KR20200092764A - 오엘이디 패널의 검사용 프로브 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 OLED 패널의 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 OLED 패널의 특성검사를 위하여 OLED 패널과 컨택되는 오엘이디 패널의 검사용 프로브에 관한 것이다.
본 발명은 몸체부(110)와, 상기 몸체부의 하단에 부착된 탄성패드(120)와, 상기 탄성패드의 하단에 부착된 연성의 회로기판(130)을 구비하고;
상기 회로기판이 상기 탄성패드와 전면에 걸쳐 밀착 고정되는 컨택단자부(131)와, 자유단 형태로 이격 형성된 얼라인마크 형성부(132)를 구비하며;
상기 컨택단자부와 얼라인마크 형성부 사이의 구간에는 변형 전파 차단부(133)가 형성된 오엘이디 패널의 검사용 프로브(100)를 제공한다.

Description

오엘이디 패널의 검사용 프로브{Probe for testing organicLight emitting display panel}
본 발명은 OLED 패널의 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 OLED 패널의 특성검사를 위하여 OLED 패널과 컨택되는 오엘이디 패널의 검사용 프로브에 관한 것이다.
일반적으로, 평판디스플레이(FPD ; Flat Panel Display)는 사용물질에 따라 무기물 사용소자와 유기물 사용소자로 구분되며, 이중 유기물 사용소자로는 액정디스플레이(LCD ; Liquid Crystal Display), 유기발광디스플레이(OLED ; OrganicLight Emitting Display) 등이 알려져 있다.
최근 들어, 다양한 정보화 사회의 요구에 따라 전자 디스플레이도 다양한 형태로 개발 상용화되고 있다. 특히, OLED는 유기화합물을 사용해 자체 발광시키는 차세대 디스플레이로서, 화질의 반응속도가 LCD(Liquid CrystalDisplay)에 비해 1000배 이상 빠르며, 15V 이하의 낮은 전압에서 구동이 가능하고 제품을 초박형으로 설계할 수 있고 시야각이 넓으면서 높은 휘도를 나타낸다는 장점 때문에 PDP(Plasma Display Panel)와 함께 TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display)를 이을 차세대 평판 디스플레이로 각광을 받고 있다.
이와 같은 OLED 패널은 제작과정에서 OLED 패널의 외관을 촬영하는 촬영장치를 통해 획득되는 패널 이미지의 휘도를 영역별로 검출하여 휘도 값이 상대적으로 낮은 영역의 휘도를 자동으로 보정하는 특성검사를 필수적으로 수행하게 된다.
이러한 특성검사는 OLED 패널이 회전스테이지를 따라서 특성검사유닛측으로 회전이송되면, 특성검사유닛에 구비된 프로브와 OLED 패널간의 얼라인이 이루어진다. 상기 얼라인은 프로브와 OLED 패널에 각각 x,y축 방향으로 형성된 얼라인마크들이 일치되도록 회전스테이지에 설치된 얼라인부재들이 동작됨으로써 이루어진다.
상기 프로브와 OLED 패널과의 얼라인이 완료되면 프로브가 하강하면서 OLED 패널과 컨택되고, 상기 프로브를 통해 OLED 패널에 일정전원이 인가되면서 OLED 패널이 점등된 상태로 이루어지게 된다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 종래의 오엘이디 패널의 검사용 프로브(10)는 몸체부(11)와, OLED 패널(B)과의 컨택시 발생되는 충격을 방지하고 컨택신뢰도를 높이기 위하여 상기 몸체부(11)의 하단에 부착된 탄성패드(12)와, 상기 탄성패드(12)의 하단에 부착된 연성의 회로기판(13)으로 이루어져 있다.
그리고, 상기 회로기판(13)은 탄성패드(12)와 전면에 걸쳐 밀착 고정되어 있지 아니하고, 컨택이 이루어지는 컨택단자부(13a)를 제외한 얼라인마크(A)가 형성된 얼라인마크 형성부(13b)는 회로의 보호와 방열을 위해 탄성패드(12)의 자유단 형태로 이격 형성되어 있다.
따라서, 상기와 같은 종래의 OLED 패널의 검사용 프로브(10)는 컨택단자부(13a)에만 지속적이고 집중적인 컨택하중이 작용하게 되므로 다회에 걸쳐 컨택 동작을 수행하게 되면, 연성 재질 특성상 컨택단자부(13a)에 변형이 발생하게 되고 이 변형력이 컨택하중이 인가되지 않는 얼라인마크 형성부(13b)쪽으로 전파되면서 상기 얼라인마크 형성부(13b)가 휘어지는 변형이 발생된다.
이와 같이, 상기 얼라인마크 형성부(13b)가 휘어지면, 컨택시 얼라인마크 형성부(13b)가 극도로 인접한 회로나 단자와 같은 예민한 부품들과 충돌하면서 물리적, 전기적 손상시키는 문제가 발생된다.
특히, 상기 얼라인마크 형성부(13b)가 휘어지면, 얼라인마크 형성부(13b)에 형성된 얼라인마크(A)의 위치가 변동되면서 회전스테이지에 설치된 얼라인부재들(미도시)이 변동된 얼라인마크(A)를 기준으로 OLED 패널(B)을 얼라인시켜 버리게 되므로 정상적인 컨택이 이루어지지 않게 된다.
심할 경우에는, 얼라인마크(A)의 위치가 인식부위를 완전히 벗어나면서 얼라인 자체가 이루어지지 않는다.
KR 10-1149056 B1
본 발명은 상기한 문제점들을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 회로기판의 변형을 최소화 할 수 있는 오엘이디 패널의 검사용 프로브를 제공하는 데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 오엘이디 패널의 검사용 프로브는 몸체부와, 상기 몸체부의 하단에 부착된 탄성패드와, 상기 탄성패드의 하단에 부착된 연성의 회로기판을 구비하고; 상기 회로기판이 상기 탄성패드와 전면에 걸쳐 밀착 고정되는 컨택단자부와, 자유단 형태로 상기 탄성패드와 이격된 자유단 형태로 이격 형성된 얼라인마크 형성부를 구비하며; 상기 컨택단자부와 얼라인마크 형성부 사이의 구간에 변형 전파 차단부가 형성된다.
이 경우, 상기 변형 전파 차단부는 일측이 개방된 절개홈일 수 있다.
아울러, 상기 변형 전파 차단부는 레이저 커팅을 통해 형성되는 것이 바람직하다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 오엘이디 패널의 검사용 프로브는 회로기판의 컨택단자부와 얼라인마크 형성부 사이의 구간에 형성된 변형 전파 차단부가 상기 얼라인마크 형성부로 변형 응력을 전파시킬 수 있는 경로를 단절시켜 주므로 회로기판의 변형을 최소화시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래의 오엘이디 패널의 검사용 프로브의 사시도.
도 2는 종래의 오엘이디 패널의 검사용 프로브의 단면도.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 오엘이디 패널의 검사용 프로브의 사시도.
도 4는 본 발명을 구성하는 변형 전파 차단부의 다양한 형태를 나타내기 위한 회로기판의 요부 평면도.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 바람직한 실시예에 대한 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
이하, 본 발명의 일 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명함에 있어, 동일한 구성에 대해서는 동일한 부호를 사용하며, 명료성을 위하여 가능한 중복되지 않게 상이한 부분만을 주로 설명한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 오엘이디 패널의 검사용 프로브(100)는 몸체부(110)와, 상기 몸체부(110)의 하단에 부착된 탄성패드(120)와, 상기 탄성패드(120)의 하단에 부착된 연성의 회로기판(130)을 기본적으로 구비한다.
상기 몸체부(110)와 탄성패드(120)와 회로기판(130)은 종래와 대동소이하므로 여기서의 상세한 설명은 생략하기로 한다.
상기 회로기판(130)은 상기 탄성패드(120)와 전면에 걸쳐 밀착 고정되는 컨택단자부(131)와, 자유단 형태로 상기 탄성패드(120)와 이격 형성된 얼라인마크 형성부(132)를 구비한다.
