CN111744826A - 滤波器高频测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明的滤波器高频测试设备，设置有机架、上料机构及测试机构；限位件的设置，使得滤波器能够准确地停滞于滑料通道内的预定位置上，从而确保沿预定轨迹移动的高频测头能够准确地与滤波器的引脚相顶持，进而提高了滤波器高频测试设备的高频测试精度；安装斜面的设置，使得滤波器能够在自重的作用下从治具容置槽滑动至滑料通道内，并使得滤波器能够在滑料通道内沿预定轨迹滑动；安装斜面与上料机构的共同设置，使得滤波器不仅能够沿预定轨迹滑动，还使得滤波器只能逐一滑动至滑料通道内的预定测试位置上，从而免去了人工逐一对滤波器进行上料的繁琐，还避免了还避免了测试人员被滤波器引脚划伤，也避免了滤波器引脚因受力过大而意外折弯。

Description

滤波器高频测试设备

技术领域

本发明涉及测试设备领域，特别是涉及一种滤波器高频测试设备。

背景技术

滤波器是一种对信号有处理作用的器件或者电路，其主要作用是让有用信号尽可能无衰减的通过，而对无用信号则尽可能大的衰减。在对滤波器的针脚进行整平后，还需要对滤波器进行检测，以剔除不良品。

现今，制造商一般是使用滤波器高频测试设备来对滤波器进行测试的，现有的滤波器高频测试设备一般是由网络分析仪和测试治具组成的，在实际测试过程中，测试人员会将待测滤波器放置于测试治具上，以使滤波器的各个针脚一一对应与治具上的各个探针互相顶持，各个探针均与网络分析仪上的测试通道连接，启动网络分析仪，随后，网络分析仪即会将滤波器的测试结果显示在屏幕上，从而测试出不良品滤波器。

但是，现有的滤波器高频测试设备在实际使用过程中，仍然存在以下的技术问题：

首先，在将滤波器放置于预定位置上进行测试时，很容易出现探针无法准确对准滤波器的引脚的情况，从而导致测试设备无法准确地对滤波器进行测试，高频测试精度非常低；

其次，现有的滤波器高频测试设备在实际使用过程中，需要测试人员逐一将滤波器放置于测试工位上，测试效率非常低；

同时，滤波器的针脚一般较为单薄且尖锐，在人工取放滤波器的过程中，针脚不仅很容易割伤测试人员的皮肤，还很容易因受力过大而发生意外折弯。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种滤波器高频测试设备，该滤波器高频测试设备具有高频测试精度高及测试效率高的优点，同时，该滤波器高频测试设备还能够避免滤波器割伤测试人员，此外，该滤波器高频测试设备还能够防止引脚意外折弯。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种滤波器高频测试设备，包括：

机架，所述机架上设置有安装斜面；

上料机构，所述上料机构包括料道及挡位件，所述料道设置于所述安装斜面上，所述料道上开设有互相连通的治具容置槽及滑料通道，所述治具容置槽用于容置滤波器治具，所述挡位件能够相对所述机架朝靠近或者远离所述料道的方向移动，所述挡位件用于与滤波器互相顶持；及

测试机构，所述测试机构包括高频测头及限位件，所述高频测头能够相对所述机架滑动，所述高频测头用于与滤波器引脚互相顶持，所述限位件能够相对所述机架朝靠近或者远离所述料道的方向移动，以使所述限位件露置于所述滑料通道内。

在其中一个实施例中，所述测试机构还包括高压测试气缸、高压测头、定位气缸及定位件，所述高压测试气缸设置于所述机架上，所述高压测头与所述高压测试气缸的伸缩轴连接，所述高压测头用于与滤波器引脚互相顶持，所述定位气缸设置于所述机架上，所述定位气缸用于驱动所述定位件朝靠近或者远离所述机架的方向移动，以使所述定位件露置于所述滑料通道内，所述定位件用于与滤波器互相顶持。

在其中一个实施例中，所述高频测头包括高频测试气缸、高频固定件、高频弹性探针、高频电路板及高频接口，所述高频测试气缸设置于所述机架上，所述高频固定件与所述高频测试气缸的伸缩轴连接，所述高频弹性探针位于所述高频固定件上，且所述高频弹性探针的检测端朝向所述滑料通道设置，所述高频电路板和所述高频接口分别设置于所述高频固定件上，所述高频弹性探针和所述高频接口分别与所述高频电路板连接。

在其中一个实施例中，所述料道包括滑料轨及上料架，所述滑料通道位于所述滑料轨上，所述治具容置槽位于所述上料架上，所述挡位件安装于所述滑料轨上。

在其中一个实施例中，所述上料架包括底板及两个U型卡板，所述底板与所述滑料轨连接，各所述U型卡板分别设置于所述底板上，各所述U型卡和所述底板共同围成所述治具容置槽，所述上料机构还包括推料气缸及推料板，所述推料气缸设置于所述底板上，所述推料板与所述推料气缸驱动连接，所述推料板用于与滤波器治具互相顶持。

在其中一个实施例中，所述上料架还包括L型板及支撑板，所述L型板及所述支撑板分别与所述底板连接，各所述U型卡板上均开设有避位槽。

在其中一个实施例中，所述挡位件包括挡位气缸及挡位杆，所述挡位气缸设置于所述滑料轨上，所述挡位气缸用于驱动所述挡位杆朝靠近或者远离所述滑料轨的方向移动，以使所述挡位杆与滤波器互相顶持。

在其中一个实施例中，所述滤波器高频测试设备还包括分料机构，所述分料机构包括分料气缸、分料治具固定件、分料滑轨、分料挡位气缸及分料挡板，所述分料气缸和所述分料治具固定件分别设置于所述机架上，所述分料治具固定件上开设有分料治具固定槽，所述分料治具固定槽用于容置滤波器治具，所述分料滑轨上开设有分料通道，所述分料气缸用于驱动所述分料滑轨相对所述机架滑动，以使所述分料通道能够与所述滑料通道连通，还使所述分料通道能够与所述分料治具固定槽连通，所述分料挡位气缸设置于所述分料滑轨上，所述分料挡位气缸用于驱动所述分料挡板朝靠近或者远离所述分料滑轨的方向移动，从而使所述分料挡板与所述分料通道的底部互相顶持。

在其中一个实施例中，所述高频测试设备还包括集料机构，所述集料机构包括集料导轨、集料限位件、集料支撑板、集料气缸及集料推板，所述集料导轨设置于所述机架上，所述集料导轨上开设有集料槽，所述集料槽用于与所述分料通道连通，所述集料限位件及所述集料支撑板分别设置于所述集料导轨上，所述集料气缸安装于所述集料导轨上，所述集料推板与所述集料气缸的伸缩轴连接。

在其中一个实施例中，所述集料推板上开设有减重孔。

与现有技术相比，本发明至少具有以下的优点及有益效果：

本发明的滤波器高频测试设备，设置有机架、上料机构及测试机构；限位件的设置，使得滤波器能够准确地停滞于滑料通道内的预定位置上，从而确保沿预定轨迹移动的高频测头能够准确地与滤波器的引脚相顶持，进而提高了滤波器高频测试设备的高频测试精度；安装斜面的设置，使得滤波器能够在自重的作用下从治具容置槽滑动至滑料通道内，并使得滤波器能够在滑料通道内沿预定轨迹滑动；安装斜面与上料机构的共同设置，使得滤波器不仅能够沿预定轨迹滑动，还使得滤波器只能逐一滑动至滑料通道内的预定测试位置上，从而免去了人工逐一对滤波器进行上料的繁琐，还避免了还避免了测试人员被滤波器引脚划伤，也避免了滤波器引脚因受力过大而意外折弯。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明一实施方式中的滤波器高频测试设备的结构示意图；

图2为本发明一实施方式中的滤波器高频测试设备的断裂结构示意图；

图3为图2在A处的放大示意图；

图4为图2在B处的放大示意图；

图5为图1在C处的放大示意图；

图6为本发明一实施方式中的滤波器高频测试设备的局部结构示意图；

图7为滤波器治具的结构示意图；

图8为本发明一实施方式中的高频弹性探针的爆炸图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，一种滤波器高频测试设备10包括机架100、上料机构200及测试机构300，上料机构200设置于机架100上，测试机构300设置于上料机构200上。

需要说明的是，滤波器高频测试设备10用于对滤波器进行高频测试；机架100起到固定上料机构200的作用；上料机构200用于对滤波器进行上料；上料机构200的设置，使得滤波器能够沿预定轨迹滑动至滤波器的测试工位上；测试机构300用于对滤波器进行测试；测试机构300的设置，使得滤波器能够准确地停滞于滤波器测试工位上。

请一并参阅图1及图2，机架100上设置有安装斜面110；上料机构200包括料道210及挡位件220，料道210设置于安装斜面110上，料道210上开设有互相连通的治具容置槽211及滑料通道212，治具容置槽211用于容置滤波器治具，挡位件220能够相对机架100朝靠近或者远离料道210的方向移动，挡位件220用于与滤波器互相顶持。

需要说明的是，安装斜面110用于固定料道210；料道210起到固定滤波器治具的作用；挡位件220起到封堵滑料通道212的作用，从而阻拦待测滤波器以外的滤波器在滑料通道212内滑动；治具容置槽211用于容置滤波器治具；滑料通道212用于引导滤波器沿预定轨迹滑动。

请一并参阅图1及图2，测试机构300包括高频测头310及限位件320，高频测头310能够相对机架100滑动，高频测头310用于与滤波器引脚互相顶持，限位件320能够相对机架100朝靠近或者远离料道210的方向移动，以使限位件320露置于滑料通道212内。

需要说明的是，高频测头310用于将外部的测试设备上的测试端口与滤波器引脚相导通；限位件320用于将待测滤波器停滞于预定测试工位上的作用。

综上所述，使用滤波器高频测试设备10对滤波器进行测试的具体步骤包括：

将装有滤波器的滤波器治具放置于治具容置槽211内，而滤波器治具内所有的滤波器都会在自重的情况下滑动至滑料通道212内；须知，所有的滤波器在滑动至滑料通道212内后，相邻两个滤波器之间会互相紧贴；

当所有的滤波器共同滑动至滑料通道212内的预定位置后，挡位件220将相对机架100朝靠近料道210的方向移动，从而将其中一个滤波器顶持于滑料通道212的底部内，被挡位件220所顶持的滤波器将无法继续沿着滑料通道212滑动，进而使得位于挡位件220与上料机构200之间的滤波器无法继续滑动，最终使得只有一个滤波器能够继续在滑料通道212内滑动，亦即只有待测滤波器能够继续在滑料通道212内滑动；

当待测滤波器滑动至滑料通道212内的预定测试工位上时，将会被露置于滑料通道212内的限位件320阻挡，从而使得待测滤波器能够准确地停在测试工位上，从而确保沿预定轨迹移动的高频测头310能够准确地与滤波器引脚相贴合，提高了设备的高频测试精度；

限位件320相对机架100朝远离料道210的方向移动，以使完成高频测试的滤波器能够继续沿着滑料通道212滑动，从而完成滤波器的下料。

在上述过程中，每完成一个滤波器的高频测试后，挡位件220都将作动一次，从而使得每次只有一个滤波器能够滑动至滤波器的测试工位上，免去了人工逐一取放滤波器的繁琐，避免了滤波器引脚划伤测试人员，还避免了滤波器引脚因夹持力过大而折弯。

在滤波器的实际测试过程中，还需要对滤波器进行高压测试，对于此，为了丰富滤波器高频测试设备10的测试功能，请一并参阅图2及图3，在其中一个实施例中，测试机构300还包括高压测试气缸330、高压测头340、定位气缸350及定位件360，高压测试气缸330设置于机架100上，高压测头340与高压测试气缸330的伸缩轴连接，高压测头340用于与滤波器引脚互相顶持，定位气缸350设置于机架100上，定位气缸350用于驱动定位件360朝靠近或者远离机架100的方向移动，以使定位件360露置于滑料通道212内，定位件360用于与滤波器互相顶持。

需要说明的是，高压测试气缸330用于提供动力至高压测头340上；高压测头340用于与外部的高压测试装置导通，从而将外部的高压测试装置与滤波器的引脚导通；定位气缸350用于提供动力至定位件360上；定位件360的设置，使得在滑料通道212内滑动的滤波器能够准确地停留在预定位置上。

需要补充说明的是，当需要对滤波器进行高压测试时，定位气缸350将驱动定位件360沿预定轨迹移动，以使定位件360露置于滑料通道212内，从而使得在滑料通道212内滑动的滤波器将在定位件360阻挡下停留在高压测试工位上，进而使得沿预定轨迹移动的高压测头340能够准确地与滤波器的引脚互相顶持，最终使得设备能够对滤波器进行高压测试，还确保了高压测头340与滤波器引脚的接触精度，保证了设备的高压测试精度。

具体地，请再次参阅图3，在其中一个实施例中，所述高压测头340包括隔热件341、高压配流板342及高压测试探针343，所述测试机构300还包括高压电路板345，所述高压电路板345设置于所述高压测试气缸330上，且所述高压电路板345与所述高压配流板342连接，所述隔热件341开设有隔热槽346，所述隔热件341与所述高压测试气缸330的伸缩轴连接，所述高压配流板342设置于所述隔热槽346内，所述高压测试探针343设置于所述隔热槽346的槽壁上，且所述高压测试探针343的一端与所述高压配流板342连接，所述高压测试探针343的另一端用于与滤波器的引脚的互相顶持。

需要说明的是，隔热件341起到隔热的作用；高压配流板342用于将高压电路板345与高压测试探针343相导通；高压测试探针343用于将滤波器的引脚与高压配流板342相导通；高压电路板345用于将外部的高压测试装置与高压测试探针343相导通；隔热槽346用于容置高压配流板342。

需要补充说明的是，电流的通过意味着热量的产生，而隔热槽346则能够将高压配流板342产生的热量汇集于隔热槽346内，避免热量直接传递至高压电路板345上，从而避免高压电路板345过热烧毁。

请参阅图4，在其中一个实施例中，高频测头310包括高频测试气缸311、高频固定件312、高频弹性探针313、高频电路板314及高频接口315，高频测试气缸311设置于机架100上，高频固定件312与高频测试气缸311的伸缩轴连接，高频弹性探针313位于高频固定件312上，且高频弹性探针313的检测端朝向滑料通道212设置，高频电路板314和高频接口315分别设置于高频固定件312上，高频弹性探针313和高频接口315分别与高频电路板314连接。

需要说明的是，高频测试气缸311用于驱动高频固定件312相对机架100沿预定轨迹移动；高频固定件312用于安装高频弹性探针313、高频电路板314及高频接口315；高频弹性探针313用于与滤波器引脚互相顶持；高频电路板314用于将高频弹性探针313与高频接口315相导通；高频接口315用于与设备外部的高频测试装置的测试接口连接，从而将外部的高频测试装置的测试接口与滤波器上的引脚连通。

具体的，请再次参阅图4，所述高频弹性探针313的数量为多个，各所述高频弹性探针313分别设置于所述高频固定件312上，各所述高频弹性探针313分别用于一一对应与滤波器上的各个引脚互相顶持。

请再次参阅图2，在其中一个实施例中，料道210包括滑料轨213及上料架214，滑料通道212位于滑料轨213上，治具容置槽211位于上料架214上，挡位件220安装于滑料轨213上。

需要说明的是，滑料轨213起到引导滤波器沿预定轨迹滑动的作用；上料架214用于固定滤波器治具。

进一步地，请再次参阅图2，在其中一个实施例中，上料架214包括底板2141及两个U型卡板2142，底板2141与滑料轨213连接，各U型卡板2142分别设置于底板2141上，各U型卡2142和底板2141共同围成治具容置槽211，上料机构200还包括推料气缸230及推料板240，推料气缸230设置于底板2141上，推料板240与推料气缸230驱动连接，推料板240用于与滤波器治具互相顶持。

需要说明的是，底板2141用于固定各U型卡板2142；各U型卡板2142均用于限位滤波器治具；推料气缸230用于驱动推料板240沿预定轨迹移动；推料板240用于顶持治具容置槽211槽底的滤波器治具移动。

需要补充说明的是，两个U型卡板2142的设置，使得各个装有滤波器的滤波器治具能够逐一堆叠于底板2141上，使得只有一个滤波器治具内的滤波器能够从治具容置槽211内滑动至滑料通道212内，从而使得滤波器能够在滑料通道212进行有序地滑动；当位于治具容置槽211底部的滤波器治具内的滤波器全数滑出至滑料通道212内后，推料气缸230将驱动推料板240移动，以使推料板240顶持内部并无滤波器的滤波器治具沿底板2141移动，进而使得空置的滤波器治具能够从两个U型卡板2142之间脱出，如此，其余的滤波器治具将在自重的作用下沿着U型卡板2142滑落至底板2141上。综上所述，测试人员能够一次性将多个滤波器治具放置于上料机构200上，有效地提高了设备的测试效率。

优选地，为了使得空置的滤波器能够顺利从两个U型卡板2142之间脱出，同时，还为了使得空置的滤波器治具能够得到妥善的收集，请再次参阅图2，在其中一个实施例中，上料架214还包括L型板2143及支撑板2144，L型板2143及支撑板2144分别与底板2141连接，各U型卡板2144上均开设有避位槽2145。

需要说明的是，L型板2143起到限位空置滤波器治具的作用；支撑板2144用于支撑滤波器治具；避位槽2145的开设，使得空置的滤波器治具能够顺利的从两个U型卡板2144之间脱出。

需要补充说明的是，从两个U型卡板2144之间脱出的滤波器治具将在L型板2143的限位下得到集中于预定区域内，而支撑板2144的设置，则能够防止滤波器治具直接从滤波器高频测试设备10上掉落。

优选地，请参阅图5，在其中一个实施例中，挡位件220包括挡位气缸221及挡位杆222，挡位气缸221设置于滑料轨213上，挡位气缸221用于驱动挡位杆222朝靠近或者远离滑料轨213的方向移动，以使挡位杆222与滤波器互相顶持。

需要说明的是，挡位气缸221用于驱动挡位杆222沿预定轨迹移动；挡位杆222用于将滤波器顶持于滑料通道212内；如此，在滤波器滑动至预定位置后，挡位气缸221将驱动挡位杆222移动，从而使得滤波器无法继续沿滑料通道212滑动。

具体地，请再次参阅图5，所述挡位杆222的端部上设置有整平圆台223，所述整平圆台223用于与滤波器互相顶持。

需要说明的是，整平圆台223的设置，避免了滤波器与挡位件220之间因接触面积过小而出现应力集中的现象，从而避免滤波器因应力集中而损毁。

此外，尤其需要说明的是，滤波器在滑料通道212内滑动过程中，有可能会发生端部翘起或侧边翘起的现象，而整平圆台223的设置，则能够使得滤波器能够紧贴于滑料通道212的底部，消除滤波器的位置不良现象，确保了滤波器在滑动至高频测试工位上时，各个引脚均能够紧贴于滑料通道212的底部，进而确保沿预定轨迹移动的高频测头310能够准确地与滤波器上的各个引脚相导通，进一步提高了设备的高频测试精度，避免了高频测头310与滤波器引脚之间出现接触不良的现象。

请参阅图6，在其中一个实施例中，滤波器高频测试设备10还包括分料机构400，分料机构400包括分料气缸410、分料治具固定件420、分料滑轨430、分料挡位气缸440及分料挡板450，分料气缸410和分料治具固定件420分别设置于机架100上，分料治具固定件420上开设有分料治具固定槽460，分料治具固定槽460用于容置滤波器治具，分料滑轨430上开设有分料通道470，分料气缸410用于驱动分料滑轨430相对机架100滑动，以使分料通道470能够与滑料通道212连通，还使分料通道470能够与分料治具固定槽460连通，分料挡位气缸440设置于分料滑轨430上，分料挡位气缸440用于驱动分料挡板450朝靠近或者远离分料滑轨430的方向移动，从而使分料挡板450与分料通道470的底部互相顶持。

需要说明的是，分料机构400用于筛选不良品滤波器；分料气缸410用于驱动分料治具固定件420相对机架100沿预定轨迹移动；分料治具固定件420用于承载滤波器治具；分料滑轨430不仅起到引导滤波器滑动的作用，还起到带动分料挡位气缸440及分料挡板450同步移动的作用；分料挡位气缸440用于驱动分料挡板450相对分料滑轨430沿预定轨迹移动；分料挡板450起到阻挡滤波器滑动的作用；分料治具固定槽460用于容置滤波器治具；分料通道470的开设，使得位于分料滑轨430上的滤波器能够沿预定轨迹滑动。

需要补充说明的是，不良品滤波器的筛选步骤具体包括：

分料挡位气缸440驱动分料挡板450移动，以使不良品滤波器能够停滞于分料通道470内；

分料气缸410驱动分料滑轨430移动，从而使得分料通道470与分料治具固定槽460连通；

分料挡位气缸440驱动分料挡板450移动，以使滤波器能够沿分料通道470滑动至分料治具固定槽460内的滤波器治具内；

完成不良品滤波器的筛选。

还需要说明的是，若未检测到不良品滤波器，则滤波器将沿着分料通道470直接滑动至预定下料位置处，以便工人对良品滤波器进行收集。

为了更好地理解本发明的技术方案，滤波器治具的结构如图7所示，滤波器治具20呈长方体状，且滤波器治具20上开设有滤波器容置通道30，滤波器容置通道30用于容置滤波器。

需要补充说明的是，在实际应用过程中，将滤波器治具20放置于治具容置槽211后，滤波器治具20将与滑料通道212相连通；放置于分料治具固定槽460内的滤波器治具20将能够与分料通道470连通。

优选地，请再次参阅图6，在其中一个实施例中，高频测试设备10还包括集料机构500，集料机构500包括集料导轨510、集料限位件520、集料支撑板530、集料气缸540及集料推板550，集料导轨510设置于机架100上，集料导轨510上开设有集料槽560，集料槽560用于与分料通道470连通，集料限位件520及集料支撑板530分别设置于集料导轨510上，集料气缸540安装于集料导轨510上，集料推板550与集料气缸540的伸缩轴连接。

需要说明的是，集料机构500用于收集良品滤波器；集料导轨510起到承载滤波器治具的作用；集料限位件520起到限位滤波器治具的作用；集料支撑板530起到支撑滤波器治具的作用；集料气缸540用于驱动集料推板550沿预定轨迹移动；集料推板550用于顶持滤波器治具在集料导轨510上移动；集料槽560的开设，使得滤波器只能够顺序堆叠于集料导轨510上。

需要补充说明的是，良品滤波器将直接从分料通道470滑动至集料槽560内的滤波器治具内；当滤波器治具内装满滤波器后，分料集料气缸540将驱动集料推板550移动，以使集料气缸540顶持满置有滤波器的滤波器治具朝靠近集料限位件520的方向移动；如此，满置的滤波器治具将集中在集料限位件520与集料支撑板530之间。

请再次参阅图6，在其中一个实施例中，集料推板550上开设有减重孔570。

需要说明的是，减重孔570减轻了集料推板550的整体重量。

请一并参阅图4及图8，在其中一个实施例中，高频弹性探针313包括固定筒3131、弹性件3132、导柱3133及检测柱3134，所述固定筒3131设置于所述高频固定件312上，所述固定筒3131上开设有定位槽3136，所述导向槽3136的侧壁开设有导向槽3137，所述弹性件3132设置于所述定位槽3136内，所述导柱3133设置于所述检测柱3134上，所述检测柱3134的部分侧壁向外凸起形成限位块3135，所述限位块3135滑动设置于所述导向槽3137内，所述检测柱3134于远离所述固定筒3131的端部设置有圆顶导电部3138，所述圆顶导电部3138为所述高频弹性探针313的检测端，所述圆顶导电部3138用于与滤波器引脚互相顶持。

需要说明的是，固定筒3131起到固定的作用；弹性件3132起到提供弹力至检测柱3134上的作用；导柱3133起到防止弹性件3132发生意外弯曲的作用，具体来说，弹性件3132的端部将始终套设于导柱3133上；检测柱3134用于将滤波器引脚与固定筒3131连通；定位槽3136用于容置弹性件3132；导向槽3137用于引导限位块3135滑动；限位块3135的设置，起到防止检测柱3134从固定筒3131上脱出的作用。

需要补充说明的是，在对滤波器进行检测的过程中，圆顶导电部3138将与滤波器引脚互相顶持，从而避免滤波器引脚与高频弹性探针313之间发生应力集中的现象，进而避免滤波器引脚与高频弹性探针313之间互相损毁。

与现有技术相比，本发明至少具有以下的优点及有益效果：

本发明的滤波器高频测试设备，设置有机架、上料机构及测试机构；限位件的设置，使得滤波器能够准确地停滞于滑料通道内的预定位置上，从而确保沿预定轨迹移动的高频测头能够准确地与滤波器的引脚相顶持，进而提高了滤波器高频测试设备的高频测试精度；安装斜面的设置，使得滤波器能够在自重的作用下从治具容置槽滑动至滑料通道内，并使得滤波器能够在滑料通道内沿预定轨迹滑动；安装斜面与上料机构的共同设置，使得滤波器不仅能够沿预定轨迹滑动，还使得滤波器只能逐一滑动至滑料通道内的预定测试位置上，从而免去了人工逐一对滤波器进行上料的繁琐，还避免了还避免了测试人员被滤波器引脚划伤，也避免了滤波器引脚因受力过大而意外折弯。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种滤波器高频测试设备，其特征在于，包括：

