KR20210093915A - 반도체 장치의 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
복수의 범프 (22) 가 형성되어 있는 범프 부착 부재 (2) 의 범프 형성면 (2A) 에 수지층 (13) 을 형성하는 공정과,수지층 (13) 에 레이저 (LB) 를 조사하여, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 을 제거하는 공정을 구비하는 반도체 장치의 제조 방법.
Description
본 발명은 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것이다.
최근, 전자 기기의 소형화, 및 박형화에 수반하여, 반도체 패키지의 박형화, 및 소형화에 대한 요구도 높아지고 있다. 그 때문에, 반도체 소자의 실장 방식으로서, 금속 와이어를 이용하여 접속하는 종래의 와이어 본딩 방식 대신에, 칩의 전극 상에 범프라고 불리는 돌기 전극을 형성하고, 기판의 전극과 칩의 전극을 범프를 개재하여 직접 접속하는 플립 칩 접속 방식의 실장 방법이 제안되어 있다.
이러한 플립 칩 접속 방식의 실장 방법에서는, 다양한 목적에 따라, 범프 부착 웨이퍼 및 범프 부착 칩 등의 범프를 덮도록 수지층이 형성된다. 이러한 수지층으로서는, 예를 들면, 범프 부착 칩과 기판을 접착하기 위한 접착제층, 범프 부착 칩과 기판의 접속을 보강하기 위한 언더필층, 범프 부착 웨이퍼 또는 범프 부착 칩을 보호하기 위한 보호층 등을 들 수 있다.
그러나, 수지층이 범프를 덮고 있는 경우에는, 범프 상의 수지층을 기계적으로 밀어내, 범프와 기판의 전극의 전기적인 접속을 확보해야 한다. 그 때문에, 범프 부착 칩과 기판의 접속 신뢰성의 점에서 문제가 있었다. 또한, 리플로우 처리에 의해, 범프 부착 칩과 기판을 접속하는 경우에는, 범프에서 유래되는 용융 땜납이 수지층에 덮여 있기 때문에, 셀프 얼라인먼트 효과 (칩 및 기판의 전극끼리의 위치 맞춤 정밀도가 나빠, 어긋남을 발생시키고 있어도 리플로우 시에 정상적인 위치로 자동적으로 보정되는 현상) 가 얻어지지 않는다는 문제가 있었다.
상기와 같은 문제를 해결하기 위해서, 예를 들면, 복수의 범프가 형성되어 있는 범프 부착 부재의 범프 형성면에 수지층을 형성하는 공정과, 상기 수지층에 플라즈마 처리를 실시하여, 상기 범프의 표면을 덮고 있는 상기 수지층을 제거하는 공정을 구비한 방법이 제안되어 있다 (특허문헌 1 참조).
또한, 상기와 같은 문제를 해결하기 위해, 예를 들면, 복수의 범프가 형성되어 있는 범프 부착 부재의 범프 형성면에 수지층을 형성하는 공정과, 상기 범프의 표면을 덮고 있는 상기 수지층을 연삭에 의해 제거하는 공정을 구비한 방법도 제안되어 있다 (특허문헌 2 참조).
특허문헌 1 에 기재된 방법에서는, 제거하고자 하는 수지층의 지점뿐만 아니라, 조사면 내 전역에 대하여 플라즈마가 조사된다. 즉, 범프 두정부를 덮는 수지층뿐만 아니라, 본래 보호하고자 하는 부분을 덮는 수지층에도 플라즈마가 조사된다. 그 때문에, 본래 보호하고자 하는 부분에도 플라즈마 조사의 영향이 미쳐, 열화 및 손상이 생길 우려가 있다.
또한, 특허문헌 2 에 기재된 방법은, 수지층을 연삭에 의해 제거하는 방법이기 때문에, 다이서, 그라인더, 또는 서피스 플레이너가 범프를 덮는 수지층에 접촉하여, 범프에 대하여 기계적 부하가 가해진다. 그 때문에, 범프의 위치가 어긋나거나, 범프가 탈락하거나 하여, 접속 신뢰성이 저하될 우려가 있다.
그래서, 본 발명의 목적은, 범프 부착 부재의 본래 보호하고자 하는 부분의 열화, 및 손상을 방지하고, 접속 신뢰성이 우수한 반도체 장치를 효율적으로 제조할 수 있는 반도체 장치의 제조 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 양태에 관한 반도체 장치의 제조 방법은, 복수의 범프가 형성되어 있는 범프 부착 부재의 범프 형성면에 수지층을 형성하는 공정과, 상기 수지층에 레이저를 조사하여, 상기 범프의 표면을 덮고 있는 상기 수지층을 제거하는 공정을 구비한다.
이 구성에 의하면, 범프 부착 부재의 범프 형성면에 다양한 목적에 따라 수지층을 형성할 수 있다. 이 수지층으로서는, 예를 들면, 범프 부착 칩과 기판을 접착하기 위한 접착제층, 범프 부착 칩과 기판의 접속을 보강하기 위한 언더필층, 범프 부착 웨이퍼 또는 범프 부착 칩을 보호하기 위한 보호층 등을 들 수 있다.
그리고, 레이저 조사에 의해, 범프의 표면을 덮고 있는 수지층을 간편하고 효율적으로 제거할 수 있다. 레이저 조사법은, 조사 위치를 제어하기 쉽고, 수지층 중, 제거가 필요한 지점에 레이저를 선택적으로 조사할 수 있기 때문에, 범프 부착 부재의 본래 보호하고자 하는 부분의 열화, 및 손상을 방지할 수 있다.
또, 레이저 조사법에 의하면, 연삭법과 같이 다이서, 그라인더, 또는 서피스 플레이너가 범프를 덮는 수지층에 접촉하지 않기 때문에, 범프의 위치 어긋남, 및 탈락을 방지할 수 있다.
그리고, 범프의 표면을 덮고 있는 수지층이 제거되고, 표면이 노출된 범프와, 기판의 전극을 전기적으로 접속함으로써, 접속 신뢰성이 우수한 반도체 장치를 효율적으로 제조할 수 있다.
