CN113625000A - 电子元件引脚测试机构 - Google Patents

Abstract

一种电子元件引脚测试机构，所述电子元件引脚测试机构包括基座、丝杆结构、第一滑动部、第二滑动部、吸附结构及探针，所述丝杆结构固定连接于所述基座的一侧，所述第一滑动部滑动设置于所述丝杆结构，所述第二滑动部滑动设置于所述第一滑动部，所述吸附结构装设于所述第二滑动部，所述吸附结构用于吸附一电子元件，所述探针与所述电子元件对应设置，所述探针电连接至一测试设备，所述测试设备通过所述探针测试所述电子元件的性能。所述电子元件引脚测试机构可有效测试电子元件的性能，其结构简单，且成本低，易于加工制造。

Description

电子元件引脚测试机构

技术领域

本发明涉及一种电子元件引脚测试机构。

背景技术

目前，电子元器件拥有成千上百种规格，选用正确的电子元器件可以保证电路的性能达到要求。因此，在实际的选择中，常常需要通过测试机构来选取优良的电子元器件。但传统的测试机构结构比较复杂，且成本较大。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种结构简单、成本低的电子元件引脚测试机构。

一种电子元件引脚测试机构，所述电子元件引脚测试机构包括基座、丝杆结构、第一滑动部、第二滑动部、吸附结构及探针，所述丝杆结构固定连接于所述基座的一侧，所述第一滑动部滑动设置于所述丝杆结构，所述第二滑动部滑动设置于所述第一滑动部，所述吸附结构装设于所述第二滑动部，所述吸附结构用于吸附一电子元件，所述探针与所述电子元件对应设置，所述探针电连接至一测试设备，所述测试设备通过所述探针测试所述电子元件的性能。

优选地，所述丝杆结构包括丝杆，所述丝杆与一电机连接，用以在所述电机的驱动下带动所述第一滑动部、第二滑动部及所述吸附结构沿第一方向移动。

优选地，所述第二滑动部的一侧滑动安装于所述第一滑动部远离所述丝杆的一侧，所述第二滑动部与一驱动结构连接，所述第二滑动部用以在所述驱动结构的驱动下，带动所述吸附结构沿第二方向移动。

优选地，所述电子元件引脚测试机构还包括连接部，所述连接部固定连接所述第二滑动部及所述吸附结构。

优选地，所述连接部包括第一连接部及第二连接部，所述第一连接部的一侧固定连接于所述第二滑动部远离所述第一滑动部的一侧，第一连接部的另一侧与所述第二连接部的一端固定连接，所述第二连接部用于固定连接所述吸附结构。

优选地，所述吸附结构为真空吸盘。

优选地，所述电子元件引脚测试机构还包括测试件及测量平台，所述测试件包括安装板，所述安装板设置于所述测量平台上，所述安装板上还开设有相应的导向孔，所述探针收容于所述导向孔内，所述探针略低于所述导向孔远离所述安装板的一端。

优选地，所述电子元件引脚测试机构还包括抛料盒，所述抛料盒放置在所述测量平台上，所述抛料盒用于放置测试后的电子元件。

优选地，所述安装板由透明材质制成。

优选地，所述电子引脚测试机构还包括一物料盘，所述物料盘用于放置若干个待测试的电子元件。

所述电子元件引脚测试机构可有效测试电子元件的性能，其结构简单，且成本低，易于加工制造。

附图说明

图1是本发明实施例中电子元件引脚测试机构的整体示意图。

图2是图1所示电子元件引脚测试机构中测试件的结构示意图。

图3是图2所示测试件中导向孔与探针另一角度下的部分示意图。

图4是沿图1所示电子元件引脚测试机构中IV-IV线的剖视图。

主要元件符号说明

电子元件引脚测试机构 100

基座 10

丝杆结构 20

丝杆 21

第一限位部 22

第二限位部 23

第一滑动部 30

第二滑动部 40

连接部 50

第一连接部 51

第二连接部 52

吸附结构 60

探针 70

测试件 80

固定板 81

安装板 82

导向孔 821

测量平台 90

抛物盒 91

电子元件 200

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在发明中，除非另有明确规定和限定，如有术语“连接”应作广义去理解，例如，术语“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本发明中的具体含义。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

下面结合附图，对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请参阅图1及图2，本实施例提供一种电子元件引脚测试机构100。所述电子元件引脚测试机构100包括基座10、丝杆结构20、第一滑动部30、第二滑动部40、连接部50、吸附结构60及探针70(参图3)。所述丝杆结构20固定连接于所述基座10的一侧。所述第一滑动部30滑动设置于所述丝杆结构20。所述第二滑动部40滑动设置于所述第一滑动部30。所述连接部50固定连接于所述第二滑动部40。所述吸附结构60装设于所述连接部50上，用于吸附一电子元件200(参图4)。所述探针70与所述电子元件200对应设置，且电连接至一测试设备(图未示)，以使得所述测试设备通过所述探针70测试所述电子元件200的性能。

所述基座10大致呈半框架结构。所述丝杆结构20大致呈板状。所述丝杆结构20设置于所述基座10的一侧。所述丝杆结构20包括丝杆21。所述丝杆21与一电机(图未示)连接，用以在所述电机的驱动下沿第一方向，例如Y轴方向移动。

具体地，在本实施例中，所述丝杆结构20还包括第一限位部22及第二限位部23。所述丝杆21两端分别连接所述第一限位部22及所述第二限位部23。所述第一限位部22及所述第二限位部23用于防止所述丝杆21脱离所述丝杆结构20。

所述第一滑动部30大致呈板状结构。所述第一滑动部30垂直放置。所述第一滑动部30的一侧连接至所述丝杆21。可以理解，当所述丝杆21在电机的驱动下移动时，所述第一滑动部30亦随所述丝杆21沿所述第一方向移动。

所述第二滑动部40大致呈长方形板状结构。所述第二滑动部40垂直放置。所述第二滑动部40的一侧滑动安装于所述第一滑动部30远离所述丝杆结构20的一侧。

在本实施例中，所述第二滑动部40还与一驱动结构(图未示)连接。所述第二滑动部40用以在所述驱动结构的驱动下，相对于所述第一滑动部30沿第二方向，例如Z轴方向移动。

所述连接部50大致呈L型。所述连接部50包括第一连接部51及第二连接部52。所述第一连接部51与所述第二连接部52可拆卸连接、固定连接或一体成型。所述第一连接部51的一侧与所述第二连接部52的一端连接时，其间形成为直角。

所述第一连接部51大致呈片状结构。所述第一连接部51一侧固定连接于所述第二滑动部40远离所述第一滑动部30的一侧。所述第一连接部51的另一侧与所述第二连接部52的一端固定连接。

所述第二连接部52大致呈矩形块状。所述第二连接部52用于固定连接所述吸附结构60。在本实施例中，所述第二连接部52可以通过螺丝固定所述吸附结构60。

可以理解，当所述丝杆21移动时，所述丝杆21将带动所述第一滑动部30及第二滑动部40沿第一方向滑动。同时，当所述第二滑动部40相对于所述第一滑动部30运动时，可带动所述连接部50沿第二方向移动，进而调整设置于所述连接部50上的所述吸附结构60的位置。

所述吸附结构60用于吸附所述电子元件200。在本实施例中，所述吸附结构60可以是真空吸盘。

请一并参阅图3，所述电子元件引脚测试机构100还包括测试件80及测量平台90。所述测试件80包括固定板81及安装板82。所述固定板81设置于所述测量平台90上。所述安装板82大致呈长方体状，其设置于所述固定板81上。所述安装板82上还开设有相应的导向孔821，用于收容一组所述探针70。

其中，在本实施例中，所述探针70收容于所述导向孔821内，且略低于所述导向孔821远离所述安装板82的一端。可以理解，所述探针70设置于所述导向孔821内，且一端电连接至所述测试设备(图未示)。如此，当所述吸附结构60带动所述电子元件200移动，以使得其抵持所述探针70时，所述探针70将建立所述电子元件200与所述测试设备的电连接，以使得所述测试设备通过所述探针70对所述电子元件200进行性能测试。

可以理解，在本实施例中，所述导向孔821远离所述安装板82的一端延伸成敞口状。如此，更容易引导所述电子元件200从所述导向孔821进入，进而接触所述探针70并通过所述测试设备测试所述电子元件200的性能。

在本实施例中，所述安装板82由透明材质制成。如此，可方便观察所述电子元件200的引脚是否接触到所述探针70，进而在观察到所述电子元件200的引脚接触到所述探针70后，所述测试设备通过所述探针70测试所述电子元件200的性能。

可以理解，在本实施例中，所述测量平台90上还设置有一抛物盒91。所述抛物盒91为一端开口的长方体壳体状。所述抛物盒91用于收容测试过的电子元件200。

可以理解，请一并参阅图4，当使用所述电子元件引脚测试机构100时，所述吸附结构60首先吸附相应的所述电子元件200。接着，所述电机驱动所述丝杆21沿第一方向发生移动，并带动所述第一滑动部30、所述第二滑动部40、所述连接部50、吸附结构60一起沿第一方向发生移动，以调整所述吸附结构60在第一方向的位置，使得所述吸附结构60吸附的电子元件200对准相应的探针70。然后，所述驱动结构驱动所述第二滑动部40相对于所述第一滑动部30沿第二方向上发生移动，并带动所述连接部50及吸附结构60一起沿第二方向发生移动，以调整所述吸附结构60在第二方向的位置，例如向下移动，直至所述吸附结构60移动至指定位置。例如所述吸附结构60上的所述电子元件200的引脚与所述探针70接触，进而与所述探针70电连接。如此，所述测试设备可通过所述探针70测试所述电子元件200的性能。

可以理解，测试结束后，所述驱动结构驱动所述第二滑动部40相对于所述第一滑动部30沿第二方向上发生移动，并带动所述连接部50一起沿第二方向发生移动，例如向上移动，直至所述吸附结构60上的电子元件200脱离所述导向孔821。然后，所述电机驱动所述丝杆21沿第一方向发生移动，并带动所述第一滑动部30、所述第二滑动部40、所述连接部50一起沿第一方向发生移动，以调整所述吸附结构60在第一方向的位置，使得所述吸附结构60吸附的电子元件200对准所述抛物盒91，并将测试过的电子元件200抛至所述抛物盒91。

可以理解，在本实施例中，所述测量设备包括一显示单元。所述显示单元用于显示测试的所述电子元件200的性能参数。

可以理解，在本实施例中，所述电子元件引脚测试机构100还可包括物料盘(图未示)，用以收容若干个所述电子元件200。可以理解，在本实施例中，可将若干个待测的电子元件200分成若干份，每份具有同等的数量，并收容于相应的物料盘内。再通过采取抽样检测的方法，例如，从其中一个物料盘中随机检测多个所述电子元件200的性能，即可了解该物料盘中的电子元件200是否均可以应用于电路中。

例如，在本实施例中，所述吸附结构60可从所述物料盘中吸附3个所述电子元件200，并按照上述方法测试所述电子元件200的性能。当至少一个所述电子元件200测试状况优良，则判断对应的物料盘内的电子元件200性能优良且可应用于电路中。当然，在其他实施例中，所述吸附结构60从物料盘中吸取的电子元件200的数量不局限于3个，其可根据具体情况进行调整，例如可从物料盘中吸取2个、4个或多个所述电子元件200。

可以理解，在本实施例中，所述安装板82上可设置多组导向孔821，以分别收容不同尺寸、不同距离及不同数量的探针70，进而适应各种不同尺寸电子元件的性能检测。因此，所述电子元件引脚测试机构100能广泛用于检测不同尺寸的电子元件，可推广性强。再者，所述电子元件引脚测试机构100可有效测试电子元件的性能，其结构简单，且成本低，易于加工制造。

以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施方式对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化等用在本发明的设计，只要其不偏离本发明的技术效果均可。这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子元件引脚测试机构包括基座、丝杆结构、第一滑动部、第二滑动部、吸附结构及探针，所述丝杆结构连接于所述基座的一侧，所述第一滑动部设置于所述丝杆结构的一侧，所述第二滑动部滑动设置于所述第一滑动部，所述吸附结构装设于所述第二滑动部，所述吸附结构用于吸附一电子元件，所述探针与所述电子元件对应设置，所述探针电连接至一测试设备，所述测试设备通过所述探针测试所述电子元件的性能。

2.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述丝杆结构包括丝杆，所述丝杆与一电机连接，用以在所述电机的驱动下带动所述第一滑动部、第二滑动部及所述吸附结构沿第一方向移动。

3.如权利要求2所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述第二滑动部的一侧滑动安装于所述第一滑动部远离所述丝杆的一侧，所述第二滑动部与一驱动结构连接，所述第二滑动部用以在所述驱动结构的驱动下，带动所述吸附结构沿第二方向移动。

4.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子元件引脚测试机构还包括连接部，所述连接部固定连接所述第二滑动部及所述吸附结构。

5.如权利要求4所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述连接部包括第一连接部及第二连接部，所述第一连接部的一侧固定连接于所述第二滑动部远离所述第一滑动部的一侧，第一连接部的另一侧与所述第二连接部的一端固定连接，所述第二连接部用于固定连接所述吸附结构。

6.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述吸附结构为真空吸盘。

7.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子元件引脚测试机构还包括测试件及测量平台，所述测试件包括安装板，所述安装板设置于所述测量平台上，所述安装板上还开设有相应的导向孔，所述探针收容于所述导向孔内，所述探针略低于所述导向孔远离所述安装板的一端。

8.如权利要求7所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子元件引脚测试机构还包括抛料盒，所述抛料盒放置在所述测量平台上，所述抛料盒用于放置测试后的电子元件。

9.如权利要求7所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述安装板由透明材质制成。

10.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子引脚测试机构还包括一物料盘，所述物料盘用于放置若干个待测试的电子元件。

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