KR20220026661A - 표시 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

표시 장치 및 이의 구동 방법 Download PDF

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안병관
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Abstract

표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 액티브 구간 및 액티브 구간에 뒤따르는 블랭크 구간을 포함하는 프레임 구간의 블랭크 구간 동안 화소들 각각의 센싱 전류값을 측정하는 센싱 회로, 센싱 전류값 및 기설정된 기준 전류값에 기초하여 열화 가중치를 계산하고, 입력 영상 데이터에 열화 가중치를 반영하여 출력 영상 데이터를 생성하는 구동 제어부를 포함한다.

Description

표시 장치 및 이의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF DRIVING THE SAME}
본 발명은 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 복수의 화소들을 포함할 수 있고, 상기 화소들이 각기 다양한 휘도로 발광함으로써 상기 표시 장치는 영상을 표시할 수 있다. 상기 화소들 각각은 실질적으로 동일한 구조의 화소 회로를 포함할 수 있다. 그러나, 사용자가 상기 표시 장치를 사용하는 과정에서 상기 화소의 위치 및 상기 화소의 사용 정도에 따라 상기 화소마다 열화 정도가 다를 수 있다. 그에 따라, 상기 표시 장치의 표시 품질을 향상시키기 위하여, 상기 화소의 위치마다 상기 열화 정도를 보상해야 하며, 동시에 상기 화소의 사용 정도에 따라 실시간으로 상기 열화 정도를 보상해야 한다.
본 발명의 일 목적은 표시 품질이 향상된 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
전술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 액티브 구간 및 상기 액티브 구간에 뒤따르는 블랭크 구간을 포함하는 프레임 구간의 상기 블랭크 구간 동안 상기 화소들 각각의 센싱 전류값을 측정하는 센싱 회로, 상기 센싱 전류값 및 기설정된 기준 전류값에 기초하여 열화 가중치를 계산하고, 입력 영상 데이터에 상기 열화 가중치를 반영하여 출력 영상 데이터를 생성하는 구동 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 제어부는 상기 센싱 전류값들에 기초하여 상기 화소들이 포함된 화소 블록의 블록 센싱 전류값을 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들의 평균값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들 중 최대 센싱 전류값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 제어부는 상기 블록 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여 상기 화소 블록의 블록 열화 가중치를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 제어부는 상기 입력 영상 데이터에 상기 블록 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소 블록은 제1 프레임 구간 및 상기 제1 프레임 구간을 뒤따르는 제2 프레임 구간 동안 동일한 발광 휘도를 갖고, 상기 제2 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치는 상기 제1 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치보다 클 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 가중치는 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값의 비율에 기초하여 결정될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소들 각각은 제1 노드와 연결되는 제어 단자, 제1 전원과 연결되는 제1 단자 및 제2 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제1 트랜지스터, 제1 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 데이터 라인과 연결되는 제1 단자 및 상기 제1 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제2 트랜지스터, 제2 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 센싱 라인과 연결되는 제2 단자를 포함하는 제3 트랜지스터 및 상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 제2 전원과 연결되는 제2 단자를 포함하는 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 스캔 라인에는 상기 블랭크 구간 동안 상기 제3 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압이 제공될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블랭크 구간은 제1 블랭크 구간 및 상기 제1 블랭크 구간을 뒤따르는 제2 블랭크 구간을 포함하고, 상기 제1 스캔 라인에는 상기 제1 블랭크 구간 동안 상기 제2 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압이 제공되고, 상기 제2 블랭크 구간 동안 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 턴오프 전압이 제공될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 라인에는 상기 제1 블랭크 구간 동안 초기화 전압이 제공되고, 상기 제2 블랭크 구간 동안 기준 전압이 제공될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 제어부는 상기 화소들 각각의 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여, 상기 화소들 각각의 화소 열화 가중치를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 제어부는 상기 입력 영상 데이터에 상기 화소 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다.
전술한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법은 액티브 구간 및 상기 액티브 구간에 뒤따르는 블랭크 구간을 포함하는 프레임 구간의 상기 블랭크 구간 동안 화소들 각각의 센싱 전류값을 측정하는 단계, 상기 센싱 전류값 및 기설정된 기준 전류값에 기초하여 열화 가중치를 계산하는 단계, 입력 영상 데이터에 상기 열화 가중치를 반영하여 출력 영상 데이터를 생성하는 단계 및 상기 출력 영상 데이터에 상응하는 데이터 전압을 생성하여 상기 화소들로 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 방법은 상기 센싱 전류값들에 기초하여 상기 화소들이 포함된 화소 블록의 블록 센싱 전류값을 계산하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들의 평균값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들 중 최대 센싱 전류값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 가중치를 계산하는 단계는 상기 블록 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여 상기 화소 블록의 블록 열화 가중치를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 출력 영상 데이터를 생성하는 단계는 상기 입력 영상 데이터에 상기 블록 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소 블록은 제1 프레임 구간 및 상기 제1 프레임 구간을 뒤따르는 제2 프레임 구간 동안 동일한 발광 휘도를 갖고, 상기 제2 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치는 상기 제1 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치보다 클 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 가중치는 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값의 비율에 기초하여 결정될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소들 각각은 제1 노드와 연결되는 제어 단자, 제1 전원과 연결되는 제1 단자 및 제2 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제1 트랜지스터, 제1 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 데이터 라인과 연결되는 제1 단자 및 상기 제1 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제2 트랜지스터, 제2 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 센싱 라인과 연결되는 제2 단자를 포함하는 제3 트랜지스터 및 상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 제2 전원과 연결되는 제2 단자를 포함하는 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 방법은 상기 블랭크 구간 동안 상기 제2 스캔 라인에 상기 제3 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압을 인가하여 상기 제3 트랜지스터를 턴온시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블랭크 구간은 제1 블랭크 구간 및 상기 제1 블랭크 구간을 뒤따르는 제2 블랭크 구간을 포함하고, 상기 구동 방법은 상기 제1 블랭크 구간 동안 상기 제1 스캔 라인에 상기 제2 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압을 인가하여 상기 제2 트랜지스터를 턴온시키는 단계 및 상기 제2 블랭크 구간 동안 상기 제1 스캔 라인에 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 턴오프 전압을 인가하여 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 방법은 상기 제1 블랭크 구간 동안 상기 센싱 라인에 초기화 전압을 인가하는 단계 및 상기 제2 블랭크 구간 동안 상기 센싱 라인에 기준 전압을 인가하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 가중치를 계산하는 단계는 상기 화소들 각각의 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여, 상기 화소들 각각의 상기 화소 열화 가중치를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 입력 영상 데이터에 상기 화소 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소의 센싱 전류를 상기 화소마다 측정함으로써, 상기 화소의 위치마다 상기 화소의 열화 정도를 보상할 수 있다. 또한, 상기 표시 장치는 상기 화소의 상기 센싱 전류를 프레임 구간의 블랭크 구간 마다 측정함으로써, 상기 화소의 사용 정도에 따라 실시간으로 상기 열화 정도를 보상할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 화소 블록을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소를 설명하기 위한 회로도이다.
