KR930007254A - 결함표시 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

(목적) 본 발명의 목적은 모니터 텔레비젼에 대한 결점의 표시성능 및 표시된 결점의 시인성을 향상시킬 수 있는 결점 화상표시 방법을 얻는데 있다.
(구성) 이동되는 피검재를 검사 위치에서 조명하며, 이 조명하에서 리니어 어레이 이메지 센서를 수광부로한 센서카메라로 상기 피검재를 그 폭방향에 촬영하며, 이 센서카메라로부터의 영상신호를 이 신호를 처리하여 상기 피검재의 결점을 검출하는 결점검출 장치와 상기 영상신호를 처리하여 상기 결점검출장치에 의해 검출된 결점을 포함한 화상데이터를 만드는 결점화상 표시장치와의 각각 입력하며, 상기 결점검출 장치의 결점검출에 의거하여 상기 결점을 포함한 화상데이터를 모니터 텔레비젼에 정지화면 표시하며, 이 정지화면 표시에서 상기 결점의 화상을 상기 모니터 텔레비젼의 화면의 수직 방향 1/2의 위치에 높이 위치에 표시하는 것을 특징으로 한다.
(선택도) 제1도.

Description

결함표시 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 결함 표시방법을 실시하는 결함 표시장치의 회로 구성의 일예를 표시한 블록도.
제2도는 결함 검출장치의 블록 회로도.
제3도는 제2도에 표시된 결격성(缺格性)결함 인식회로의 블록 회로도.
제4도는 제2도에 표시된 비산성(飛散性)결함 인식회로의 블록 회로도.

Claims (18)

