면도, 제4도는 승압에 노출된 후 웨이퍼의 단면도, 제5도는 고온상의 필름형성시 제2도의 단면도, 제6도는 본 발명 실행을 위한 장치의 개략적인 평면도, 제7도는 승압하에 있는 제6도의 장치 일부의 개략적인 단면도.
Claims (25)
- 표면에 호울이나 호 같은 흠이 있고 한편 층이 밀폐입구 아래의 공극을 떠나 홈의 입구를 덮고 온도 상승없이 제품과 용착층을 홈속에 변형되기 충분한 압력을 가하는 단계를 구성된 제품표면에 대한 층 형성방법.
- 제1항에 있어서, 제품이 반도체 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 제1항 또는 2항에 있어서, 제품표면에 용착된 물질이 알루미늄이나 알루미늄 합금인 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 제3항에 있어서, 용착물질은 Al/0-2% Si/0-4% Cu/0-2% Ti를 갖는 알루미늄 합금인 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 전술한 항중 한항에 있어서, 제품과 용착층에 가해진 압력은 200×106Pa(30,000p.s.i) 보다큰 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 제5항에 있어서, 압력은 700×106Pa(100,000p.s.i) 보다 큰 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 전술한 항중 한항에 있어서, 물질층은 스퍼터링법을 사용하여 입자표면에 용착되는 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 전술한 항중 한항에 있어서, 입자를 제품면상의 층용착과정에서 승온하에 있도록 하는 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 전술한 항중 한항에 있어서, 제품과 용착층에 가할 승압을 가압액체를 사용하여 달성하는 것을 특징으로 하는 층 형성방법.
- 표면에 호올이나 호같은 흠이 있고 한편 밀폐입구 아래공극을 남긴채 홈의 입구를 덮어 표면상에 물질층을 용착하고 또한 후속으로 가압액체로 용착층이 노출면에 접촉하여 이층이 홈속에 변형되는 것을 특징으로 하는 제품표면에 대한 물질층 형성방법.
- 제9항 또는 10항에 있어서, 제품상에 잔류물을 남기지 않는 한편 제품과 용착층에 접촉하는 가압액체인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제11항에 있어서, 가압액체는 용해된 고체를 함유하지 않는 액체인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제9-12항에 있어서, 가압액체는 제품에서 증발하여 제품과 용착층에 접촉하는 액체인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제9-13항에 있어서, 가압액체가 에탄올인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제9-13항에 있어서, 가압액체는 액상 이산화탄소인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제9-13항에 있어서, 가압액체는 물인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제10-16항에 있어서, 제품이 반도체 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제10-17항에 있어서, 제품과 용착층은 승온상태에 있고 가압액체와 접촉하는 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 제18항에 있어서, 제품과 용착층에 가한 승온은 350℃ 내지 400℃이고 가압액체는 20×106Pa(3,000p.s.i) 이상의 압력인 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 표면에 호올이나 호같은 홈을 갖고 한편 물질 플럭스가 큰 각도로 제품표면에 이동하는 방식으로 마그네트론 스퍼터링법을 사용하여 표면상에 물질층을 용착하고 또한 제품을 가열하여 용착물과 이동성을 증가시키는 것을 특징으로 하는 제품표면상의 물질층 형성방법.
- 제20항에 있어서, 용착될 물질은 알루미늄 합금이고 350 내지 450℃의 온도를 사용하는 것을 특징으로 하는 형성방법.
- 표면에 호올이나 호같은 홈을 구비하고 또한 첨부도면에 설명한 것을 특징으로 하는 제품표면상의 물질층 형성방법.
- 표면에 호올이나 호같은 홈을 구비하고 한편 밀폐입구 아래에 공극을 남긴채로 홈의 입구를 층이 막는 방식으로 표면에 물질층을 용착하는 수단과 그후 홈속으로 층이 변형되기에 충분한 승온으로 제품과 용착층을 유지하는 가압수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 제품표면상의 물질층 형성에 사용되는 장치.
- 제23항에 있어서, 가압수단은 용착층 표면을 가압액체와 접촉시키는 수단인 것을 특징으로 하는 장치.
