KR20220084473A - 데이터 구동 회로 및 디스플레이 장치 - Google Patents

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홍무경
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Abstract

본 발명의 실시예들은, 데이터 구동 회로 및 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱부에 포함되고 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 둘 이상의 센싱 스위치가 센싱부에 포함된 센싱 커패시터와 샘플링 스위치를 공유함으로써, 센싱부의 사이즈를 감소시키며 서브픽셀의 특성 값을 검출할 수 있다. 또한, 센싱 커패시터를 공유하는 둘 이상의 센싱 스위치의 동시 구동을 통해 센싱을 수행하거나, 동시 구동 후 연속적이고 짧은 일부 구동을 통해 센싱을 수행함으로써, 전체적인 센싱 기간을 감소시키고 센싱의 정확도를 높여줄 수 있다.

Description

데이터 구동 회로 및 디스플레이 장치{DATA DRIVING CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE}
본 발명의 실시예들은, 데이터 구동 회로 및 디스플레이 장치에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라, 화상을 표시하는 디스플레이 장치에 대한 다양한 요구가 증가하고 있으며, 액정 디스플레이 장치, 유기 발광 디스플레이 장치와 같은 다양한 유형의 디스플레이 장치가 활용된다.
디스플레이 장치 중 유기 발광 디스플레이 장치는, 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드를 이용하여 이미지를 표시함으로써, 응답 속도가 빠르고, 명암비가 우수하며, 고색재현이 가능한 이점을 제공한다.
유기 발광 디스플레이 장치는, 일 예로, 각각의 서브픽셀에 배치된 유기 발광 다이오드와, 유기 발광 다이오드로 구동 전류를 공급하는 구동 트랜지스터를 포함할 수 있다.
유기 발광 디스플레이 장치의 구동 시간이 증가함에 따라, 서브픽셀에 배치된 유기 발광 다이오드나 구동 트랜지스터와 같은 회로 소자의 열화가 진행될 수 있다.
서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화가 진행될 경우 서브픽셀의 구동을 정확히 제어하는 것이 어려울 수 있다. 그리고, 서브픽셀의 구동이 정확히 제어되지 않을 경우 디스플레이 패널을 통해 표시되는 이미지의 품질이 저하될 수 있다.
따라서, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화를 효율적으로 보상할 수 있는 방안이 요구된다.
본 발명의 실시예들은, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화를 검출하는 회로의 사이즈를 감소시키며 회로 소자의 열화를 보상할 수 있는 방안을 제공한다.
본 발명의 실시예들은, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화를 검출하는 기간을 감소시키며 높은 정확도로 회로 소자의 열화를 보상할 수 있는 방안을 제공한다.
일 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 디스플레이 패널에 배치된 다수의 서브픽셀들, 다수의 서브픽셀들 중 일부 서브픽셀들과 전기적으로 연결된 다수의 기준 전압 라인들, 및 다수의 기준 전압 라인들을 구동하는 데이터 구동 회로를 포함하는 디스플레이 장치를 제공한다.
데이터 구동 회로는, 다수의 기준 전압 라인들 각각과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 스위치들, 다수의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 센싱 커패시터, 및 센싱 커패시터와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 포함할 수 있다.
데이터 구동 회로에서, 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들은 다수의 기준 전압 라인들 중 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 기준 전압 라인을 통해 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱 기간의 적어도 일부 기간에 동시에 턴-온 상태가 될 수 있다.
일 예로, 제1 센싱 기간에 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들은 동시에 턴-온 상태가 되고 동시에 턴-오프 상태가 될 수 있다.
제1 센싱 기간에 둘 이상의 센싱 스위치들이 동시에 턴-오프 상태가 된 직후 또는 턴-오프 상태가 되기 전에 샘플링 스위치가 턴-온 상태가 될 수 있다.
제1 센싱 기간 이후의 제2 센싱 기간에 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 나머지 센싱 스위치는 턴-오프 상태를 유지할 수 있다.
제2 센싱 기간에 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이는 제1 센싱 기간에 둘 이상의 센싱 스위치들이 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이보다 작을 수 있다.
제2 센싱 기간에 턴-온 상태가 된 하나의 센싱 스위치가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 턴-오프 상태가 되기 전에 샘플링 스위치가 턴-온 상태가 될 수 있다.
제2 센싱 기간 이후의 제3 센싱 기간에 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 나머지 센싱 스위치는 턴-오프 상태를 유지할 수 있으며, 제3 센싱 기간에 턴-온 상태가 되는 하나의 센싱 스위치는 제2 센싱 기간에 턴-온 상태가 되는 하나의 센싱 스위치와 상이할 수 있다.
제3 센싱 기간에 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이는 제1 센싱 기간에 둘 이상의 센싱 스위치들이 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이보다 작을 수 있다.
또한, 제3 센싱 기간에 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이는 제2 센싱 기간에 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이보다 작을 수 있다.
제3 센싱 기간에 턴-온 상태가 된 하나의 센싱 스위치가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 턴-오프 상태가 되기 전에 샘플링 스위치가 턴-온 상태가 될 수 있다.
또는, 제1 센싱 기간에 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들은 동시에 턴-온 상태가 되고, 둘 이상의 센싱 스위치들 중 일부는 제1 센싱 기간이 종료되기 전에 턴-오프 되고, 둘 이상의 센싱 스위치들 중 다른 일부는 제1 센싱 기간 이후의 제2 센싱 기간의 적어도 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
다른 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 디스플레이 패널에 배치된 다수의 서브픽셀들, 다수의 서브픽셀들 중 일부 서브픽셀들과 전기적으로 연결된 다수의 기준 전압 라인들, 및 다수의 기준 전압 라인들을 구동하는 데이터 구동 회로를 포함하고, 데이터 구동 회로는, 다수의 기준 전압 라인들 중 제1 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 제1 센싱 스위치 및 제2 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 제2 센싱 스위치, 제1 센싱 스위치 및 제2 센싱 스위치와 전기적으로 연결된 센싱 커패시터, 및 센싱 커패시터와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.
데이터 구동 회로에서, 제1 센싱 기간에 제1 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 제1 기준 전압 라인을 통해 서브픽셀의 특성 값을 검출하고, 제2 센싱 기간에 제2 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 제2 기준 전압 라인을 통해 서브픽셀의 특성 값을 검출할 수 있다.
제1 센싱 기간과 제2 센싱 기간 사이의 디스플레이 구동 기간에 제1 기준 전압 라인을 통해 검출된 서브픽셀의 특성 값에 기초하여 결정된 보상 전압이 제1 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀과 제2 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀로 공급될 수 있다.
다른 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 다수의 기준 전압 라인들 각각과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 스위치들, 다수의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 센싱 커패시터, 및 센싱 커패시터와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 포함하고, 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들은 다수의 기준 전압 라인들 중 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 기준 전압 라인을 통해 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱 기간의 적어도 일부 기간에 동시에 턴-온 상태가 되는 데이터 구동 회로를 제공한다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 특성 값을 검출하기 위해 이용되는 기준 전압 라인과 연결된 센싱 스위치가 센싱 커패시터를 공유하는 구조에 의해 회로의 사이즈를 감소시키며 서브픽셀의 특성 값을 검출할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 센싱 커패시터를 공유하는 복수의 센싱 스위치가 동시에 턴-온 되며 서브픽셀의 특성 값을 검출함으로써, 서브픽셀의 특성 값을 검출하기 위해 요구되는 센싱 시간을 감소시킬 수 있다.
또한, 센싱 커패시터를 공유하는 복수의 센싱 스위치가 동시에 턴-온 된 상태에서 1차 센싱을 수행하고, 하나의 센싱 스위치가 턴-온 된 상태에서 2차 센싱을 수행함으로써, 전체적인 센싱 시간을 감소시키며 센싱의 정확도를 높여줄 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 회로 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 기준 전압 라인의 연결 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱부의 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 6a와 도 6b는 도 5에 도시된 센싱부의 구동 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 7은 도 5에 도시된 센싱부의 구동 방식의 다른 예시를 나타낸 도면이다.
도 8a와 도 8b는 도 5에 도시된 센싱부의 구동 방식의 또 다른 예시를 나타낸 도면이다.
도 9a와 도 9b는 도 8a와 도 8b에 도시된 구동 방식에 따른 센싱 시 센싱 전압의 예시를 나타낸 도면이다.
도 10a 내지 도 10c는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱부의 구조와 구동 방식의 다른 예시를 나타낸 도면이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들의 시간 관계 또는 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 패널(110)과, 디스플레이 패널(110)을 구동하기 위한 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 및 컨트롤러(140) 등을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은, 다수의 서브픽셀(SP)이 배치되는 액티브 영역(AA)과, 액티브 영역(AA)의 외측에 위치하는 논-액티브 영역(NA)을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)에는, 다수의 게이트 라인(GL)과 다수의 데이터 라인(DL)이 배치될 수 있다. 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차하는 영역에 서브픽셀(SP)이 위치할 수 있다.
게이트 구동 회로(120)는, 컨트롤러(140)에 의해 제어되며, 디스플레이 패널(110)에 배치된 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 출력하여 다수의 서브픽셀(SP)의 구동 타이밍을 제어한다.
게이트 구동 회로(120)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다. 게이트 구동 회로(120)는, 구동 방식에 따라 디스플레이 패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고 양 측에 위치할 수도 있다.
각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결될 수 있다. 또는, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수도 있다. 또는, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 경우에 따라서, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또는, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 디스플레이 패널(110)과 연결된 필름 상에 실장되는 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 컨트롤러(140)로부터 데이터 신호를 수신하고, 데이터 신호를 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환할 수 있다. 데이터 구동 회로(130)는, 게이트 라인(GL)을 통해 스캔 신호가 인가되는 타이밍에 맞춰 데이터 전압(Vdata)을 각각의 데이터 라인(DL)으로 출력하여 각각의 서브픽셀(SP)이 데이터 신호에 따른 밝기를 표현하도록 한다.
데이터 구동 회로(130)는, 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 시프트 레지스터, 래치 회로, 디지털 아날로그 컨버터, 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결될 수 있다. 또는, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수 있다. 또는, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 경우에 따라, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또는, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 칩 온 필름(COF) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 연결된 필름 상에 실장되고, 필름 상의 배선들을 통해 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)로 각종 제어 신호를 공급하며, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)의 동작을 제어할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 인쇄 회로 기판 또는 가요성 인쇄 회로 등 상에 실장될 수 있다. 컨트롤러(140)는, 인쇄 회로 기판 또는 가요성 인쇄 회로 등을 통해 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)와 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 게이트 구동 회로(120)가 스캔 신호를 출력하도록 제어할 수 있다. 컨트롤러(140)는, 외부에서 수신한 영상 데이터를 데이터 구동 회로(130)에서 사용하는 신호 형식에 맞게 변환하고 변환된 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 영상 데이터와 함께 수직 동기 신호(VSYNC), 수평 동기 신호(HSYNC), 입력 데이터 인에이블 신호(DE: Data Enable), 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호를 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 수신한 각종 타이밍 신호를 이용하여 각종 제어 신호를 생성하고 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
일 예로, 컨트롤러(140)는, 게이트 구동 회로(120)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 시프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock) 및 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS)를 출력할 수 있다.
게이트 스타트 펄스(GSP)는, 게이트 구동 회로(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 시프트 클럭(GSC)은, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호의 시프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock) 및 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS)를 출력할 수 있다.
소스 스타트 펄스(SSP)는, 데이터 구동 회로(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)의 데이터 샘플링 스타트 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은, 소스 드라이버 집적 회로(SDIC) 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는, 데이터 구동 회로(130)의 출력 타이밍을 제어한다.
디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 패널(110), 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나, 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 관리 집적 회로(미도시)를 더 포함할 수 있다.
각각의 서브픽셀(SP)은, 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차에 의해 정의되는 영역일 수 있으며, 광을 발산하는 소자를 포함하여 적어도 하나 이상의 회로 소자가 배치될 수 있다.
일 예로, 디스플레이 장치(100)가 유기 발광 디스플레이 장치인 경우, 다수의 서브픽셀(SP)에 유기 발광 다이오드(OLED)와 여러 회로 소자가 배치될 수 있다. 디스플레이 장치(100)는, 여러 회로 소자를 구동하여 서브픽셀(SP)에 배치된 유기 발광 다이오드(OLED)로 공급되는 전류를 제어함으로써, 각각의 서브픽셀(SP)이 영상 데이터에 대응하는 밝기를 나타내도록 제어할 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 회로 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 2는 디스플레이 장치(100)가 유기 발광 디스플레이 장치인 경우 서브픽셀(SP)의 회로 구조의 예시를 나타내나, 본 발명의 실시예들은, 다른 유형의 디스플레이 장치에도 적용될 수 있다.
도 2를 참조하면, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED)와 발광 소자(ED)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(DRT)가 배치될 수 있다. 또한, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED)와 구동 트랜지스터(DRT) 이외에 적어도 하나 이상의 회로 소자가 더 배치될 수 있다.
일 예로, 도 2에 도시된 예시와 같이, 서브픽셀(SP)에 스위칭 트랜지스터(SWT), 센싱 트랜지스터(SENT) 및 스토리지 커패시터(Cstg)가 더 배치될 수 있다.
따라서, 도 2에 도시된 예시는, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED) 이외에 3개의 박막 트랜지스터와 1개의 커패시터가 배치되는 3T1C 구조를 예시로 나타내나, 본 발명의 실시예들은 이에 한정되지는 아니한다. 또한, 도 2에 도시된 예시는, 박막 트랜지스터가 모두 N 타입인 경우를 예시로 나타내나, 경우에 따라, 서브픽셀(SP)에 배치된 박막 트랜지스터는 P 타입일 수도 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는, 데이터 라인(DL)과 제1 노드(N1) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다. 제1 노드(N1)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드일 수 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는, 게이트 라인(GL)으로 공급되는 스캔 신호에 의해 제어될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 전압(Vdata)이 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 인가되는 것을 제어할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 구동 전압 라인(DVL)과 발광 소자(ED) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
구동 전압 라인(DVL)을 통해 발광 고전위 구동 전압(EVDD)이 제3 노드(N3)로 공급될 수 있다. 제3 노드(N3)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 제1 노드(N1)에 인가되는 전압에 의해 제어될 수 있다. 그리고, 구동 트랜지스터(DRT)는, 발광 소자(ED)로 공급되는 구동 전류를 제어할 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 기준 전압 라인(RVL)과 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
기준 전압 라인(RVL)을 통해 기준 전압(Vref)이 제2 노드(N2)로 공급될 수 있다. 제2 노드(N2)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 게이트 라인(GL)으로 공급되는 스캔 신호에 의해 제어될 수 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)를 제어하는 게이트 라인(GL)은 스위칭 트랜지스터(SWT)를 제어하는 게이트 라인(GL)과 동일할 수도 있고, 다를 수도 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 제2 노드(N2)에 기준 전압(Vref)이 인가되는 것을 제어할 수 있다. 또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는, 경우에 따라, 기준 전압 라인(RVL)을 통해 제2 노드(N2)의 전압을 센싱하는 것을 제어할 수 있다.
스토리지 커패시터(Cstg)는, 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 스토리지 커패시터(Cstg)는, 제1 노드(N1)에 인가된 데이터 전압(Vdata)을 한 프레임 동안 유지시켜줄 수 있다.
발광 소자(ED)는, 제2 노드(N2)와 발광 저전위 구동 전압(EVSS)이 공급되는 라인 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
게이트 라인(GL)으로 턴-온 레벨의 스캔 신호가 인가되면, 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 될 수 있다. 제1 노드(N1)에 데이터 전압(Vdata)이 인가되고, 제2 노드(N2)에 기준 전압(Vref)이 인가될 수 있다.
제1 노드(N1)의 전압과 제2 노드(N2)의 전압 차이에 따라 구동 트랜지스터(DRT)에 의해 공급되는 구동 전류가 결정될 수 있다.
발광 소자(ED)는, 구동 트랜지스터(DRT)를 통해 공급되는 구동 전류에 따른 밝기를 나타낼 수 있다.
디스플레이 장치(100)의 구동 시간이 증가함에 따라, 서브픽셀(SP)에 배치된 구동 트랜지스터(DRT)나 발광 소자(ED)와 같은 회로 소자의 열화가 진행될 수 있다. 회로 소자의 열화가 진행되면 회로 소자의 특성 값이 변경될 수 있다.
회로 소자의 특성 값은, 일 예로, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도나 문턱 전압을 의미할 수 있다. 또한, 회로 소자의 특성 값은, 발광 소자(ED)의 문턱 전압을 의미할 수 있다.
본 명세서에서, 서브픽셀(SP)에 배치된 회로 소자의 특성 값을, 서브픽셀(SP)의 특성 값으로 지칭할 수 있다.
서브픽셀(SP)의 특성 값이 변화되면 서브픽셀(SP)의 구동을 정확히 제어하기 어려울 수 있다. 또한, 서브픽셀(SP) 간의 특성 값의 편차가 발생할 수 있다.
서브픽셀(SP)의 특성 값의 변화로 인해 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 이미지의 품질이 저하될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는, 서브픽셀(SP)의 특성 값의 변화를 검출하고 특성 값의 변화에 따른 보상을 수행함으로써, 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 이미지의 품질을 개선할 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 디스플레이 장치(100)는, 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 센싱부(200)를 포함할 수 있다.
센싱부(200)는, 일 예로, 데이터 구동 회로(130)의 내부에 위치할 수 있다. 또는, 경우에 따라, 센싱부(200)는, 데이터 구동 회로(130)의 외부에 위치할 수도 있다.
센싱부(200)는, 서브픽셀(SP)과 전기적으로 연결되는 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결될 수 있다. 센싱부(200)는, 기준 전압 라인(RVL)을 통해 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
센싱부(200)는, 구동 트랜지스터(DRT)나 발광 소자(ED)의 특성 값과 같은 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
센싱부(200)가 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 센싱 기간은, 일 예로, 디스플레이 장치(100)가 구동을 시작한 직후나 구동을 종료한 직후일 수 있다. 또는, 경우에 따라, 센싱부(200)는, 디스플레이 구동 기간 중 블랭크 기간에 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수도 있다.
센싱부(200)가 서브픽셀(SP)의 특성 값 중 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압을 검출하는 예시를 설명하면, 센싱 기간에 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)에 센싱을 위한 데이터 전압(Vdata)이 공급될 수 있다. 센싱 기간에 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 기준 전압(Vref)이 공급될 수 있다.
제1 노드(N1)와 제2 노드(N2)에 센싱을 위한 전압을 공급하기 위해, 스위칭 트랜지스터(SWT), 센싱 트랜지스터(SENT) 및 기준 전압 제어 스위치(Spre)가 일시적으로 턴-온 상태가 될 수 있다.
제1 노드(N1)와 제2 노드(N2)에 전압이 인가된 상태에서 제2 노드(N2)가 플로팅 상태가 될 수 있다.
제2 노드(N2)가 플로팅 상태가 되면 제2 노드(N2)의 전압이 제1 노드(N1)의 전압을 따라 상승할 수 있다. 일정한 시간이 경과하면 제2 노드(N2)의 전압이 포화 상태가 될 수 있다.
센싱부(200)는, 포화 상태가 된 제2 노드(N2)의 전압을 검출할 수 있다. 따라서, 포화 상태가 된 제2 노드(N2)의 전압을 센싱 전압(Vsen)으로 볼 수 있다.
센싱부(200)는, 검출한 센싱 전압(Vsen)과 센싱을 위해 제1 노드(N1)에 인가된 데이터 전압(Vdata) 간의 차이로부터 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압을 검출할 수 있다.
검출된 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압에 기초하여 구동 트랜지스터(DRT)의 열화에 대한 보상이 이루어질 수 있다.
일 예로, 데이터 구동 회로(130)는, 영상 데이터 신호에 대응하는 데이터 전압(Vdata)에 검출된 문턱 전압에 기초하여 결정된 보상 전압을 부가한 전압을 서브픽셀(SP)로 공급할 수 있다. 따라서, 서브픽셀(SP)의 특성 값의 변화에 대한 보상이 이루어져 서브픽셀(SP)의 구동을 정확히 제어하며, 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 이미지의 품질 저하를 방지할 수 있다.
서브픽셀(SP)의 특성 값을 센싱하기 위해 이용되는 기준 전압 라인(RVL)은, 복수의 라인에 배치된 서브픽셀(SP)과 전기적으로 연결될 수 있다. 디스플레이 패널(110)에 배치되는 센싱 라인의 수를 최소화하며 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 기준 전압 라인(RVL)의 연결 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 일 예로, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))은, 4(n-1)+1번째 열, 4(n-1)+2번째 열, 4(n-1)+3번째 열, 및 4(n-1)+4번째 열에 배치된 서브픽셀(SP)과 전기적으로 연결될 수 있다.
따라서, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))에 의해, 4(n-1)+1번째 열, 4(n-1)+2번째 열, 4(n-1)+3번째 열, 및 4(n-1)+4번째 열에 배치된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))은, 4n+1번째 열, 4n+2번째 열, 4n+3번째 열, 및 4n+4번째 열에 배치된 서브픽셀(SP)과 전기적으로 연결될 수 있다.
