KR900005578A - 평탄화 식각을 이용한 다층 배선구조의 반도체장치의 제조방법 - Google Patents
평탄화 식각을 이용한 다층 배선구조의 반도체장치의 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR900005578A KR900005578A KR1019880012050A KR880012050A KR900005578A KR 900005578 A KR900005578 A KR 900005578A KR 1019880012050 A KR1019880012050 A KR 1019880012050A KR 880012050 A KR880012050 A KR 880012050A KR 900005578 A KR900005578 A KR 900005578A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- interlayer insulating
- forming
- substrate
- semiconductor device
- photoresist
- Prior art date
Links
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1(A)-(D)도는 본 발명에 따른 일실시예의 제조공정도.
Claims (3)
- 반도체 장치의 다층 배선공정에 있어서, 소자가 형성된 상기 반도체 기판상에 제 1배선층을 형성하는 제1공정과, 상기 기판상에 제1층간 절연막을 상기 제1배선층의 두께보다 두꺼운 두께로 형성하는 제2공정과, 상기 제 1층간 절연막상에 포토레지스트를 형성하는 제 3공정과, 상기 제1층간 절연막과 포토레지스트를 소정의 식각비로 선택 식각하는 제4공정과, 상기 기판상의 포토레지스트를 제거하고 상기 기판상에 제2층간 절연막을 형성하는 제5공정과, 상기 기판상의 제2배선층과 접촉될 부분을 형성하는 제 6공정과, 상기 기판상에 상기 제 2배선층을 형성하는 제7공정을 구비하여 상기 공정이 연속으로 이루어짐을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 제 공정이 상기 제1층간 절연막과 상기 포토레지스트의 식각비가 제1층간 절연막이 1로 식각될때 포토레지스트를 0.8-1.5 정도로 식각함을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 제1층간 절연막이 제1배선층상으로부터 500-1000Å 두께정도가 남도록 식각함을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019880012050A KR900005578A (ko) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | 평탄화 식각을 이용한 다층 배선구조의 반도체장치의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019880012050A KR900005578A (ko) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | 평탄화 식각을 이용한 다층 배선구조의 반도체장치의 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR900005578A true KR900005578A (ko) | 1990-04-14 |
Family
ID=68158106
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019880012050A KR900005578A (ko) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | 평탄화 식각을 이용한 다층 배선구조의 반도체장치의 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR900005578A (ko) |
-
1988
- 1988-09-16 KR KR1019880012050A patent/KR900005578A/ko not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970030682A (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
KR880013239A (ko) | 반도체소자의 접속구멍형성 방법 | |
KR920020618A (ko) | 반도체 장치의 배선 접속 구조 및 그 제조방법 | |
KR940022801A (ko) | 반도체소자의 콘택 형성방법 | |
KR890003000A (ko) | 반도체 장치의 제조방법 | |
KR930020590A (ko) | 알루미늄을 주성분으로 하는 금속박막의 에칭방법 및 박막트랜지스터의 제조방법 | |
KR900005578A (ko) | 평탄화 식각을 이용한 다층 배선구조의 반도체장치의 제조방법 | |
KR910001889A (ko) | 반도체장치 | |
KR950021414A (ko) | 반도체 장치의 다층 배선간 연결공정 | |
KR900003974A (ko) | 반도체장치의 제조방법 | |
KR980005620A (ko) | 반도체 소자의 콘택홀 형성방법 | |
KR940012572A (ko) | 반도체 장치에서의 콘택트 형성방법 | |
KR980005676A (ko) | 반도체 장치의 콘택홀 형성방법 | |
KR930017096A (ko) | 반도체장치와 그 제조방법 | |
KR970018033A (ko) | 반도체장치의 콘택홀 형성방법 | |
KR940016486A (ko) | 반도체 접속장치 제조방법 | |
KR900019169A (ko) | 반도체소자의 다층금속배선 공정방법 | |
KR960026169A (ko) | 콘택 홀 형성 방법 | |
KR960026213A (ko) | 콘택 홀 형성방법 | |
KR970023755A (ko) | 반도체 소자의 도전층간 절연 방법 | |
KR890011059A (ko) | 반도체 장치의 제조방법 | |
KR920010874A (ko) | 반도체 소자의 다층배선 제조방법 | |
KR960026659A (ko) | 반도체소자의 캐패시터 제조방법 | |
KR910001901A (ko) | 접촉창 형성 방법 | |
KR950001952A (ko) | 반도체 소자의 다층 금속배선 형성 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J2X1 | Appeal (before the patent court) |
Free format text: APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL |