KR20230126191A - 유리 제조 방법 및 유리 제조 장치 - Google Patents

Abstract

유리 리본과 대상물의 거리를 계측하는 기술을 제공한다.
유리 제조 방법은 하기 (A) 내지 (D)를 갖는다. (A) 띠판상의 유리 리본을 대상물과 간격을 두고 반송한다. (B) 상기 대상물의 상기 유리 리본과 대향하는 일단부의 실상과, 상기 유리 리본에 비치는 상기 대상물의 상기 일단부의 거울상을 카메라로 촬상한다. (C) 상기 촬상한 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리를 계측한다. (D) 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출한다.

Description

유리 제조 방법 및 유리 제조 장치{GLASS MANUFACTURING METHOD AND GLASS MANUFACTURING DEVICE}

본 개시는, 유리 제조 방법 및 유리 제조 장치에 관한 것이다.

특허문헌 1에 기재된 유리 제조 장치는, 용융 금속을 수용하는 플로트 배스와, 용융 금속 상에서 띠판상으로 성형된 유리 리본을 서냉하는 서냉로와, 플로트 배스와 서냉로 사이에 마련되는 드로스 박스를 구비한다. 유리 제조 장치는, 드로스 박스의 상부 공간을 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 드레이프를 갖는다. 특허문헌 2에도 동일한 내용이 개시되어 있다.

특허문헌 1에 기재된 유리 제조 장치는, 드레이프와 유리 리본의 간극 관리를 위해 감시 카메라를 구비한다. 감시 카메라는, 드로스 박스의 외부에 마련되고, 드로스 박스의 창을 통하여 드로스 박스 내의 드레이프와 유리 리본을 촬상한다. 화상 처리 장치는, 감시 카메라가 촬상한 화상을 화상 처리함으로써, 드레이프와 유리 리본의 간극 거리를 계측한다.

일본 특허 공개 제2021-109817호 공보 국제 공개 제2019/221084호

종래부터, 유리 리본과 대상물을 카메라로 촬상하고, 촬상한 화상을 화상 처리함으로써, 유리 리본과 대상물의 거리를 계측하는 것이 검토되고 있다. 예를 들어 유리 리본이 수평한 경우에 카메라가 유리 리본의 바로 옆에 설치되어 있으면, 유리 리본과 그 상방의 대상물의 거리를 계측 가능하다.

그러나, 카메라의 광축의 각도에 따라서는, 화상에 찍히는 유리 리본의 상면의 위치를 검출하는 것이 곤란하다. 예를 들어 유리 리본의 상면이 화상에 선이 아니라 면으로서 찍히는 경우, 유리 리본의 상면의 위치를 검출하기가 곤란하다.

또한, 유리 리본을 촬상한 화상을 사용하여, 유리 리본의 표면의 파상 정도를 수치화하는 기술에 대해서는 종래에는 검토되지 않았다.

본 개시의 일 양태는, 유리 리본과 대상물의 거리를 계측하는 기술을 제공한다.

본 개시의 다른 일 양태는, 유리 리본의 표면의 파상 정도를 수치화하는 기술을 제공한다.

본 개시의 일 형태에 관한 유리 제조 방법은, 하기 (A) 내지 (D)를 갖는다. (A) 띠판상의 유리 리본을 대상물과 간격을 두고 반송한다. (B) 상기 대상물의 상기 유리 리본과 대향하는 일단부의 실상과, 상기 유리 리본에 비치는 상기 대상물의 상기 일단부의 거울상을 카메라로 촬상한다. (C) 상기 촬상한 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리를 계측한다. (D) 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출한다.

본 개시의 다른 일 양태에 관한 유리 제조 방법은, 하기 (E) 내지 (G)를 갖는다. (E) 띠판상 유리 리본의 표면을 카메라로 촬상한다. (F) 상기 촬상한 화상에서, 상기 유리 리본의 표면을 복수의 검출 영역으로 구획하고, 상기 검출 영역별로 상기 검출 영역 내에서의 상기 유리 리본의 색의 변화량을 검출한다. (G) 상기 검출한 색의 변화량이 역치를 초과하는, 상기 검출 영역의 수를 카운트한다.

본 개시의 일 양태에 따르면, 촬상한 화상에 찍히는 대상물의 실상과 거울상과의 거리를 계측함으로써 유리 리본과 대상물의 거리를 산출할 수 있다.

본 개시의 다른 일 양태에 따르면, 화상의 색의 변화량이 역치를 초과하는 검출 영역의 수를 카운트함으로써 유리 리본의 표면의 파상 정도를 수치화할 수 있다.

도 1은 1 실시 형태에 따른 유리 제조 장치를 도시하는 단면도이다.
도 2는 1 실시 형태에 따른 카메라와 화상 처리 장치를 도시하는 도면이다.
도 3은 도 2의 카메라로 촬상하는 화상의 일례를 도시하는 도면이다.
도 4는 변형예에 관한 카메라와 화상 처리 장치를 도시하는 도면이다.
도 5는 도 4의 검출부가 설정하는 복수의 검출 영역과 유리 리본의 색의 일례를 도시하는 도면이다.
도 6은 도 5에 나타내는 검출 영역 중, 색의 변화량이 역치를 초과하는 검출 영역의 일례를 도시하는 도면이다.
도 7은 변형예에 관한 유리 제조 장치를 도시하는 단면도이다.
도 8은 변형예에 관한 카메라와 화상 처리 장치를 도시하는 도면이다.
도 9는 도 8의 카메라로 촬상하는 화상의 일례를 도시하는 도면이다.

이하, 본 개시의 실시 형태에 대해서 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 각 도면에서 동일하거나 대응되는 구성에는 동일한 부호를 부여하고, 설명을 생략하는 경우가 있다. 각 도면에서, X축 방향, Y축 방향 및 Z축 방향은 서로 수직인 방향이며, X축 방향 및 Y축 방향은 수평 방향, Z축 방향은 연직 방향이다. X축 방향이 유리 리본(G)의 반송 방향이며, Y축 방향이 유리 리본(G)의 폭 방향이다. 명세서 중, 수치 범위를 나타내는 「내지」는, 그 전후에 기재된 수치를 하한값 및 상한값으로서 포함하는 것을 의미한다.

