KR940017062A - 반도체집적회로의 워드라인 승압회로 및 그 제어회로 - Google Patents
반도체집적회로의 워드라인 승압회로 및 그 제어회로 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 반도체집적회로에서 특히 워드라인 승압회로 및 그 제어회로에 관한 것으로, 본 발명은 소정의 로우어드레스에 동기된 제 1 메모리쎌 어레이블럭 또는 제 2 메모리쎌 어레이블럭을 선택하는 블럭선택정보가 입력되는 워드라인 승압제어회로를 구비하고, 상기 워드라인 승압제어회로에 의해서 제 1 워드라인전압과 제 2 워드라인전압을 선택적으로 출력하는 워드라인 승압회로 및 그 제어회로를 실현하므로서, 워드라인의 로딩을 최소화할 수 있어 데이타 엑세동작의 고속화 및 그 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도(a), (b)는 본 발명에 의한 워드라인 승압회로 및 제어회로가 구비된 워드라인 승압방식을 보여준 블럭다이아그램, 제3도는 본 발명에 의한 워드라인 승압제어회로의 일 실시예, 제4도(a), (b), (c)는 본 발명에 의한 워드라인 승압제어회로의 다른 실시예, 제5도는 워드라인 로딩이 변화할시에 워드라인 승압제어회로가 구비되는 경우와 구비되지 않은 경우의 워드라인 승압회로의 출력특성을 보여주는 파형도, 제6도는 본 발명에 의한 워드라인 승압회로 및 제어회로가 스페어 워드라인에 적용한 것을 보여주는 블럭다이아그램, 제7도는 제6도의 워드라인 승압제어회로의 상세회로도, 및 제8도는 제7도에 따른 제6도에서의 워드라인 전압레벨의 출력특성을 보여주는 파형도이다.
Claims (15)
- 메모리 쎌을 각각 다수개로 저장하는 제1 및 제2메모리 쎌 어레이와, 상기 제1메모리 쎌 어레이의 메모리 쎌을 선택하는제1로우디코더와, 상기 제2메모리 쎌 어레이의 메모리 쎌을 선택하는 제2로우디코더와, 상기 제1 및 제2로우디코더에 각각 연결되어 소정의 메모리 쎌의 액세스동작시 메모리 쎌 데이타의 원활한 액세스를 위하여 전원전압 이상의 승압된 전압을 출력하는 워드라인 승압회로를 가지는 반도체집적회로에 있어서, 상기워드라인 승압회로에 연결되고 상기 제1메모리쎌 어레이나 제2메모리 쎌 어레이를 선택하는 블럭선택정보를입력하여, 상기 블럭선택정보에 의해 상기 제1 및 제2메모리 쎌 어레이가 동시에 선택되는 경우와 상기 제1및 제2메모리 쎌 어레이가 서로 독립적으로 선택되는 경우에 상기 워드라인 승압회로의 출력레벨을 다르게 조절함을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 제1항에 있어서, 상기 워드라인 승압제어회로가, 상기 블럭선택정보를 입력하는 패스트랜지스터와, 상기 패스트랜지스터의 채널에 게이트가 연결되고 상기 워드라인 승압회로의 출력단에 채널의 일단이 연결되는 풀다운트랜지스터와, 상기 풀다운트랜지스터의 채널의 타단과 접지전압단 사이에 접속되어 상기 풀다운트랜지스터의 채널에 흐르는 전류는 방전시키위한 캐패시터로 이루어짐을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 워드라인 승압제어회로가, 상기 제1 및 제2메모리 쎌 어레이중 하나의 어레이만 선택되는 경우에는 상기 워드라인 승압회로의 출력전압레벨을 감소시키고, 상기 제1 및 제2메모리 쎌 어레이가 모두 선택되는경우에는 상기 워드라인 승압회로의 출력레벨을 그대로 출력하게 함을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 각각 다수개의 메모리 쎌을 저장하는 다수개의 노멀 메모리 쎌 어레이와, 상기 다수개의 노멀 메모리 쎌 어레이의 적어도하나 이상에 구비되고 메모리 쎌을 저장하는 다수개의 엑스트라 쎌 어레이를 각각 가지고, 소정의 로우어드레스의 디코딩에 의해 상기 다수개의 노멀 메모리 쎌 어레이의 메모리 쎌이나 상기 엑스트라 쎌 어레이의 메모리 쎌을 선택하는 반도체집적회로에 있어서, 상기 로우어드레스에 동기되어 상기 노멀 메모리 쎌 어레이나 상기 엑스트라 쎌 어레이를 선택하는블럭선택정보가 입력되는 워드라인 승압제어회로를 구비하고, 상기 워드라인 승압제어회로에 의해서 전압레벨이 서로 다른 제1 워드라인전압과 제2 워드라인전압을 선택적으로 출력함을 특징으로 하는 워드라인 승압회로.
- 제4항에 있어서, 상기 워드라인 승압제어회로가, 상기 워드라인 승압회로의 출력신호를 직접 입력하는 제1입력과 상기 워드라인 승압회로의 출력에 지연수단을 삽입하여 입력하는 제2입력과 상기 블럭선택정보를 입력하는 제3입력을 각각 입력으로 하는 논리수단과, 상기 논리수단과 상기 워드라인 승압회로의 출력신호에 각각 연결되어 상기 논리수단의 출력신호에 따라 상기 워드라인 승압회로의 출력신호의 전압레벨을 선택적으로 방전시키기 위한 풀다운수단으로 이루어짐을 특징으로 하는 워드라인 승압회로.
- 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 제1 워드라인전압이 상기 제2 워드라인전압보다 더 높은 전압이며, 상기 제1 워드라인전압은 상기 노멀 메모리 쎌 어레이와 상기 엑스트라 쎌 어레이가 동시에 선택될시에 출력되는 신호이고 상기 제2 워드라인전압은 상기 노멀 메모리 쎌 어레이만 선택될시에 출력되는 신호임을 특징으로 하는 워드라인 승압회로.
- 다수개의 메모리 쎌을 저장하는 노멀 메모리 쎌 어레이와, 상기 노멀 메모리 쎌 어레이에 인접하여 구비되고 메모리 쎌을저장하는 다수개의 엑스트라 쎌 어레이와, 소정의 로우어드레스를 디코딩하여 상기 노멀 메모리 쎌 어레이나 상기 엑스트라 쎌 어레이에 저장된 메모리 쎌의 선택을 구동하는 로우디코더와, 상기 로우디코더에 출력단이 연결되어 칩 외부에서공급되는 전원전압이상의 승압전압을 출력하는 워드라인 승압회로를 가지는 반도체집적회로에 있어서, 상기 워드라인 승압회로의 출력단에 연결되고, 상기 로우어드레스에 동기되어 상기 노멀 메모리 쎌 어레이블럭이나 상기 엑스트라 쎌 어레이를 선택하는 블럭선택정보가 입력되어, 상기 워드라인 승압회로로의 출력전압을 서로 전압레벨이 다른 제1 워드라인전압과 제2 워드라인전압으로 선택적으로 출력되게 제어함을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 제7항에 있어서, 상기 워드라인 승압제어회로가, 상기 워드라인 승압회로의 출력신호를 직접 입력하는 제1입력과 상기 워드라인 승압회로의 출력에 지연수단을 삽입하여 입력하는 제2입력과 상기 블럭선택정보를 입력하는 제3입력을 각각 입력으로 하는 논리수단과, 상기 논리수단의 출력신호와 상기 워드라인 승압회로의 출력신호에 각각 연결되어 상기 논리수단의 출력신호의 제어에 의해 상기 워드라인 승압회로의 출력신호의 전압레벨을 선택적으로 방전시키기 위한 풀다운수단으로 이루어짐을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 제1워드라인전압이 상기 제2워드라인전압보다 더 높은 전압이며, 상기 제1워드라인전압은 상기 노멀 메모리 쎌 어레이와 상기 엑스트라 쎌 어레이가 동시에 선택될시에 출력되는 신호이고 상기 제2 워드라인전압은 상기 노멀 메모리 쎌 어레이만 선택될시에 출력되는 신호임을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 주기억수단으로서의 메모리 쎌을 저장하는 노멀 메모리 쎌 어레이와, 보조기억수단으로서의 스페어 쎌을 저장하는 스페어쎌 어레이를 각각 가지는 반도체집적회로에 있어서, 상기 노멀 메모리 쎌 어레이에 연결되어 상기 노멀 메모리 쎌 어레이내의 워드라인의 전압레벨을 승압시키는 노멀용 워드라인 승압회로와, 상기 스페어 쎌 어레이에 연결되어 상기 스페어 쎌어레이내의 메모리 쎌의 워드라인의 전압레벨을 승압시키는 스페어용 워드라인 승압회로와, 상기 스페어 워드라인의 출력단에 형성되어 스페어 워드라인의 로딩에 상관없이 일정한 전압레벨을 공급할 수 있도록 제어하는 스페어 워드라인 승압제어회로를 각각 구비함을 특징으로 하는 워드라인 승압회로.
- 제10항에 있어서, 상기 스페어 워드라인 승압제어회로가 캐패시터로 이루어짐을 특징으로 하는 워드라인 승압회로.
- 제10항에 있어서, 상기 스페어 워드라인 승압제어회로가 상기 스페어용 워드라인 승압회로의 출력단에 입력측이 접속되는엔모오스 다이오드임을 특징으로 하는 워드라인 승압회로.
- 주기억수단으로서의 메모리 쎌을 저장하는 노멀 메모리 쎌 어레이와, 보조기억수단으로서의 스페어 쎌을 저장하는 스페어쎌 어레이와, 상기 노멀 메모리 쎌 어레이에 연결되어 상기 노멀 메모리 쎌 어레이의 워드라인을 구동하는 노멀 로우디코더와, 상기 스페어 쎌 어레이에 연결되어 상기 스페어 쎌 어레이의 스페어 워드라인을 구동하는 스페어 로우디코더와, 상기 노멀 로우디코더에 연결되어 상기 노멀 메모리 쎌 어레이내의 워드라인의 전압레벨을 승압시키는 노멀용 워드라인 승압회로와, 상기 스페어 로우디코더에 연결되어 상기 스페어 쎌 어레이내의 워드라인의 전압레벨을 승압시키는 스페어용워드라인 승압회로를 가지는 반도체집적회로에 있어서, 상기 스페어용 워드라인 승압회로의 출력단에 연결되어 상기 스페어 워드라인에 걸리는 전압레벨을 일정한 전압레벨을 공급될 수 있도록 제어함을 특징으로 하는 스페어 워드라인 승압제어회로.
- 제13항에 있어서, 상기 워드라인 승압제어회로가 상기 스페어 워드라인 승압회로의 출력단과 접지전압단 사이에 형성되는캐패시터로 이루어짐을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.
- 제13항에 있어서, 상기 스페어 워드라인 승압제어회로가 상기 스페어용 워드라인 승압회로의 출력단에 입력측이 접속되는엔모오스 다이오드임을 특징으로 하는 워드라인 승압제어회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920023380A KR950008673B1 (ko) | 1992-12-05 | 1992-12-05 | 반도체집적회로의 워드라인 승압회로 및 그 제어회로 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920023380A KR950008673B1 (ko) | 1992-12-05 | 1992-12-05 | 반도체집적회로의 워드라인 승압회로 및 그 제어회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940017062A true KR940017062A (ko) | 1994-07-25 |
KR950008673B1 KR950008673B1 (ko) | 1995-08-04 |
Family
ID=19344790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920023380A KR950008673B1 (ko) | 1992-12-05 | 1992-12-05 | 반도체집적회로의 워드라인 승압회로 및 그 제어회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5404330A (ko) |
JP (1) | JP3674874B2 (ko) |
KR (1) | KR950008673B1 (ko) |
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A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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