도 4는 도 1의 표시 장치의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 5는 도 1의 표시 장치가 기준 전류값을 획득하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 6은 도 1의 표시 장치가 화소 블록의 열화를 보상하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 도 7의 표시 장치가 기준 전류값을 획득하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 9는 도 7의 표시 장치가 화소의 열화를 보상하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면 상의 동일한 구성 요소에 대하여는 동일한 참조 부호를 사용하고 동일한 구성 요소에 대한 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 화소 블록을 설명하기 위한 도면이다.
도 1 및 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 표시 패널(100), 데이터 구동부(200), 스캔 구동부(300), 센싱 회로(400) 및 구동 제어부(예를 들어, 타이밍 컨트롤러)를 포함할 수 있다. 상기 구동 제어부는 제어부(500) 및 보상부(600)를 포함할 수 있고, 상기 보상부(600)는 블록 센싱 전류값 계산부(610) 및 열화 가중치 계산부(620)를 포함할 수 있다.
상기 표시 패널(100)은 복수의 화소 블록(110)들을 포함할 수 있고, 상기 화소 블록(110)들 각각은 복수의 화소(120)들을 포함할 수 있다.
상기 화소 블록(110)은 상기 화소(120)를 제어하기 위한 단위를 정의하는 가상의 요소일 수 있다. 상기 화소 블록(110)은 상기 표시 장치(1000)를 제조하는 공정에서 고정적으로 설정되거나 또는 상기 표시 장치(1000)를 사용하는 과정에서 갱신될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 화소 블록(110)들 각각은 동일한 개수의 상기 화소(120)들을 포함할 수 있고, 상기 화소 블록(110)들은 서로 중첩하지 않을 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 화소 블록(110)들 각각은 서로 다른 개수의 상기 화소(120)들을 포함할 수 있다. 또 다른 실시예에서, 상기 화소 블록(110)들은 서로 중첩할 수 있다. 이 경우, 상기 화소 블록(110)들은 동일한 화소를 공유할 수도 있다.
상기 화소(120)는 데이터 라인(DL), 제1 스캔 라인(SL1), 제2 스캔 라인(SL2), 센싱 라인(SSL), 제1 전원 라인 및 제2 전원 라인과 연결될 수 있다. 상기 화소(120)는 상술한 라인들로부터 전압 및 신호를 제공받을 수 있다. 상기 화소(120)가 상기 전압 및 상기 신호에 의해 발광함에 따라, 상기 표시 장치(1000)는 영상을 표시할 수 있다.
상기 데이터 구동부(200)는 상기 제어부(500)로부터 제공되는 출력 영상 데이터(ODAT) 및 데이터 제어 신호(DCTRL)에 기초하여 데이터 전압을 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터 제어 신호(DCTRL)는 출력 데이터 인에이블 신호, 수평 개시 신호, 로드 신호 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 출력 영상 데이터(ODAT)는 입력 영상 데이터(IDAT)에 열화 가중치(WP)를 반영하여 생성될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 데이터 구동부(200)는 프레임 구간의 액티브 구간 동안 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 상응하는 데이터 전압을 생성하고, 상기 액티브 구간을 뒤따르는 블랭크 구간 동안 블랭크 데이터 전압을 생성할 수 있다. 상기 데이터 전압 및 상기 블랭크 데이터 전압은 상기 데이터 라인(DL)들을 통해 상기 화소(120)들로 제공될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 데이터 구동부(200)는 하나 이상의 집적 회로(integrated circuit, IC)로 구현될 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 데이터 구동부(200)는 상기 표시 패널(100)에 직접 실장되거나, COF(chip on film) 형태로 상기 표시 패널(100)과 연결되거나, 또는 상기 표시 패널(100)의 주변부에 집적(integrated)될 수 있다.
상기 스캔 구동부(300)는 상기 제어부(500)로부터 제공되는 게이트 제어 신호(GCTRL)에 기초하여 스캔 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 제어 신호(GCTRL)는 수직 개시 신호, 클록 신호 등을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 스캔 구동부(300)는 시프트 레지스터(shift register) 형태로 구성된 복수의 스테이지들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 스캔 구동부(300)는 상기 클록 신호의 제어에 따라 턴온 전압을 갖는 스캔 신호를 다음 스테이지로 순차적으로 전달하는 방식으로 상기 스캔 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 스캔 구동부(300)는 제1 스캔 구동부 및 제2 스캔 구동부를 포함할 수 있다. 또한, 상기 스캔 신호는 제1 스캔 신호 및 제2 스캔 신호를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 스캔 신호는 상기 제1 스캔 라인(SL1)으로 제공될 수 있으며, 상기 제2 스캔 신호는 상기 제2 스캔 라인(SL2)으로 제공될 수 있다. 이 경우, 상기 제1 스캔 구동부 및 상기 제2 스캔 구동부는 독립적으로 구동될 수 있다. 그에 따라, 상기 제1 스캔 신호가 턴온 전압을 가질 때, 상기 제2 스캔 신호는 턴온 전압 또는 턴오프 전압을 가질 수 있다.
일 실시예에서, 상기 스캔 구동부(300)는 상기 표시 패널(100)에 직접 실장될 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 스캔 구동부(300)는 상기 표시 패널(100)에 집적되거나, COF 형태로 상기 표시 패널(100)과 연결될 수 있다.
상기 제어부(500)는 외부의 프로세서(예를 들어, GPU)로부터 상기 입력 영상 데이터(IDAT) 및 제어 신호(CTRL)를 제공받을 수 있다. 예를 들어, 상기 입력 영상 데이터(IDAT)는 적색 영상 데이터, 녹색 영상 데이터 및 청색 영상 데이터를 포함하는 RGB 데이터일 수 있다. 또한, 상기 제어 신호(CTRL)는 수직 동기 신호, 수평 동기 신호, 입력 데이터 인에이블 신호, 마스터 클록 신호 등을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어부(500)는 상기 보상부(600)로부터 상기 열화 가중치(WP)를 제공받을 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제어부(500)는 상기 입력 영상 데이터(IDAT) 및 상기 열화 가중치(WP)에 기초하여, 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다. 또한, 상기 제어부(500)는 상기 제어 신호(CTRL)에 기초하여 상기 데이터 제어 신호(DCTRL), 상기 게이트 제어 신호(GCTRL) 및 센싱 제어 신호(SCTRL)를 생성할 수 있다.
상기 센싱 회로(400)는 상기 제어부(500)로부터 제공되는 상기 센싱 제어 신호(SCTRL)에 기초하여 상기 화소(120)의 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 회로(400)는 상기 블랭크 구간 동안 상기 화소(120)의 상기 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 전류값(IS)은 상기 화소(120)의 열화 정도를 나타낼 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 전류값(IS)은 상기 화소(120)가 열화 될수록 커질 수 있다.
또한, 상기 센싱 회로(400)는 상기 센싱 제어 신호(SCTRL)에 기초하여 상기 화소(120)로 초기화 전압 또는 기준 전압을 제공할 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 회로(400)는 상기 블랭크 구간 중 제1 블랭크 구간 동안 상기 화소(120)로 상기 초기화 전압을 제공할 수 있고, 상기 블랭크 구간 중 제2 블랭크 구간 동안 상기 화소(120)로 상기 기준 전압을 제공할 수 있다.
일 실시예에서, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 데이터 구동부(200)와 상기 센싱 회로(400)는 별개로 구성될 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 데이터 구동부(200)와 상기 센싱 회로(400)는 일체로 구성될 수도 있다.
상기 보상부(600)는 상기 센싱 전류값(IS)과 기설정된 기준 전류값(IR)에 기초하여 상기 열화 가중치(WP)를 계산할 수 있다. 상기 보상부(600)는 상기 열화 가중치(WP)를 상기 제어부(500)에 출력할 수 있다.
상기 기준 전류값(IR)은 기준 출력 영상 데이터가 생성될 때 상기 센싱 회로(400)에서 측정되는 센싱 전류의 전류값일 수 있다. 예를 들어, 상기 제어부(500)는 기준 입력 영상 데이터에 상기 열화 가중치(WP)를 반영하지 않고 상기 기준 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 기준 전류값(IR)은 표준이 되는 기준 표시 장치를 통해 측정되어 상기 보상부(600)에 저장되거나, 또는 상기 표시 장치(1000)가 턴온될 때 마다 상기 센싱 회로(400)에 의해 측정될 수 있다.
상기 열화 가중치(WP)는 상기 화소(120)의 위치 별 특성 편차를 나타내는 매개변수일 수 있다. 예를 들어, 상기 열화 가중치(WP)는 아래와 같은 [수학식 1]에 의해 계산될 수 있다.
Figure pat00001
여기서, WP는 상기 열화 가중치이고, IS는 상기 센싱 전류값이며, IR은 상기 기준 전류값이고, ß는 전류 가속 계수일 수 있다. 상기 전류 가속 계수는 상기 표시 장치(1000)를 제조하는 공정에서 상기 보상부(600)에 저장되거나 또는 상기 표시 장치(1000)를 사용하는 과정에서 갱신될 수 있다.
상술한 바와 같이, 상기 제어부(500)는 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 상기 열화 가중치(WP)를 반영하여 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다. 또한, 상기 데이터 구동부(200)는 상기 열화 가중치(WP)가 반영된 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 상응하는 상기 데이터 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 센싱 회로(400)는 상기 화소(120)들의 상기 센싱 전류값(IS)들을 측정할 수 있다. 또한, 상기 블록 센싱 전류값 계산부(610)는 상기 센싱 전류값(IS)들에 기초하여 상기 화소 블록(110)의 블록 센싱 전류값을 계산할 수 있다. 일 예로, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 화소 블록(110)에 포함된 상기 화소(120)들이 갖는 상기 센싱 전류값(IS)들의 평균값일 수 있다. 다른 예로, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 화소 블록(110)에 포함된 상기 화소(120)들이 갖는 상기 센싱 전류값(IS)들 중 최대 센싱 전류값일 수 있다. 상술한 바와 같이, 상기 센싱 전류값(IS)은 상기 화소(120)가 열화 될수록 커질 수 있으므로, 상기 최대 센싱 전류값은 상기 화소 블록(110)에 포함된 상기 화소(120)들 중 가장 열화 정도가 큰 화소의 센싱 전류값일 수 있다.
상기 열화 가중치 계산부(620)는 상기 블록 센싱 전류값과 상기 기준 전류값(IR)에 기초하여 상기 화소 블록(110)의 블록 열화 가중치를 계산할 수 있다. 또한, 상기 제어부(500)는 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 상기 블록 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다. 이 경우, 상기 표시 장치(1000)는 열화 보상에 필요한 연산량을 감소시킬 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소를 설명하기 위한 회로도이다.
도 1 및 3을 참조하면, 상기 화소(120)는 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3), 스토리지 커패시터(CST) 및 유기 발광 다이오드(OLED)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 내지 제3 트랜지스터들(T1, T2, T3)은 각기 N형 트랜지스터 또는 P형 트랜지스터로 구현될 수 있다.
상기 제1 트랜지스터(T1)는 제1 노드(N1)와 연결되는 제어 단자, 제1 전원(ELVDD)과 연결되는 제1 단자 및 제2 노드(N2)와 연결되는 제2 단자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 트랜지스터(T1)는 구동 트랜지스터로 명명될 수 있다.
상기 제2 트랜지스터(T2)는 상기 제1 스캔 라인(SL1)과 연결되는 제어 단자, 상기 데이터 라인(DL)과 연결되는 제1 단자 및 상기 제1 노드(N1)와 연결되는 제2 단자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 트랜지스터(T2)는 스위칭 트랜지스터로 명명될 수 있다.
상기 제3 트랜지스터(T3)는 상기 제2 스캔 라인(SL2)과 연결되는 제어 단자, 상기 제2 노드(N2)와 연결되는 제1 단자 및 상기 센싱 라인(SSL)과 연결되는 제2 단자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제3 트랜지스터(T3)는 센싱 트랜지스터로 명명될 수 있다.
상기 스토리지 커패시터(CST)는 상기 제1 노드(N1)와 연결되는 제1 단자 및 상기 제2 노드(N2)와 연결되는 제2 단자를 포함할 수 있다.
상기 유기 발광 다이오드(OLED)는 상기 제2 노드(N2)와 연결되는 제1 단자 및 상기 제2 전원(ELVSS)과 연결되는 제2 단자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 단자는 애노드 단자일 수 있고, 상기 제2 단자는 캐소드 단자일 수 있다.
상기 제1 전원(ELVDD)는 상기 제2 전원(ELVSS)보다 클 수 있다. 상기 제1 전원(ELVDD)은 하이 전원 전압일 수 있다. 상기 제2 전원(ELVSS)은 로우 전원 전압일 수 있다.
도 4는 도 1의 표시 장치의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 1, 3 및 4를 참조하면, 상기 표시 장치(1000)의 한 프레임 구간은 액티브 구간(ACT) 및 상기 액티브 구간(ACT)을 뒤따르는 블랭크 구간(BLANK)을 포함할 수 있다. 상기 액티브 구간(ACT)에는 상기 데이터 전압이 상기 화소들에 기입될 수 있다. 상기 블랭크 구간(BLANK)에는 상기 데이터 전압이 상기 화소들에 기입되지 않을 수 있다.
설명의 편의 상 도 4에서는 상기 액티브 구간(ACT)과 상기 블랭크 구간(BLANK)의 길이가 동일하게 도시되었으나, 상기 한 프레임 내에서 상기 액티브 구간(ACT)의 길이는 상기 블랭크 구간(BLANK)의 길이보다 길 수 있다.
설명의 편의 상 도 4에서는 하나의 화소 행에 인가되는 제1 스캔 신호 및 제2 스캔 신호만을 도시하였으나, 상기 액티브 구간(ACT)에서 상기 제1 스캔 신호 및 상기 제2 스캔 신호의 파형은 쉬프트 되면서 상기 전체 화소 행들에 순차적으로 인가될 수 있다.
상기 액티브 구간(ACT)은 제1 액티브 구간(ACT1) 및 제2 액티브 구간(ACT2)을 포함할 수 있고, 상기 블랭크 구간(BLANK)은 제1 블랭크 구간(BLANK1) 및 제2 블랭크 구간(BLANK2)을 포함할 수 있다. 상기 한 프레임 구간 동안 상기 제1 스캔 라인(SL1)에는 제1 스캔 신호가 제공되고, 상기 제2 스캔 라인(SL2)에는 제2 스캔 신호가 제공되며, 상기 데이터 라인(DL)에는 데이터 전압(DS, DS') 및 블랭크 데이터 전압(BS)이 제공되고, 상기 센싱 라인(SSL)에는 초기화 전압(VINT) 및 기준 전압(VREF)이 제공될 수 있다.
구체적으로, 상기 제1 스캔 신호는 상기 제1 액티브 구간(ACT1) 동안 턴온 전압을 가지고, 상기 제2 액티브 구간(ACT2) 동안 턴오프 전압을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 턴온 전압은 상기 제2 트랜지스터(T2)를 턴온시키는 전압이고, 상기 턴오프 전압은 상기 제2 트랜지스터(T2)를 턴오프시키는 전압일 수 있다.
구체적으로, 상기 제2 스캔 신호는 상기 제1 액티브 구간(ACT1) 동안 턴온 전압을 가지고, 상기 제2 액티브 구간(ACT2) 동안 턴오프 전압을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 턴온 전압은 상기 제3 트랜지스터(T3)를 턴온시키는 전압이고, 상기 턴오프 전압은 상기 제3 트랜지스터(T3)를 턴오프시키는 전압일 수 있다.
상기 액티브 구간(ACT) 동안 상기 데이터 라인(DL)에는 상기 데이터 전압(DS)이 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터 전압(DS)은 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 상응하는 데이터 전압일 수 있다. 또한, 상기 액티브 구간(ACT) 동안 상기 센싱 라인(SSL)에는 상기 초기화 전압(VINT)이 제공될 수 있다.
예를 들어, 상기 제1 액티브 구간(ACT1) 동안 상기 제2 및 제3 트랜지스터들(T2, T3)이 턴온될 수 있다. 이 때, 상기 화소(120)의 상기 스토리지 커패시터(CST)에는 상기 데이터 전압(DS) 및 상기 초기화 전압(VINT)의 차이에 해당하는 전압이 기입될 수 있다. 상기 제1 트랜지스터(T1)의 상기 제어 단자 및 상기 제1 단자 사이의 전압차에 따라, 상기 제1 트랜지스터(T1)는 구동 전류를 생성할 수 있다. 상기 구동 전류의 전류량에 따라 상기 유기 발광 다이오드(OLED)의 발광 휘도가 결정될 수 있다.
예를 들어, 상기 제2 액티브 구간(ACT2) 동안 상기 제2 및 제3 트랜지스터들(T2, T3)이 턴오프될 수 있다. 이 때, 상기 스토리지 커패시터(CST)에 기입된 상기 전압에 의해 상기 제1 트랜지스터(T1)의 상기 제어 단자 및 상기 제1 단자 사이의 전압차가 유지될 수 있다. 따라서, 상기 구동 전류의 상기 전류량이 유지되어, 상기 유기 발광 다이오드(OLED)의 상기 발광 휘도가 유지될 수 있다.
또한, 상기 제1 스캔 신호는 상기 제1 블랭크 구간(BLANK1) 동안 턴온 전압을 가지고, 상기 제2 블랭크 구간(BLANK2) 동안 턴오프 전압을 가질 수 있다. 상기 제2 스캔 신호는 상기 제1 블랭크 구간(BLANK1) 및 상기 제2 블랭크 구간(BLANK2) 동안 턴온 전압을 가질 수 있다.
상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 데이터 라인(DL)에는 상기 블랭크 데이터 전압(BS)이 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 블랭크 데이터 전압(BS)은 상기 화소(120)를 센싱하기 위한 센싱 전압일 수 있다. 또한, 상기 제1 블랭크 구간(BLANK1) 동안 상기 센싱 라인(SSL)에는 상기 초기화 전압(VINT)이 제공될 수 있다. 상기 제2 블랭크 구간(BLANK2) 동안 상기 센싱 라인(SSL)에는 기준 전압(VREF)이 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 블랭크 구간(BLANK2) 동안 상기 센싱 라인(SSL)은 전기적으로 플로팅될 수 있다.
예를 들어, 상기 제1 블랭크 구간(BLANK1) 동안 상기 제2 및 제3 트랜지스터들(T2, T3)이 턴온될 수 있다. 그에 따라, 상기 제1 노드(N1)에 상기 블랭크 데이터 전압이 제공되고, 상기 제2 노드(N2)에 상기 초기화 전압(VINT)이 제공될 수 있다. 이후, 상기 제2 블랭크 구간(BLANK2) 동안 상기 제2 트랜지스터(T2)가 턴오프되고 상기 제3 트랜지스터(T3)가 턴온될 수 있다. 그에 따라, 상기 제2 노드(N2)에 상기 기준 전압(VREF)이 제공될 수 있다. 따라서, 상기 제1 전원(ELVDD), 상기 제1 트랜지스터(T1), 상기 제2 노드(N2), 상기 제3 트랜지스터(T3) 및 상기 센싱 라인(SSL)을 연결하는 경로로 센싱 전류가 흐를 수 있다. 상기 센싱 회로(400)는 상기 제1 트랜지스터(T1)에서 생성된 상기 센싱 전류의 전류값인 상기 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있고, 상기 보상부(600)는 상기 열화 가중치(WP)를 계산할 수 있다.
상기 제어부(500)는 상기 블랭크 구간(BLANK)을 뒤따르는 액티브 구간 동안 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 상기 열화 가중치(WP)가 반영된 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다. 상기 데이터 구동부(200)는 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 상응하는 상기 데이터 전압(DS')을 생성할 수 있다.
예를 들어, 제1 프레임 구간(FRAME1)의 상기 화소 블록(110)의 제1 열화 정도는 상기 제1 프레임 구간(FRAME1)을 뒤따르는 제2 프레임 구간(FRAME2)의 상기 화소 블록(110)의 제2 열화 정도보다 작을 수 있다. 다시 말하면, 상기 제2 프레임 구간(FRAME2)의 상기 화소 블록(110)의 제2 열화 가중치는 상기 제1 프레임 구간(FRAME1)의 상기 화소 블록(110)의 제1 열화 가중치보다 클 수 있다. 상기 제어부(500)가 상기 제1 열화 가중치보다 큰 상기 제2 열화 가중치를 반영함으로써, 상기 화소 블록(110)은 상기 제1 프레임 구간(FRAME1) 및 상기 제2 프레임 구간(FRAME2) 동안 동일한 발광 휘도를 가질 수 있다.
도 5는 도 1의 표시 장치가 기준 전류값을 획득하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 1 및 5를 참조하면, 상기 표시 장치(1000)가 상기 기준 전류값(IR)을 획득하기 위해, 상기 표시 장치(1000)의 상기 제어부(500)에는 상기 기준 입력 영상 데이터가 제공될 수 있고, 상기 제어부(500)는 상기 기준 입력 영상 데이터에 기초하여 기준 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다(S110).
상기 데이터 구동부(200)는 상기 기준 출력 영상 데이터에 기초하여 데이터 전압을 생성할 수 있다(S120).
상기 표시 장치(1000)의 상기 센싱 회로(400)는 상기 화소 블록(110)에 포함된 상기 화소(120)들의 상기 센싱 전류값(IS)들을 측정할 수 있다(S130).
상기 블록 센싱 전류값 계산부(610)는 상기 센싱 전류값(IS)들에 기초하여 상기 화소 블록(110)의 상기 블록 센싱 전류값을 계산할 수 있다(S140). 일 예로, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들의 평균값일 수 있다. 다른 예로, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들 중 최대 센싱 전류값일 수 있다. 또한, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 기준 입력 영상 데이터에 기초하여 계산된 값이므로, 상기 블록 센싱 전류값이 상기 기준 전류값(IR)일 수 있다.
상기 열화 가중치 계산부(620)에는 상기 기준 전류값(IR)이 저장될 수 있다(S150).
예를 들어, 상기 기준 전류값(IR)은 상기 기준 표시 장치를 통해 측정된 후 상기 표시 장치(1000)에 저장될 수 있다. 또는, 상기 기준 전류값(IR)은 상기 표시 장치(1000)가 턴온 될 때마다 측정되어 갱신될 수 있다.
도 6은 도 1의 표시 장치가 화소의 열화를 보상하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 1, 4 및 6을 참조하면, 상기 표시 장치(1000)의 상기 센싱 회로(400)는 상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 화소 블록(110)에 포함된 상기 화소(120)들의 상기 센싱 전류값(IS)들을 측정할 수 있다(S210). 예를 들어, 상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 화소(120)들에는 상기 블랭크 데이터 전압(BS)이 제공될 수 있고, 상기 블랭크 데이터 전압(BS)은 상기 화소(120)를 센싱하기 위한 상기 센싱 전압일 수 있다.
상기 블록 센싱 전류값 계산부(610)는 상기 센싱 전류값(IS)들에 기초하여 상기 화소 블록(110)의 상기 블록 센싱 전류값을 계산할 수 있다(S220). 또한, 상기 열화 가중치 계산부(620)는 상기 블록 센싱 전류값과 상기 기준 전류값(IR)에 기초하여 상기 블록 열화 가중치를 계산할 수 있다(S230).
상기 제어부(500)는 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 상기 열화 가중치(WP)를 반영하여 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다(S240). 상기 데이터 구동부(200)는 상기 블랭크 구간(BLANK)을 뒤따르는 상기 액티브 구간(ACT) 동안 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 상응하는 상기 데이터 전압(DS')을 생성할 수 있다(S250).
상기 제어부(500)는 상기 표시 장치(1000)가 턴오프 되었는지 확인할 수 있다(S260). 상기 표시 장치(1000)가 턴오프되지 않은 경우, 상기 센싱 회로(400)가 상기 액티브 구간(ACT)을 뒤따르는 상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 센싱 전류값(IS)들을 측정할 수 있다(S260: NO).
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 도면이고, 도 8은 도 7의 표시 장치가 기준 전류값을 획득하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이며, 도 9는 도 7의 표시 장치가 화소의 열화를 보상하는 일 예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 7을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치(1100)는 표시 패널(100), 데이터 구동부(200), 스캔 구동부(300), 센싱 회로(400) 및 구동 제어부(예를 들어, 타이밍 컨트롤러)를 포함할 수 있다. 상기 구동 제어부는 제어부(500') 및 보상부(600')를 포함할 수 있다. 다만, 상기 표시 장치(1100)는 상기 제어부(500') 및 상기 보상부(600')를 제외하고는 상술한 상기 표시 장치(1000)와 실질적으로 동일할 수 있다.
상기 제어부(500')는 외부의 프로세서(예를 들어, GPU)로부터 입력 영상 데이터(IDAT) 및 제어 신호(CTRL)를 제공받을 수 있다. 예를 들어, 상기 입력 영상 데이터(IDAT)는 적색 영상 데이터, 녹색 영상 데이터 및 청색 영상 데이터를 포함하는 RGB 데이터일 수 있다. 또한, 상기 제어 신호(CTRL)는 수직 동기 신호, 수평 동기 신호, 입력 데이터 인에이블 신호, 마스터 클록 신호 등을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어부(500')는 상기 보상부(600')로부터 열화 가중치(WP)를 제공받을 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제어부(500')는 상기 입력 영상 데이터(IDAT) 및 열화 가중치(WP)에 기초하여, 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다. 또한, 상기 제어부(500')는 상기 제어 신호(CTRL)에 기초하여 데이터 제어 신호(DCTRL), 게이트 제어 신호(GCTRL) 및 센싱 제어 신호(SCTRL)를 생성할 수 있다.
상기 센싱 회로(400)는 상기 제어부(500')로부터 제공되는 상기 센싱 제어 신호(SCTRL)에 기초하여 상기 화소(120)의 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 회로(400)는 상기 블랭크 구간 동안 상기 화소(120)의 상기 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 전류값(IS)은 상기 화소(120)의 열화 정도를 나타낼 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 전류값(IS)은 상기 화소(120)가 열화 될수록 커질 수 있다.