우선, 도 1을 참조하여, 1 실시 형태에 따른 유리 제조 장치(1)에 대해서 설명한다. 유리 제조 장치(1)는, 예를 들어 유리 리본(G)의 반송 방향 상류측에서 하류측을 향하여 성형 장치(2)와, 중계 장치(3)와, 서냉 장치(5)를 이 순서대로 구비한다. 유리 리본(G)은, 성형 장치(2)에서 성형된 후, 중계 장치(3)에 의해 성형 장치(2)에서 서냉 장치(5)로 보내지고, 서냉 장치(5)에서 서냉된다. 그 후, 유리 리본(G)은, 도시하지 않은 가공 장치에서 절단된다. 이에 따라, 제품인 유리판이 얻어진다.

유리판은, 예를 들어 무알칼리 유리, 알루미노실리케이트 유리, 붕규산 유리 또는 소다 석회 유리 등이다. 무알칼리 유리란, Na₂O, K₂O 등의 알칼리 금속 산화물을 실질적으로 함유하지 않는 유리를 의미한다. 여기서, 알칼리 금속 산화물을 실질적으로 함유하지 않는다는 것은, 알칼리 금속 산화물의 함유량 합량이 0.1 질량% 이하를 의미한다.

유리판의 용도는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어 디스플레이(예를 들어 액정 디스플레이 또는 유기 EL 디스플레이 등)의 커버 유리이다. 유리판의 용도가 커버 유리인 경우, 유리판은 화학 강화용 유리이다. 화학 강화용 유리는, 무알칼리 유리와는 달리, 알칼리 금속 산화물을 함유한다.

유리판의 두께는, 유리판의 용도에 따라 선택된다. 유리판의 용도가 디스플레이의 커버 유리인 경우, 유리판의 두께는 예를 들어 0.1 mm 내지 5.0 mm이다. 유리판의 용도가 디스플레이의 유리 기판인 경우, 유리판의 두께는 예를 들어 0.1 mm 내지 0.7 mm이다. 유리판의 용도가 자동차의 윈드 쉴드인 경우, 유리판의 두께는 예를 들어 0.2 mm 내지 3.0 mm이다.

이어서, 도 1을 다시 참조하여, 1 실시 형태에 따른 성형 장치(2), 중계 장치(3) 및 서냉 장치(5)에 대해서 이 순서대로 설명한다. 성형 장치(2)는 본 실시 형태에서는 플로트법으로 유리 리본(G)을 성형하는데, 퓨전법으로 유리 리본(G)을 성형해도 된다. 성형 방법은, 특별히 한정되지 않는다.

성형 장치(2)는 열처리로인 성형로(21)을 구비한다. 성형로(21)는 욕조(211)를 갖는다. 욕조(211)는 용융 금속 M을 수용한다. 용융 금속 M으로서는, 예를 들어 용융 주석이 사용된다. 용융 주석 이외에, 용융 주석 합금 등도 사용 가능하고, 용융 금속 M은 용융 유리보다도 높은 밀도를 갖는 것이면 된다. 용융 유리는, 용융 금속 M 상에 연속적으로 공급되고, 용융 금속 M의 평활한 액면을 이용하여, 띠판상의 유리 리본(G)으로 성형된다.

성형로(21)는 욕조(211)의 상방에 천장(212)을 구비한다. 성형 장치(2)의 내부는, 용융 금속 M의 산화를 방지하기 위하여 환원성 가스로 채워지고 대기압보다도 높은 기압으로 유지된다. 환원성 가스는, 예를 들어 질소 가스와 수소 가스의 혼합 가스이며, 질소 가스를 85 체적% 내지 98.5 체적%, 수소 가스를 1.5 체적% 내지 15 체적% 포함하고 있다. 환원성 가스는, 천장(212)의 벽돌끼리의 줄눈 및 천장(212)의 구멍으로부터 공급된다.

성형 장치(2)는 유리 리본(G)을 가열하는 히터(22)를 구비한다. 히터(22)는 예를 들어 성형로(21)의 천장(212)으로부터 현수되고, 하방을 통과하는 유리 리본(G)을 가열한다. 히터(22)는 예를 들어 전기 히터이며, 통전 가열된다. 히터(22)는 유리 리본(G)의 반송 방향과 폭 방향으로 행렬상으로 복수 배열된다. 복수의 히터(22)의 출력을 제어함으로써, 유리 리본(G)의 온도 분포를 제어할 수 있고, 유리 리본(G)의 판 두께 분포를 제어할 수 있다.

중계 장치(3)는 열처리로인 드로스 박스(31)와, 리프트아웃 롤(32)을 구비한다. 리프트아웃 롤(32)은 드로스 박스(31)의 내부에 배치되고, 유리 리본(G)을 용융 금속 M으로부터 끌어올린다. 리프트아웃 롤(32)은 유리 리본(G)의 반송 방향(X축 방향)으로 간격을 두고 복수 배치된다. 리프트아웃 롤(32)의 수는, 특별히 한정되지 않는다. 리프트아웃 롤(32)은 모터 등의 구동 장치(도시하지 않음)에 의해 회전 구동되고, 그 구동력에 의해 유리 리본(G)을 비스듬히 상방을 향하여 반송한다. 리프트아웃 롤(32)의 축 방향은, 유리 리본(G)의 폭 방향(Y축 방향)과 동일한 방향이다. 리프트아웃 롤(32)은 특허 청구 범위에 기재된 반송 장치의 일례이다.

중계 장치(3)는 유리 리본(G)의 온도를 조정하기 위해, 드로스 박스(31)의 천장에 히터(33)를 구비해도 된다. 히터(33)는 유리 리본(G)의 상방뿐만 아니라, 하방에 마련되어도 된다. 중계 장치(3)에서, 유리 리본(G)의 온도는, 유리 리본(G)의 유리 전이점 Tg를 기준으로 하여 (Tg-50)℃ 내지 (Tg+30)℃인 것이 바람직하다.

중계 장치(3)는 드로스 박스(31)의 천장으로부터 현수되는 드레이프(34)를 구비한다. 드로스 박스(31)의 천장은, 예를 들어 후드(311)와, 후드(311) 상에 배치된 단열재(312)를 갖는다. 드레이프(34)는 단열재(312)의 일부와 후드(311)를 관통하여 후드(311)의 하면으로부터 현수된다. 드레이프(34)는 강재 또는 유리재 등의 내화재로 이루어지는 판상의 부재이다.