따라서, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))에 의해, 4n+1번째 열, 4n+2번째 열, 4n+3번째 열, 및 4n+4번째 열에 배치된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
기준 전압 라인(RVL)을 통해 복수의 열에 배치된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하므로, 디스플레이 패널(110)에 배치된 기준 전압 라인(RVL)의 수를 감소시키며 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
또한, 센싱부(200)에서 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))을 구동하며 센싱을 수행하는 블록의 적어도 일부는 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 구동하며 센싱을 수행하는 블록의 적어도 일부와 공유될 수 있다.
기준 전압 라인(RVL)을 구동하는 블록의 적어도 일부가 공유되므로, 센싱을 위해 요구되는 회로의 사이즈를 감소시키며 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 센싱부(200)의 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 센싱부(200)는, 일 예로, 채널 블록(210), 샘플링 블록(220) 및 변환 블록(230)을 포함할 수 있다.
채널 블록(210)은, 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 포함할 수 있다. 채널 블록(210)에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)는, 하나의 센싱 그룹을 구성할 수 있다.
다수의 센싱 스위치(S1, S2) 각각은, 기준 전압 패드(RP(n), RP(n+1))를 통해 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
일 예로, 제1 센싱 스위치(S1)는, n번째 기준 전압 패드(RP(n))를 통해 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)는, n+1번째 기준 전압 패드(RP(n+1))를 통해 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)의 구동에 따라 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))을 통한 센싱 전압(Vsen)이 검출될 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)의 구동에 따라 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 통한 센싱 전압(Vsen)이 검출될 수 있다.
채널 블록(210)에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)는, 샘플링 블록(220)에 포함된 회로 소자와 전기적으로 연결될 수 있다.
샘플링 블록(220)은, 다수의 센싱 스위치(S1, S2)와 전기적으로 연결된 센싱 커패시터(Csen)를 포함할 수 있다. 샘플링 블록(220)은, 다수의 센싱 스위치(S1, S2) 및 센싱 커패시터(Csen)와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치(SAM)를 포함할 수 있다.
샘플링 블록(220)에 포함된 하나의 센싱 커패시터(Csen)와 하나의 샘플링 스위치(SAM)는, 채널 블록(210)에 포함되고 하나의 센싱 그룹을 구성하는 다수의 센싱 스위치(S1, S2)와 전기적으로 연결될 수 있다.
센싱 커패시터(Csen)에 다수의 센싱 스위치(S1, S2)의 구동에 따라 검출되는 센싱 전압(Vsen)이 충전될 수 있다. 따라서, 센싱 커패시터(Csen)는, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))을 통한 센싱과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 통한 센싱을 위해 이용될 수 있다.
샘플링 스위치(SAM)의 구동에 따라, 센싱 커패시터(Csen)에 충전된 센싱 전압(Vsen)이 변환 블록(230)으로 출력될 수 있다.
변환 블록(230)은, 일 예로, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)를 포함할 수 있다. 변환 블록(230)은, 샘플링 블록(220)으로부터 수신한 센싱 전압(Vsen)을 디지털 형태의 센싱 데이터로 변환하여 출력할 수 있다.
변환 블록(230)에 의해 출력된 센싱 데이터는 컨트롤러(140)로 전달될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 센싱 데이터에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있는 보상 전압을 설정할 수 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 컨트롤러(140)에 의해 설정된 보상 전압을 서브픽셀(SP)로 공급함으로써, 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있다.
이와 같이, 센싱부(200)에 의해 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하고 서브픽셀(SP)의 열화에 따른 보상을 수행하므로, 서브픽셀(SP)의 열화에 따른 이미지 품질의 저하를 방지할 수 있다.
또한, 샘플링 블록(220)에 포함된 센싱 커패시터(Csen)와 샘플링 스위치(SAM)가 하나의 센싱 그룹에 포함되는 다수의 센싱 스위치(S1, S2)와 전기적으로 연결되므로, 센싱을 위해 요구되는 회로 소자를 감소시킬 수 있다.
따라서, 센싱부(200)의 사이즈를 감소시키며, 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 위한 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 센싱부(200)를 구현할 수 있다.
센싱부(200)는, 하나의 센싱 그룹에 포함되는 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 다양한 방식으로 구동하며 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다. 이러한 다양한 방식에 의해 센싱 기간의 길이를 감소시키거나, 센싱의 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 6a와 도 6b는 도 5에 도시된 센싱부(200)의 구동 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 6a를 참조하면, 채널 블록(210)에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)는 서로 독립적으로 구동될 수 있다.
일 예로, 제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1)의 구동에 의한 센싱이 수행될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)는, 제1 센싱 기간(P1)의 제1 기간(P11)의 적어도 일부 기간에 턴-온 상태가 될 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)는, 제1 센싱 기간(P1)에 턴-오프 상태일 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)가 제1 센싱 기간(P1)의 제1 기간(P11)에서 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t1일 수 있다. 경우에 따라, 제1 센싱 스위치(S1)는, 제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)가 턴-온 상태인 기간에 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))의 전압 레벨이 포화 상태가 될 수 있다. 포화 상태가 된 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))의 센싱 전압(Vsen)에 따라 센싱 커패시터(Csen)에 전하가 충전될 수 있다.
샘플링 스위치(SAM)는, 제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)에 턴-온 상태가 될 수 있다. 샘플링 스위치(SAM)는, 제1 센싱 스위치(S1)가 턴-오프 상태가 된 직후 턴-온 상태가 될 수 있다. 또는, 샘플링 스위치(SAM)는, 제1 센싱 스위치(S1)가 턴-온 상태를 유지하는 기간 중 제1 센싱 스위치(S1)가 턴-오프 상태가 되기 전에 턴-온 상태가 될 수 있다.
샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되므로, 센싱 커패시터(Csen)에 충전된 센싱 전압(Vsen)이 변환 블록(230)으로 출력될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 수행된 센싱에 따른 보상 전압이 제1 센싱 기간(P1) 이후의 디스플레이 구동 기간에 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
보상 전압은, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
또한, 보상 전압은, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결될 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1) 이후 하나의 센싱 그룹에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2) 각각과 전기적으로 연결된 기준 전압 라인(RVL)에 의해 구동되는 서브픽셀(SP)로 동일한 보상 전압이 공급될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 수행된 센싱 결과에 따라 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))에 의해 구동되는 서브픽셀(SP)과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))에 의해 구동되는 서브픽셀(SP)에 대한 보상이 이루어지므로, 센싱 기간을 감소시키며 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있다.
제1 센싱 기간(P1) 이후의 제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)를 이용한 센싱이 수행될 수 있다.
도 6b를 참조하면, 제2 센싱 스위치(S2)는, 제2 센싱 기간(P2)의 제1 기간(P21)의 적어도 일부 기간에 턴-온 상태가 될 수 있다. 제1 센싱 스위치(S1)는, 제2 센싱 기간(P2)에 턴-오프 상태일 수 있다.
제2 센싱 스위치(S2)가 제2 센싱 기간(P2)의 제1 기간(P21)에서 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t1일 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)가 제2 센싱 기간(P1)에 턴-온 상태인 기간의 길이는 제1 센싱 스위치(S1)가 제1 센싱 기간(P1)에 턴-온 상태인 기간의 길이와 동일할 수 있다. 경우에 따라, 제2 센싱 스위치(S2)는, 제2 센싱 기간(P2)의 제2 기간(P22)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간에 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))의 전압 레벨이 포화 상태가 될 수 있다. 포화 상태가 된 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))의 센싱 전압(Vsen)에 따라 센싱 커패시터(Csen)가 충전될 수 있다.
샘플링 스위치(SAM)가 제2 센싱 기간(P2)의 제2 기간(P22)에 턴-온 상태가 될 수 있다. 샘플링 스위치(SAM)는, 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-오프 상태가 되기 전에 턴-온 상태가 될 수 있다.
센싱 커패시터(Csen)에 충전된 센싱 전압(Vsen)이 변환 블록(230)으로 출력될 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 통해 수행된 센싱 결과에 따른 보상 전압이 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
보상 전압은, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)으로 제1 센싱 기간(P1)을 통해 획득된 보상 전압이 공급될 수 있다.
따라서, 제2 센싱 기간(P2) 이후에 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)로 공급되는 보상 전압과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)로 공급되는 보상 전압은 상이할 수 있다.
하나의 센싱 그룹에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 교번하여 센싱을 수행하므로, 전체적인 센싱 기간을 감소시킬 수 있다.
그리고, 경우에 따라, 하나의 센싱 그룹에 대응하는 복수의 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)로 동일한 보상 전압을 공급함으로써, 하나의 센싱 그룹에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2) 중 일부를 구동하며 수행된 센싱에 의해 전체적인 보상이 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들은, 하나의 센싱 그룹에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 동시에 턴-온 시킨 상태에서 센싱을 수행함으로써, 센싱 기간을 감소시키며 센싱의 정확도를 높여줄 수 있다.
도 7은 도 5에 도시된 센싱부(200)의 구동 방식의 다른 예시를 나타낸 도면이다.
도 7을 참조하면, 채널 블록(210)에 포함되고 하나의 센싱 그룹을 구성하는 다수의 센싱 스위치(S1, S2)는 동일하게 구동될 수 있다.
일 예로, 제1 센싱 기간(P1)의 제1 기간(P11)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태가 될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)는, 동일한 기간 동안 턴-온 상태일 수 있다. 일 예로, 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이는 t1일 수 있다. 경우에 따라, 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)는, 제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 동시에 턴-온 상태가 되므로, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))은 서로 전기적으로 연결될 상태가 될 수 있다.
n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))은 동일하게 포화 상태가 될 수 있다. 포화 상태가 된 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))의 센싱 전압(Vsen)이 센싱 커패시터(Csen)에 충전될 수 있다.
센싱 커패시터(Csen)에 충전된 센싱 전압(Vsen)은, 일 예로, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값의 평균 값일 수 있다.
또는, 센싱 커패시터(Csen)에 충전된 센싱 전압(Vsen)은, 평균 값에 근접한 값일 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)에 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 상태가 될 수 있다. 샘플링 스위치(SAM)는, 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-오프 상태가 되기 전에 턴-온 상태가 될 수 있다.
n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 통해 획득된 센싱 전압(Vsen)이 변환 블록(230)을 통해 컨트롤러(140)로 전달될 수 있다.
컨트롤러(140)는, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 동시에 이용하여 수행된 센싱 결과에 따른 보상 전압을 설정할 수 있다.
설정된 보상 전압은, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
따라서, 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 동시에 구동하여 수행된 센싱에 의해 복수의 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 열화를 보상하므로, 센싱 기간을 감소시키며 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있다.
그리고, 보상 값은, 복수의 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 열화의 평균 값 또는 평균 값에 근접한 값에 기초하여 설정되므로, 센싱 기간을 감소시키며 보상의 정확도를 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들은, 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 동시에 구동하여 센싱을 수행한 이후에 다수의 센싱 스위치(S1, S2) 중 일부를 구동하여 센싱을 수행함으로써, 센싱의 정확도를 더욱 향상시킬 수 있다.
도 8a와 도 8b는 도 5에 도시된 센싱부(200)의 구동 방식의 또 다른 예시를 나타낸 도면이다. 도 9a와 도 9b는 도 8a와 도 8b에 도시된 구동 방식에 따른 센싱 시 센싱 전압(Vsen)의 예시를 나타낸 도면이다.
도 8a를 참조하면, 센싱부(200)는, 하나의 센싱 그룹에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)를 구동하여 1차 센싱을 수행하고, 1차 센싱을 종료한 이후 2차 센싱을 수행할 수 있다.
일 예로, 1차 센싱이 수행되는 제1 센싱 기간(P1)에 다수의 센싱 스위치(S1, S2)가 동시에 구동될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)는 제1 센싱 기간(P1)의 제1 기간(P11)에 동시에 턴-온 상태가 될 수 있다. 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t1일 수 있다. 경우에 따라, 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)는, 제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
샘플링 스위치(SAM)가 제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)에 턴-온 상태가 될 수 있다. 샘플링 스위치(SAM)는, 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-오프 상태가 되기 전에 턴-온 상태가 될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)를 동시에 구동하여 수행된 센싱을 통해 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값의 평균 값 또는 평균 값에 근접한 값이 획득될 수 있다.
센싱부(200)는, 1차 센싱을 종료한 이후 2차 센싱을 수행할 수 있다. 2차 센싱을 수행하는 기간에 다수의 센싱 스위치(S1, S2) 중 일부만 구동될 수 있으며, 일 예로, 어느 하나만 구동될 수 있다.
도 8b를 참조하면, 일 예로, 2차 센싱이 수행되는 제2 센싱 기간(P2)에 다수의 센싱 스위치(S1, S2) 중 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태가 될 수 있다. 제1 센싱 스위치(S1)는, 제2 센싱 기간(P2)에 턴-오프 상태일 수 있다.
또는, 제2 센싱 스위치(S2)는, 2차 센싱을 위해 제1 센싱 기간(P1)에 턴-온 된 상태를 제2 센싱 기간(P2)까지 유지할 수도 있다.
일 예로, 제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태가 될 수 있다. 제1 센싱 스위치(S1)는, 제1 센싱 기간(P1)이 종료하기 전에 턴-오프 상태가 될 수 있다.
제2 센싱 스위치(S2)는, 제1 센싱 기간(P1)에 턴-오프 상태가 되지 않을 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)는, 2차 센싱을 위한 제2 센싱 기간(P2)까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제2 센싱 스위치(S2)는, 제2 센싱 기간(P2)의 제1 기간(P21)의 적어도 일부 기간에 턴-온 상태가 될 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t2일 수 있다. 그리고, t2는 t1보다 짧을 수 있다. 경우에 따라, 제2 센싱 스위치(S2)는, 제2 센싱 기간(P2)의 제2 기간(P22)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 수행된 센싱에 의해 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))은 포화 상태일 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에는 제2 센싱 스위치(S2)만 턴-온 상태가 되므로, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))의 전압 레벨만 변동될 수 있다. n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))의 전압 레벨이 제1 센싱 기간(P1)에 포화된 상태에서 변동되므로, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))이 새롭게 포화 상태가 되기 위해 소요되는 시간이 짧을 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이 t2를 제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이 t1보다 짧게 하며, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 이용한 센싱이 수행될 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이가 짧아지므로, 제2 센싱 기간(P2)의 제1 기간(P21)의 길이는 제1 센싱 기간(P1)의 제1 기간(P11)의 길이보다 작을 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 획득된 센싱 결과로부터 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다. 제1 센싱 기간(P1)에 수행된 센싱에 의해 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값의 평균 값 또는 평균 값에 근접한 값이 획득되므로, 제1 센싱 기간(P1)에 획득된 센싱 결과와 제2 센싱 기간(P2)에 획득된 센싱 결과를 이용하여 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출할 수 있다.
따라서, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))을 이용한 센싱과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))을 이용한 센싱을 별도로 수행하는 방식보다 센싱 기간을 감소시키며, 동등한 수준의 센싱 정확도를 제공할 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 센싱이 이루어지는 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값에 따라, 제2 센싱 기간(P2)에 검출되는 센싱 전압(Vsen)은 제1 센싱 기간(P1)에 검출되는 센싱 전압(Vsen)보다 클 수도 있고 작을 수도 있다.
도 9a와 도 9b를 참조하면, 제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)가 동시에 턴-온 상태가 되어 수행되는 센싱 시 센싱 전압(Vsen)의 변화량은 ΔVa일 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 제1 센싱 스위치(S1)는 턴-오프 상태가 되고 제2 센싱 스위치(S2)만 턴-온 상태가 되어 수행되는 센싱 시 센싱 전압(Vsen)의 변화량은 ΔVb일 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))이 포화된 상태에서, 제2 센싱 기간(P2)에 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))만 포화 상태로 변동되므로, ΔVb는 ΔVa보다 작을 수 있다.
기준 전압 라인(RVL)이 포화 상태가 되기 위해 필요한 시간이 짧으므로, 제2 센싱 기간(P2)의 길이는 제1 센싱 기간(P1)의 길이보다 작을 수 있다. 따라서, 전체적인 센싱 기간을 감소시키며 센싱의 정확도를 향상시킬 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 획득된 센싱 전압(Vsen)은, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값과 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값의 평균 값 또는 평균 값에 근접한 값과 대응하도록 나타날 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 획득된 센싱 전압(Vsen)은, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값과 대응하도록 나타날 수 있다.
따라서, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 열화 정도와 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 열화 정도의 차이에 따라, 제2 센싱 기간(P2)에 나타나는 센싱 전압(Vsen)이 변동될 수 있다.
일 예로, 도 9a에 도시된 예시와 같이, 제2 센싱 기간(P2)에 나타나는 센싱 전압(Vsen)은 제1 센싱 기간(P1)에 나타나는 센싱 전압(Vsen)보다 클 수 있다.
또는, 도 9b에 도시된 예시와 같이, 제2 센싱 기간(P2)에 나타나는 센싱 전압(Vsen)은 제1 센싱 기간(P1)에 나타나는 센싱 전압(Vsen)보다 작을 수도 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 획득된 센싱 전압(Vsen)을 이용하여 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 정확히 검출할 수 있다.
그리고, 제1 센싱 기간(P1)에 획득된 센싱 전압(Vsen)과 제2 센싱 기간(P2)에 획득된 센싱 전압(Vsen)을 이용하여 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 정확히 검출할 수 있다.
전체적인 센싱 기간을 감소시키며, 하나의 센싱 그룹에 포함된 다수의 센싱 스위치(S1, S2)에 의해 구동되는 기준 전압 라인(RVL)을 통해 서브픽셀(SP)의 특성 값을 정확히 검출함으로써, 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 보상의 성능을 개선할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들은, 하나의 센싱 그룹에 포함된 센싱 스위치의 수를 증가시켜 센싱부(200)의 사이즈를 더욱 감소시키며, 서브픽셀(SP)의 특성 값을 센싱하고 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있다.
도 10a 내지 도 10c는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 검출하는 센싱부(200)의 구조와 구동 방식의 다른 예시를 나타낸 도면이다.
도 10a를 참조하면, 센싱부(200)에 포함된 채널 블록(210)은 다수의 센싱 스위치(S1, S2, S3)를 포함할 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1)는, n번째 기준 전압 패드(RP(n))를 통해 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 센싱 스위치(S2)는, n+1번째 기준 전압 패드(RP(n+1))를 통해 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 센싱 스위치(S3)는, n+2번째 기준 전압 패드(RP(n+2))를 통해 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)는, 샘플링 블록(220)에 포함된 센싱 커패시터(Csen) 및 샘플링 스위치(SAM)와 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 하나의 센싱 커패시터(Csen)와 전기적으로 연결되므로, 센싱부(200)의 사이즈를 감소시킬 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)는, 독립적으로 구동될 수도 있고, 동시에 구동될 수도 있다. 또한, 동시 구동과 일부 구동이 순차적으로 수행될 수도 있다.
일 예로, 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 독립적으로 구동되며, 서브픽셀(SP)의 특성 값 센싱과 열화 보상이 별도로 이루어질 수 있다.
이러한 경우, 어느 하나의 센싱 스위치의 구동에 의해 획득된 보상 값이 다른 센싱 스위치와 대응하는 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 위해 이용될 수 있다.
다른 예로, 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)는, 동시에 구동될 수 있다.
이러한 경우, 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)와 대응하는 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값의 평균 값 또는 평균 값에 근접한 값에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화 보상이 수행될 수 있다.
또 다른 예로, 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 동시에 구동되며 1차 센싱이 수행되고, 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3) 중 일부가 구동되며 2차 센싱이 수행될 수 있다.
또한, 2차 센싱 이후 3차 센싱이 수행될 수 있으며, 2차 센싱 시 구동되는 센싱 스위치는 3차 센싱 시 구동되는 센싱 스위치와 상이할 수 있다.
도 10a를 참조하면, 제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 동시에 턴-온 상태가 될 수 있다.
제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t1일 수 있다. 경우에 따라, 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)는, 제1 센싱 기간(P1)의 제2 기간(P12)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에서 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 턴-온 상태인 기간에 n번째 기준 전압 라인(RVL(n)), n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1)) 및 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))은 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값 및 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값의 평균 값 또는 평균 값에 근접한 값이 획득될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1) 이후, 제2 센싱 기간(P2) 및 제3 센싱 기간(P3)에 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3) 중 일부를 구동시켜 센싱을 수행할 수 있다.
도 10b를 참조하면, 일 예로, 제2 센싱 기간(P2)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제3 센싱 스위치(S)는 턴-오프 상태가 될 수 있다. 제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)는, 턴-온 상태가 될 수 있다. 또는, 제2 센싱 스위치(S2)는, 제1 센싱 기간(P1)에 턴-온 상태가 되고 제2 센싱 기간(P2)까지 턴-온 상태를 유지할 수도 있다.
제2 센싱 스위치(S2)가 제2 센싱 기간(P2)에 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t2일 수 있다. t2는 t1보다 짧을 수 있다. 경우에 따라, 제2 센싱 스위치(S2)는, 제2 센싱 기간(P2)의 제2 기간(P22)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)와 전기적으로 연결된 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))이 포화 상태가 될 수 있다. 그리고, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값에 대응하도록 센싱 전압(Vsen)이 획득될 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)에 n번째 기준 전압 라인(RVL(n)), n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1)) 및 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))이 포화된 상태에서 제2 센싱 기간(P2)에 n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))이 포화 상태가 될 수 있다.