상기 보상부(600')는 상기 센싱 전류값(IS)과 기설정된 기준 전류값(IR)에 기초하여 상기 열화 가중치(WP)를 계산할 수 있다. 상기 보상부(600')는 상기 열화 가중치(WP)를 상기 제어부(500')에 출력할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 보상부(600')는 상기 화소(120)들 각각의 화소 열화 가중치를 계산할 수 있다. 다시 말하면, 상기 보상부(600')는 상기 화소(120)들마다 상기 화소 열화 가중치를 계산할 수 있다. 또한, 상기 제어부(500')는 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 상기 화소 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다. 이 경우, 상기 표시 장치(1100)는 상기 화소(120)마다 정확한 열화 보상을 수행할 수 있다.
도 7 및 8을 참조하면, 상기 표시 장치(1100)가 상기 기준 전류값(IR)을 획득하기 위해, 상기 표시 장치(1100)의 상기 제어부(500')에는 기준 입력 영상 데이터가 제공될 수 있고, 상기 제어부(500')는 상기 기준 입력 영상 데이터에 기초하여 기준 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다(S310).
상기 데이터 구동부(200)는 상기 기준 출력 영상 데이터에 기초하여 데이터 전압을 생성할 수 있다(S320).
상기 표시 장치(1100)의 상기 센싱 회로(400)는 상기 화소(120)의 상기 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있다(S330).
상기 보상부(600')는 상기 센싱 전류값(IS)에 기초하여 상기 기준 전류값(IR)을 계산할 수 있다(S340). 예를 들어, 상기 센싱 전류값(IS)은 상기 기준 입력 영상 데이터에 기초하여 측정된 값이므로, 상기 센싱 전류값(IS)이 상기 기준 전류값(IR)일 수 있다.
상기 보상부(600')에는 상기 기준 전류값(IR)이 저장될 수 있다(S350).
예를 들어, 상기 기준 전류값(IR)은 상기 기준 표시 장치를 통해 측정된 후 상기 표시 장치(1000)에 저장될 수 있다. 또는, 상기 기준 전류값(IR)은 상기 표시 장치(1000)가 턴온 될 때마다 측정되어 갱신될 수 있다.
도 7 및 9를 참조하면, 상기 표시 장치(1100)의 상기 센싱 회로(400)는 상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 화소(120)의 상기 센싱 전류값(IS)을 측정할 수 있다(S410). 예를 들어, 상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 화소(120)들에는 상기 블랭크 데이터 전압(BS)이 제공될 수 있고, 상기 블랭크 데이터 전압(BS)은 상기 화소(120)를 센싱하기 위한 상기 센싱 전압일 수 있다.
상기 보상부(600')는 상기 센싱 전류값(IS)과 상기 기준 전류값(IR)에 기초하여 상기 화소 열화 가중치를 계산할 수 있다(S420). 예를 들어, 상기 화소 열화 가중치는 상기 화소(120)들 마다 계산될 수 있다.
이후, 상기 제어부(500')는 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 상기 화소 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터(ODAT)를 생성할 수 있다(S430). 상기 데이터 구동부(200)는 상기 블랭크 구간(BLANK)을 뒤따르는 상기 액티브 구간(ACT) 동안 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 상응하는 상기 데이터 전압(DS')을 생성할 수 있다(S440).
상기 제어부(500')는 상기 표시 장치(1100)가 턴오프 되었는지 확인할 수 있다(S450). 상기 표시 장치(1100)가 턴오프되지 않은 경우, 상기 센싱 회로(400)가 상기 액티브 구간(ACT)을 뒤따르는 상기 블랭크 구간(BLANK) 동안 상기 센싱 전류값(IS)들을 측정할 수 있다(S450: NO).
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소마다 센싱 전류를 측정할 수 있다. 또한, 상기 표시 장치는 상기 센싱 전류들을 이용하여, 화소 블록마다 블록 열화 가중치를 계산하거나 화소마다 화소 열화 가중치를 계산함으로써, 화소의 열화에 따른 휘도 저하를 보상할 수 있다. 또한, 상기 표시 장치는 프레임 구간의 블랭크 구간 마다 센싱 전류를 측정함으로써, 화소의 사용 정도에 따라 실시간으로 화소의 열화에 따른 휘도 저하를 보상할 수 있다.
