KR920022397A - 반도체 장치의 ldd 구조 형성 방법 - Google Patents

반도체 장치의 ldd 구조 형성 방법 Download PDF

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KR920022397A
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semiconductor device
ldd structure
formation method
structure formation
oxide film
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KR1019910007703A
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Inventor
박은서
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
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  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

반도체 장치의 LDD 구조 형성 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 (a), (b)는 본 발명의 1실시예에 따른 제조공정도이다.

Claims (1)

  1. 반도체 기판상에 게이트 산화막, 게이트를 형성하고 빔을 0°-90°의 범위로 경사지게 하여 저농동 불순물을 상기 게이트 산화막의 하부기판의 양측의 원하는 폭으로 침투시키는 공정과, 상기 반도체 기판면에 수직으로 고농도 불순물을 이온 주입하는 공정으로 이루어진 반도체 장치의 LDD 구조 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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