KR920004852A - Ic 검사장치 - Google Patents

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KR920004852A
KR920004852A KR1019910013708A KR910013708A KR920004852A KR 920004852 A KR920004852 A KR 920004852A KR 1019910013708 A KR1019910013708 A KR 1019910013708A KR 910013708 A KR910013708 A KR 910013708A KR 920004852 A KR920004852 A KR 920004852A
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쥰이치로오 시바타
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이노우에 아키라
도오교오 에레구토론 가부시끼 가이샤
이노우에 쥰이치
도오교오 에레구토론 야마나시 가부시끼가이샤
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    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음

Description

IC 검사장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예에 관한 IC 검사장치의 평면도.
제2도는 제1도에 도시한 IC 검사장치의 정면도.
제3도는 IC 검사부의 일부를 절단하여 나타낸 측면도.

Claims (25)

  1. 상부 모울드(6) 및 리드(7)를 가지는 IC소자(5)를 검사하기 위한 IC검사 장치로소, 상기 IC소자(5)를 유지하기 위한 유지수단(32)과, 상기 IC소자(5)의 리드(7)에 접촉시키고자 하는 접촉침(42)과, 이 접촉침(42)을 지지하는 지지수단(44)을 구비한 접촉부(28)와, 상기 접촉부(28)을 서로 접촉시켜 상기 IC소자(5)의 리드(7)와 상기 접촉침(42)을 접촉시키기 위한 접촉수단(34)과, 상기 지지수단(44)에 인접하여 지지수단의 방향으로 이동이 자유롭게 설치된 모울드 가이드(48), 이 모울드 가이드(48)는 상기 접촉침(42)을 수용하는 홈(60)이 형성된 엣지부(49)와, 상기 리드(7)와 접촉침(42)을 접촉시킬 때에 상기 IC소자(5)를 모울드 가이드(48)에 대하여 정렬하는 수단(56),(58)을 구비한 IC 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 지지수단(44)과 상기 모울드 가이드(48) 사이에 배열설치되고, 상기 모울드 가이드(48)의 이동방향과 반대방향으로 탄발하는 탄발수단(50)으로 구성되는 IC 검사장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 상기 모울드 가이드(48)의 홈(60)내에 수납된 선단부(42b)를 가지며, 이 선단부(42b)는 상기 모울드 가이드(48)가 상기 지지부재 방향으로 이동할 때에 상기 홈(60)에서 노출하여 상기 IC의 리드(7)에 접촉하는 IC 검사장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 정렬수단(56),(58)은, 상기 모울드 가이드(48)에 형성한 상기 IC소자(5)의 상부 모울드(6)에 밀접하는 저면(56)과 내측면(58)을 가지고 있는 IC 검사장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 모울드 가이드(48)는 상기 IC소자(5)의 리드(7)수에 대응한 수의 상기 홈(60)을 구비하는 IC 검사장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 60~200㎛ square의 접촉면(42e)을 가지는 IC 검사장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 상기 리드(7)의 표면에 대하여 3°~10°의 경사각으로 접촉하는 접촉면(42e)을 가지는 IC 검사장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 상기 접촉침(42)은, 상기 리드(7)의 표면에 대하여 5°의 경사각으로 접촉하는 접촉면(42e)을 가지는 IC 검사장치.
  9. 제1항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 가늘고 긴 축부(42a)와 상기 IC소자(5)의 리드(7)와 접촉하는 접촉면(42e)을 가지는 선단부(42b)와, 축부(42a)와 선단부(42b) 사이에 설치된 크랭크 형상부(42c)를 가지는 IC 검사장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 접촉침(42)의 크랭크 형상부(42c)는, 상기 지지수단(44)에 형성된 공간(46)내에서 원만하게 구부림 운동이 자유롭게 배치되어 있는 IC 검사장치.