드레이프(34)는 드로스 박스(31)의 상부 공간을, 유리 리본(G)의 반송 방향(X축 방향)으로 복수의 공간으로 칸막이하는 칸막이 벽이다. 드로스 박스(31)의 상부 공간은, 유리 리본(G)보다도 상측의 공간이다. 드레이프(34)는, 예를 들어 각 리프트아웃 롤(32)의 회전 중심선의 바로 위에 배치된다. 드레이프(34)는 각 리프트아웃 롤(32)의 축 방향(Y축 방향)으로 연장되어 있다.

드레이프(34)는 후술하는 서냉로(51)에서 드로스 박스(31)로 산소 가스가 침입하는 것을 억제하고 드로스 박스(31) 내의 산소 농도의 증가를 억제한다. 이에 따라, 성형로(21)에서 드로스 박스(31)로 유입되는 수소 가스의 연소를 억제한다. 그 결과, 수소 가스의 연소에 의한 유리 리본(G)의 온도 변동 및 국소 가열을 억제할 수 있다. 드레이프(34)는 유리 리본(G)의 반송을 방해하지 않도록, 유리 리본(G)의 상면과의 사이에 간극을 형성한다.

서냉 장치(5)는 열처리로인 서냉로(51)와, 레이어 롤(52)을 구비한다. 레이어 롤(52)은 서냉로(51)의 내부에 배치되고, 유리 리본(G)의 길이 방향(X축 방향)으로 유리 리본(G)을 반송한다. 레이어 롤(52)은 유리 리본(G)의 반송 방향으로 간격을 두고 복수 마련된다. 레이어 롤(52)의 수는, 특별히 한정되지 않는다. 레이어 롤(52)은 모터 등의 구동 장치(도시하지 않음)에 의해 회전 구동되고, 그 구동력에 의해 유리 리본(G)을 수평 방향(X축 방향)으로 반송한다. 레이어 롤(52)의 축 방향은, 유리 리본(G)의 폭 방향(Y축 방향)과 동일한 방향이다.

서냉 장치(5)는 유리 리본(G)을 레이어 롤(52)에 의해 반송하면서 유리의 변형점 이하의 온도로 서냉한다. 서냉 장치(5)는 유리 리본(G)의 온도를 조정하기 위하여 내부에 도시하지 않은 히터를 구비한다.

이어서, 도 2와 도 3을 참조하여, 1 실시 형태에 따른 카메라(6)와 화상 처리 장치(7)에 대해서 설명한다. 유리 제조 장치(1)는 카메라(6)와, 카메라(6)로 촬상한 화상 P1을 화상 처리하는 화상 처리 장치(7)를 구비한다. 카메라(6)는 띠판상의 유리 리본(G)과, 유리 리본(G)과의 사이에 간극을 형성하는 대상물을 촬상한다. 대상물은, 특별히 한정되지 않지만, 본 실시 형태에서는 드레이프(34)이다. 화상 처리 장치(7)는 카메라(6)로 촬상한 화상 P1을 화상 처리함으로써, 유리 리본(G)의 상면과 드레이프(34) 하단(341)의 거리 L1을 계측한다. 화상 처리 장치(7)는 화상 P1에서의 거리 L1을 계측해도 되고, 실공간에서의 거리 L1을 계측해도 된다.

카메라(6)는 예를 들어 열처리로인 드로스 박스(31)의 외측에 마련되고, 드로스 박스(31)의 Y축 방향 일단부에 마련되는 측벽의 창을 통하여 유리 리본(G)과 드레이프(34)를 촬상한다. 촬상 대상에 광을 조사하는 광원(도시하지 않음)이 마련되어도 된다. 촬상 대상에 광을 조사함으로써, 명료한 화상 P1이 얻어진다. 광원은, 예를 들어 드로스 박스(31)의 Y축 방향 타단부에 마련되는 측벽의 창을 통하여 유리 리본(G)과 드레이프(34)에 광을 조사한다.

그런데, 카메라(6)의 광축(61)의 각도에 따라서는, 화상 P1에 찍히는 유리 리본(G) 상면의 위치를 검출하기가 곤란하다. 예를 들어 유리 리본(G)의 상면이 화상 P1에 선이 아니라 면으로서 찍힐 경우, 유리 리본(G)의 상면의 위치를 검출하기가 곤란하다.

예를 들어 카메라(6)의 광축(61)이 수평한 유리 리본(G)의 상면에 대하여 비스듬하게 설치되는 경우, 유리 리본(G)의 상면에 드레이프(34) 하단(341)의 거울상이 비친다. 본 개시의 기술은, 유리 리본(G)의 상면에 비치는 거울상을 이용하여, 유리 리본(G)의 상면과 드레이프(34) 하단(341)의 거리 L1을 계측한다.

도 3에 나타내는 바와 같이, 카메라(6)로 촬상하는 화상 P1은, 드레이프(34)의 하단(341)의 실상(341A)과 거울상(341B)을 포함한다. 드레이프(34)의 하단(341)은 특허 청구 범위에 기재된 대상물의 유리 리본(G)에 대향하는 일단부의 일례이다. 카메라(6)는 CCD 또는 CMOS 등의 촬상 소자를 포함하고, 촬상 소자로 촬상한 화상 P1을 화상 처리 장치(7)로 송신한다.

화상 처리 장치(7)는 예를 들어 컴퓨터이며, CPU(Central Processing Unit)와, 메모리 등의 기억 매체를 구비한다. 기억 매체에는, 화상 처리 장치(7)에서 실행되는 각종 처리를 제어하는 프로그램이 저장된다. 화상 처리 장치(7)는 기억 매체에 기억된 프로그램을 CPU에 실행시킴으로써, 화상 처리 장치(7)의 동작을 제어한다.

화상 처리 장치(7)는 도 2에 나타내는 바와 같이, 예를 들어 계측부(71)와, 산출부(72)를 갖는다. 계측부(71)는 화상 P1에 찍히는 실상(341A)과 거울상(341B)의 거리 L2(도 3 참조)를 계측한다. 거리 L2의 크기는, 예를 들어 화상 P1에서의 화소 수로 나타낸다. 카메라(6)에서 물체까지의 거리가 멀수록, 화상 P1에 찍히는 물체의 크기가 작아진다. 계측부(71)는 화상 P1에서의 특정한 위치에서 거리 L2를 계측한다.

산출부(72)는 화상 P1에 찍히는 실상(341A)과 거울상(341B)의 거리 L2로부터, 유리 리본(G)의 상면과 드레이프(34)의 하단(341)의 거리 L1을 산출한다. 예를 들어 화상 P1에 찍히는 거리 L2의 반값이, 화상 P1에 찍히는 거리 L1이다. 그리고, 화상 P1에 찍히는 거리 L1과 비례 상수와의 곱이, 실제의 거리 L1(실공간에서의 거리 L1)이다. 비례 상수는, 주로 카메라(6)에서 거리 L1의 측정점까지의 거리로 정해지고, 미리 실험 등으로 구할 수 있다. 산출부(72)에 의해 산출하는 거리 L1의 크기는, 화상 P1에서의 화소 수로 나타내도 되고, mm 등의 일반적인 길이 단위로 나타내도 된다. 또한, 후술하는 바와 같이, 산출부(72)는 거리 L1의 계측 정밀도를 높이기 위해 기준 거리 L0을 참조하여 비례 상수를 구해도 된다.

카메라(6)는 기준 거리 L0을 나타내는 복수의 기준점 SP1, SP2를 촬상해도 된다. 촬상하는 화상 P1은, 드레이프(34)의 하단(341)의 실상(341A)과 거울상(341B)에 더하여 복수의 기준점 SP1, SP2도 포함한다. 화상 P1은, 기준점 SP1, SP2의 실상과 거울상 중 어느 쪽을 포함해도 되고, 양쪽을 포함해도 된다.

기준점 SP1, SP2로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어 드레이프(34)를 구성하는 복수매의 판을 연결하는 볼트 또는 너트가 사용된다. 도 2에 나타내는 바와 같이, 기준점 SP1, SP2는, 유리 리본(G)의 드레이프(34)에 대향하는 면(예를 들어 상면)과 직교하는 방향으로, 기준 거리 L0을 두고 배치되어 있다.

계측부(71)는 화상 P1에 찍히는 기준 거리 L0을 계측한다. 화상 P1에 찍히는 기준 거리 L0의 크기는, 예를 들어 화소 수로 나타낸다. 산출부(72)는 화상 P1에 찍히는 실상(341A)과 거울상(341B)의 거리 L2과, 화상 P1에 찍히는 기준 거리 L0로부터, 유리 리본(G)의 상면과 드레이프(34)의 하단(341)의 거리 L1을 산출한다. 산출부(72)는 화상 P1에서의 거리 L1을 산출해도 되고, 실공간에서의 거리 L1을 산출해도 된다.

화상 P1 또는 실공간에서의 거리 L1을 산출할 때에 화상 P1에서의 기준 거리 L0을 참조함으로써, 외란에 의해 화상 P1에서의 기준 거리 L0이 변동되게 되는 경우에도, 기준 거리 L0에 대한 거리 L1의 상대값을 산출함으로써, 거리 L1의 절댓값을 정확하게 산출할 수 있다. 또한, 화상 P1에서의 기준 거리 L0의 화소 수와, 실공간에서의 기준 거리 L0의 비를 산출함으로써, 화소 수를 실공간에서의 거리로 고칠 때의 비례 상수를 산출할 수 있다.

상기한 바와 같이, 카메라(6)에서 물체까지의 거리가 멀수록, 화상 P1에 찍히는 물체의 크기가 작아진다. 화상 P1이 기준 거리 L0을 나타내는 복수의 기준점 SP1, SP2를 복수조 포함하는 경우, 산출부(72)는 화상 P1에 찍히는 각 조의 기준점 SP1, SP2끼리를 연결하는 직선 상에서 거리 L2를 계측해도 좋다. 복수 조의 기준점 SP1, SP2를 사용함으로써 거리 L1의 계측 정밀도를 향상시킬 수 있다.

이어서, 도 4 내지 도 6을 참조하여, 변형예에 관한 카메라(6)와 화상 처리 장치(7)에 대하여 설명한다. 유리 제조 장치(1)는 카메라(6)와, 카메라(6)로 촬상한 화상 P2를 화상 처리하는 화상 처리 장치(7)를 구비한다. 카메라(6)는 띠판상의 유리 리본(G)의 표면을 촬상한다. 카메라(6)는 적어도 유리 리본(G)의 제품이 되는 부분, 예를 들어 유리 리본(G)의 폭 방향 중앙부를 촬상한다. 화상 처리 장치(7)는 카메라(6)로 촬상한 화상 P2를 화상 처리함으로써, 유리 리본(G) 표면의 파상 정도를 수치화한다.

카메라(6)는 예를 들어 열처리로인 성형로(21)의 외측에 마련되고, 성형로(21)의 Y축 방향 일단부에 마련되는 측벽의 창을 통하여 유리 리본(G)의 표면을 촬상한다. 촬상 대상에 광을 조사하는 광원(도시하지 않음)이 마련되어도 된다. 촬상 대상에 광을 조사함으로써, 명료한 화상 P2가 얻어진다. 광원은, 예를 들어 성형로(21)의 Y축 방향 타단부에 마련되는 측벽의 창을 통하여 유리 리본(G)의 표면에 광을 조사한다.

유리 리본(G)의 성형 방법이 플로트법인 경우, 유리 리본(G)은 성형로(21) 내를 수평하게 반송된다. 이에 비해, 유리 리본(G)의 성형 방법이 퓨전법인 경우, 유리 리본(G)은 성형로(21) 내를 연직 하방으로 반송된다. 어쨌든, 카메라(6)는 유리 리본(G)의 주면을 촬상하면 된다.

카메라(6)의 설치 위치는, 특별히 한정되지 않는다. 카메라(6)는 성형로(21)가 아니라 드로스 박스(31) 또는 서냉로(51)의 창을 통하여 유리 리본(G)의 표면을 촬상해도 된다. 플로트법이든 퓨전법이든, 유리 리본(G)은 서냉로(51) 내를 수평하게 반송된다. 카메라(6)는 CCD 또는 CMOS 등의 촬상 소자를 포함하고, 촬상 소자로 촬상한 화상 P2를 화상 처리 장치(7)로 송신한다.