- 첨부도면에 따라 설명한 바와 같은 제품표면에 대한 물질층 형성 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB9224260.1 | 1992-11-19 | ||
GB929224260A GB9224260D0 (en) | 1992-11-19 | 1992-11-19 | Forming a layer |
PCT/GB1993/002359 WO1994013008A2 (en) | 1992-11-19 | 1993-11-16 | Forming a layer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940704056A true KR940704056A (ko) | 1994-12-12 |
Family
ID=10725348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940702401A KR940704056A (ko) | 1992-11-19 | 1993-11-16 | 층 형성방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0621980A1 (ko) |
JP (1) | JPH07503106A (ko) |
KR (1) | KR940704056A (ko) |
GB (1) | GB9224260D0 (ko) |
TW (1) | TW296461B (ko) |
WO (1) | WO1994013008A2 (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5932289A (en) * | 1991-05-28 | 1999-08-03 | Trikon Technologies Limited | Method for filling substrate recesses using pressure and heat treatment |
GB9414145D0 (en) * | 1994-07-13 | 1994-08-31 | Electrotech Ltd | Forming a layer |
KR960026249A (ko) * | 1994-12-12 | 1996-07-22 | 윌리엄 이. 힐러 | 고압, 저온 반도체 갭 충진 프로세스 |
KR960042974A (ko) * | 1995-05-23 | 1996-12-21 | ||
JPH09102541A (ja) * | 1995-10-05 | 1997-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
JPH09115866A (ja) | 1995-10-17 | 1997-05-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の製造方法 |
US6171957B1 (en) | 1997-07-16 | 2001-01-09 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of semiconductor device having high pressure reflow process |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61222459A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-02 | 日本電気株式会社 | 医療用照射野投影装置 |
JPS63294839A (ja) * | 1987-05-27 | 1988-12-01 | Nec Corp | 放射線治療用ctシミュレ−タ |
JPS6491199A (en) * | 1987-10-02 | 1989-04-10 | Toshiba Corp | Operation controller using voice recognizing function |
DE8713524U1 (de) * | 1987-10-08 | 1989-02-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Computertomograph der dritten Generation |
JPH01218466A (ja) * | 1988-02-26 | 1989-08-31 | Shimadzu Corp | 温熱治療装置 |
JPH01280444A (ja) * | 1988-04-30 | 1989-11-10 | Toshiba Corp | X線ctスキャナ装置 |
JPH0268042A (ja) * | 1988-09-02 | 1990-03-07 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 医療機器のテーブル装置 |
EP0430040A3 (en) * | 1989-11-27 | 1992-05-20 | Micron Technology, Inc. | Method of forming a conductive via plug or an interconnect line of ductile metal within an integrated circuit using mechanical smearing |
JPH0422344A (ja) * | 1990-05-17 | 1992-01-27 | Toshiba Corp | 医用撮影機器の動作制御装置 |
US5011793A (en) * | 1990-06-19 | 1991-04-30 | Nihon Shinku Gijutsu Kabushiki Kaisha | Vacuum deposition using pressurized reflow process |
DE69219529T2 (de) * | 1991-08-06 | 1997-12-11 | Nippon Electric Co | Verfahren zum Aufbringen einer Metall- oder Passivierenschicht mit hoher Haftung über einem isolierten Halbleitersubstrat |
-
1992
- 1992-11-19 GB GB929224260A patent/GB9224260D0/en active Pending
-
1993
- 1993-11-16 KR KR1019940702401A patent/KR940704056A/ko not_active Application Discontinuation
- 1993-11-16 WO PCT/GB1993/002359 patent/WO1994013008A2/en not_active Application Discontinuation
- 1993-11-16 JP JP6512877A patent/JPH07503106A/ja active Pending
- 1993-11-16 EP EP94900220A patent/EP0621980A1/en not_active Withdrawn
- 1993-12-28 TW TW082111086A patent/TW296461B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1994013008A3 (en) | 1994-07-21 |
EP0621980A1 (en) | 1994-11-02 |
GB9224260D0 (en) | 1993-01-06 |
TW296461B (ko) | 1997-01-21 |
JPH07503106A (ja) | 1995-03-30 |
WO1994013008A2 (en) | 1994-06-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |