KR910014954A - 다포트메모리회로의 테스트장치 - Google Patents

다포트메모리회로의 테스트장치 Download PDF

Info

Publication number
KR910014954A
KR910014954A KR1019910001009A KR910001009A KR910014954A KR 910014954 A KR910014954 A KR 910014954A KR 1019910001009 A KR1019910001009 A KR 1019910001009A KR 910001009 A KR910001009 A KR 910001009A KR 910014954 A KR910014954 A KR 910014954A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
write
test signal
memory circuit
write port
outputs
Prior art date
Application number
KR1019910001009A
Other languages
English (en)
Inventor
츠네오 하마이
Original Assignee
아오이 죠이치
가부시키가이샤 도시바
다케다이 마사다카
도시바 마이크로 일렉트로닉스 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 아오이 죠이치, 가부시키가이샤 도시바, 다케다이 마사다카, 도시바 마이크로 일렉트로닉스 가부시키가이샤 filed Critical 아오이 죠이치
Publication of KR910014954A publication Critical patent/KR910014954A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/38—Response verification devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

다포트메모리회로의 테스트장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예의 회로블록도.

Claims (3)

  1. 다포트메모리회로(1)의 기입포트중에서 1개의 기입포트를 선택하고, 선택된 기입포트의 기입데이터를 출력하는 기입포트선택회로(2), 이 기입포트선택회로(2)에 의해 출력되는 기입데이터를 일시 보존하는 레지스터(3), 이 레지스터(3)가 보존하고 있는 기입데이터 및, 상기 다포트메모리회로(1)의 모든 독출포트로 부터 출력되는 데이터를 비교하여 일치·불일치를 판정하고, 그 판정결과정보를 출력하는 비교회로(4)를 구비하여 구성된다는 것을 특징으로 하는 다포트메모리회로의 테스트장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 기입포트선택회로(2)가 테스트신호와 동기하여 동작하고, 테스트신호가 활성화상태일 때만 선택한 기입포트의 기입데이터를 출력하는 것을 특징으로 하는 다포트메모리회로의 테스트장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 비교회로(4)가 테스트신호와 동기하여 출력동작하고, 테스트신호가 활성화상태일 때만 불일치정보를 출력하는 것을 특징으로 하는 다포트메모리회로의 테스트장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910001009A 1990-01-25 1991-01-22 다포트메모리회로의 테스트장치 KR910014954A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013574A JPH03219349A (ja) 1990-01-25 1990-01-25 多ポートメモリ回路のテスト装置
JP02-013574 1990-01-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR910014954A true KR910014954A (ko) 1991-08-31

Family

ID=11836940

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910001009A KR910014954A (ko) 1990-01-25 1991-01-22 다포트메모리회로의 테스트장치

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0439189A1 (ko)
JP (1) JPH03219349A (ko)
KR (1) KR910014954A (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0652067A (ja) * 1991-10-02 1994-02-25 Fujitsu Ltd マルチポートｒａｍチェック制御方法
US5502728A (en) * 1992-02-14 1996-03-26 International Business Machines Corporation Large, fault-tolerant, non-volatile, multiported memory
DE69623707T2 (de) * 1995-08-03 2003-01-30 Nortel Networks Ltd., St.Laurent Multitordirektzugriffspeicher
DE19920992B4 (de) * 1999-05-06 2005-06-23 Siemens Ag Verfahren für einen Zugriff auf eine Speichereinrichtung
US6557127B1 (en) 2000-02-28 2003-04-29 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for testing multi-port memories
US7719872B2 (en) * 2005-12-28 2010-05-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Write-once nonvolatile memory with redundancy capability
JP2012194858A (ja) * 2011-03-17 2012-10-11 Fuji Electric Co Ltd 車両用ドア駆動制御検査装置、車両用ドア駆動制御検査方法および車両用ドア駆動制御検査プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03219349A (ja) 1991-09-26
EP0439189A1 (en) 1991-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950015374A (ko) 동기식 디램의 히든 셀프 리프레쉬 방법 및 장치
KR890008850A (ko) 랜덤 억세스 메모리 유니트
KR870010551A (ko) 다이나믹 ram
KR870003430A (ko) 반도체 집적 회로장치
KR910001777A (ko) 속도변환용 라인 메모리
KR910014951A (ko) 메모리 시험장치
KR960005605A (ko) 반도체 기억장치
KR900005795A (ko) 화상독해장치
KR910020724A (ko) 반도체 기억장치
KR910015999A (ko) 반도체 메모리장치
KR910014954A (ko) 다포트메모리회로의 테스트장치
KR900013621A (ko) 반도체장치
KR920017115A (ko) 반도체기억장치
KR920010624A (ko) 반도체기억장치
KR920003314A (ko) 반도체 메모리장치
KR860004349A (ko) 시이퀀스 제어기의 프로세스 입출력장치
KR970012691A (ko) 병렬 테스트로 내부의 어드레스들을 제어하기 위한 스위칭 회로를 가지는 반도체 메모리 장치
KR910006852A (ko) 메모리 제어 시스템 및 방법
KR890008823A (ko) 직렬 메모리 장치
KR950001477A (ko) 기억 회로
KR920001532A (ko) 이중포트메모리장치
KR860009421A (ko) 논리기능을 가진 기억회로
KR960001999A (ko) 메모리 뱅크 선택회로
KR900019048A (ko) 반도체기억장치의 테스트회로
KR930001217A (ko) 반도체 기억장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
SUBM Submission of document of abandonment before or after decision of registration