KR900019048A - 반도체기억장치의 테스트회로 - Google Patents
반도체기억장치의 테스트회로 Download PDFInfo
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- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 기억장치의 테스트회로를 나타낸 회로구성도.
Claims (2)
- 순차적으로 배열된 복수비트의 기억요소에 입력데이터를 순차적으로 격납하는 격납수단(4)과, 이 격납수단(4)의 각 기억요소의 출력데이터를 기억시키는 부분을 갖춘 반도체 기억장치(2), 이 기억장치(2)와 상기 격납수단(4)의 사이에 설치되어 상기 격납수단(4)으로부터 기억장치(2)로의 기록데이터와 상기 기억장치(2)로부터 격납수단(4)으로의 독출데이터를 서로 반전관계인 데이터로서 전송하는 전송수단(5)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치의 테스트회로.
- 제1항에 있어서, 상기 기록동작과 독출동작의 사이에 다른 어드레스의 기록동작을 행하지 않고, 기록동작후 계속하여 독출동작을 행하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치의 테스트 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1125869A JPH02306500A (ja) | 1989-05-19 | 1989-05-19 | 半導体記憶装置のテスト回路 |
| JP1-125869 | 1989-05-19 | ||
| JP89-125869 | 1989-05-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR900019048A true KR900019048A (ko) | 1990-12-22 |
| KR930004178B1 KR930004178B1 (ko) | 1993-05-21 |
Family
ID=14920947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019900007154A KR930004178B1 (ko) | 1989-05-19 | 1990-05-18 | 반도체 기억장치의 테스트회로 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0398357A3 (ko) |
| JP (1) | JPH02306500A (ko) |
| KR (1) | KR930004178B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
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Family Cites Families (1)
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-
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- 1990-05-18 KR KR1019900007154A patent/KR930004178B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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