화상 처리 장치(7)는 도 4에 나타내는 바와 같이, 예를 들어 검출부(73)와, 카운트부(74)와, 설정부(75)를 갖는다. 검출부(73)는 도 5에 나타내는 바와 같이, 카메라(6)로 촬상한 화상 P2에서, 유리 리본(G)의 표면을 복수의 검출 영역 A1 내지 An으로 구획하고, 검출 영역 A1 내지 An마다 검출 영역 A1 내지 An 내에서의 유리 리본(G)의 색의 변화량을 검출한다. 도 5는 유리 리본(G)의 색의 일례를 나타내고 있고, 영역 B와 영역 B보다도 밖의 영역에서 색의 밝기가 다르다.

각 검출 영역 A1 내지 An은, 바람직하게는 동일한 치수 및 동일한 형상을 갖는다. 각 검출 영역 A1 내지 An의 형상은, 도 5에서는 직사각형이지만, 삼각형 또는 육각형 등이어도 된다. 직사각형은, 정사각형을 포함한다. 각 검출 영역 A1 내지 An은, 도시하지 않은 복수의 화소(예를 들어 세로 8개×가로 8개, 합계 64개의 화소)를 포함한다. 각 검출 영역 A1 내지 An의 크기는 적절히 설정된다.

각 검출 영역 A1 내지 An의 색의 변화량은, 예를 들어 복수의 화소(예를 들어 64개의 화소)색의 최댓값과 최솟값의 차이, 표준 편차 또는 분산으로 나타낸다. 색은, 예를 들어 그레이 스케일에서의 농도, 즉 명암으로 나타낸다. 화상 P2가 컬러인 경우, 컬러에서 그레이 스케일로의 변환이 이루어진다. 그 변환 방법은, 일반적인 것을 사용한다. 또한, 색은, 색 공간의 좌표로 나타내어도 되고, 컬러 그대로이어도 된다.

카운트부(74)는 검출부(73)가 검출한 색의 변화량이 역치를 초과하는, 검출 영역의 수를 카운트한다. 도 6에 나타내는 영역 C는, 도 5의 화상 P2에서 색의 변화량이 역치를 초과하는 검출 영역을 나타낸다. 유리 리본(G)의 표면에 표면 파상이 존재하는 경우에, 표면 파상의 윤곽선을 경계로 색이 역치를 초과하여 변화한다. 따라서, 색의 변화량이 역치를 초과하는 검출 영역의 수를 카운트함으로써 유리 리본(G)의 표면 파상의 정도를 수치화할 수 있다.

그런데, 표면 파상 이외의 외란에 의해 유리 리본(G)의 색이 변화하는 경우가 있다. 그래서, 설정부(75)가 화상 P2의 일부에, 카운트부(74)에 의한 카운트를 행하지 않는 에어리어를 설정해도 된다. 설정하는 에어리어는, 외란에 의해 유리 리본(G)의 색이 변화하는 에어리어이며, 미리 실험 또는 시뮬레이션 등으로 구해 둔다.

카운트부(74)는 설정부(75)에서 설정된 에어리어 밖에서, 색의 변화량이 역치를 초과하는 검출 영역의 수를 카운트한다. 설정부(75)를 사용함으로써 외란을 제거할 수 있어 표면 파상의 검출 정밀도를 향상시킬 수 있다. 설정부(75)를 사용하는 경우, 검출부(73)는 설정부(75)로 설정된 에어리어 밖에서, 각 검출 영역의 색의 변화량을 검출한다.

이어서, 도 7을 참조하여, 변형예에 관한 유리 제조 장치(1)에 대해서 설명한다. 유리 제조 장치(1)는 드로스 박스(31)와, 서냉로(51)를 구비한다. 드로스 박스(31)가 제1 열처리로이며, 서냉로(51)가 제2 열처리로이다. 리프트아웃 롤(32)이 유리 리본(G)을 드로스 박스(31)의 내부에서 수평하게 반송한 후, 레이어 롤(52)이 유리 리본(G)을 서냉로(51)의 내부에서 수평하게 반송한다.

유리 제조 장치(1)는 칸막이 벽(53)을 구비한다. 칸막이 벽(53)은 드로스 박스(31)와 서냉로(51)의 경계에서, 유리 리본(G)의 하방 공간을 유리 리본(G)의 반송 방향으로 칸막이한다. 드로스 박스(31)의 내부 공간은 환원성 분위기이며, 서냉로(51)의 내부 공간은 대기 분위기이다. 칸막이 벽(53)은 드로스 박스(31)의 내부 공간에서 서냉로(51)의 내부 공간으로 환원성 가스가 유입되는 것을 억제하여 서냉로(51)의 내부 공간을 대기 분위기로 유지한다.

유리 제조 장치(1)는 칸막이 벽(53)을 승강시키는 도시하지 않은 승강 기구를 구비해도 된다. 칸막이 벽(53)을 승강시킴으로써, 칸막이 벽(53)의 상단과, 유리 리본(G) 하면의 거리 L3(도 8 참조)을 변경할 수 있다. 거리 L3이 작을수록, 환원성 가스의 통과를 억제할 수 있는 반면, 칸막이 벽(53)과 유리 리본(G)이 접촉하기 쉬워진다. 거리 L3은, 유리 리본(G)의 자중 휨 등도 고려하여 설정된다.

칸막이 벽(53)은 본 변형예에서는 도 7에 나타내는 바와 같이 드로스 박스(31)와 서냉로(51)와는 별도로 마련되지만, 드로스 박스(31)의 일부로서 마련되어도 되고, 서냉로(51)의 일부로서 마련되어도 된다.

이어서, 도 8과 도 9를 참조하여, 변형예에 관한 카메라(6)와 화상 처리 장치(7)에 대해서 설명한다. 유리 제조 장치(1)는 카메라(6)와, 카메라(6)로 촬상한 화상 P3을 화상 처리하는 화상 처리 장치(7)를 구비한다. 카메라(6)는 띠판상의 유리 리본(G)과, 유리 리본(G)과의 사이에 간극을 형성하는 대상물을 촬상한다. 대상물은, 특별히 한정되지 않지만, 본 변형예에서는 칸막이 벽(53)이다. 화상 처리 장치(7)는 카메라(6)로 촬상한 화상 P3을 화상 처리함으로써, 유리 리본(G)의 하면과 칸막이 벽(53)의 상단(531)의 거리 L3을 계측한다. 화상 처리 장치(7)는 화상 P3에서의 거리 L3을 계측해도 되고, 실공간에서의 거리 L3을 계측해도 된다.

카메라(6)는 예를 들어 서냉로(51)의 외측에 마련되고, 서냉로(51)의 Y축 방향 일단부에 마련되는 측벽의 창을 통하여 유리 리본(G)과 칸막이 벽(53)을 촬상한다. 촬상 대상에 광을 조사하는 광원(도시하지 않음)이 마련되어도 된다. 촬상 대상에 광을 조사함으로써, 명료한 화상 P3이 얻어진다. 광원은, 예를 들어 서냉로(51)의 Y축 방향 타단부에 마련되는 측벽의 창을 통하여 유리 리본(G)과 칸막이 벽(53)에 광을 조사한다.

그런데, 카메라(6)의 광축(61)의 각도에 따라서는, 화상 P3에 찍히는 유리 리본(G)의 하면 위치를 검출하기가 곤란하다. 예를 들어 유리 리본(G)의 하면이 화상 P3에 선이 아니라 면으로서 찍힐 경우, 유리 리본(G)의 하면 위치를 검출하기가 곤란하다.

예를 들어 카메라(6)의 광축(61)이 수평한 유리 리본(G)의 하면에 대하여 비스듬하게 설치되는 경우, 유리 리본(G)의 하면에 칸막이 벽(53) 상단(531)의 거울상이 비친다. 본 개시의 기술은, 유리 리본(G)의 하면에 비치는 거울상을 이용하여, 유리 리본(G)의 하면과 칸막이 벽(53)의 상단(531)의 거리 L3을 계측한다.

도 9에 나타내는 바와 같이, 카메라(6)로 촬상하는 화상 P3은, 칸막이 벽(53)의 상단(531)의 실상(531A)과 거울상(531B)을 포함한다. 칸막이 벽(53)의 상단(531)은 특허 청구 범위에 기재된 대상물의 유리 리본(G)에 대향하는 일단부의 일례이다. 카메라(6)는 CCD 또는 CMOS 등의 촬상 소자를 포함하고, 촬상 소자로 촬상한 화상 P3을 화상 처리 장치(7)로 송신한다.

화상 처리 장치(7)는 도 8에 나타내는 바와 같이, 예를 들어 계측부(71)와, 산출부(72)를 갖는다. 계측부(71)는 화상 P3에 찍히는 실상(531A)과 거울상(531B)의 거리 L4(도 9 참조)를 계측한다. 거리 L4의 크기는, 예를 들어 화상 P3에서의 화소 수로 나타낸다. 카메라(6)에서 물체까지의 거리가 멀수록, 화상 P3에 찍히는 물체의 크기가 작아진다. 계측부(71)는 화상 P3에서의 특정한 위치에서 거리 L4를 계측한다.

산출부(72)는 화상 P3에 찍히는 실상(531A)과 거울상(531B)의 거리 L4로부터, 유리 리본(G)의 하면과 칸막이 벽(53)의 상단(531)의 거리 L3을 산출한다. 예를 들어 화상 P3에 찍히는 거리 L4의 반값이, 화상 P3에 찍히는 거리 L3이다. 그리고, 화상 P3에 찍히는 거리 L3과 비례 상수의 곱이, 실공간에서의 거리 L3이다. 비례 상수는, 주로 카메라(6)에서 거리 L3의 측정점까지의 거리로 정해지고, 미리 실험 등으로 구할 수 있다. 산출부(72)에 의해 산출하는 거리 L3의 크기는, 화상 P3에서의 화소 수로 나타내도 되고, mm 등의 일반적인 길이 단위로 나타내도 된다. 또한, 후술하는 바와 같이, 산출부(72)는 거리 L3의 계측 정밀도를 높이기 위해 기준 거리 L0을 참조하여 비례 상수를 구해도 된다.

카메라(6)는 기준 거리 L0을 나타내는 복수의 기준점 SP3, SP4를 촬상해도 된다. 촬상하는 화상 P3은, 칸막이 벽(53)의 상단(531)의 실상(531A)과 거울상(531B)에 더하여 복수의 기준점 SP3, SP4도 포함한다. 화상 P3은, 기준점 SP3, SP4의 실상과 거울상 중 어느 쪽을 포함해도 되고 양쪽을 포함해도 된다.

기준점 SP3은 예를 들어 제1 레이저 광선 LB1의 1점이며, 기준점 SP4는 제2 레이저 광선 LB2의 1점이다. 제1 레이저 광선 LB1과 제2 레이저 광선 LB2는, 레이저 조사기(8)에서 대상물(예를 들어 칸막이 벽(53))로 서로 평행하게 조사된다. 조사 방향은, 유리 리본(G)의 하면에 대하여 평행한 방향인데, 경사진 방향 또는 수직인 방향이어도 된다. 제1 레이저 광선 LB1과 제2 레이저 광선 LB2가 서로 평행하면 된다. 기준 거리 L0은, 제1 레이저 광선 LB1과 제2 레이저 광선 LB2의 거리이다.

서로 평행한 제1 레이저 광선 LB1과 제2 레이저 광선 LB2를 대상물에 조사함으로써, 대상물에 기준점 SP3, SP4를 만들어 낼 수 있다. 대상물이 기준점 SP3, SP4가 되는 볼트 또는 너트 등을 갖지 않는 경우에 특히 유효하다. 또한, 칸막이 벽(53)의 기준점 SP3, SP4로서, 볼트 또는 너트 등이 사용되어도 된다. 또한, 제1 레이저 광선 LB1과 제2 레이저 광선 LB2를 조사하는 대상물은, 본 변형예에서는 칸막이 벽(53)인데, 드레이프(34)이어도 된다.

계측부(71)는 화상 P3에 찍히는 기준 거리 L0을 계측한다. 화상 P3에 찍히는 기준 거리 L0의 크기는, 예를 들어 화소 수로 나타낸다. 산출부(72)는 화상 P3에 찍히는 실상(531A)과 거울상(531B)의 거리 L4와, 화상 P3에 찍히는 기준 거리 L0로부터, 유리 리본(G)의 하면과 칸막이 벽(53)의 상단(531)의 거리 L3을 산출한다. 산출부(72)는 화상 P3에서의 거리 L3을 산출해도 되고, 실공간에서의 거리 L3을 산출해도 된다.