따라서, 제2 센싱 기간(P2)에 센싱 전압(Vsen)이 변화되는 크기 ΔVb는 제1 센싱 기간(P1)에 센싱 전압(Vsen)이 변화되는 크기 ΔVa보다 작을 수 있다. 그리고, 제2 센싱 기간(P2)이 제1 센싱 기간(P1)보다 짧을 수 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 센싱 전압(Vsen)은, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값에 따라, 1001이 지시하는 예시와 같이 증가할 수도 있고, 1002가 지시하는 예시와 같이 감소할 수도 있다.
제2 센싱 기간(P2)에 제1 센싱 기간(P1)보다 짧은 시간 동안 센싱을 수행하며, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 정확한 특성 값을 검출할 수 있다.
도 10c를 참조하면, 제3 센싱 기간(P3)에 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3) 중 일부가 구동하며 센싱이 수행될 수 있다. 제3 센싱 기간(P3)에 구동되는 센싱 스위치는 제2 센싱 기간(P2)에 구동된 센싱 스위치와 상이할 수 있다.
일 예로, 제3 센싱 기간(P3)에 제1 센싱 스위치(S1)와 제2 센싱 스위치(S2)는 턴-오프 상태가 될 수 있다.
제3 센싱 스위치(S3)는, 제3 센싱 기간(P3)에 턴-온 상태가 될 수 있다. 또는, 경우에 따라, 제3 센싱 스위치(S3)는, 제1 센싱 기간(P1)에 턴-온 상태가 되어 제3 센싱 기간(P3)까지 턴-온 상태를 유지할 수도 있다. 이러한 경우, 전술한 제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)와 제3 센싱 스위치(S3)가 턴-온 된 상태에서 센싱이 수행될 수도 있다.
제3 센싱 스위치(S3)가, 제3 센싱 기간(P3)의 제1 기간(P31)에 턴-온 상태인 기간의 길이는, 일 예로, t3일 수 있다. 경우에 따라, 제3 센싱 스위치(S3)는, 제3 센싱 기간(P3)의 제2 기간(P32)의 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지할 수 있다.
t3는 제1 센싱 기간(P1)에 제1 센싱 스위치(S1), 제2 센싱 스위치(S2) 및 제3 센싱 스위치(S3)가 동시에 턴-온 상태인 기간의 길이 t1보다 작을 수 있다. 또한, t3는 제2 센싱 기간(P2)에 제2 센싱 스위치(S2)가 턴-온 상태인 기간의 길이 t2보다 작을 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)과 제2 센싱 기간(P2)에 센싱이 수행된 이후에 제3 센싱 기간(P3)에 센싱이 수행되므로, 제3 센싱 기간(P3)에 센싱 전압(Vsen)이 변화하는 크기 ΔVc는 제1 센싱 기간(P1)에 센싱 전압(Vsen)이 변화하는 크기 ΔVa보다 작을 수 있다.
또한, 제3 센싱 기간(P3)에 센싱 전압(Vsen)이 변화하는 크기 ΔVc는 제2 센싱 기간(P2)에 센싱 전압(Vsen)이 변화하는 크기 ΔVb보다 작을 수 있다.
제3 센싱 기간(P3)에 제3 센싱 스위치(S3)에 의해 구동되는 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값이 검출될 수 있다.
제3 센싱 기간(P3)에 검출되는 센싱 전압(Vsen)은, n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값에 따라, 1003이나 1005가 지시하는 예시와 같이, 제2 센싱 기간(P2)의 센싱 전압(Vsen)보다 클 수 있다. 또는, 1004나 1006이 지시하는 예시와 같이, 제3 센싱 기간(P3)에 검출되는 센싱 전압(Vsen)은, 제2 센싱 기간(P2)의 센싱 전압(Vsen)보다 작을 수 있다.
제1 센싱 기간(P1)보다 짧고 제2 센싱 기간(P2)보다 짧은 제3 센싱 기간(P3)을 통해 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 정확한 특성 값을 검출할 수 있다.
그리고, 제1 센싱 기간(P1)에 획득된 센싱 결과, 제2 센싱 기간(P2)에 획득된 센싱 결과 및 제3 센싱 기간(P3)에 획득된 센싱 결과에 기초하여, n번째 기준 전압 라인(RVL(n))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값, n+1번째 기준 전압 라인(RVL(n+1))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값 및 n+2번째 기준 전압 라인(RVL(n+2))과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 정확히 산출할 수 있다.
따라서, 다수의 기준 전압 라인(RVL)을 구동하며 수행되는 센싱 기간을 감소시키며, 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결된 서브픽셀(SP)의 특성 값을 정확히 검출하고 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있다.
전술한 본 발명의 실시예들에 의하면, 서브픽셀(SP)의 특성 값을 센싱하는 센싱부(200)에 포함되고 기준 전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결되는 둘 이상의 센싱 스위치가 센싱 커패시터(Csen)를 공유함으로써, 센싱부(200)의 사이즈를 감소시키며 서브픽셀(SP)의 열화를 검출할 수 있다.
또한, 센싱 커패시터(Csen)를 공유하는 둘 이상의 센싱 스위치를 동시에 구동하여 센싱을 수행함으로써, 센싱 기간을 감소시키며 서브픽셀(SP)의 열화 보상이 수행될 수 있다.
또한, 센싱 커패시터(Csen)를 공유하는 둘 이상의 센싱 스위치를 동시에 구동하여 1차 센싱을 수행한 후 연속적으로 일부 센싱 스위치를 구동하여 1차 센싱보다 짧게 2차 센싱을 수행함으로써, 전체적인 센싱 기간을 감소시키면서 센싱의 정확도를 향상시킬 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 디스플레이 장치 110: 디스플레이 패널
120: 게이트 구동 회로 130: 데이터 구동 회로
140: 컨트롤러 200: 센싱부
210: 채널 블록 220: 샘플링 블록
230: 변환 블록

Claims (19)

  1. 디스플레이 패널에 배치된 다수의 서브픽셀들;
    상기 다수의 서브픽셀들 중 일부 서브픽셀들과 전기적으로 연결된 다수의 기준 전압 라인들; 및
    상기 다수의 기준 전압 라인들을 구동하는 데이터 구동 회로를 포함하고,
    상기 데이터 구동 회로는,
    상기 다수의 기준 전압 라인들 각각과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 스위치들;
    상기 다수의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 센싱 커패시터; 및
    상기 센싱 커패시터와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 포함하며,
    상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들은 상기 다수의 기준 전압 라인들 중 상기 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 기준 전압 라인을 통해 상기 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱 기간의 적어도 일부 기간에 동시에 턴-온 상태가 되는 디스플레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    제1 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들은 동시에 턴-온 상태가 되고 동시에 턴-오프 상태가 되며,
    상기 제1 센싱 기간 이후의 제2 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 나머지 센싱 스위치는 턴-오프 상태를 유지하는 디스플레이 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 센싱 기간에 상기 둘 이상의 센싱 스위치들이 동시에 턴-오프 상태가 된 직후 또는 턴-오프 상태가 되기 전에 상기 샘플링 스위치가 턴-온 상태가 되는 디스플레이 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제2 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이는 상기 제1 센싱 기간에 상기 둘 이상의 센싱 스위치들이 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이보다 작은 디스플레이 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 제2 센싱 기간에 상기 센싱 커패시터에 충전된 전하의 변화량은 상기 제1 센싱 기간에 상기 센싱 커패시터에 충전된 전하의 변화량보다 작은 디스플레이 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 제2 센싱 기간에 상기 턴-온 상태가 된 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 턴-오프 상태가 되기 전에 상기 샘플링 스위치가 턴-온 상태가 되는 디스플레이 장치.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 제2 센싱 기간 이후의 제3 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 나머지 센싱 스위치는 턴-오프 상태를 유지하며,
    상기 제3 센싱 기간에 턴-온 상태가 되는 상기 하나의 센싱 스위치는 상기 제2 센싱 기간에 턴-온 상태가 되는 상기 하나의 센싱 스위치와 상이한 디스플레이 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제3 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이는 상기 제1 센싱 기간에 상기 둘 이상의 센싱 스위치들이 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이보다 작은 디스플레이 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 제3 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이는 상기 제2 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태를 유지하는 기간의 길이보다 작은 디스플레이 장치.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 제3 센싱 기간에 상기 턴-온 상태가 된 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-오프 상태가 된 직후 또는 턴-오프 상태가 되기 전에 상기 샘플링 스위치가 턴-온 상태가 되는 디스플레이 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    제1 센싱 기간에 상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들은 동시에 턴-온 상태가 되고,
    상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 일부는 상기 제1 센싱 기간이 종료되기 전에 턴-오프 되고, 상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 다른 일부는 상기 제1 센싱 기간 이후의 제2 센싱 기간의 적어도 일부 기간까지 턴-온 상태를 유지하는 디스플레이 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 센싱 기간 이후의 디스플레이 구동 기간에 상기 서브픽셀의 특성 값에 기초하여 결정된 보상 전압이 상기 서브픽셀로 공급되고,
    상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 어느 하나의 센싱 스위치와 전기적으로 연결된 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀로 공급되는 보상 전압은 상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 다른 하나의 센싱 스위치와 전기적으로 연결된 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀로 공급되는 보상 전압과 동일한 디스플레이 장치.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 각각은,
    발광 소자; 및
    상기 발광 소자와 상기 기준 전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터를 포함하고,
    상기 센싱 트랜지스터는 상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들이 동시에 턴-온 상태인 기간의 적어도 일부 기간에 턴-온 상태가 되는 디스플레이 장치.
