KR880014666A - 다층 상호접속 시스템 층 제조방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 내지 3도는 다층 상호접속 시스템의 한층에 대한 한 실시예를 여러 완성 단계로 나타낸 횡단면도.
Claims (14)
- 평면형 다층 상호접속 시스템의 층을 제조하는 방법에 있어서, a) 베이스 층위에 놓이며, 경화된 후 용해될 수 없는 유전체 부층을 형성하는 단계 ; b) 상기 유전체 부층 위에 놓이며, 경화된 후 용해될 수 없는 회생 부층을 형성하는 단계 ; c) 상기 유전체 부층의 일부를 노출시키도록 상기 회생 부층의 일부를 제거하는 단계 ; d) 상기 유전체 부층의 노출부와 상기 베이스층을 노출시키도록 상기 유전체 부층의 노출부를 둘러싼 선택된 부분을 제거하여, 이 선택된 부분의 제거로써 상기 베이스 층의 노출부 위에 돌출된 상기 희생 부층의 노출부를 남기는 단계 ; e) 상기 희생 부층의 베이스층과 마주보는 상기 노출된 돌출부 위에 놓이지 않고 상기 유전체 및 희생 부층 위에 놓인 제1전도 점착성 부층과 상기 베이스 층의 노출 영역을 부착한 단계 ; f) 상기 제1전도 점착성 부층 위에 놓인 전도 시이딩 부층을 부착하는 단계 ; g) 상기 희생 부층 및 상기 제1전도 점착성 부층 및 상기 희생 부층과 접촉해 있는 상기 전도 시이딩 부층을 제거하는 단계 ; h) 도체 부층을 상기 시이딩 부층상에 비전기적으로 도금함으로써 도체 부층을 형성하는 단계 ; i) 제2점착성 부층을 도체 부층상에 비전기적으로 도금함으로써 상기 제2전도 점착성 부층을 형성하는 상기 유전체 부층과 평면을 이루는 표면을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 상호접속 시스템 층 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 희생부층이 감광성 가용성 폴리이미드 및 포토레지스트로 구성된 그룹으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 단계 c)에서, 상기 희생 부층이 상기 희생 부층의 일부를 마스크하고 상기 층을 자외선에 노출시킴으로써 제거되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 단계 d)에서, 상기 선택된 부분이 측방향 깊이로 약 3내지 7㎛의 돌출부를 제공하기 위하여 제공되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1전도 점착성 부층이 크롬인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 전도 시이딩 부층이 구리인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1전도 점착성 부층 및 상기 전도 시이딩 부층이 냉간 스퍼터링 용착에 의해 가해지는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 도체 부층이 구리인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제2전도 점착성 부층이 니켈인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 다층 상호접속 시스템의 각 층이 단계 a) 내지 i)를 사용하여 제조되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 평면형 다층 상호접속 시스템의 층을 제조하는 방법에 있어서, a) 베이스층 위에 놓이며, 경화된 후 용해될 수 없는 폴리이미드 부층을 형성하는 단계 ; b) 상기 폴리이미드 부층 위에 놓이는 금속 부층을 형성하는 단계 ; c) 상기 금속 부층 위에 놓이며, 경화된 후 용해될 수 없는 폴리이미드로부터 선택된 희생 부층을 형성하는 단계 ; d) 상기 금속 부층의 일부를 노출시키도록 상기 희생 부층의 일부를 제거하는 단계 ; e) 상기 폴리이미드 부층의 일부를 노출시키도록 상기 금속 부층의 노출부를 제거하는 단계 ; f) 상기 베이스 층의 일부를 노출시키도록 상기 폴리이미드 부층의 노출부와 상기 폴리이미드 부층의 노출부를 둘러싼 선택된 부분을 제거하여 이 선택된 부분의 제거로써 상기 금속 부층의 노출부와 상기 비이스층의 노출부 위에 돌출된 상기 희생 부층을 남기는 단계 ; g) 상기 베이스층의 노출부 위에 돌출된 상기 금속 부층의 일부를 제거하는 단계 ; h) 상기 희생 부층의 베이스 층과 마주보는 상기 노출된 돌출부 위에 놓이지 않고 상기 폴리이미드 및 희생 부층 위에 놓인 제1전도 점착성 부층과 상기 베이스층의 노출 영역을 부착하는 단계 ; i) 상기 제1전도 점착성 부층 위에 놓인 전도 시이딩 부층을 부착하는 단계 ; j) 상기 희생 부층 및 상기 제1전도 점착성 부층과 희생 부층과 인접해 있는 전도 시이딩 부층을 제거하는 단계 ; k) 상기 금속 부층을 제거하는 단계 ; m) 제2전도 점착성 부층을 도체 부층상에 비전기적으로 도금함으로써 상기 제2전도 점착성 부층을 형성하여 상기 폴리이미드 부층과 평면을 이루는 표면을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 상호접속 시스템 층 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 폴리이미드 부층이 감광성, 비가용성 폴리이미드인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 금속 부층이 티탄인 것을 특징으로 하는 방법.
- 평면형 다층 상호접속 시스템의 층을 제조하는 방법에 있어서, a) 베이스층 위에 놓이는 SiO2부층을 형성하는 단계 ; b) 상기 SiO2부층 위에 놓이며, 경화된 후 용해될 수 없는 희생 부층을 형성하는 단계 ; c) 상기 SiO2부층의 일부를 노출시키도록 상기 희생 부층의 일부를 제거하는 단계 ; d) 상기 SiO2부층과 노출부의 상기 베이스 층의 일부를 노출시키도록 상기 SiO2부층의 노출부를 둘러싼 선택된 부분을 제거하여, 이 선택된 부분의 제거로써 상기 베이스층의 노출부 위에 돌출된 상기 희생 부층의 노출부를 남기는 단계 ; e) 상기 희생 부층의 베이스 층과 마주보는 상기 노출된 돌출부 의에 놓이지 않고 상기 SiO2및 희생 부층 위에 놓이는 제1전도 점착성 부층과 베이스 층의 노출 영역을 부착시키는 단계 ; f) 상기 제1전도 점착성 부층 위에 놓이는 전도 시이딩 부층을 부착시키는 단계 ; g) 상기 희생 부측 및 상기 제1전도 점착성 부층과 상기 희생부층에 접촉해 있는 전도 시이딩 부층을 제거하는 단계 ; h) 도체 부층을 상기 시이딩 부층 상에 비전기적으로 도금함으로써 상기 도체 부층을 형성하는 단계 ; i) 제2점착성 부층을 상기 도체 부층상에 비전기적으로 도금함으로써 상기 제2전도 점착성 부층을 형성하여 상기 SiO2부층과 평면을 이루는 표면을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 상호접속 시스템 층 제조방법.※ 참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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