KR940008352A - 디지탈 교환기의 동기 시험 방법 및 회로 - Google Patents

디지탈 교환기의 동기 시험 방법 및 회로 Download PDF

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KR940008352A
KR940008352A KR1019920017633A KR920017633A KR940008352A KR 940008352 A KR940008352 A KR 940008352A KR 1019920017633 A KR1019920017633 A KR 1019920017633A KR 920017633 A KR920017633 A KR 920017633A KR 940008352 A KR940008352 A KR 940008352A
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South Korea
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serial signal
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test
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KR1019920017633A
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Inventor
이범석
서영범
Original Assignee
정용문
삼성전자 주식회사
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Abstract

시스템 클럭을 이용하여 간단히 교환기의 경로상에 에러 상태를 검출하기 우해 제안된 방법은 상기 교환기의 가입자 카드에서 미리 설정된 직렬 신호열을 시험할 하이웨이상으로 전송하여 루프 백 시키고, 이를 전송할시의 직렬 신호열과 비트단위로 비교하여 에러 상태를 체크하는 것을 특징으로 한다.

Description

디지탈 교환기의 동기 시험 방법 및 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 동기 시험 장치의 블럭도.
제3도는 본 발명의 일실시예에 적용되는 서비스 경로도.
제4도는 제2도에 다른 일실시예의 회로도.

Claims (3)

  1. 디지탈 교환기의 동기 시험 회로에 있어서, 시스템 클럭을 입력하여 시험에 필요한 타이밍 펄스들을 생성하는 수단과, 상기 타이멍 펄스에 응답하여 채널에 실어줄 신호열의 시험용 데이타를 발생하는 수단과, 상기 시험용 데이타를 상기 타이밍 펄스에 의존하여 직렬 신호열로 변환하는 수단과, 상기 타이밍 펄스에 응답하여 상기 직렬 신호열의 시험용 데이타와 루우 백된 상기 시험용 데이타를 비교하여 에러상태를 검출하는 수단을 가짐을 특징으로 하는 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 시험용 데이타가 RPBS 데이타임을 특징으로 하는 회로.
  3. 디지탈 교환기의 동기 시험 회로에 있어서, 상기 교환기의 가입자 카드에서 미리 설정된 직렬 신호열을 시험할 하이웨이상으로 전송하여 루프 백 시키고, 이를 전송할시의 직렬 신호열과 비트단위로 비교하여 에러 상태를 체크하는 것을 특징으로 하는 동기 시험 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920017633A 1992-09-26 1992-09-26 디지탈 교환기의 동기 시험 방법 및 회로 KR940008352A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100821293B1 (ko) * 2005-12-27 2008-04-11 가토오덴키가부시키가이샤 원고 압착판 개폐장치 및 사무기기

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100821293B1 (ko) * 2005-12-27 2008-04-11 가토오덴키가부시키가이샤 원고 압착판 개폐장치 및 사무기기

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