机架，所述机架上设置有安装斜面；

上料机构，所述上料机构包括料道及挡位件，所述料道设置于所述安装斜面上，所述料道上开设有互相连通的治具容置槽及滑料通道，所述治具容置槽用于容置滤波器治具，所述挡位件能够相对所述机架朝靠近或者远离所述料道的方向移动，所述挡位件用于与滤波器互相顶持；及

测试机构，所述测试机构包括高频测头及限位件，所述高频测头能够相对所述机架滑动，所述高频测头用于与滤波器引脚互相顶持，所述限位件能够相对所述机架朝靠近或者远离所述料道的方向移动，以使所述限位件露置于所述滑料通道内。

2.根据权利要求1所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述测试机构还包括高压测试气缸、高压测头、定位气缸及定位件，所述高压测试气缸设置于所述机架上，所述高压测头与所述高压测试气缸的伸缩轴连接，所述高压测头用于与滤波器引脚互相顶持，所述定位气缸设置于所述机架上，所述定位气缸用于驱动所述定位件朝靠近或者远离所述机架的方向移动，以使所述定位件露置于所述滑料通道内，所述定位件用于与滤波器互相顶持。

3.根据权利要求1所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述高频测头包括高频测试气缸、高频固定件、高频弹性探针、高频电路板及高频接口，所述高频测试气缸设置于所述机架上，所述高频固定件与所述高频测试气缸的伸缩轴连接，所述高频弹性探针位于所述高频固定件上，且所述高频弹性探针的检测端朝向所述滑料通道设置，所述高频电路板和所述高频接口分别设置于所述高频固定件上，所述高频弹性探针和所述高频接口分别与所述高频电路板连接。

4.根据权利要求1所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述料道包括滑料轨及上料架，所述滑料通道位于所述滑料轨上，所述治具容置槽位于所述上料架上，所述挡位件安装于所述滑料轨上。

5.根据权利要求4所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述上料架包括底板及两个U型卡板，所述底板与所述滑料轨连接，各所述U型卡板分别设置于所述底板上，各所述U型卡和所述底板共同围成所述治具容置槽，所述上料机构还包括推料气缸及推料板，所述推料气缸设置于所述底板上，所述推料板与所述推料气缸驱动连接，所述推料板用于与滤波器治具互相顶持。

6.根据权利要求5所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述上料架还包括L型板及支撑板，所述L型板及所述支撑板分别与所述底板连接，各所述U型卡板上均开设有避位槽。

7.根据权利要求4所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述挡位件包括挡位气缸及挡位杆，所述挡位气缸设置于所述滑料轨上，所述挡位气缸用于驱动所述挡位杆朝靠近或者远离所述滑料轨的方向移动，以使所述挡位杆与滤波器互相顶持。

8.根据权利要求1所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述滤波器高频测试设备还包括分料机构，所述分料机构包括分料气缸、分料治具固定件、分料滑轨、分料挡位气缸及分料挡板，所述分料气缸和所述分料治具固定件分别设置于所述机架上，所述分料治具固定件上开设有分料治具固定槽，所述分料治具固定槽用于容置滤波器治具，所述分料滑轨上开设有分料通道，所述分料气缸用于驱动所述分料滑轨相对所述机架滑动，以使所述分料通道能够与所述滑料通道连通，还使所述分料通道能够与所述分料治具固定槽连通，所述分料挡位气缸设置于所述分料滑轨上，所述分料挡位气缸用于驱动所述分料挡板朝靠近或者远离所述分料滑轨的方向移动，从而使所述分料挡板与所述分料通道的底部互相顶持。

9.根据权利要求8所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述高频测试设备还包括集料机构，所述集料机构包括集料导轨、集料限位件、集料支撑板、集料气缸及集料推板，所述集料导轨设置于所述机架上，所述集料导轨上开设有集料槽，所述集料槽用于与所述分料通道连通，所述集料限位件及所述集料支撑板分别设置于所述集料导轨上，所述集料气缸安装于所述集料导轨上，所述集料推板与所述集料气缸的伸缩轴连接。

10.根据权利要求9所述的滤波器高频测试设备，其特征在于，所述集料推板上开设有减重孔。

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