  11. 제1항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 한쌍의 핀 소자(43a), (43b)로 구성되는 IC 검사장치.
  12. 제1항에 있어서, 상기 접촉수단은, 상기 유지수단을 상승시키는 리프트 수단(36)을 구비하고 있는 IC 검사장치.
  13. 제1항에 있어서, 상기 IC소자(5) 유지수단과 상기 접촉부(28)와의 상대위치를 조정하기 위한 수단(34)인 IC 검사장치.
  14. 제1항에 있어서, 상기 접촉침(42)에 접촉되고 상기 IC소자(5)의 전기적 특성을 측정하기 위한 측정수단(40)으로 되는 IC 검사장치.
  15. 상부테이블(6) 및 리드(7)를 가지는 IC소자(5)를 검사하기 위한 IC 검사장치로서, 상기 IC소자(5)를 유지하기 위한 유지수단(32)과, 상기 IC소자(5)의 리드(7)에 접촉하는 접촉침(42)을 지지하는 지지수단(44)을 구비하는 접촉부(28)와, 1상기 유지수단을 리프트하여 상기 접촉부(28)에 접근시켜 상기 IC소자(5)의 리드(7)와 상기 접촉침(42)을 접촉시키기 위한 리프트 수단(36)과, 상기 지지수단(44)에 인접하여 지지수단(44)의 방향으로 이동이 자유롭게 설치된 모울드 가이드(48)와 상기 지지수단(44)과 상기 모울드 가이드(48) 사이에 배열설치되고 상기 모울드 가이드(48)의 이동방향과 반대방향으로 탄발하는 탄발수단(50)을 구비하고, 상기 모울드 가이드(48)는 상기 접촉침(42)을 수용하는 홈(60)이 형성된 엣지부(49)와, 상기 리드(7)와 접촉침(42)을 접촉시킬 때에 상기 IC소자(5)를 모울드 가이드(48)에 대하여 정렬하는 정렬수단(56),(58)을 구비하고, 상기 접촉침(42)은, 상기 모울드 가이드(48)의 홈(60)내에 수납된 선단부(42b)를 가지며, 이 선단부(42b)는 상기 모울드 가이드(48)가 상기 지지부재의 방향으로 이동할때에 상기 홈(60)으로부터 노출하여 상기 IC의 리드(7)에 접촉하는 IC 검사장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 정렬수단은 상기 모울드 가이드에 형성한 상기 IC소자(5)의 상부 모울드(6)에 밀접하는 저면(56)과 내측면(58)을 가지는 IC 검사장치.
  17. 제15항에 있어서, 상기 모울드 가이드(48)는 상기 IC소자(5)의 리드(7)수에 대응한 수의 상기 홈(60)을 구비하고 있는 IC 검사장치.
  18. 제15항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 60~200㎛ square의 접촉면(42e)을 가지고 있는 IC 검사장치.
  19. 제15항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 상기 리드(7)의 표면에 대하여 3°~10°의 경사각으로 접촉하는 접촉면(42e)을 가지고 있는 IC 검사장치.
  20. 제15항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 상기 리드(7)의 표면에 대하여 약 5°의 경사각으로 접촉하는 접촉면(42e)을 가지고 있는 IC 검사장치.
  21. 제15항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 가늘고 긴 축부(42a)와, 상기 IC소자(5)의 리드(7)와 접촉하는 접촉면(42e)을 가지는 선단부(42b)와, 축부(42a)와 선단부(42b) 사이에 설치된 크랭크 형상부(42c)를 가지고 있는 IC 검사장치.
  22. 제21항에 있어서, 상기 접촉침(42)의 크랭크 형상부(42c)는, 상기 지지수단에 형성된 공간(46)에서 원만하게 구부림 운동이 자유롭도록 배치되어 있는 IC 검사장치.
  23. 제15항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 한쌍의 핀 소자(42a), (42b)로 구성되어 있는 IC 검사장치.
  24. 제15항에 있어서, 상기 IC소자 유지수단과 상기 접속부(28)와의 상대위치를 조정하기 위한 수단(34)을 포함하는 IC 검사장치.
  25. 제15항에 있어서, 상기 접촉침(42)은, 상기 IC소자(5)의 리드(7)의 뿌리부(7b)에 접촉하는 선단부(42b)를 가지는 IC 검사장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910013708A 1990-08-16 1991-08-08 Ic 검사 장치 KR0138753B1 (ko)

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