KR940006176B1 - 화상 표시 장치 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

화상 표시 장치

제 1 도는 본 발명에 따르는 화상 표시 장치의 가능한 실시예의 간략한 회로도.

제 2 도는 본 발명에 따르는 화상 표시 장치의 가능한 다른 실시예의 간략한 회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

9 : 빔 전류 측정 회로 35, 37 : 에미터-폴로워(emitter-follower)

41 : 화상 표시관 58 : 버퍼단(buffer stage)

본 발명은 비디오 전치 증폭기에 의해 구동 가능한 에미터-폴로워에 음극이 접속된 화상 표시관을 포함하는 화상 표시 장치에 관한 것이며, 이 비디오 전치 증폭기의 부궤환 신호 입력은 부궤환 회로의 출력에 접속되고 에미터-폴로워의 콜렉터는 빔 전류 측정 회로의 입력에 접속되어 있다.

발포 테크닉 정보지 830208호에는 상술한 형태의 화상 표시 장치가 기재되어 있으며, 부궤환 회로의 입력은 에미터-폴로워를 구동시키는 회로의 출력에 접속되어 있다. 부궤환 회로에 흐르는 직류는 빔전류 측정 회로에 영향을 미치지 않는다.

이 회로는 후에 성가신 것으로 여겨지는 여러 형태의 왜곡의 발생에 따라 화질에 점점 더 많이 부가되는 요건들을 만족시킬 수 없음이 판명되었다.

본 발명의 목적은 부궤환을 개선하고 빔 전류 측정이 부궤환에 의해 영향받지 않는 개선된 화질을 발생시키기 위한 것이다.

본 발명에 따르면, 서두에 기재된 화상 표시 장치는 부궤환 신호 입력이 에미터-폴로워에 의해 구동 가능한 실제적으로 무왜곡인 버퍼단의 출력에 접속된 것을 특징으로 한다.

부궤환은 버퍼단의 출력 신호의 왜곡을 낮게 하며, 실제적으로 버퍼단이 무왜곡됨에 따라, 화상 표시관의 음극에 인가된 신호는 무왜곡이며, 반면을 버퍼링 작용 때문에 버퍼단은 빔 전류 측정 회로에 인가되는 에미터-폴로워 전류를 실제적으로 방해하지 않는다. 이렇게 해서 저지되는 가장 심각한 왜곡은 거의 정지 전류없이 작동하는 회로에서 발생하는 교차 또는 대체 왜곡(the cross-over or take-over distortion)으로 통칭되는 것이다.

실제 신호값이 소망의 값으로부터 약간 편차할 때 주요한 용량성 부하가 소정의 신호값에 더딘 접근을 하게 되므로 극소의 왜곡이 아직도 발생하는 것으로 밝혀졌다. 이 왜곡은 본 발명에 따르는 화상 표시 장치에서 제거될 수 있으며, 이 장치는 앤티-블로킹 회로(the anti-blocking circuit)가 최소한 약 100마이크로 암페어의 크기를 갖는 에미터-폴로워 전류를 발생시키며, 반면에 전류원은 에미터-폴로워 전류를 방전하기 위하여 빔 전류 측정 회로의 입력에 접속되는 것을 특징으로 한다.

앤티-블로킹 회로에 의해 발생된 전류가 상기 용량성 부하의 재충전을 바르게 하므로 소정의 값으로부터 약간 편차하는 신호값에도 더 빨리 도달하게 된다. 또한 측정 시간중에 빔 전류 측정 회로에 흐르는 전류는 좀더 빨리 적절한 값에 도달하게 되어 빔 전류 측정이 더욱 정확해지며 결과적으로 칼라 화상 표시 장치에서 배경 칼라 균형이 개선된다.

본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 좀 더 상세히 기술된다.

제 1 도에서, 비디오 신호는 가산기 회로(3)의 입력에 접속된다. 가산기 회로(3)의 입력은 빔 전류 측정 회로(9)의 출력(7)에서 비디오 신호에 추가된 직류 전압 레벨을 수신하여, 빔 전류 측정 회로(9)에 의해 제어 가능한 레벨을 갖는 비디오 신호가 가산기 회로(3)의 출력(11)에서 얻어진다.

이 비디오 신호는 트랜지스터(13)의 베이스에 인가되며, 그 에미터는 저항(15)을 경유하여 트랜지스터(17)의 콜렉터와 저항(19)에 접속되며, 다른 단자는 트랜지스터(21)의 에미터에 접속된다.

전류원으로 작동하는 트랜지스터(17)의 에미터는 저항(20)과 그 베이스를 통하여 적절히 선택된 직류 전압(V₁)에 접속된다.

트랜지스터(13)(21)의 콜렉터는 베이스가 직류 전압(V₂)에 접속되어 한쌍의 트랜지스터(23), (25)의 에미터에 접속된다. 트랜지스터(23)의 콜렉터는 전류 미러회로(29)의 입력(27)에 접속되며, 또한 전류 미러 회로(29)는 전압원(V₃)에 접속되고, 그 출력(31)은 트랜지스터(25)의 콜렉터에 접속된다.

트랜지스터(13, 17, 21, 23, 25)는 저항(15, 19, 20)과 전류 미러 회로(29)와 함께 전치 증폭기(33)를 구성한다.

전류 미러 회로(29)의 출력(31)은 트랜지스터(35)의 베이스와 트랜지스터(37)의 베이스에 접속된다. 트랜지스터(35)(37)의 에미터는 상호 접속되고 저항(39)을 통하여 화상 표시관(41)의 음극에 접속된다.

트랜지스터(35)와 콜렉터는 전압원(V₃)에 접속되며, 트랜지스터(37)의 콜렉터는 빔 전류 측정 회로(9)의 입력(43)에 접속된다.

트랜지스터(35), (37)는 입력(1)에서의 비디오 신호에 응답하여 반-위상(anti-phase)으로 변하는 전류에 의해 트랜지스터(25)의 콜렉터와, 전류 미러 회로(29)의 출력으로부터 전치 증폭기(33)에 의해 구동되는 비디오 출력단을 형성한다.

트랜지스터(21)의 베이스는 부궤환 신호용 입력을 형성하며, 접지에 대한 저항(47, 48)의 직렬 배열에 의하여 구성된 부궤환 회로의 출력(45)에 접속된다. 이 부궤환 회로의 출력(45)은 저항(47, 49)의 접합점이며, 부궤환 회로의 입력을 구성하는 저항(47)의 단자(51)는 베이스가 트랜지스터(35), (37)의 에미터에 접속되어 있는 두 트랜지스터(53, 55)의 메이터에 접속된다.

트랜지스터(53, 55)의 베이스는 한쌍의 보상 에미터-폴로워의 형태로 되어 있는 버퍼단(58)의 입력(57)을 형성한다. 이 버퍼단에서 트랜지스터(55)는 양극을 트랜지스터(53)의 에미터에 접속시키고 음극을 베이스에 접속시킨 다이오드로 대체될 수 있으며, 이 조합은 이하 한쌍의 보상 에미터-폴로워로 지칭될 수 있다. 버퍼단(58)은 부궤환 회로(47, 49)에 형성된 그 자체의 부하에 기인하는 어떠한 왜곡도 실제적으로 발생시키지 않는다. 저항(47)을 경유한 부궤환 때문에, 버퍼단(58)의 출력을 형성하는 부궤환 회로의 입력(51)에서의 신호는 실제적으로 왜곡되지 않으며 화상관(41)의 음극에 인가되는 시노는 왜곡과 무관하게 된다.

앤티-블로킹 회로로 작동하는 전류원(59)은 화상 표시관(41)이 트랜지스터(37)를 컷 오프할 수도 있는 누설 전류를 발생시킬 때, 트랜지스터(37)를 계속 도통시키는 약 10마이크로 암페어의 전류를 트랜지스터(35, 37)의 에미터에 통상적인 방법으로 제공한다.

버퍼단(58)의 출력(51)에서의 신호값이 소정의 값으로부터 약간만 편차한다면, 입력(1)에서의 신호로 인하여, 실제로 에미터 -폴로워(35, 37)를 통하여 흐르는 신호 전류는 없으며 트랜지스터(35, 37)의 에미터는 화상 표시관(41)에 의해 적재된 주요 용량성 부하 때문에 적은 입력 신호 변동을 비교적 천천히 나타낸다.

그 결과로, 적은 신호 변동의 경우에, 빔 전류내에 발생될 수 있는 왜곡은 빔 전류 측정에서 더 특수하게 작용하며, 그 결과로 칼라 화상 표시 장치내에 배경 칼라 오차가 발생할 수 있다. 이 오차가 부궤환에 의하여 부분적으로는 이미 저지될지라도, 통상적인 전류보다 더 큰 크기를 갖는, 약 100마이크로 암페어의 전류를 발생시키는 전류원(59)에 의하여 이들 오차는 더욱 감소될 수 있다. 빔 전류 회로에 의한 빔 전류 측정은 실제적으로 불가능하게되므로, 이 전류는 입력(43)에 인가된 전류로부터 빔 전류 측정 회로의 입력(43)에서 먼저 감산되어야 하며, 이는 전류원을 입력(43)에 접속시킴으로써 달성된다.

신호 편차가 작을 때 회로가 입력 신호 편차를 따르는 속도를 증가시키는 다른 방법이 제 2 도에 도시되어 있다.

제 2 도에서, 제 1 도에 도시된 것과 대응되는 부품은 동일 참조번호를 갖는다. 이 경우에, 전치 증폭기(3)는 가산기 회로(3)의 출력(11)에 접속된 저항(49)을 경유하여 트랜지스터(21)의 베이스에 입력 신호를 인가시켜서 제 1 도의 경우와 다른 비디오 신호 극성을 처리하기에 적합도록 만들어졌다. 트랜지스터(13)의 베이스는 직류 전압(V₄)에 접속된다. 필요하다면 제 1 도 및 제 2 도의 전치 증폭기는 교환될 수 있다.

앤티-블로킹 회로로 작동하는 바이어스 회로에 의하여, 즉 전류 미러 회로(29)의 출력(31)과 트랜지스터(25)의 콜렉터 사이에 두 다이오드(60, 61)의 직렬로 구성된 회로에 의하여, 바이어스 전압은, 신호 편차부 재시에, 트랜지스터(35), (37)를 통하여 약 100마이크로 암페어의 정적 전류(a quiescent current)를 유지하는 트랜지스터(35), (37)의 베이스들 사이에 인가된다.

이 정적 전류에 의해 소신호 편차의 발생에서, 트랜지스터(35, 37)의 에미터에서의 부하 캐패시턴스의 적절히 빠른 재충전이 실시되어 개선된 배경 칼라 제어를 성취하고, 칼라 천이 후에 가시적인 후유증이 발생하지 않게 된다.

빔 전류 측정 회로(9)에서, 이 정적 전류의 영향을 제거하기 위하여, 트랜지스터(35)의 폴랙터 전류는 전류 미러 회로(63)의 입력(62)에 인가되며, 그 출력(65)은 다른 전류 미러 회로(69)의 입력(67)에 접속된다. 전류 미러 회로(69)의 출력(71)은 빔 전류 측정 회로(9)의 입력(43)에 접속되어, 정적 전류가 빔 전류 측정 회로를 통과하지 않게 되며, 빔 전류 측정 회로(9)의 입력(43)은 화상 표시관(41)의 음극 전류만을 실제적으로 수신한다.

빔 전류 측정 회로(9)는 예를 들면, 발보 공보 기술정보지 제830208호에 기재된 모드에서 동작하며, 관련된 음극의 빔 전류의 블랙 레벨(black level)을 일정하게 유지하는 제어 신호를 그 출력 (7)에서 발생시킨다.