상기 컨택단자부(131)는 상기 OLED패널의 얼라인 동작을 통해 상기 OLED패널의 단자부의 연직상부에 위치하게 되며, 얼라인이 완료된 상태에서 상기 몸체부(110)가 하강하게 되면 상기 OLED패널의 단자부와 접촉된다.
이로써 상기 프로브(100)와 OLED 패널과의 컨택이 이루어지게 되고, 상기 프로브(100)를 통해 OLED 패널에 일정전원이 인가되면서 OLED 패널이 점등된 상태로 특성검사가 이루어지게 된다.
본 발명에 따르면, 상기 컨택단자부(131)와 얼라인마크 형성부(132) 사이의 구간에는 다수회의 컨택동작 수행시 컨택단자부(131)로부터 발생된 변형이 상기 얼라인마크 형성부(132)로 전파되는 것을 차단하는 변형 전파 차단부(133)가 형성된다.
이 경우, 상기 변형 전파 차단부(133)는 일측이 개방된 절개홈일 수 있다.
상기 변형 전파 차단부(133)는 복수의 위치에 형성될 수 있음은 물론이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 변형 전파 차단부(133)는 일직선 형태의 절개홈(133a)을 포함하여 얼라인마크 형성부(132)에 형성되어 있는 미세회로들을 회피하는 절곡된 형태의 절개홈(133b), 곡선 또는 직선과 곡선이 복합된 절개홈(133c) 등 다양한 형태로 이루어질 수 있다.
상기 변형 전파 차단부(133)는 탄성패드(120)의 단부를 기준으로 하는 가상의 수평라인(L) 이상으로 깊게 형성되어야 컨택단자부(131)로부터 발생된 변형이 상기 얼라인마크 형성부(132)로 전파되는 것을 효과적으로 차단할 수 있다.
이와 동시에 상기 변형 전파 차단부(133)가 지나치게 깊게 형성되는 경우, 자칫 상기 얼라인마크 형성부(132)가 자중을 지탱하지 못하고 아래로 처지는 현상이 발생될 수도 있으므로 주의해야 한다.
한편, 상기 변형 전파 차단부(133)는 미세회로를 손상시키지 않아야 하므로 정밀도가 떨어지는 단순 절단 공정으로는 형성시킬 수는 없으며, 정밀성이 높으면서 다양한 형태로 자유로운 가공이 가능한 레이저 가공을 통해 형성되도록 하는 것이 바람직하다.
이와 같이, 상기 컨택단자부(131)와 얼라인마크 형성부(132) 사이의 구간에 변형 전파 차단부(133)가 형성되면, 상기 변형 전파 차단부(133)에 의하여 얼라인마크 형성부(132)로 변형 응력을 전파시킬 수 있는 경로가 단절되므로 상기 얼라인마크 형성부(132)의 변형을 최소화시킬 수 있게 된다.
이와 같이, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상술하였으나 본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자가 본 발명의 사상을 벗어나지 않고 변형 가능하며, 이러한 변형은 본 발명의 권리범위에 속할 것이다.
100...프로브 110...몸체부
120...탄성패드 130...회로기판
131...컨택단자부 132...얼라인마크 형성부
133...변형 전파 차단부

Claims (3)

  1. 몸체부와, 상기 몸체부의 하단에 부착된 탄성패드와, 상기 탄성패드의 하단에 부착된 연성의 회로기판을 구비하고;
    상기 회로기판이 상기 탄성패드와 전면에 걸쳐 밀착 고정되는 컨택단자부와, 자유단 형태로 상기 탄성패드와 이격된 얼라인마크 형성부를 구비하며,
    상기 컨택단자부와 얼라인마크 형성부 사이의 구간에 변형 전파 차단부가 형성된 오엘이디 패널의 검사용 프로브.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 변형 전파 차단부는 일측이 개방된 절개홈인 것을 특징으로 하는 오엘이디 패널의 검사용 프로브.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 변형 전파 차단부는 레이저 커팅을 통해 형성되는 오엘이디 패널의 검사용 프로브.
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