KR880700400A - 광학기록체에 광선촛점 조정을 하기위한 처리방법과 회로배열 - Google Patents

광학기록체에 광선촛점 조정을 하기위한 처리방법과 회로배열

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KR880700400A
KR880700400A KR1019860700788A KR860700788A KR880700400A KR 880700400 A KR880700400 A KR 880700400A KR 1019860700788 A KR1019860700788 A KR 1019860700788A KR 860700788 A KR860700788 A KR 860700788A KR 880700400 A KR880700400 A KR 880700400A
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Abstract

내용 없음

Description

광학기록체에 광선촛점 조정을 하기위한 처리방법과 회로배열
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명에 따른 처리방법을 실시하기 위한 회로 배열이다.

Claims (14)

  1. 광원과 서어보요소에 의해서 움직일 수 있는 렌즈들로 구성된 광학시스템에 의해서 광학 기록체에 촛점이 조정될 수 있고 광학 기록체가 다수의 광전요소(A,B,C,D)에 광선을 반사하며 그의 출력 전압으로 부터 그렇게 얻어진 차이의 가감을 통해서 제 1 조정전압이 얻어지고 제어 증폭기(RV)에 의해서 그 조정전압이 서어보요소(SG)로 전달되어서 제어루우프 시스템을 이루는 광선의 촛점을 조정하기 위한 처리방법에 있어서, 제어루우프 시스템이 열렸을 때 서어보요소(SG)로 전달된 제 2 조정전압(Us)가 변화되고, 광선의 촛점이 기록체에 조정될때 제어루우프 시스템이 폐쇄되며 이러한 시점에서 제 2 조정전압(Us)의 취해진 값이 유지되고 프레볼테이지로서 서어보요소(SG)로 전달되는 광선의 촛점을 조정하기 위한 처리방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 제 2 조정전압(Us)이 펄스변조에 의해 변화되는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 펄스변조 처리방법으로 펄스폭 변조가 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  4. 제 3 항에 있어서, 제 2 조정전압(Us)이 톱니파로 형성되는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  5. 제 3 항에 있어서, 제 2 조정전압(Us)이 삼각파로 형성되는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  6. 제 1,2,3,4 또는 5 항에 있어서, 제 2 조정전압(Us)의 값(W)이 기억되고,각각의 새로운 촛점 조정을 할 때 값(W)에서 시작한 제 2 조정전압(Us)이 변화되어지는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  7. 제 1,2,3,4,5 또는 6 항에 있어서, 교환 전압이 제어 전압에 중첩되는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  8. 제 1,2,3,4,5,6 또는 7 항에 있어서, 제 2 조정전압의 값(W)이 기록체의 여러가지 타입을 위해 기억될 수 있고, 촛점 조정의 경우 기록체의 정해진 타입에서는 이러한 타입을 위해 기억된 값(S)에서 시작된 제 2 조정전압이 변화되는 것을 특징으로 하는 처리방법.
  9. 광수용-및 평가회로(O)의 출력이 촛점 검지기의 입력 및 제어 증폭기의 입력과 연결되고, 제어증폭기(RV)의 출력이 조정가능한 스위치(S)의 접점과 연결되고 스위치(S)의 다른 접점은 합산단계(SU)의 입력과 연결되며, 촛점검지기(FD)의 출력이 조정가능한 스위치(S)의 조정입력 및 시그널 제너레이터(SR)의 입력과 접속되며 시그널 제너레이터(SR)의 출력이 다지탈-아날로그-변환기(DA)의 입력과 접속되고(DA)의 출력은 합산단계(SU)의 다른 입력과 연결되며 합산단계(SU)의 출력은 서어보요소(SG)의 입력과 접속되는 것을 특징으로 하는 제 1,2,3,4,5,6 또는 7 항에 따른 처리방법을 실시하기 위한 회로배열.
  10. 광수용 및 평가회로(O)의 출력이 촛점검지기(FD)의 입력 및 조정가능한 스위치(S)의 접점과 접속되고 그의 다른 접점은 합산단계(SU)의 입력과 접속되며, 촛점검지기(FD)의 출력이 조정가능한 스위치(S)의 조정입력과 접속되며, 시그널 제너레이터(SR)의 출력이 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 입력과 접속되고, 그의 출력이 합산단계(SU)의 다른 입력과 접속되며, 합산단계(SU)의 출력이 제어증폭기(RV)의 입력과 접속되며, 제어증폭기(RV)의 출력은 서어보요소(SG)의 입력과 접속되는 것을 특징으로 하는 제 1,2,3,4,5,6 또는 7 항에 따르는 처리방법을 실시하기 위한 회로배열.
  11. 광수용-및 평가회로(O)의 출력이 촛점검지기(FD)의 입력 및 합산단계(SU)의입력과 접속되고 그의 다른 입력은 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 출력과 접속되며, 촛점검지기(FD)의 출력이 제어단위(K)의 입력(E)와 접속되고 그의 제 1 출력(A1)은 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 입력과 접속되고 그의 제 2 출력(A2)는 회로단위(SE)의 조정입력과 접속되며, 합산단계(SU)의 출력은 회로단위(SE)의 입력과 접속되고 그의 출력은 제어증폭기(RV)의 입력과 접속되며, 제어증폭기(RV)의 출력은 서어보요소(SG)의 입력과 접속되는 것을 특징으로 하는 제 1,2,3,4,5,6 또는 7 항에 따르는 처리방법을 실시하기 위한 회로배열.
  12. 제11항에 있어서, 제어중폭기(RV)와 서어보요소(SG)사이에 조정가능한 스위치(S)가 배치되고 그의 조정입력이 제어단위(K)의 제 3 출력(A3)와 접속되는 것을 특징으로 하는 회로배열.
  13. 광수용-및 평가회로(O)의 출력이 합산단계(SU)의 입력과 접속되고 그의 다른 입력이 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 출력과 접속되며, 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 입력이 제어단위(K)의 제 1 출력(A1)과 접속되고 그의 제 2 출력(A2)는 스위치단위(SE)의 조정입력과 접속되고 그의 입력(E)는 촛점검지기(FD)의 출력과 접속되며,합산단계(SU)의 출력이 촛점검지기(FD)의 입력 및 스위치 단위(SE)의 입력과 접속되고 그의 출력은 제어증폭기(RV)의 입력과 접속되며, 제어증폭기(RV)의 출력은 서어보요소(SG)의 입력과 접속되는 것을 특징으로 하는 제 1,2,3,4,5,6 또는 7 항에 따르는 처리방법을 실시하기 위한 회로배열.
  14. 광수용-및 평가회로(O)의 출력이 제 1 합산단계의 입력과 접속되고 그의 다른 입력이 제 1 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 출력과 접속되며, 제 1합산단계(SU)의 출력이 촛점검지기(FD)의 입력 및 조정가능한 스위치(S)의 접점과 접속되며, 촛점검지기(FD)의 출력이 제어단위(K)의 입력(E)와 접속되고 그의 제 1 출력(A1)이 제 1 디지탈-아날로그-변환기(DA)의 입력과 접속되고(DA)의 제 2 출력(A2)가 조정가능한 스위치(S)의 조정입력과 접속되며(DA)의 제 3 출력(A3)가 제 2 디지탈-아날로그-변환기(DA2)와 접속되며 조정가능한 스위치(S)의 출력이 제 2 합산단계(SU2)의 입력과 접속되고(SU2)의 다른 입력이 제 2 디지탈-아날로그-변환기(DA2)의 출력과 접속되며 제 2 합산단계의 출력이 제어증폭기(RV)의 입력과 접속되며 제어증폭기 (RV)의 출력이 서어보요소(SG)의 입력과 접속되는 것을 특징으로 하는 제 1,2,3,4,5,6 또는 7 항에 따른 처리방법을 실시하기 위한 회로배열.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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