KR930020636A - 반도체 장치의 제조방법 - Google Patents

반도체 장치의 제조방법 Download PDF

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Abstract

본 발명 반도체 장치의 소자 분리 방법에 관한 것이다. 특히, 종래의 필드 영역은 액티브 영역으로, 종래의 액티브 영역은 소자 분리 영역으로 활용할 수 있는 반도체 장치의 제조방법에 있어서 실리콘기판위에 통상의 제1차 필드산화막을 형성하여 소자분리를 완성시킨 다음, 상기 필드산화막을 제거하는 공정; 액티브영역이 개구된 버퍼층 패턴을 상기 필드 산화막이 제거된 필드 영역위에 형성시키는 공정; 이어서 상기 액티브 영역을 산화시켜 제2차 필드산화막을 형성공정을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 한다. 따라서 상술한 본 발명의 방법에 의하면 액티브영역으로 버즈비크현상을 줄이고 그에 따라서 버즈비크영역의 기판실리콘 표면부근에 발생하는 강제력을 줄여주며 액티브 영역의 확장 표과가 있으므로 반도체 장치의 고집적 및 전기적 특성향상에 효과적인 이점이 있다.

Description

반도체 장치의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2a도에서 제2e도는 본 발명의 방법에 의한 LOCOS 소자분리 형성 공정 순서 단면도이다.
제3a도 및 제3b도는 본 발명과 종래 기술에 의해 형성된 액티브 영역과 필드영역을 부분적으로 확대하여 차이점을 비교한 부분 단면도이다.

Claims (8)

  1. 반도체장치의 LOCOS 소자 분리 방법에 있어서, 실리콘 기판 위에 통상의 제1차 필드산화막을 형성하여 소자 분리를 완성시킨 다음, 상기 필드산화막을 제거하는 공정; 액티브 영역이 개구된 버퍼층 패턴을 상기 필드산화막이 제거된 필드 영역위에 형성시키는 공정; 이어서 상기 액티브 영역을 산화시켜 제2차 필드산화막 형성공정을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1차 필드산화막은 습식식각에 의해 제거되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 버퍼층 패턴은 하부에 패드산화막, 상부에 질화막이 적층 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 필드산화막은 100Å∼500Å 정도 두께로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  5. 제3항에 있어서, 상기 질화막은 1000Å∼2,000Å 정도 두께로 침적 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제1차 필드산화막을 제거하면 필드영역에 요(凹)부가 형성되면서 전체 기판 실리콘이 표면에 노출되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제1차 필드산화막과 제2차 필드산화막을 동일한 조건의 산화공정에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  8. 제6항 및 제7항에 있어서, 제2차 필드 산화막이 형성된 소자 영역에서 최종적으로 상기 필드영역의 요(凹)부가 액티브 영역으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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