전류 미러 회로(63,69)의 소모를 제한하기 위하여, 전류 미러 회로(63)의 입력 (62)에 대한 전류는 증폭기(75)의 부궤환 입력(73)에 상기 입력을 접속시킴으로써 제한될 수 있으며, 그 출력(77)은 단방향 도전 소자(79)를 경유하여 부궤환 입력(73)에 접속된다. 증폭기(75)의 다른 입력(81)은 전류 미러 회로(63)의 입력 임피던스와 유사한 임피던스(85)를 통하여 흐르는, 기준 전류원(83)에 의하여 발생된 기준 전류 Iref에 의해 발생된 기준 전압에 접속된다. 잉여 전류의 경우에, 단방향 도전 소자(79), 즉, 본 예에서는 트랜지스터의 베이스-에미터 결합일 수 있는 다이오드가 기준 전류 Iref에 의해 결정된 값에서 전류 미러 회로의 입력(62)에 대한 전류를 일정하게 유지시키는 부궤환 신호 통로를 형성한다.

회로의 트랜지스터는 유니폴라 형태이어도 된다. 이 경우 에미터가 소스, 베이스는 게이트, 콜렉터는 드레인이 되어야 한다.

필요하다면, 전치 증폭기(33) 및 버퍼단(58)은 다른 형태의 구성일 수도 있다. 전류원(59)에 의해 발생된 바이어스 전류의 크기와, 바이어스 전압 회로망(60, 61)에 의해 발생된 정적 전류의 크기에 대하여는, 약 100마이크로 암페어가 선택될 수 있다. 필요하다면 이들 값은 더 높게 선정될 수도 있다. 더 낮은 값은 소망의 효과를 감소시킨다.

Claims (5)

1. 화상 표시관(41)을 포함하는 화상 표시 장치로서, 표시관의 음극이 비디오 전치 증폭기에 의해 구동 가능한 에미터-폴로워(37)에 접속되고, 비디오 전치 증폭기와 부궤환 신호 입력(베이스 21)이 부궤환 회로의 출력(45)에 접속되며, 에미터-폴로워의 콜렉터가 빔 전류 측정 회로(9)의 입력(43)에 접속된 화상 표시 장치에 있어서, 상기 부궤환 신호 입력(베이스 21)은 에미터-폴로워(35, 37)에 의해 구동 가능한 실제적으로 무왜곡인 버퍼단(58)의 출력(51)에 접속되는 것을 특징으로 하는 화상 표시 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 표시관의 누설 전류에 기인하는 빔 전류 측정 회로의 블로킹을 방지하기 위하여 상시 화상 표시관(41)의 음극에 앤티 -블로킹 회로(59)가 접속되는 화상 표시 장치에 있어서, 상기 앤티-블로킹 회로가 최소한 약 100마이크로 암페어의 에미터-폴로워 전류를 발생시키는 회로(59)이며, 상기 에미터-폴로워 전류의 방전을 위한 전류원을 빔 전류 측정 회로(9)의 입력(43)에 접속시킨 것을 특징으로 하는 화상 표시 장치.
3. 제 2 항에 있어서, 상기 에미터-폴로워(37)는 상기 에미터-폴로워를 보상하기 위한 에미터-폴로워(35)를 포함하는 보상 에미터-폴로워 회로(35, 37)의 부분이며, 상기 앤티-블로킹 회로는 상기 에미터-폴로워의 베이스에 대한 바이어스 전압 회로(60, 61)이며, 상기 전류원은 다른 전류 미러 회로(69)이고, 전류 미러 회로(69)의 입력(67)은 전류 미러 회로(63)의 출력(65)에 접속되며, 전류 미러 회로(63)의 입력 (62)은 상기 보상 에미터-폴로워 (35)의 콜렉터에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 화상 표시 장치.
4. 제 3 항에 있어서, 단방향성 도전 장치(79)를 경유하여 부궤환 입력(73)에 접속된 출력(77)을 갖는 증폭기(75)의 부궤환 입력(73)에 상기 전류 미러 회로(63)의 입력(62)이 접속되고, 다른 입력 (81)의 전류 미러 회로(63)의 임피던스와 유사한 임퍼던스(85)와 전류원(83)의 접속점에 접속되는 것을 특징으로 하는 화상 표시 장치.
5. 제 1 항 내지 제 4 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 버퍼단(58)이 보상 에미터-폴로워 회로(53,55)인 것을 특징으로 하는 화상 표시 장치 .

Images