화상 P3 또는 실공간에서의 거리 L3을 산출할 때에 화상 P3에서의 기준 거리 L0을 참조함으로써, 외란에 의해 화상 P3에서의 기준 거리 L0이 변동되는 경우에도, 기준 거리 L0에 대한 거리 L3의 상대값을 산출함으로써, 거리 L3의 절댓값을 정확하게 산출할 수 있다. 또한, 화상 P3에 찍히는 기준 거리 L0의 화소 수와, 실공간에서의 기준 거리 L0의 비를 산출함으로써, 화소 수를 실공간에서의 거리로 고칠 때의 비례 상수를 산출할 수 있다.

상기한 바와 같이, 카메라(6)에서 물체까지의 거리가 멀수록, 화상 P3에 찍히는 물체의 크기가 작아진다. 화상 P3이 기준 거리 L0을 나타내는 복수의 기준점 SP3, SP4를 복수 조 포함하는 경우, 산출부(72)는 화상 P3에 찍히는 각 조의 기준점 SP3, SP4끼리를 연결하는 직선 상에서 거리 L4를 계측해도 된다. 복수 조의 기준점 SP3, SP4를 사용함으로써 거리 L3의 계측 정밀도를 향상시킬 수 있다.

상기 실시 형태 등에 관하여 하기의 부기를 개시한다.

[부기 1]

띠판상의 유리 리본을 대상물과 간격을 두고 반송하는 것과,

상기 대상물의 상기 유리 리본과 대향하는 일단부의 실상과, 상기 유리 리본에 비치는 상기 대상물의 상기 일단부의 거울상을 카메라로 촬상하는 것과,

상기 촬상한 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리를 계측하는 것과,

상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는 것

을 갖는 유리 제조 방법.

[부기 2]

기준 거리를 나타내는 복수의 기준점을 상기 카메라로 촬상하는 것과,

상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리를 계측하는 것과,

상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리와, 상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는 것

을 갖는 부기 1에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 3]

상기 대상물에 대하여 서로 평행한 제1 레이저 광선과 제2 레이저 광선을 조사하는 것을 가지며,

복수의 상기 기준점은, 상기 제1 레이저 광선의 1점과 상기 제2 레이저 광선의 1점이며,

상기 기준 거리는, 상기 제1 레이저 광선과 상기 제2 레이저 광선의 거리인, 부기 2에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 4]

상기 유리 리본을 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하는 것을 포함하고,

상기 대상물은, 상기 열처리로의 상부 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 부기 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 5]

상기 유리 리본을 제1 열처리로의 내부에서 수평하게 반송한 후, 상기 유리 리본을 제2 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하는 것을 포함하고,

상기 대상물은, 상기 제1 열처리로와 상기 제2 열처리로의 경계에서 상기 유리 리본의 하방 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 부기 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 6]

상기 유리 리본을 플로트법 또는 퓨전법으로 성형하는 것을 포함하는, 부기 1 내지 5 중 어느 하나에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 7]

띠판상 유리 리본의 표면을 카메라로 촬상하는 것과,

상기 촬상한 화상에서, 상기 유리 리본의 표면을 복수의 검출 영역으로 구획하고, 상기 검출 영역별로 상기 검출 영역 내에서의 상기 유리 리본의 색의 변화량을 검출하는 것과,

상기 검출한 색의 변화량이 역치를 초과하는, 상기 검출 영역의 수를 카운트하는 것

을 갖는 유리 제조 방법.

[부기 8]

상기 화상의 일부에, 상기 카운트하는 것을 행하지 않는 에어리어를 설정하는 것을 갖는, 부기 7에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 9]

상기 유리 리본을 플로트법 또는 퓨전법으로 성형하는 것을 포함하는, 부기 7 또는 8에 기재된 유리 제조 방법.

[부기 10]

띠판상의 유리 리본을 대상물과 간격을 두고 반송하는 반송 장치와,

상기 대상물의 상기 유리 리본과 대향하는 일단부의 실상과, 상기 유리 리본에 비치는 상기 대상물의 상기 일단부의 거울상을 촬상하는 카메라와,

상기 카메라로 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리 장치

를 구비하고,

상기 화상 처리 장치는, 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리를 계측하는 계측부와, 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는 산출부를 갖는, 유리 제조 장치.

[부기 11]

상기 카메라는, 기준 거리를 나타내는 복수의 기준점을 촬상하고,

상기 계측부는, 상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리를 계측하고,

상기 산출부는, 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리와, 상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는, 부기 10에 기재된 유리 제조 장치.

[부기 12]

상기 대상물에 대하여 서로 평행한 제1 레이저 광선과 제2 레이저 광선을 조사하는 레이저 조사기를 구비하고,

복수의 상기 기준점은, 상기 제1 레이저 광선의 1점과 상기 제2 레이저 광선의 1점이며,

상기 기준 거리는, 상기 제1 레이저 광선과 상기 제2 레이저 광선의 거리인, 부기 11에 기재된 유리 제조 장치.

[부기 13]

상기 반송 장치는, 상기 유리 리본을 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하고,

상기 대상물은, 상기 열처리로의 상부 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 부기 10 내지 12 중 어느 하나에 기재된 유리 제조 장치.

[부기 14]

상기 반송 장치는, 상기 유리 리본을 제1 열처리로의 내부에서 수평하게 반송한 후, 상기 유리 리본을 제2 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하고,

상기 대상물은, 상기 제1 열처리로와 상기 제2 열처리로의 경계에서 상기 유리 리본의 하방 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 부기 10 내지 12 중 어느 하나에 기재된 유리 제조 장치.

[부기 15]

띠판상 유리 리본의 표면을 촬상하는 카메라와,

상기 카메라로 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리 장치

를 구비하고,

상기 화상 처리 장치는, 상기 촬상한 화상에서, 상기 유리 리본의 표면을 복수의 검출 영역으로 구획하고, 상기 검출 영역별로 상기 검출 영역 내에서의 상기 유리 리본의 색의 변화량을 검출하는 검출부와, 상기 검출한 색의 변화량이 역치를 초과하는, 상기 검출 영역의 수를 카운트하는 카운트부를 갖는, 유리 제조 장치.