상술한 바에서는, 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 고해상도 스마트폰, 휴대폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션 시스템, 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
1000, 1100: 표시 장치 100: 표시 패널
200: 데이터 구동부 300: 스캔 구동부
400: 센싱 회로 500, 500': 제어부
600, 600': 보상부 610: 블록 센싱 전류값 계산부
620: 열화 가중치 계산부 110: 화소 블록
120: 화소

Claims (28)

  1. 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
    액티브 구간 및 상기 액티브 구간에 뒤따르는 블랭크 구간을 포함하는 프레임 구간의 상기 블랭크 구간 동안 상기 화소들 각각의 센싱 전류값을 측정하는 센싱 회로;
    상기 센싱 전류값 및 기설정된 기준 전류값에 기초하여 열화 가중치를 계산하고, 입력 영상 데이터에 상기 열화 가중치를 반영하여 출력 영상 데이터를 생성하는 구동 제어부를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 구동 제어부는
    상기 센싱 전류값들에 기초하여 상기 화소들이 포함된 화소 블록의 블록 센싱 전류값을 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들의 평균값인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제2 항에 있어서, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들 중 최대 센싱 전류값인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제2 항에 있어서, 상기 구동 제어부는
    상기 블록 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여 상기 화소 블록의 블록 열화 가중치를 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제5 항에 있어서, 상기 구동 제어부는
    상기 입력 영상 데이터에 상기 블록 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 화소 블록은 제1 프레임 구간 및 상기 제1 프레임 구간을 뒤따르는 제2 프레임 구간 동안 동일한 발광 휘도를 갖고,
    상기 제2 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치는 상기 제1 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치보다 큰 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제1 항에 있어서, 상기 열화 가중치는 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값의 비율에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제1 항에 있어서, 상기 화소들 각각은
    제1 노드와 연결되는 제어 단자, 제1 전원과 연결되는 제1 단자 및 제2 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제1 트랜지스터;
    제1 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 데이터 라인과 연결되는 제1 단자 및 상기 제1 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제2 트랜지스터;
    제2 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 센싱 라인과 연결되는 제2 단자를 포함하는 제3 트랜지스터; 및
    상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 제2 전원과 연결되는 제2 단자를 포함하는 유기 발광 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서, 상기 제2 스캔 라인에는 상기 블랭크 구간 동안 상기 제3 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압이 제공되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제9 항에 있어서, 상기 블랭크 구간은 제1 블랭크 구간 및 상기 제1 블랭크 구간을 뒤따르는 제2 블랭크 구간을 포함하고,
    상기 제1 스캔 라인에는 상기 제1 블랭크 구간 동안 상기 제2 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압이 제공되고, 상기 제2 블랭크 구간 동안 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 턴오프 전압이 제공되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제11 항에 있어서, 상기 센싱 라인에는 상기 제1 블랭크 구간 동안 초기화 전압이 제공되고, 상기 제2 블랭크 구간 동안 기준 전압이 제공되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제1 항에 있어서, 상기 구동 제어부는
    상기 화소들 각각의 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여, 상기 화소들 각각의 화소 열화 가중치를 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제13 항에 있어서, 상기 구동 제어부는
    상기 입력 영상 데이터에 상기 화소 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 액티브 구간 및 상기 액티브 구간에 뒤따르는 블랭크 구간을 포함하는 프레임 구간의 상기 블랭크 구간 동안 화소들 각각의 센싱 전류값을 측정하는 단계;
    상기 센싱 전류값 및 기설정된 기준 전류값에 기초하여 열화 가중치를 계산하는 단계;
    입력 영상 데이터에 상기 열화 가중치를 반영하여 출력 영상 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 출력 영상 데이터에 상응하는 데이터 전압을 생성하여 상기 화소들로 출력하는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 센싱 전류값들에 기초하여 상기 화소들이 포함된 화소 블록의 블록 센싱 전류값을 계산하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  17. 제16 항에 있어서, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들의 평균값인 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  18. 제16 항에 있어서, 상기 블록 센싱 전류값은 상기 센싱 전류값들 중 최대 센싱 전류값인 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  19. 제16 항에 있어서, 상기 열화 가중치를 계산하는 단계는
    상기 블록 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여 상기 화소 블록의 블록 열화 가중치를 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  20. 제19 항에 있어서, 상기 출력 영상 데이터를 생성하는 단계는
    상기 입력 영상 데이터에 상기 블록 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  21. 제20 항에 있어서, 상기 화소 블록은 제1 프레임 구간 및 상기 제1 프레임 구간을 뒤따르는 제2 프레임 구간 동안 동일한 발광 휘도를 갖고,
    상기 제2 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치는 상기 제1 프레임 구간의 상기 블록 열화 가중치보다 큰 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  22. 제15 항에 있어서, 상기 열화 가중치는 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값의 비율에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  23. 제15 항에 있어서, 상기 화소들 각각은
    제1 노드와 연결되는 제어 단자, 제1 전원과 연결되는 제1 단자 및 제2 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제1 트랜지스터;
    제1 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 데이터 라인과 연결되는 제1 단자 및 상기 제1 노드와 연결되는 제2 단자를 포함하는 제2 트랜지스터;
    제2 스캔 라인과 연결되는 제어 단자, 상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 센싱 라인과 연결되는 제2 단자를 포함하는 제3 트랜지스터; 및
    상기 제2 노드와 연결되는 제1 단자 및 제2 전원과 연결되는 제2 단자를 포함하는 유기 발광 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  24. 제23 항에 있어서, 상기 블랭크 구간 동안 상기 제2 스캔 라인에 상기 제3 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압을 인가하여 상기 제3 트랜지스터를 턴온시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  25. 제23 항에 있어서, 상기 블랭크 구간은 제1 블랭크 구간 및 상기 제1 블랭크 구간을 뒤따르는 제2 블랭크 구간을 포함하고,
    상기 제1 블랭크 구간 동안 상기 제1 스캔 라인에 상기 제2 트랜지스터를 턴온시키는 턴온 전압을 인가하여 상기 제2 트랜지스터를 턴온시키는 단계; 및
    상기 제2 블랭크 구간 동안 상기 제1 스캔 라인에 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 턴오프 전압을 인가하여 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  26. 제25 항에 있어서, 상기 제1 블랭크 구간 동안 상기 센싱 라인에 초기화 전압을 인가하는 단계; 및
    상기 제2 블랭크 구간 동안 상기 센싱 라인에 기준 전압을 인가하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  27. 제15 항에 있어서, 상기 열화 가중치를 계산하는 단계는
    상기 화소들 각각의 상기 센싱 전류값과 상기 기준 전류값에 기초하여, 상기 화소들 각각의 상기 화소 열화 가중치를 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  28. 제27 항에 있어서, 상기 입력 영상 데이터에 상기 화소 열화 가중치를 반영하여 상기 출력 영상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
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