  1. 일정방향에 반송되는 긴모양의 피검재의 결합을 표시하는 결함표시 방법은 : 상기 피검재를 폭방향으로 촬상하며, 상기 피검재에 대응하는 피검재화상 데이터를 얻는 스텝과 상기 피검재 화상 데이터를 처리함으로써 상기 피검재의 결함을 검출하는 스텝과 상기 피검재 화상 데이터를 스크롤적으로 메모리에 기억하는 스텝과 결함검출에 응답하여 상기 피검재화상 데이터의 스크롤기억을 정지하며, 결함을 포함한 피검재 화상 데이터를 정지화면 데이터로서 상기 메모리에 유지하는 스탭과 상기 결함이 모니터화면의 소정위치에 표시되도록 상기 메모리로 부터 읽어진 상기 정지화면 데이터를 정지화면으로서 모니터화면에 표시하는 스텝과에 의해 구성되는 결함표시 방법.
  2. 제1항 개재에 있어서, 상기 기억스텝은 1프레임의 적어도 절반에 상당하는 절반 프레임의 화상데이터를 메모리에 스크롤 기억하는 스텝을 포함하며, 상기 유지 스텝은 결함검출에 응답하여 상기 스크롤 기억을 정지하며, 상기 절반의 화상데이터를 정지화면 데이터로서 상기 메모리에 유지하는 스텝과 잔여 절반 프레임의 화상데이터를 별도의 메모리에 기억하는 스텝을 포함하며, 상기 표시스텝은 두개의 상기 절반 프레임의 화상데이터를 결합하며, 중앙에 상기 결함을 포함한 1프레임의 화상에 대응하는 1프레임 화상데이터를 형성하는 스텝과 이 스텝에 의해 형성된 1프레임 화상데이터를 상기 결함을 중앙에 보유하는 정지화면으로서 모니터 화면에 표시하는 스텝을 포함한 결함표시 방법.
  3. 제1항 기재에 있어서, 상기 피검재화상을 얻은 스텝은 상기 피검재의 폭방향에 배열되는 복수의 센서카메라를 준비하는 스텝을 보유하며, 상기 기억스텝은 상기 복수의 센서카메라로부터 얻어지는 복수의 화상 데이터를 각각 스크롤 기억하는 복수의 화상 메모리를 준비하는 스텝을 보유하며, 상기 려함검출 스텝은 상기 복수의 화상 데이터의 각각으로부터 결함을 검출하는 스텝을 보유하며, 상기 유지스텝은 결함검출에 응답하여 결함을 포함한 화상데이터를 출력하는 센서카메라에 대응하는 화상 메모리의 스크롤 기억을 정지하며, 1프레임의 앞절반의 화상 데이터 동화상 메모리에 유지하는 스텝과 잔여 절반의 화상데이터를 별도의 화상메모리에 기억하는 스텝과를 포함하며, 상기 표시스텝은 상기 앞 절반의 화상데이터 및 잔여 절반의 화상데이터를 1프레임 화상데이터로서 기억하는 표시용 메모리를 준비하는 스텝과 이 표시용 화상 메모리로부터 읽어낸 1프레임 화상 데이터를 결함을 포함한 정지화면으로서 모니터화면에 표시하는 스텝을 포함한 결함표시 방법.
  4. 제1항 기재에 있어서, 상기 결함검출 스텝은 상기 피검재 화상 데이터로부터 결함에 대응하는 화상신호를 추출하는 스텝과 이 화상 신호를 소정신호 레벨 및 소정폭 및 소정길이에 대응하는 파라메터와 비교하며, 상기 화상신호가 상기 신호레벨 및 파라메터를 넘어섰을때 결함으로서 인식하는 스텝을 포함한 결함표시 방법.
  5. 일정 방향으로 반송되는 긴모양의 피검재의 결함을 표시하는 결함표시 장치는 : 상기 피검재를 폭방향으로 촬상하며, 상기 피검재에 대응하는 피검재화상 데이터를 출력하는 화상 센싱수단과 상기 피검재 화상 데이터를 처리함으로써 상기 피검재의 결함을 검출하며, 검출신호를 출력하는 결함검출 수단과 상기 피검재화상 데이터를 스크롤적으로 기억하는 메모리 수단과 상기 결함검출 신호에 응답하여 상기 피검재 화상데이터의 스크롤 기억을 정지하며, 결함을 포함한 피검재 화상데이터를 정지화면 데이터로서 상기 메모리 수단에 유지하는 수단과 상기 결함이 모니터화면의 소정위치에 표시되도록 상기 메모리로부터 읽어내진 상기 정지화면 데이터를 정지화면으로서 모니터화면에 표시하는 수단과에 의해 구성되는 결함표시 장치.
  6. 제5항에 기재에 있어서, 상기 메모리 수단은 1프레임의 적어도 절반에 상당하는 절반 프레임의 화상 데이터를 기억하는 기억용량을 보유하는 복수의 화상 메모리를 포함하며, 상기 유지수단은 결함검출 신호에 응답하여 상기 스크롤기억을 정지하며, 상기 절반의 화상 데이터를 정지화면 데이터로서 상기 화상메모리의 하나에 유지하며, 잔여 절반 프레임의 화상 데이터를 별도의 화상메모리에 기억하는 수단을 포함하며, 상기 표시수단은 두개의 상기 절반 프레임의 화상 데이터를 결함하며, 중앙에 상기 결함을 포함한 1프레임의 화상에 대응하는 1프레임 화상 데이터를 형성하는 수단과 이1프레임 화상 데이터를 상기 결함을 중앙에 보유하는 정지 화면으로서 모니터 화면에 표시하는 수단과를 포함한 결함표시 장치.
  7. 제5항 기재에 있어서, 상기 화상 센싱수단은 상기 피검재의 폭방향에 배열되는 복수의 센서카메라를 보유하며, 상기 메모리는 상기 복수의 센서 카레라로부터 얻어지는 복수의 화상 데이터를 각각 스크롤 기억하는 복수의 화상 메모리를 보유하며, 상기 결함검출 수단은 상기 복수의 화상 데이터의 각각으로 부터 결함을 검출하는 스텝을 보유하며, 상기 유지수단은 결함검출 신호에 응답하며, 결함을 포함한 화상데이터를 출력하는 센서카메라에대응하는 화상메모리의 스크롤 기억을 정지하며, 1프레임의 앞절반의 화상데이터를 상기 화상메모리에 유지하는 수단과 잔여절반의 화상데이터를 별도의 화상 메모리에 기억하는 수단과를 포함하며, 상기 표시수단은 상기 앞절반의 홧아데이터 및 잔여 절반의 화상 데이터를 1프레임 화상 데이터로서 기억하는 표시용 메모리와 이 표시용 메모리로부터 읽어내진 1프레임 화상 데이터를 포함한 정지화면으로서 표시하는 모니터 수단과를 포함하는 결함 표시 장치.
  8. 제5항에 기재에 있어서, 상기 결함검출 수단은 상기 피검재 화상데이터로 부터 결함에 대응하는 화상신호를 추출하는 수단과 이 화상신호를 소정 신호레벨 및 소정폭 및 소정길이로 대응하는 파라메터와 비교하며, 상기 화상신호가 상기 신호레벨 및 파라메터를 넘어섰을때 결함으로서 인식하며, 상기 검출신호를 출력하는 수단과를 포함한 결함표시 장치.
  9. 일정 방향으로 반송되는 긴 모양의 피검재의 결함을 표시하는 결함 표시장치는 : 상기 피검제를 폭방향으로 배열하며 상기 피검재를 주사하며, 복수의 피검재 화상 데이터를 출력하는 복수의 센서 카메라와 기준 화상데이터를 기억한 기억수단을 보유하며, 상기 피검재 화상 데이터와 상기 기준 화상 데이터와를 비교하며, 상기 피검재의 결함을 검출하며, 검출신호를 출력하는 결함 검출수단과 상기 센서카메라에 각각 대응하여 마련되며, 상기 피검재 화상데이터를 각각 스크롤적으로 기억하는 복수의 화상메모리와 상기 결함 검출신호에 응답하여 결함을 주사한 센서 카메라에 대응하는 화상 메로리에 대한 상기 피검재 화상 데이터의 스크롤 기억을 정지하며, 결함을 포함한 피검재 화상 데이터를 정지화면 데이터로서 대응하는 상기 화상메모리에 유지하는 수단과를 포함한 화상처리 수단과 상기 결함이 모니터 화면의 소정 위치에 표시 되도록 상기 화상 메모리로부터 읽어낸 상기 정지화면 데이터를 정지화면으로서 표시하는 표시수단과에 의해 구성되는 결함표시 장치.
  10. 제9항 기재에 있어서, 상기 피검제의 재질에 응하여 상기 피검재의 한면 및 양면을 선택적으로 조명하는 조명수단을 보유하는 결함표시 장치.
  11. 제9항에 있어서, 상기 결함검출 수단은 결함된 패턴을 결함으로서 검출하는 결격성 결함검출 수단과 적어도 하나의 소방스럽지 않은 패턴이 혼입한 패턴을 결함으로서 검출하는 비산성 결함검출 수단과를 포함한 결함표시 장치.
  12. 제9항 기재에, 상기 화상 메모리의 각각은 1프레임의 절반의 화상 데이터를 기억하는 기억용량을 보유하는 결함표시 장치.
  13. 제12항 기재에 있어서, 상기 화상 메모리는 이들 화상 메모리로서 각각 할당되는 복수의 기억 영역을 모유하는 메모리 디바이스에 의해 구성되는 결함표시 장치.
  14. 제9항 기재에 있어서, 상기 화상 처리수단은 상기 결함검출 신호에 응답하여, 결함을 포함한 패턴을 주사환센서 카레라로부터 출력되는 화상데이터를 상기 정지화면 데이터를 기억한 대응하는 화상메모리와 별도의 화상 메모리에 보내는 스위치 회로수단을 보유하는 결함표시 장치.
  15. 제9항 기재에 있어서, 상기 화상 메모리의 각각은 1프레임의 절반의 화상 데이터를 기억하는 기억용량을 보유하며, 상기 표시수단은 1프레임의 화상 데이터를 기억하는 기억용량을 보유하는 표시용 메모리를 보유하며, 상기 화상처리 수단은 상기 결함검출 신호에 응답하여 결함을 포함한 패턴을 주사한 센서 카메라에 대응하는 화상메모리에 앞의 절반 프레임의 화상 데이터를 기억하는 수단과 뒤의 절반 프레임의 화상 데이터를 대응하는 상기 화상 메모리와는 별도의 화상 메모리에 기억하는 수단과 상기 두개의 화상 메모리에 각각 기억된 절반 프레임의 화상 데이터를 상기 표시용 메모리에 전송하며, 이 표시용 메모리에 1프레임의 화상 데이터를 형성하는 수단을 포함한 결함표시 장치.
  16. 제15항의 기재에 있어서, 상기 표시수단은 상기 표시용 메모리로부터 읽어낸 화상 데이터를 받으며, 결함이 중앙에 위치한 정지 화면을 표시하는 모니터 텔레비젼을 보유하는 결함표시 장치.
  17. 제9항 기재에 있어서, 상기 피검재는 적어도 하나의 패??이 인쇄된 인쇄물인 결함표시 장치.
  18. 제9항 기재에 있어서, 상기 피검재는 무지의 시이트재인 결함표시 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3297950B2 (ja) * 1993-07-13 2002-07-02 シャープ株式会社 平面型表示パネル検査装置
US5680471A (en) * 1993-07-27 1997-10-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Image processing apparatus and method
US5880772A (en) * 1994-10-11 1999-03-09 Daimlerchrysler Corporation Machine vision image data acquisition system
DE4447061A1 (de) * 1994-12-29 1996-07-04 Huels Chemische Werke Ag Verfahren zur Beurteilung der Druckqualität
DE19650234C1 (de) * 1996-12-04 1998-04-30 Duerkopp Adler Ag Gegenstand zur Kennzeichnung einer Auswahlfläche in einem Arbeitsstück, insbesondere einer Tierhaut
US6236429B1 (en) * 1998-01-23 2001-05-22 Webview, Inc. Visualization system and method for a web inspection assembly
AT406528B (de) * 1998-05-05 2000-06-26 Oesterr Forsch Seibersdorf Verfahren und einrichtung zur feststellung, insbesondere zur visualisierung, von fehlern auf der oberfläche von gegenständen
JP2000067247A (ja) * 1998-06-08 2000-03-03 Toshiba Corp 画像認識装置
US5991046A (en) * 1998-07-14 1999-11-23 Valmet Automation Inc. Method and apparatus for optically measuring properties of a moving web
JP2000036033A (ja) * 1998-07-21 2000-02-02 Toshiba Eng Co Ltd 明暗検査装置および明暗検査方法
EP0979995A1 (en) * 1998-08-12 2000-02-16 Hildeco OY Ltd. Method and system for monitoring a paper web, a paper pulp or a wire travelling in a paper machine
US6831995B1 (en) * 1999-03-23 2004-12-14 Hitachi, Ltd. Method for detecting a defect in a pixel of an electrical display unit and a method for manufacturing an electrical display unit
US6693292B1 (en) * 1999-06-30 2004-02-17 Vishay Infrared Components, Inc. Optical spot sensor
DE10260817B3 (de) * 2002-12-23 2004-08-26 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Kratzern auf Halbleiterwafern
CN101403704B (zh) * 2007-12-07 2010-11-17 东华大学 氟塑料薄膜在线疵点检测系统和方法
GB2471886A (en) * 2009-07-16 2011-01-19 Buhler Sortex Ltd Inspection apparatus
US9729755B2 (en) * 2011-08-31 2017-08-08 Xerox Corporation Intelligent image correction with preview
US11164333B2 (en) * 2020-01-31 2021-11-02 Gracenote, Inc. Monitoring icon status in a display from an external device
CN112304957A (zh) * 2020-11-20 2021-02-02 天津朗硕机器人科技有限公司 一种基于机器视觉的外观缺陷智能检测方法及系统
CN115046478B (zh) * 2022-08-10 2022-12-02 深之蓝海洋科技股份有限公司 水下相对位姿的测量方法和装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4223346A (en) * 1979-04-05 1980-09-16 Armco Inc. Automatic defect detecting inspection apparatus
GB2081891A (en) * 1980-08-11 1982-02-24 Wiggins Teape The Group Ltd Web monitoring apparatus
GB2159623B (en) * 1981-11-11 1986-05-29 Dainippon Printing Co Ltd Print inspecting method
CH656466A5 (de) * 1982-02-15 1986-06-30 Alusuisse Verfahren und vorrichtung zur oberflaechenkontrolle eines werkstoffes.
DE3347645C1 (de) * 1983-12-30 1985-10-10 Dr.-Ing. Ludwig Pietzsch Gmbh & Co, 7505 Ettlingen Verfahren und Einrichtung zum opto-elektronischen Pruefen eines Flaechenmusters an einem Objekt
US4675730A (en) * 1985-09-06 1987-06-23 Aluminum Company Of America Video surface inspection system
JPS62279931A (ja) * 1986-05-29 1987-12-04 レンゴ−株式会社 片面段ボ−ルの不良検出装置
US4857747A (en) * 1988-02-24 1989-08-15 Albany International Corporation Method and apparatus for analyzing the formation of a web of material via generating a formation index
US4979034A (en) * 1988-07-21 1990-12-18 Konica Corporation Image memory apparatus
JPH03188358A (ja) * 1989-12-19 1991-08-16 Hajime Sangyo Kk 物体の表面検査装置
CA2078114A1 (en) * 1990-03-13 1991-09-14 Jean-Louis C. Guay Web inspection system
GB9024936D0 (en) * 1990-11-16 1991-01-02 Leicester Polytechnic Methods and apparatus for fabric inspection

Also Published As

Publication number Publication date
DE69219267T2 (de) 1997-08-21
CA2078374C (en) 1997-12-23
KR960003873B1 (ko) 1996-03-23
EP0536570B1 (en) 1997-04-23
JPH0581408A (ja) 1993-04-02
EP0536570A3 (en) 1993-12-15
CA2078374A1 (en) 1993-03-20
DE69219267D1 (de) 1997-05-28
EP0536570A2 (en) 1993-04-14
US5377279A (en) 1994-12-27

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