[부기 16]

상기 화상 처리 장치는, 상기 촬상한 화상의 일부에, 상기 카운트부에 의한 카운트를 행하지 않는 에어리어를 설정하는 설정부를 갖는, 부기 15에 기재된 유리 제조 장치.

이상, 본 개시에 관한 유리 제조 방법 및 유리 제조 장치에 대해서 설명했지만, 본 개시는 상기 실시 형태 등으로 한정되지 않는다. 특허 청구 범위에 기재된 범주 내에서, 각종 변경, 수정, 치환, 부가, 삭제 및 조합이 가능하다. 그것들에 대해서도 당연히 본 개시의 기술적 범위에 속한다.

1: 유리 제조 장치
6: 카메라
7: 화상 처리 장치
71: 계측부
72: 산출부
73: 검출부
74: 카운트부
75: 설정부
34: 드레이프(대상물)
341A: 실상
341B: 거울상
G: 유리 리본

Claims (16)

1. 띠판상의 유리 리본을 대상물과 간격을 두고 반송하는 것과,
   상기 대상물의 상기 유리 리본과 대향하는 일단부의 실상과, 상기 유리 리본에 비치는 상기 대상물의 상기 일단부의 거울상을 카메라로 촬상하는 것과,
   상기 촬상한 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리를 계측하는 것과,
   상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는 것
   을 갖는 유리 제조 방법.
2. 제1항에 있어서, 기준 거리를 나타내는 복수의 기준점을 상기 카메라로 촬상하는 것과,
   상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리를 계측하는 것과,
   상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리와, 상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는 것
   을 갖는 유리 제조 방법.
3. 제2항에 있어서, 상기 대상물에 대하여 서로 평행한 제1 레이저 광선과 제2 레이저 광선을 조사하는 것을 가지며,
   복수의 상기 기준점은, 상기 제1 레이저 광선의 1점과 상기 제2 레이저 광선의 1점이며,
   상기 기준 거리는, 상기 제1 레이저 광선과 상기 제2 레이저 광선의 거리인, 유리 제조 방법.
4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유리 리본을 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하는 것을 포함하고,
   상기 대상물은, 상기 열처리로의 상부 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 유리 제조 방법.
5. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유리 리본을 제1 열처리로의 내부에서 수평하게 반송한 후, 상기 유리 리본을 제2 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하는 것을 포함하고,
   상기 대상물은, 상기 제1 열처리로와 상기 제2 열처리로의 경계에서 상기 유리 리본의 하방 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 유리 제조 방법.
6. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유리 리본을 플로트법 또는 퓨전법으로 성형하는 것을 포함하는, 유리 제조 방법.
7. 띠판상 유리 리본의 표면을 카메라로 촬상하는 것과,
   상기 촬상한 화상에서, 상기 유리 리본의 표면을 복수의 검출 영역으로 구획하고, 상기 검출 영역별로 상기 검출 영역 내에서의 상기 유리 리본의 색의 변화량을 검출하는 것과,
   상기 검출한 색의 변화량이 역치를 초과하는, 상기 검출 영역의 수를 카운트하는 것
   을 갖는 유리 제조 방법.
8. 제7항에 있어서, 상기 화상의 일부에, 상기 카운트하는 것을 행하지 않는 에어리어를 설정하는 것을 갖는, 유리 제조 방법.
9. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 유리 리본을 플로트법 또는 퓨전법으로 성형하는 것을 포함하는, 유리 제조 방법.
10. 띠판상의 유리 리본을 대상물과 간격을 두고 반송하는 반송 장치와,
    상기 대상물의 상기 유리 리본과 대향하는 일단부의 실상과, 상기 유리 리본에 비치는 상기 대상물의 상기 일단부의 거울상을 촬상하는 카메라와,
    상기 카메라로 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리 장치
    를 구비하고,
    상기 화상 처리 장치는, 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리를 계측하는 계측부와, 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는 산출부를 갖는, 유리 제조 장치.
11. 제10항에 있어서, 상기 카메라는, 기준 거리를 나타내는 복수의 기준점을 촬상하고,
    상기 계측부는, 상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리를 계측하고,
    상기 산출부는, 상기 화상에 찍히는 상기 실상과 상기 거울상의 거리와, 상기 화상에 찍히는 상기 기준 거리로부터, 상기 유리 리본과 상기 대상물의 거리를 산출하는, 유리 제조 장치.
12. 제11항에 있어서, 상기 대상물에 대하여 서로 평행한 제1 레이저 광선과 제2 레이저 광선을 조사하는 레이저 조사기를 구비하고,
    복수의 상기 기준점은, 상기 제1 레이저 광선의 1점과 상기 제2 레이저 광선의 1점이며,
    상기 기준 거리는, 상기 제1 레이저 광선과 상기 제2 레이저 광선의 거리인, 유리 제조 장치.
13. 제10항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 반송 장치는, 상기 유리 리본을 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하고,
    상기 대상물은, 상기 열처리로의 상부 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 유리 제조 장치.
14. 제10항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 반송 장치는, 상기 유리 리본을 제1 열처리로의 내부에서 수평하게 반송한 후, 상기 유리 리본을 제2 열처리로의 내부에서 수평하게 반송하고,
    상기 대상물은, 상기 제1 열처리로와 상기 제2 열처리로의 경계에서 상기 유리 리본의 하방 공간을 상기 유리 리본의 반송 방향으로 칸막이하는 칸막이 벽인, 유리 제조 장치.
15. 띠판상 유리 리본의 표면을 촬상하는 카메라와,
    상기 카메라로 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리 장치
    를 구비하고,
    상기 화상 처리 장치는, 상기 촬상한 화상에서, 상기 유리 리본의 표면을 복수의 검출 영역으로 구획하고, 상기 검출 영역별로 상기 검출 영역 내에서의 상기 유리 리본의 색의 변화량을 검출하는 검출부와, 상기 검출한 색의 변화량이 역치를 초과하는, 상기 검출 영역의 수를 카운트하는 카운트부를 갖는, 유리 제조 장치.
16. 제15항에 있어서, 상기 화상 처리 장치는, 상기 촬상한 화상의 일부에, 상기 카운트부에 의한 카운트를 행하지 않는 에어리어를 설정하는 설정부를 갖는, 유리 제조 장치.
    

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