본 발명의 일 양태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 상기 범프 형성면의 반대측의 면에 다이싱 테이프를 첩합하는 공정을 더 구비하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 범프 부착 부재가 다이싱 테이프에 접착되어 있기 때문에, 레이저 조사 시에 범프의 위치 어긋남을 억제할 수 있다. 그 때문에, 범프를 덮는 수지층에 대한 레이저의 초점의 위치 어긋남이 억제되어, 보다 확실하게 수지층을 제거할 수 있다.
본 발명의 일 양태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 상기 수지층이 제거되고, 표면이 노출된 상기 범프와, 기판의 전극을 전기적으로 접속하는 공정을 더 구비하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 범프의 표면을 덮고 있는 수지층이 제거되고, 표면이 노출된 범프와, 기판의 전극을 전기적으로 접속함으로써, 접속 신뢰성이 우수한 반도체 장치가 얻어진다.
본 발명의 일 양태에 관련된 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 상기 수지층을 제거하는 공정은, 상기 레이저에 의해 상기 범프의 두정부를 덮는 상기 수지층을 제거하는 공정인 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 범프의 두정부의 수지층을 제거하므로, 범프 두정부가 노출되어, 기판의 전극과 범프의 두정부의 전기적 접속의 접속 신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 양태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 상기 레이저는 Yb 레이저, YVO 레이저, YAG 레이저 또는 CO2 레이저인 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, Yb 레이저, YVO 레이저, YAG 레이저, 또는 CO2 레이저를 수지층에 조사하므로, 수지층을 효율적으로 제거할 수 있다.
본 발명의 일 양태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 상기 레이저의 조사 조건으로서, 출력이 1W 이상 2W 이하이고, 주파수가 10kHz 이상 100kHz 이하이고, 주사 속도가 50mm/s 이상 4000mm/s 이하인 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 레이저의 조사 조건으로서의 출력, 주파수 및 주사 속도가 소정의 범위 내이기 때문에, 수지층을 효율적으로 제거할 수 있다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시형태에 관한 수지층을 형성하기 위한 접착 시트를 나타내는 개략 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제 1 실시형태에 관한 범프 부착 부재 (범프 부착 웨이퍼) 를 나타내는 개략 단면도이다.
도 3a는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 3b는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 3c는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 4a는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 4b는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 4c는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5a는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5b는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5c는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5d는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 2는 본 발명의 제 1 실시형태에 관한 범프 부착 부재 (범프 부착 웨이퍼) 를 나타내는 개략 단면도이다.
도 3a는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 3b는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 3c는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 4a는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 4b는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 4c는 본 발명의 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5a는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5b는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5c는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 5d는 본 발명의 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
[제 1 실시형태]
이하, 본 발명에 대해 실시형태를 예로 들어, 도면에 기초하여 설명한다. 본 발명은 실시 형태의 내용에 한정되지 않는다. 또한, 도면에 있어서는, 설명을 용이하게 하기 위해 확대 또는 축소를 하여 도시한 부분이 있다.
우선, 본 실시형태에 이용하는 접착 시트, 및 범프 부착 웨이퍼에 대해서 설명한다.
(접착 시트)
도 1 에는, 본 실시형태에 사용하는 접착 시트 (1) 가 기재되어 있다.
본 실시형태에 사용하는 접착 시트 (1) 는, 지지체층 (11) 과, 점착제층 (12) 과, 접착제를 함유하는 수지층 (13) 을 구비하고 있다. 또한, 수지층 (13) 의 표면은, 웨이퍼에 첩착될 때까지의 동안, 박리 필름 등에 의해 보호되어 있어도 된다.
지지체층 (11) 으로서는, 접착 시트의 지지체로서 공지된 지지체를 사용할 수 있고, 예를 들어 플라스틱 필름 등을 사용할 수 있다. 이러한 지지체층 (11) 은 피착체를 가공하고 있는 동안에 피착체를 지지한다.
플라스틱 필름으로서는, 예를 들어 폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리부텐 필름, 폴리부타디엔 필름, 폴리메틸펜텐 필름, 폴리염화비닐 필름, 염화비닐 공중합체 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리에틸렌나프탈레이트 필름, 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리우레탄 필름, 에틸렌아세트산비닐 공중합체 필름, 아이오노머 수지 필름, 에틸렌·(메트)아크릴산에스테르 공중합체 필름, 에틸렌·(메트)아크릴산에스테르 공중합체 필름, 폴리스티렌 필름, 폴리카보네이트 필름, 폴리이미드 필름 및 불소 수지 필름 등을 들 수 있다. 이들 필름은, 단층 필름이어도 되고, 적층 필름이어도 된다. 또한, 적층 필름의 경우에는, 1 종의 필름을 적층해도 되고, 2 종 이상의 필름을 적층해도 된다.
점착제층 (12) 은, 접착 시트의 점착제로서 공지된 점착제를 이용하여 형성할 수 있다. 이와 같은 점착제층 (12) 에 의해, 피착체를 가공하고 있는 동안에는 지지체층 (11) 과 수지층 (13) 사이를 강고하게 고정시키고, 그 후, 수지층 (13) 을 피착체에 고착 잔존시켜 지지체층 (11) 으로부터 박리하는 것이 용이해진다. 또한, 점착제층 (12) 에, 자외선 등의 에너지선을 조사함으로써 경화시켜, 수지층 (13) 과의 박리가 용이해지도록 해도 된다.
점착제로서는, 예를 들어 아크릴계 점착제, 고무계 점착제, 실리콘계 점착제 및 우레탄계 점착제 등을 들 수 있다.
수지층 (13) 은, 접착 시트의 접착제로서 공지된 접착제를 이용하여 형성할 수 있다. 이러한 접착제를 함유하는 수지층 (13) 에 의해, 후술하는 범프 부착 칩 (2a) 과 기판 (4) 을 접착할 수 있다.
접착제로서는, 예를 들어 에폭시 수지 등의 열경화성 수지와, 열경화제를 함유하는 접착제를 들 수 있다. 또한, 접착제는 경화물의 열팽창 계수를 조정한다는 관점에서, 무기 충전재를 더 함유하고 있어도 된다. 무기 충전재로서는, 실리카, 알루미나, 탈크, 탄산칼슘, 티타늄 화이트, 벵갈라, 탄화규소 및 질화붕소 등을 들 수 있다. 이들 무기 충전재는, 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.
(범프 부착 웨이퍼)
도 2 에는, 본 실시형태에 이용하는 범프 부착 웨이퍼 (2) (범프 부착 부재) 가 기재되어 있다.
본 실시형태에 이용하는 범프 부착 웨이퍼 (2) 는, 반도체 웨이퍼 (21) 와, 범프 (22) 를 구비하고 있다. 또한, 범프 (22) 는 반도체 웨이퍼 (21) 의 회로가 있는 측에 형성된다. 본 실시형태의 범프 부착 웨이퍼 (2) 는, 복수의 범프 (22) 를 구비한다.
범프 부착 웨이퍼 (2) 는, 복수의 범프 (22) 가 형성되어 있는 범프 형성면 (2A) 과, 범프 (22) 가 형성되어 있지 않은 이면 (2B) 을 갖는다.
반도체 웨이퍼 (21) 로서는, 공지된 반도체 웨이퍼를 이용할 수 있고, 예를 들면, 실리콘 웨이퍼 등을 이용할 수 있다.
반도체 웨이퍼 (21) 의 두께는 통상 10μm 이상 1000μm 이하이고, 바람직하게는 50μm 이상 750μm 이하이다.
범프 (22) 의 재료로서는, 공지된 도전성 재료를 이용할 수 있다. 범프 (22) 의 재료로서는, 예를 들어 구리, 은, 금, 알루미늄 및 땜납 합금으로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 하나의 재료를 들 수 있다. 땜납 합금으로서는, 공지된 땜납 재료를 사용할 수 있고, 예를 들어 주석, 은 및 구리를 함유하는 납 프리 땜납을 사용할 수 있다.
범프 (22) 의 높이는 통상 5μm 이상 1000μm 이하이고, 바람직하게는 50μm 이상 500μm 이하이다.
범프 (22) 의 측방으로부터 본 단면 형상은 특별히 한정되지 않지만, 반원형, 반타원형, 원형, 직사각형 또는 사다리꼴 등이어도 된다.
범프 (22) 의 종류로서는, 특별히 한정되지 않지만, 볼 범프, 머쉬룸 범프, 스터드 범프, 콘 범프, 실린더 범프, 도트 범프, 큐브 범프, 및 필러 범프 등을 들 수 있다. 이것들은 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.
(반도체 장치의 제조 방법)
다음으로, 본 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 대하여 설명한다.
도 3a ~ 도 3c, 및 도 4a ~ 도 4c는, 제 1 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 설명도이다.
본 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 우선, 복수의 범프 (22) 가 형성되어 있는 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 범프 형성면 (2A) 에 수지층 (13) 을 형성한다. 구체적으로는, 도 3a, 도 3b, 및 도 3c에 나타내는 바와 같이, 접착 시트 (1) 의 수지층 (13) 을 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 범프 형성면 (2A) 에 첩합하는 공정 (접착 시트 첩착 공정) 과, 다이싱 테이프 (3) 를 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 이면 (2B) 에 첩합하는 공정 (다이싱 테이프 첩착 공정) 과, 접착 시트 (1) 의 지지체층 (11), 및 점착제층 (12) 을, 수지층 (13) 으로부터 박리하는 공정 (지지체 박리 공정) 을 구비하는 방법에 의해, 복수의 범프 (22) 가 형성되어 있는 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 범프 형성면 (2A) 에 수지층 (13) 을 형성한다.
본 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 다음으로, 도 4a에 나타내는 바와 같이, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 에 레이저를 조사하여, 수지층 (13) 을 제거한다 (수지 제거 공정). 또한, 본 실시 형태에 있어서는, 수지층 (13) 과 함께 범프 (22) 의 일부를 제거하고 있지만, 수지층 (13) 만을 제거해도 된다.
그리고, 도 4b 및 도 4c에 나타내는 바와 같이, 다이싱 블레이드에 의해 범프 부착 웨이퍼 (2) 를 다이싱하는 공정 (다이싱 공정) 과, 다이싱에 의해 개편화한 범프 부착 칩 (2a) 을 픽업하여, 피착체로서의 기판 (4) 에 접착 고정하는 공정 (본딩 공정) 을 구비하는 방법에 의해, 수지층 (13) 이 제거되어, 표면이 노출된 범프 (22) 와, 기판 (4) 의 전극 (42) 을 전기적으로 접속한다.
이하, 접착 시트 첩착 공정, 다이싱 테이프 첩착 공정, 지지체 박리 공정, 수지 제거 공정, 다이싱 공정 및 본딩 공정에 대해서, 보다 상세하게 설명한다.
(접착 시트 첩착 공정)
접착 시트 첩착 공정에 있어서는, 도 3a에 나타내는 바와 같이, 접착 시트 (1) 의 수지층 (13) 을 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 범프 (22) 가 형성되어 있는 면 (범프 형성면 (2A)) 에 첩합한다. 접착 시트 (1) 의 접착 후, 범프 (22) 는 수지층 (13) 에 의해 덮인다.
여기서, 접착 방법으로서는 공지된 방법을 채용할 수 있고, 특별히 한정되지 않지만, 압착에 의한 방법이 바람직하다. 압착은, 통상, 압착 롤 등에 의해 접착 시트 (1) 를 가압하면서 행해진다. 압착의 조건은 특별히 한정되지 않지만, 압착 온도는 40℃ 이상 120℃ 이하가 바람직하다. 롤 압력은 0.1MPa 이상 20MPa 이하가 바람직하다. 압착 속도는 1mm/sec 이상 20mm/sec 이하가 바람직하다.
또, 접착 시트 (1) 의 수지층 (13) 의 두께는, 범프 (22) 의 높이 치수보다 작게 하는 것이 바람직하고, 범프 (22) 의 높이 치수의 0.8 배 이하인 것이 보다 바람직하고, 범프 (22) 의 높이 치수의 0.1 배 이상 0.7 배 이하인 것이 특히 바람직하다. 수지층 (13) 의 두께가 상기 상한 이하이면, 범프 (22) 의 표면을 덮는 수지층 (13) 을 보다 얇게 할 수 있고, 후술하는 수지 제거 공정에서 용이하게 제거할 수 있다.
(다이싱 테이프 첩착 공정)
다이싱 테이프 첩착 공정에 있어서는, 도 3b에 나타내는 바와 같이, 다이싱 테이프 (3) 를 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 범프 (22) 가 형성되어 있지 않은 면 (이면 (2B)) 에 첩합한다.
여기서, 접착 방법으로서는 공지된 방법을 채용할 수 있고, 특별히 한정되지 않지만, 압착에 의한 방법이 바람직하다. 압착은, 통상, 압착 롤 등에 의해 다이싱 테이프 (3) 를 가압하면서 행해진다. 압착의 조건은, 특별히 한정되지 않고, 적절히 설정할 수 있다. 또한, 다이싱 테이프 (3) 에 대해서도, 공지된 다이싱 테이프를 사용할 수 있다.
(지지체 박리 공정)
지지체 박리 공정에 있어서는, 도 3c에 나타내는 바와 같이, 접착 시트 (1) 의 지지체층 (11), 및 점착제층 (12) 을, 수지층 (13) 으로부터 박리한다. 이 지지체 박리 공정에 의해, 범프 형성면 (2A) 에 수지층 (13) 이 형성된 범프 부착 웨이퍼 (2) 를 얻을 수 있다. 또한, 수지층 (13) 은 범프 (22) 의 형상에 추종하도록 형성되는 것이 바람직하다. 이와 같이 하면, 후술하는 수지 제거 공정에서 제거하는 수지층 (13) 을 적게 할 수 있어, 작업 효율을 향상시킬 수 있다.
점착제층 (12) 이 자외선 경화성을 갖는 경우에는, 필요에 따라서, 지지체층 (11) 측으로부터 자외선을 조사한다. 이에 의해, 점착제층 (12) 이 경화되고, 점착제층 (12) 과 수지층 (13) 의 계면의 접착력이 저하되어, 점착제층 (12) 을 수지층 (13) 으로부터 박리하기 쉬워진다.
(수지 제거 공정)
수지 제거 공정에 있어서는, 도 4a에 나타내는 바와 같이, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 을 향하여 레이저 (LB) 를 조사하여, 수지층 (13) 을 제거한다.
수지층 (13) 은 그 목적에 따라 제거할 수 있다. 예를 들면, 표면이 노출된 범프 (22) 와, 기판 (4) 의 전극 (42) 과의 전기적인 접속이 목적이면, 전기적인 접속을 할 수 있을 정도로 수지층 (13) 을 제거하면 된다. 구체적으로는, 접속 신뢰성과 수지층 (13) 기능의 확보의 밸런스 관점에서, 수지층 (13) 의 제거량을 조정할 수 있다.
따라서, 레이저 (LB) 는, 수지층 (13) 의 전체에 조사하지 않아도 된다. 전술한 바와 같이, 범프 (22) 와 기판 (4) 의 전극 (42) 과의 전기적인 접속이 목적이면, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 의 일부 (예를 들어, 범프 (22) 의 선단 부분 (두정부)) 에 레이저 (LB) 를 선택적으로 조사하여, 두정부를 덮는 수지층 (13) 을 제거하면 된다. 이와 같이, 범프 (22) 의 두정부를 덮는 수지층 (13) 이 레이저 조사에 의해 제거되면, 범프 (22) 의 표면이 노출된다.
또한, 수지 제거 공정에서는, 제거하고자 하는 수지층 (13) 의 영역에 레이저 (LB) 를 선택적으로 조사할 수 있어, 범프 부착 부재의 본래 보호하고자 하는 부분에 레이저 (LB) 를 조사하지 않아도 되기 때문에, 범프 부착 부재의 본래 보호하고자 하는 부분의 열화 및 손상을 방지할 수 있다. 범프 부착 부재의 본래 보호하고자 하는 부분으로서는, 예를 들면, 범프 (22) 의 근본 부분, 범프 형성면 (2A), 및 반도체 웨이퍼 (21) 의 이면 (2B) 을 들 수 있다.
또, 연삭법에 의해 수지층 (13) 을 제거하는 경우에는, 다이서, 그라인더, 또는 서피스 플래너 등이 범프 (22) 를 덮는 수지층 (13) 에 접촉하기 때문에, 범프 (22) 에 기계적 부하가 가해지지만, 본 실시형태의 수지 제거 공정에서는, 그러한 기계적 부하를 범프 (22) 에 가하지 않고, 수지층 (13) 을 제거할 수 있다.
수지 제거 공정에 있어서는, 도 4a에 나타내는 바와 같이, 레이저 조사 장치 (50) 를 범프 (22) 와 대향하도록 배치한다. 범프 (22) 를 덮는 수지층 (13) 의 제거하고자 하는 부분에 레이저 (LB) 를 주사시키면서 조사한다. 하나의 범프 (22) 에 대해서 수지층 (13) 의 제거가 종료되면, 레이저 조사 장치 (50) 를 이동시켜 다른 범프 (22) 에 대해서도 동일하게 수지층 (13) 을 제거한다. 이와 같이 하여, 범프 (22) 마다 수지층 (13) 의 제거를 반복함으로써, 범프 부착 웨이퍼 (2) 가 구비하는 복수의 범프 (22) 를 덮는 수지층 (13) 의 일부 (예를 들면, 범프 (22) 의 두정부를 덮는 수지층 (13)) 를 선택적으로 제거할 수 있다.
본 실시 형태에서는, 수지 제거 공정에 있어서, 범프 (22) 의 두정부를 덮는 수지층 (13) 뿐만 아니라, 노출시킨 두정부에도 레이저 (LB) 를 조사하여, 도 4a에 나타낸 바와 같이 범프 (22) 의 선단 부분을 제거한다. 이와 같이, 범프 (22) 의 일부분 (예를 들면, 선단 부분) 을 레이저 (LB) 에 의해 제거함으로써, 복수의 범프 (22) 의 높이를 임의의 높이로 조정할 수 있다. 또한, 복수의 범프 (22) 의 높이를 균일한 높이로 맞출 수 있다. 또한, 범프 (22) 의 일부가 연삭되기 때문에, 범프 (22) 의 표면을 확실하게 노출시킬 수 있고, 또한, 수지층 (13) 으로부터 노출되는 범프 (22) 의 표면적을 크게 할 수 있다.
수지 제거 공정에 있어서는, 레이저 조사 장치 (50) 를 사용하여 레이저 (LB) 를 조사한다.
레이저 조사 장치 (50) 는, 수지층 (13) 을 제거할 수 있는 레이저를 조사할 수 있으면, 특별히 한정되지 않는다. 또한, 수지층 (13) 뿐만 아니라, 범프 (22) 의 일부분도 제거하는 경우에는, 양자를 제거 가능한 레이저를 조사하는 레이저 조사 장치이면, 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 레이저 조사 장치 (50) 로서, 레이저 마킹용의 레이저 조사 장치를 이용할 수도 있다. 레이저 (LB) 는, 예를 들어 Yb 레이저, YVO 레이저, YAG 레이저 또는 CO2 레이저인 것이 바람직하다. 레이저의 발진 형식은, 본 명세서에 기재된 형식에 한정되지 않는다.
레이저 (LB) 의 조사 조건으로서는, 수지층 (13) (또한 필요에 따라서 범프 (22)) 을 제거할 수 있는 조건이면 특별히 한정되지 않는다. 레이저의 출력은, 예를 들면, 1W 이상 2W 이하인 것이 바람직하다. 레이저의 주파수는, 예를 들면, 10kHz 이상 100kHz 이하인 것이 바람직하다. 레이저의 주사 속도는, 예를 들면 50mm/s 이상 4000mm/s 이하인 것이 바람직하다.
또한, 수지 제거 공정에서는, 레이저 조사면이 평활해지도록 수지층 (13) 을 제거하는 것이 아니라, 레이저 조사면이 요철을 갖도록 수지층 (13) 을 제거하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 수지 제거 공정에서는, 도 4a에 나타내는 바와 같이, 범프 (22) 및 수지층 (13) 으로 이루어지는 평면에 요철이 남는 것이 바람직하다. 이와 같이 요철이 남아 있으면, 후술하는 본딩 공정에 있어서, 범프 부착 칩 (2a) 을 기판 (4) 의 전극 (42) 상에 접속할 때에는, 그 요철의 오목부에 의해 범프 부착 칩 (2a) 과 기판 (4) 의 전극 (42) 사이에 간극이 형성된다. 이 간극에 범프 (22) 나 수지층 (13) 이 이동할 여유가 있기 때문에, 범프 (22) 를 압궤하면서 접속할 수 있다. 그 때문에, 본 실시 형태에 있어서는, 범프 (22) 및 수지층 (13) 으로 이루어지는 평면이 평활한 범프 부착 칩 (2a) 을 본딩하는 경우와 비교하여, 접속 신뢰성을 높일 수 있다.
(다이싱 공정)
다이싱 공정에서는, 도 4b에 나타내는 바와 같이, 다이싱 블레이드에 의해 범프 부착 웨이퍼 (2) 를 다이싱한다. 이와 같이 하여, 범프 부착 웨이퍼 (2) 를 범프 부착 칩 (2a) 으로 개편화할 수 있다.
다이싱 장치는, 특별히 한정되지 않고, 공지된 다이싱 장치를 사용할 수 있다. 또한, 다이싱의 조건에 대해서도, 특별히 한정되지 않는다. 또한, 다이싱 블레이드를 사용한 다이싱법 대신에, 레이저 다이싱법 및 스텔스 다이싱법 등을 사용해도 된다.
(본딩 공정)
본딩 공정에서는, 도 4c에 나타내는 바와 같이, 다이싱에 의해 개편화한 범프 부착 칩 (2a) 을 픽업하고, 기재 (41) 와 전극 (42) 을 구비하는 기판 (4) 에 접착 고정한다. 범프 부착 칩 (2a) 의 범프 (22) 는, 수지층 (13) 이 제거되고, 표면이 노출되어 있기 때문에, 범프 (22) 와, 기판 (4) 의 전극 (42) 을 전기적으로 접속할 수 있다.
기판 (4) 으로서는, 특별히 한정되지 않지만, 리드 프레임, 배선 기판, 및, 표면에 회로가 형성된 실리콘 웨이퍼, 및 실리콘 칩 등을 이용할 수 있다. 기재 (41) 의 재질로서는, 특별히 한정되지 않지만, 세라믹 및 플라스틱 등을 들 수 있다. 또한, 플라스틱으로서는, 에폭시, 비스말레이미드트리아진, 및 폴리이미드 등을 들 수 있다.
본딩 공정에 있어서는, 필요에 따라, 가열 처리를 실시하여, 수지층 (13) 의 접착제를 경화시켜도 된다.
가열 처리의 조건은, 접착제의 종류 등에 따라, 적절히 설정할 수 있다.
본딩 공정에서는, 필요에 따라서, 리플로우 처리를 실시하여, 범프 부착 칩 (2a) 의 범프 (22) 를 용융시켜, 범프 부착 칩 (2a) 과 기판 (4) 을 땜납 접합시켜도 된다.
리플로우 처리의 조건은, 땜납의 종류 등에 따라, 적절히 설정할 수 있다.
이상과 같이 하여, 반도체 장치 (100) 를 제조할 수 있다.
(제 1 실시형태의 작용 효과)
본 실시 형태에 따르면, 다음과 같은 작용 효과를 발휘할 수 있다.
(1) 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 을 레이저 조사에 의해, 간편하고 효율적으로 제거할 수 있다. 또한, 범프 (22) 의 측방으로부터 본 단면 형상이 반원형, 반타원형, 원형, 직사각형 또는 사다리꼴인 경우에도, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 을 제거할 수 있다.
(2) 레이저 조사법에 의하면, 레이저 (LB) 의 조사 위치를 제어하기 쉽고, 수지층 (13) 중, 제거가 필요한 지점에 레이저 (LB) 를 선택적으로 조사할 수 있기 때문에, 범프 부착 웨이퍼 (2) 의 본래 보호하고자 하는 부분의 열화 및 손상을 방지할 수 있다.
(3) 레이저 조사법에 의하면, 연삭법과 같이 다이서, 그라인더, 또는 서피스 플레이너가 범프 (22) 를 덮는 수지층 (13) 에 접촉하지 않기 때문에, 범프 (22) 의 위치 어긋남, 및 범프 (22) 의 탈락을 방지할 수 있다.
(4) 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 이 제거되고, 표면이 노출된 범프 (22) 와, 기판 (4) 의 전극 (42) 을 전기적으로 접속함으로써, 접속 신뢰성이 우수한 반도체 장치 (100) 가 얻어진다.
(5) 또한, 범프 (22) 의 두정부를 덮는 수지층 (13) 뿐만 아니라, 노출시킨 두정부에도 레이저 (LB) 를 조사하여 범프 (22) 의 선단 부분을 제거함으로써, 범프 (22) 의 높이를 임의의 균일한 높이로 맞출 수도 있다. 범프 (22) 의 높이를 임의의 균일한 높이로 맞추면, 범프 (22) 의 높이나 그 편차에 의해 발생할 수 있는 접속 불량도 방지할 수 있다. 이와 같이 하여, 접속 신뢰성이 우수한 반도체 장치가 얻어진다.
(6) 수지 제거 공정에 있어서는, 범프 부착 웨이퍼 (2) 가 다이싱 테이프 (3) 에 접착된 상태에서 레이저 (LB) 가 범프 (22) 에 조사되기 때문에, 레이저 (LB) 의 조사 시에 범프 (22) 의 위치가 어긋나는 것을 억제할 수 있다. 그 결과, 범프 (22) 를 덮는 수지층 (13) 에 대한 레이저 (LB) 의 초점의 위치 어긋남이 억제되어, 보다 확실하게 수지층 (13) 을 제거할 수 있다.
(7) 범프 부착 칩 (2a) 의 범프 형성면 (2A) 에, 범프 부착 칩 (2a) 과 기판 (4) 을 접착하기 위한 접착제층 (수지층 (13)) 을 형성할 수 있다.
(8) 범프 부착 웨이퍼 (2) 에 수지층 (13) 을 형성하고, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 을 제거한 후에, 범프 부착 칩 (2a) 으로 개편화하고 있기 때문에, 복수의 범프 부착 칩 (2a) 에 통합하여 수지층 (13) 을 형성할 수 있다.
[제 2 실시형태]
다음으로, 본 발명의 제 2 실시형태를 도면에 기초하여 설명한다.
또한, 본 실시형태의 접착 시트 (1), 및 기판 (4) 은, 상기 제 1 실시형태에 있어서의 접착 시트 (1), 및 기판 (4) 과 각각 실질적으로 동일하기 때문에, 그 상세한 설명은 생략 또는 간략화한다.
도 5a, 도 5b, 도 5c 및 도 5d는, 제 2 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 설명도이다.
상기 제 1 실시 형태에서는, 범프 부착 웨이퍼 (2) 에 수지층 (13) 을 형성한 후에, 레이저 조사하여 수지층 (13) 을 제거하고, 그 후, 다이싱에 의해 범프 부착 칩 (2a) 으로 개편화하였다. 이에 비해, 제 2 실시 형태에서는, 미리 개편화된 범프 부착 칩 (2a) 에 수지층 (13) 을 형성한 후에, 레이저 (LB) 를 수지층 (13) 에 조사한다.
본 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 우선, 복수의 범프 (22) 가 형성되어 있는 범프 부착 칩 (2a) 의 범프 형성면 (2A) 에 수지층 (13) 을 형성한다. 구체적으로는, 도 5a, 및 도 5b에 나타내는 바와 같이, 접착 시트 (1) 의 수지층 (13) 을 범프 부착 칩 (2a) 의 범프 형성면 (2A) 에 첩합하는 공정 (접착 시트 첩착 공정) 과, 접착 시트 (1) 의 지지체층 (11), 및 점착제층 (12) 을, 수지층 (13) 으로부터 박리하는 공정 (지지체 박리 공정) 을 구비하는 방법에 의해, 복수의 범프 (22) 가 형성되어 있는 범프 부착 칩 (2a) 의 범프 형성면 (2A) 에 수지층 (13) 을 형성한다.
본 실시 형태에 관한 반도체 장치의 제조 방법에 있어서는, 다음으로, 도 5c에 나타낸 바와 같이, 수지층 (13) 에 레이저 (LB) 를 조사하여, 범프 (22) 의 표면을 덮고 있는 수지층 (13) 을 제거한다 (수지 제거 공정). 그리고, 도 5d에 나타내는 바와 같이, 범프 부착 칩 (2a) 을 픽업하여 피착체인 기판 (4) 에 접착 고정한다 (본딩 공정). 수지 제거 공정과 본딩 공정을 구비하는 방법에 의해, 수지층 (13) 이 제거되고, 표면이 노출된 범프 (22) 와, 기판 (4) 의 전극 (42) 을 전기적으로 접속한다.
본 실시형태에 있어서의 접착 시트 첩착 공정, 지지체 박리 공정, 수지 제거 공정, 및 본딩 공정에 대해서는, 상기 제 1 실시형태에 있어서의 접착 시트 첩착 공정, 지지체 박리 공정, 플라즈마 처리 공정, 및 본딩 공정과 동일한 방법을 채용할 수 있다.
본 실시형태에 의하면, 상기 제 1 실시형태에 있어서의 작용 효과 (1) ∼ (7) 과 동일한 작용 효과를 발휘할 수 있다.
[실시 형태의 변형]
본 발명은 전술한 실시형태에 한정되지 않고, 본 발명의 목적을 달성할 수 있는 범위에서의 변형, 개량 등은 본 발명에 포함된다.
예를 들어, 전술한 실시형태에서는, 수지 제거 공정에 있어서, 수지층 (13) 과 함께 범프 (22) 의 일부를 레이저 조사에 의해 제거하는 양태를 예로 들어 설명했지만, 본 발명은 이와 같은 양태에 한정되지 않는다. 즉, 본 발명의 다른 양태에 있어서는, 수지 제거 공정에 있어서, 수지층 (13) 만을 레이저 조사에 의해 제거해도 된다.
전술한 실시형태에서는, 수지층 (13) 은, 범프 부착 칩 (2a) 과 기판 (4) 을 접착하기 위한 접착제층으로서 형성되어 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 즉, 본 발명에 있어서는, 수지층을, 다양한 목적에 따라 형성할 수 있다. 예를 들어, 수지층 (13) 은 범프 부착 칩 (2a) 과 기판 (4) 의 접속을 보강하기 위한 언더필층으로서 형성되어도 된다. 또한, 수지층 (13) 은 범프 부착 웨이퍼 (2) 또는 범프 부착 칩 (2a) 을 보호하기 위한 보호층으로서 형성되어도 된다. 또한, 이러한 경우, 수지층 (13) 의 재료로서는, 언더필 또는 보호층의 재료로서 공지된 재료를 사용할 수 있다.
전술한 실시 형태에서는, 수지층 (13) 은 범프 부착 칩 (2a) 및 기판 (4) 의 양방에 접하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 수지층 (13) 이 범프 부착 칩 (2a) 을 보호하기 위한 보호층으로서 형성되는 경우에는, 수지층 (13) 은 범프 부착 칩 (2a) 에 접하고 있으면 되고, 기판 (4) 에 접하고 있지 않아도 된다.
전술한 실시형태에서는, 범프 부착 부재로서 범프 부착 웨이퍼 (2) 를 이용하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 범프 부착 부재는 범프를 갖는 패키지 (예를 들면, BGA (Ball grid array), CSP (Chip size package) 등) 여도 된다.
전술한 실시형태에서는, 접착 시트 (1) 를 사용하여 수지층 (13) 을 범프 형성면 (2A) 에 형성하고, 범프 (22) 를 덮고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 수지 조성물을 범프 형성면 (2A) 에 도포하고 경화시킴으로써 수지층 (13) 을 형성하고, 범프 (22) 를 덮어도 된다.
전술한 실시형태에서는, 지지체층 (11), 점착제층 (12), 및 수지층 (13) 을 구비하는 접착 시트 (1) 를 사용하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 접착 시트 (1) 는 지지체층 (11) 및 수지층 (13) 을 구비하고, 점착제층 (12) 을 구비하지 않는 접착 시트여도 된다. 이 경우, 지지체 박리 공정에 있어서, 수지층 (13) 으로부터 지지체층 (11) 을 박리하면 된다.
전술한 제 2 실시 형태의 수지 제거 공정에 있어서는, 범프 부착 칩 (2a) 을 고정하기 위한 고정 부재 (예를 들어, 흡착 테이블, 점착 시트 등) 에 고정한 상태에서 레이저 (LB) 를 수지층 (13) 에 조사해도 된다. 수지층 (13) 을 제거한 후, 고정 부재로부터 범프 부착 칩 (2a) 을 픽업하여, 본딩 공정을 실시해도 된다.
실시예
이하에, 실시예를 들어 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다. 본 발명은 이들 실시예에 전혀 한정되지 않는다.
[보호막 형성용 시트]
수지층으로서의 보호막 형성용 시트를 이하와 같이 제작하였다.
우선, 하기 (a), (b), (c), (d) 및 (e) 성분을 하기 배합비 (고형분 환산) 로 혼합하여 혼합물을 얻었다. 이 혼합물을 메틸에틸케톤에 의하여 희석하여, 고형분 농도가 55질량%인 보호막 형성 필름용 도포제를 조제하였다. 이 보호막 형성 필름용 도포제를 도포하고, 건조시켜, 두께가 30μm인 보호막 형성용 시트를 얻었다.
(a) 바인더 폴리머 (폴리비닐부티랄 수지)
배합비: 9.9질량%
(b) 에폭시 수지
배합비: 62.8질량%
(c) 페놀 수지
배합비: 18.1질량%
(d) 경화촉진제 (이미다졸계 화합물)
배합비: 0.2질량%
(e) 실리카 필러
배합비: 9질량%
[보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 제작]
보호막이 첩부된 범프 부착 칩 (보호막이 첩부된 범프 부착 칩) 은 다음과 같이 제작하였다.
점착제층을 구비한 지지체층으로서의 첩부 테이프와, 수지층으로서의 보호막 형성용 시트 (두께 : 30 μm) 를 적층시켜, 접착 시트를 제조하였다. 첩부 테이프로서, 린텍 주식회사 제조의 E-8510HR (제품명) 을 사용하였다.
이 접착 시트를 하기의 첩부 조건으로, 범프 부착 부재로서의 하기 범프 부착 칩에 첩부했다.
·첩부 조건
장치: 롤러식 라미네이터 (린텍 주식회사 제조, 제품명: RAD-3510F/12)
온도 : 90 ℃
압력: 0.5MPa
속도: 2mm/sec
·범프 부착 칩
범프 종류: 볼 범프
범프 높이: 200μm
범프 직경: 250μm
범프 피치: 600μm
범프 부착 칩에 접착 시트를 첩부한 후, 린텍 주식회사 제조의 RAD-2700 (제품명) 을 이용하여, 접착 시트측으로부터 UV를 조사하고, 첩부 테이프만을 박리하여, 보호막 형성용 시트가 첩부된 범프 부착 칩을 얻었다. 그 후, 보호막 형성용 시트가 첩부된 범프 부착 칩을 130℃, 0.5MPa, 2시간의 조건으로 처리하여 보호막이 첩부된 범프 부착 칩을 얻었다.
[실시예 1]
보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 범프 두정부에, 하기의 장치를 사용하여 하기 조건으로 레이저를 조사하여, 범프 두정부의 보호막 (수지층에 상당) 을 제거하였다.
·레이저 조사의 조건
장치: 레이저 마커 (주식회사 EO 테크닉스 제조, 제품명: EO-CSM CSM 3002 FC)
레이저 종류: YVO4
출력: 1.27W
주파수: 20000Hz
주사속도: 200mm/s
레이저 조사 후의 보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 범프의 표면을, 주사형 전자현미경 (SEM) 으로 관찰하고, 하기 기준에 따라, 보호막의 제거성을 평가했다. 얻어진 결과를 표 1 에 나타낸다.
A: 범프 두정부를 덮는 보호막이 제거되어, 두정부의 노출을 확인할 수 있었다.
B: 범프 두정부를 덮는 보호막이 제거되지 않고 남아 있다.
C: 범프 두정부를 덮는 보호막뿐만 아니라, 본래 보호하고자 하는 부분의 보호막도 제거되었다.
D: 칩 상의 범프의 위치가 어긋나거나, 탈락하거나 했다.
[실시예 2 및 3]
표 1 에 나타내는 조건에 따라, 레이저 조사의 조건을 변경한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여, 범프 두정부의 보호막을 제거하였다.
레이저 조사 후의 보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 범프의 표면을, 주사형 전자 현미경 (SEM) 으로 관찰하고, 실시예 1 과 동일한 기준에 따라 보호막의 제거성을 평가하였다. 얻어진 결과를 표 1 에 나타낸다.
[비교예 1]
레이저 조사를 실시하지 않은 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여, 보호막이 첩부된 범프 부착 칩을 얻었다.
보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 범프의 표면을, 주사형 전자 현미경 (SEM) 으로 관찰하고, 실시예 1 과 동일한 기준에 따라 보호막의 제거성을 평가하였다. 얻어진 결과를 표 1 에 나타낸다.
[비교예 2]
레이저 조사를 행하지 않고, 하기 조건으로 플라즈마 조사한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여, 보호막이 첩부된 범프 부착 칩을 얻었다.
플라즈마 조사 후의 보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 범프의 표면을, 주사형 전자현미경 (SEM) 으로 관찰하고, 실시예 1 과 동일한 기준에 따라, 보호막의 제거성을 평가했다. 얻어진 결과를 표 1 에 나타낸다.
·플라즈마 조사의 조건
처리 가스: SF6
처리 가스의 유량: 40㎤/min
처리 압력: 100Pa
출력: 250W
처리 시간: 15분간
퍼지: 1회
[비교예 3]
레이저 조사를 행하지 않고, 보호막이 첩부된 범프 부착 칩을 양면 테이프로 지그에 고정하여 하기 조건으로 그라인더 연삭에 의해 범프를 덮는 보호막을 제거한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여, 보호막이 첩부된 범프 부착 칩을 얻었다.
그라인더 연삭 후의 보호막이 첩부된 범프 부착 칩의 범프의 표면을, 주사형 전자현미경 (SEM) 으로 관찰하고, 실시예 1 과 동일한 기준에 따라, 보호막의 제거성을 평가했다. 얻어진 결과를 표 1 에 나타낸다.
·그라인더 연삭의 조건
장치: 리파인테크 주식회사 제조 리파인폴리셔 HV
연마지: #120 (리파인테크 주식회사 제조 내수 연마지)
회전수: 200rpm
가중: 2N
실시예 1~3 에 의하면, 범프 부착 부재로서의 범프 부착 칩의 본래 보호하고자 하는 부분의 열화, 및 손상을 방지하고, 범프 두정부의 보호막을 선택적으로 제거할 수 있었다. 또한, 실시예 1 ∼ 3 에 의하면, 칩 상의 범프의 위치 어긋남, 및 탈락이 발생하지 않았다. 그 때문에, 실시예 1 ∼ 3 의 방법에 의해, 수지층이 제거되고, 표면이 노출된 범프와 기판의 전극을 전기적으로 접속함으로써, 접속 신뢰성이 우수한 반도체 장치를 제조할 수 있다.
비교예 1 에 관해서는, 보호막을 제거할 수 없었다.
비교예 2 에 관해서는, 범프 두정부를 덮는 보호막뿐만 아니라, 본래 보호하고자 하는 부분의 보호막도 제거되었다.
비교예 3 에 관해서는, 그라인더에 의한 기계적 부하가 범프에 가해졌기 때문에, 범프가 칩으로부터 탈락하였다.
산업상 이용가능성
본 발명은, 반도체 장치의 제조 방법에 이용할 수 있다.
13 : 수지층
2 : 범프 부착 웨이퍼 (범프 부착 부재)
22 : 범프
2a : 범프 부착 칩 (범프 부착 부재)
4 : 기판
42 : 전극
100 : 반도체 장치
2 : 범프 부착 웨이퍼 (범프 부착 부재)
22 : 범프
2a : 범프 부착 칩 (범프 부착 부재)
4 : 기판
42 : 전극
100 : 반도체 장치
Claims (6)
- 복수의 범프가 형성되어 있는 범프 부착 부재의 범프 형성면에 수지층을 형성하는 공정과,
상기 수지층에 레이저를 조사하여, 상기 범프의 표면을 덮고 있는 상기 수지층을 제거하는 공정을 구비하는 반도체 장치의 제조 방법. - 제 1 항에 있어서,
상기 범프 형성면의 반대측의 면에 다이싱 테이프를 첩합하는 공정을 더 구비하는 반도체 장치의 제조 방법. - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 수지층이 제거되고, 표면이 노출된 상기 범프와, 기판의 전극을 전기적으로 접속하는 공정을 더 구비하는 반도체 장치의 제조 방법. - 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 수지층을 제거하는 공정은, 상기 레이저에 의해 상기 범프의 두정부를 덮는 상기 수지층을 제거하는 공정인 반도체 장치의 제조 방법. - 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 레이저는 Yb 레이저, YVO 레이저, YAG 레이저 또는 CO2 레이저인 반도체 장치의 제조 방법. - 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 레이저의 조사 조건으로서,
출력이 1W 이상 2W 이하이고,
주파수가 10kHz 이상 100kHz 이하이고,
주사 속도가 50mm/s 이상 4000mm/s 이하인 반도체 장치의 제조 방법.
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| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |