KR910017283A - 메모리 장치의 수리 체계 및 수리방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본발명을 구체화할수 있는 메모리 장치의 평면도, 제2도는 제1도의 장치내의 논리 데이타 블럭의 일반적인 레이아웃을 도시한 도면, 제3도는 데이타 블럭중의 하나의 서브-블럭의 부분도.
Claims (3)
- 개별적인 입력/출력 경로를 각각 갖는 1개 이상의 데이타 블럭으로 형성되는 메모리 장치에 있어서, 한개의 블럭이, 로우 라인 및 컬럼 라인을 따라 배열되고 로우 및 컬럼내에 배열된 다수의 메로리 셀을 각각 포함하는 서브-블럭들내에 구성된 메모리 셀의 어레이, 메로리 셀의 로우를 선택하기 위한 로우 어드레스 회로, 선택된 로우를 양분하는 컬럼내의 메모리 셀을 선택하기 위한 컬럼 어드레스 회로, 로우라인, 및 메모리 셀의 각 서브-블럭에 대해 다중 수리컬럼을 제공하기 위한 다수의 컬럼 수리 라인을 따라 배열된 제2그룹의 메모리 셀, 및, 상이한 수리 컬럼의 부분으로 1개이상의 어레이 컬럼부분을 교체하기 위해, 2개의 수리 컬럼라인에 접속된 상이한 수의 디코더와 함께, 어레이 컬럼의 어드레스에 따라 수리 컬럼을 선택하기 위해 각각 프로그램할 수 있는 다수의 디코더들을 포함하는 어드레스 수리회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치.
- 개별적인 입력/출력 경로를 갖는 다수의 데이타 블럭으로 구성된 메모리 장치에 있어서, 제1데이타 블럭이, 로우 라인 및 컬럼 라인을 따라 어드레스 가능한 로우 및 컬럼내에 배열되고 다수의 메모리 셀을 각각 포함하고 서브-블럭내에 구성된 메모리 셀의 어레이, 및 상기 1개의 데이타 블럭내의 어레이 컬럼에 초소한 제1 및 제2수리 컬럼을 제공하기 위해 어레이의 로우 및 컬럼 라인을 따라 배열된 제2그룹의 메모리 셀을 포함하고, 또한, 상기 장치가, 로우 어드레스 정보에 기초한 상기 어레이내의 메모리 셀의 로우를 선택하기 위한 로우 어드레스 회로 선택된 로우를 양분하는 칼럼내의 1개의 메모리 셀을 선택하기 위한 칼럼 어드레스 회로, 및 한 수리 컬럼에 각각 접속되고 상기 결손 셀을 수리 컬럼 중 1개의 컬럼내의 메모리 셀과 교체하기 위해 결손 메모리 셀을 포함하는 어레이 컬럼의 한 섹션에 대응하는 컬럼 및 로우 어드레스 정보를 수리 컬럼으로 프로그램할 수 있는 다수의 컬럼수리 디코더 회로를 포함하며, 상기 제1수리 컬럼이 상이한 수리 컬럼이 상이한 수리컬럼에 제공되는 디코더회로의 분포가 불균일하도록 상기 제2수리컬럼과 상이한 수의 디코더 회로에 접속되는 것을 특징으로 하는 메모리 장치.
- 제거될 결손이 제1컬럼에 관련되고 로우 및 컬럼내에 형성된 어드레스 가능한 메로리 셀의 어레이를 포함하는 논리 데이타 블럭을 갖고 있는 메모리 셀의 어레이를 포함하는 논리 데이타 블럭을 갖는 메모리 장치내의 결손을 제거하기 위한 방법에 있어서, 어레이 컬럼중 다중 수리가 효과적으로 할당될 수 있는 셀 부분의 제1수리 컬럼을 제공하는 단계, 어레이 컬럼중 다중 수리가 효과적으로 할당될 수 있는 셀부분 제2수리 컬럼을 제공하는 단계,수리가 효과적으로 할당될 수 있는 제1수리 컬럼부분의 최대수를 일정하게 하기 위해 제1수리 컬럼에 제1량의 디코더 회로를 결합하는 단계, 및 수리가 효과적으로 할당될 수 있는 제2수리 컬럼부분의 최대수를 일정하게 하기 위해 제2수리 컬럼에 상기 제1량과 다른 제2량을 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US50106490A | 1990-03-29 | 1990-03-29 | |
US501064 | 1990-03-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910017283A true KR910017283A (ko) | 1991-11-05 |
KR100216716B1 KR100216716B1 (ko) | 1999-09-01 |
Family
ID=23992015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910004864A KR100216716B1 (ko) | 1990-03-29 | 1991-03-28 | 메모리 장치의 수리 체계 및 수리 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0448980B1 (ko) |
JP (1) | JP2923370B2 (ko) |
KR (1) | KR100216716B1 (ko) |
DE (1) | DE69126465T2 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5349558A (en) * | 1993-08-26 | 1994-09-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Sector-based redundancy architecture |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4389715A (en) * | 1980-10-06 | 1983-06-21 | Inmos Corporation | Redundancy scheme for a dynamic RAM |
JPS61264599A (ja) * | 1985-05-16 | 1986-11-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1991
- 1991-03-01 DE DE69126465T patent/DE69126465T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-03-01 EP EP91103079A patent/EP0448980B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-28 KR KR1019910004864A patent/KR100216716B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1991-03-29 JP JP3066196A patent/JP2923370B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69126465T2 (de) | 1997-12-11 |
EP0448980B1 (en) | 1997-06-11 |
JP2923370B2 (ja) | 1999-07-26 |
EP0448980A3 (en) | 1992-03-25 |
EP0448980A2 (en) | 1991-10-02 |
JPH08124397A (ja) | 1996-05-17 |
KR100216716B1 (ko) | 1999-09-01 |
DE69126465D1 (de) | 1997-07-17 |
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