  14. 디스플레이 패널에 배치된 다수의 서브픽셀들;
    상기 다수의 서브픽셀들 중 일부 서브픽셀들과 전기적으로 연결된 다수의 기준 전압 라인들; 및
    상기 다수의 기준 전압 라인들을 구동하는 데이터 구동 회로를 포함하고,
    상기 데이터 구동 회로는,
    상기 다수의 기준 전압 라인들 중 제1 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 제1 센싱 스위치 및 제2 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 제2 센싱 스위치;
    상기 제1 센싱 스위치 및 상기 제2 센싱 스위치와 전기적으로 연결된 센싱 커패시터; 및
    상기 센싱 커패시터와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 포함하며,
    제1 센싱 기간에 상기 제1 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 상기 제1 기준 전압 라인을 통해 상기 서브픽셀의 특성 값을 검출하고, 제2 센싱 기간에 상기 제2 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 상기 제2 기준 전압 라인을 통해 상기 서브픽셀의 특성 값을 검출하며,
    상기 제1 센싱 기간과 상기 제2 센싱 기간 사이의 디스플레이 구동 기간에 상기 제1 기준 전압 라인을 통해 검출된 상기 서브픽셀의 특성 값에 기초하여 결정된 보상 전압이 상기 제1 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀과 상기 제2 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀로 공급되는 디스플레이 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 제2 센싱 기간 이후의 디스플레이 구동 기간에 상기 제1 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀로 제1 보상 전압이 공급되고 상기 제2 기준 전압 라인과 전기적으로 연결된 서브픽셀로 제2 보상 전압이 공급되며,
    상기 제1 보상 전압과 상기 제2 보상 전압은 상이한 디스플레이 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 보상 전압은 상기 제1 센싱 기간에 상기 제1 기준 전압 라인을 통해 검출된 상기 서브픽셀의 특성 값에 기초하여 결정된 보상 전압이고, 상기 제2 보상 전압은 상기 제2 센싱 기간에 상기 제2 기준 전압 라인을 통해 검출된 상기 서브픽셀의 특성 값에 기초하여 결정된 보상 전압인 디스플레이 장치.
  17. 다수의 기준 전압 라인들 각각과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 스위치들;
    상기 다수의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 그룹에 포함된 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 센싱 커패시터; 및
    상기 센싱 커패시터와 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 포함하고,
    상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들은 상기 다수의 기준 전압 라인들 중 상기 둘 이상의 센싱 스위치들과 전기적으로 연결된 기준 전압 라인을 통해 서브픽셀의 특성 값을 검출하는 센싱 기간의 적어도 일부 기간에 동시에 턴-온 상태가 되는 데이터 구동 회로.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 하나의 센싱 그룹에 포함된 상기 둘 이상의 센싱 스위치들이 턴-오프 상태가 된 이후 상기 센싱 커패시터에 충전된 전하가 방전되기 이전의 적어도 일부 기간에 상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 나머지 센싱 스위치가 턴-오프 상태를 유지하는 데이터 구동 회로.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 둘 이상의 센싱 스위치들 중 상기 하나의 센싱 스위치가 턴-온 상태가 되고 상기 나머지 센싱 스위치가 턴-오프 상태를 유지하는 기간의 길이는 상기 둘 이상의 센싱 스위치들이 동시에 턴-온 상태인 기간의 길이보다 작은 데이터 구동 회로.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2022118458A1 (ja) * 2020-12-04 2022-06-09 シャープ株式会社 表示装置および画素回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101528148B1 (ko) * 2012-07-19 2015-06-12 엘지디스플레이 주식회사 화소 전류 측정을 위한 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법
KR102101182B1 (ko) * 2013-12-23 2020-04-16 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
US9607549B2 (en) * 2014-12-24 2017-03-28 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting diode display panel and organic light emitting diode display device
KR102339649B1 (ko) * 2015-08-31 2021-12-16 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시장치와 그 구동 방법
KR102419150B1 (ko) * 2015-11-27 2022-07-11 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치 및 그 보상 방법
CN107293259B (zh) * 2016-03-29 2019-07-12 乐金显示有限公司 有机发光二极管显示器
KR102423861B1 (ko) * 2016-04-08 2022-07-22 엘지디스플레이 주식회사 전류 센싱형 센싱 유닛과 그를 포함한 유기발광 표시장치
KR102526355B1 (ko) * 2016-09-22 2023-05-02 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR102552959B1 (ko) * 2016-12-19 2023-07-11 엘지디스플레이 주식회사 표시 장치
CN106548752B (zh) * 2017-01-25 2019-03-01 上海天马有机发光显示技术有限公司 有机发光显示面板及其驱动方法、有机发光显示装置
DE112018001207T5 (de) * 2017-03-07 2019-11-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC, Treiber-IC, Anzeigesystem und Elektronisches Gerät
KR20190005019A (ko) * 2017-07-05 2019-01-15 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시장치, 구동방법 및 구동회로
KR102643806B1 (ko) * 2019-08-05 2024-03-05 삼성전자주식회사 Oled 구동 특성 검출 회로 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치
KR20220078234A (ko) * 2020-12-03 2022-06-10 주식회사 엘엑스세미콘 화소센싱회로 및 화소센싱방법

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