KR101257226B1 - 필름형 테스트 프로브 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 필름형 테스트 프로브 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치는 피검사대상에 형성된 단자에 접촉하여 상기 피검사대상을 검사하는 필름형 테스트 프로브 장치에 있어서, 상기 피검사대상의 상부에 배치되며, 상기 단자의 일 방향을 따라 복수의 위치에 동시 접촉하도록 상기 복수의 위치에 대응하는 위치에 복수의 범퍼(Bumper)가 구비된 테스트필름, 상기 테스트필름의 상부에 배치되며, 상기 테스트필름을 지지하는 필름지지블록; 및 상기 테스트필름과 상기 필름지지블록 사이에 배치되며, 상기 테스트필름에 구비된 상기 복수의 범퍼가 상기 단자의 복수의 위치에 각각 접촉할 때에 탄성력을 제공하는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 필름형 테스트 프로브 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피검사대상의 신호를 전달하는 단자에 연결되는 복수 위치에서 피검사대상의 본체 간섭을 최소화하면서 동시에 접촉하여 검사를 실시함에 따라 검사 시간을 단축할 수 있는 필름형 테스트 프로브 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 프로브 장치는 영상 표시 장치, 터치 패널, 반도체 칩 등의 전기적인 신호를 송수신하여 다양한 기능을 수행하는 전자 부품이나 장치 등을 피검사 대상의 전기적인 신호의 송수신 상태를 점검하는 장치이다.
특히, 액정 디스플레이 패널(liquid crystal display panel; 통상 LCD 패널이라 함), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel; 통상 PDP 패널이라 함), 능동형 유기발광 다이오드 디스플레이 패널(active matrix organic light emitting diode display panel; 통상 OLED 패널이라 함) 등과 같은 다양한 형태의 영상 표시 장치와 패널에 접촉이나 전기적인 신호에 따라 조작되는 신호를 송신하고, 송신된 신호에 따라 조작된 영상이 표시되는 정보가 교환되는 터치 패널의 수요가 증대되고, 두께가 얇아지면서 대형화되어 피검사 대상의 회로 구조가 복잡해지고, 신호가 전달되는 전극 패드들이 직접화 되면서 간격이 좁아져 생산이 어렵고, 불량이 발생할 가능성이 높아졌다. 이런, 불량을 점검하지 못하고, 이후 공정이 진행된 후에 불량이 발생되면 불량에 따른 처리 비용이 증대됨에 따라 제조 공정 중에 수시로 프로브 장치를 사용하여 검사를 실시함에 따라 조기에 불량품을 판별하여 처리 비용을 축소할 수 있다.
이런, 통상적인 프로브 장치는 신호가 교환되는 각 위치마다 신호의 교환을 점검할 수 있는 니들(needle)이나 블레이드(blade) 형태의 탐침 수단으로 전극 패드에 접촉되어 테스트하는 신호를 송수신 하면서 불량 여부를 테스트한다. 그러나, 통상적인 프로브 장치는 날카로운 첨단 형태의 탐침 수단이 직접 접촉되어 각종 신호를 교환하여 테스트하는 것으로 탐침 수단이 접촉되는 전극 패드에 손상이 발생되어 이차적인 불량이 발생되는 문제점이 있었다.
또한, 전극 패드의 신호가 교환되는 위치 별로 각각 탐침 수단을 구비하여 전극 패드에 접촉되도록 설치되는 것으로, 소형화로 인해 좁은 공간에 집적되어 있는 전극 패드의 신호 교환 위치 마다 탐침 수단을 구비하도록 설치됨으로써, 좁은 공간에 많은 수량의 탐침 수단을 구동하면서 테스트를 실시하여야 함에 따라 장치가 복잡하고, 많은 신호를 종합 판단하기 어려워 테스트에 따른 시간이 많이 걸리는 문제점이 있었다.
이에, 최근에는 필름 형태로 내부에 테스트하는 회로 패턴을 구비하고, 회로 패턴에서 발생되는 신호를 결합된 인쇄 회로 기판과 구동 회로 소자를 통해서 테스트를 실시하는 필름형 테스트 프로브 장치가 개발되어 사용되고 있다.
이런, 종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치는 패널의 전극 패드 부분으로 테스트필름의 입력 부분을 연결하도록 이동 가압한 상태로 테스트되는 신호를 교환하면서 불량을 테스트하도록 구비된다.
종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치는 테스트되도록 접촉되는 위치와 방향에 따라서 접촉되는 테스트필름의 접촉되는 부분이 돌출되도록 경사진 위치에 설치되어 테스트되는 위치로 이동한 후에 접촉에 의해 테스트를 실시하도록 구비된다.
상술된 피검사대상에는 영상 신호와 조작되는 신호가 송수신되도록 인쇄회로기판에 연결되는 단자가 구비된다. 단자는 각 면마다 피검사대상에 신호가 전달되는 전극 패드가 구비된다. 단자의 신호 전달 상태를 점검하기 위해서는 연결된 부분으로 검사 장치를 접촉하여 검사를 실시한다. 이때, 단자의 연결 부분을 검사하기 위해서는 단자에 검사 장치가 접촉되지 않은 상태에서 연결되는 전극 패드 종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치를 이용하여 검사를 실시한다.
종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치를 이용하여 단자의 연결 부분을 검사할 때에는 단자와의 접촉을 방지하기 위해서 단자에 전극 패드가 연결되는 각각의 면과 마주보는 방향과 위치로 이동한 후에 접촉 가압하면서 검사를 실시함에 따라 검사 시간이 많이 소요되는 문제점이 있었다.
특히, 단자의 연결 부분 중에서 피검사대상의 본체 방향으로 위치한 전극 패드의 측정 시에 종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치가 마주보는 방향으로 위치로 이동시키면 본체가 가려져서 정확한 검사를 수행하기 어렵기 때문에 반대 방향의 전극 패드를 접촉 검사한 한 후에 단자를 지나서 본체 방향으로 이동한 후에 가압 접촉 검사를 실시하여야 함에 따라 검사 과정이 복잡하고, 이동에 따른 시간이 소요되는 문제점이 있었다.
종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치는 단자와의 접촉을 회피하면서 바깥 둘레 방향의 전극 패드와 본체 방향의 전극 패드로 이동하면서 검사를 실시함에 따라 정위치 보다 많이 이동되면 검사 위치를 벗어나게 되고, 정위치에 도달하지 못하면 단자에 접촉하면서 단자 또는 프로브 장치가 파손되는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 문제점을 개선하기 위해 발명된 것으로, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 피검사대상의 신호를 전달하는 단자에 연결되는 복수 위치에서 동시에 접촉 검사하여 검사의 정확도를 향상시키고, 검사 시간을 단축 할 수 있는 필름형 테스트 프로브 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제는 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제는 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치는 피검사대상에 형성된 단자에 접촉하여 상기 피검사대상을 검사하는 필름형 테스트 프로브 장치에 있어서, 상기 피검사대상의 상부에 배치되며, 상기 단자의 일 방향을 따라 복수의 위치에 동시 접촉하도록 상기 복수의 위치에 대응하는 위치에 복수의 범퍼(Bumper)가 구비된 테스트필름, 상기 테스트필름의 상부에 배치되며, 상기 테스트필름을 지지하는 필름지지블록; 및 상기 테스트필름과 상기 필름지지블록 사이에 배치되며, 상기 테스트필름에 구비된 상기 복수의 범퍼가 상기 단자의 복수의 위치에 각각 접촉할 때에 탄성력을 제공하는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 필름지지블록은, 상기 피검사대상의 상부에 배치되며, 상기 단자의 일측과 타측을 각각 가로지른 검사 위치에서 상기 테스트필름과 상기 탄성부재를 지지하도록 설치된 블록몸체, 상기 블록몸체의 하부에 돌출되며, 상기 단자의 일측 방향에 접촉 검사 위치로 돌출되어 타측 방향이 상부로 검사 시에 상기 단자가 접촉되지 않도록 위치하는 블록공간이 형성되도록 경사진 제1경사면이 구비되고, 돌출된 일측 방향에는 하부에 지지된 상기 테스트필름과 상기 탄성부재가 가압 접촉 시에 삽입되는 홈형태의 접촉홈이 형성된 제1검사돌기, 및 상기 블록몸체의 하부에 돌출되며, 상기 단자의 타측 방향 검사 위치에 돌출되도록 상기 제1검사돌기의 바깥 방향에 돌출되어 바깥 방향이 상부 방향으로 경사진 제2경사면을 가지는 제2검사돌기를 포함할 수 있는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 필름지지블록은, 상기 블록몸체에 양측면에 각각 연장 구비되며, 상기 단자의 양측 방향으로 검사되는 상부에 위치하도록 구비되어 상기 단자의 양쪽 측면의 검사 위치에서 상기 테스트필름과 상기 탄성부재를 지지하도록 설치된 측부검사블록, 및 상기 측부검사블록의 하부에 돌출되며, 상기 단자의 양측으로 마주보는 검사 위치에 각각 돌출되어 서로 마주보는 검사 위치에서 바깥에 상부 방향으로 각각 경사진 측부경사면을 가지는 측부검사돌기를 더 포함할 수 있는 것을 특징으로 한다.
아울러, 상기 테스트필름은, 상기 필름지지블록의 하부에 지지되어 상기 단자의 일측의 검사 위치에 접촉되어 검사를 실시하도록 하부에 제1범퍼가 구비되어 접촉되는 일측에서 타측 방향 상부로 경사져 검사 시에 상기 단자가 비접촉하도록 위치되는 검사공간을 가지는 제1검사부와, 상기 제1검사부의 타측 방향에 연결되면서 하부 방향으로 돌출되어 하부에 검사 시 상기 단자의 타측 방향을 접촉 검사하는 제2범퍼가 구비된 제2검사부를 구비할 수 있는 것을 특징으로 한다.
더불어, 상기 테스트필름은 상기 필름지지블록의 하부에 지지되어 상기 제2검사부의 양측에 각각 연결되어 서로 마주보는 양측의 바깥에서 일측 방향으로 연장되어 상기 단자의 양측면에 검사되는 위치의 상부로 서로 마주보는 방향에 바깥을 향해서 상부 방향으로 경사지게 형성되고, 서로 마주보는 하부에 상기 단자와 접촉 검사하는 위치에 측부범퍼를 가지는 측부검사부를 더 구비할 수 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 탄성부재는, 상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 단자의 일측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판 형태로 설치된 제1탄성체, 및 상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 단자의 타측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름에 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판 형태로 설치된 제2탄성체를 포함할 수 있는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 탄성부재는, 상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 단자의 양측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하도록 서로 마주보는 양측에 각각 구비되어 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판형태로 설치된 측부탄성체를 더 포함할 수 있는 것을 특징으로 한다.
아울러, 상기 탄성부재는, 상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 필름지지블록의 일측 방향에 삽입된 상태에서 상기 단자의 일측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된 제1탄성블록, 및 상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 필름지지블록의 타측 방향에 삽입된 상태에서 상기 단자의 타측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된 제2탄성체를 포함할 수 있는 것을 특징으로 한다.
더불어, 상기 탄성부재는, 상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 필름지지블록의 양측 방향에 삽입된 상태에서 상기 단자의 양측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하도록 서로 마주보는 양측에 각각 구비되어 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된 측부탄성블록를 더 포함할 수 있는 것을 특징으로 한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치에 따르면, 영상 표시 장치와 터치 패널 등의 피검사대상에 연결되는 단자에 복수 위치에서 연결되는 전극 패를 피검사대상의 본체와 단자의 간섭을 최소화하면서 복수 위치에서 동시에 접촉 검사하여 검사의 정확도를 향상시키고, 검사 시간을 단축시킬 수 있다.
또한, 피검사대상에 구비된 단자의 본체 방향과 바깥 방향을 단일 검사 기판으로 단자에 접촉되지 않도록 검사 시 삽입되는 공간을 구비하면서 떨어진 위치에 각각 접촉 검사하도록 구비되어 본체와 단자의 간섭없이 정확한 위치에서 동시에 접촉 검사함에 따라 단자에 접촉을 회피하여 불량률을 줄일 수 있고, 검사의 정확도를 향상시키면서 검사 속도를 단축시킬 수 있다.
그리고, 단자의 본체 방향과 바깥 방향에 각각 단일 기판으로 검사하는 검사체에는 접촉 검사에 의해 가압되는 위치에 탄성력을 부여하는 탄성부재가 구비되어 가압력의 작용에 의해 접촉 검사 후에 원위치로 복귀될 수 있도록 구비되어 지속적인 검사 시에 기판이 검사 대기 상태를 유지하면서 변형이 방지될 수 있다.
아울러, 단자의 본체 방향과 바깥 방향을 동시에 검사하는 검사체에는 단자의 형태와 검사 위치에 따라 복수 위치로 탄성력을 부여하면서 접촉 검사하는 검사부를 측면으로 부가 설치될 수 있어 단자의 형태에 따라서 복수 위치를 동시에 검사할 수 있음에 따라 검사 시간을 단축할 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 2는 도 1의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 4는 도 3의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 6은 도 5의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 7은 본 발명의 제4실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 8은 도 7의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 2는 도 1의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 4는 도 3의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 6은 도 5의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
도 7은 본 발명의 제4실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도.
도 8은 도 7의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도.
이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
실시예를 설명함에 있어서 본 발명이 속하는 기술 분야에 익히 알려져 있고 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 기술 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 이는 불필요한 설명을 생략함으로써 본 발명의 요지를 흐리지 않고 더욱 명확히 전달하기 위함이다.
마찬가지 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 개략적으로 도시되었다. 또한, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다. 각 도면에서 동일한 또는 대응하는 구성요소에는 동일한 참조 번호를 부여하였다.
이하, 본 발명의 실시예들에 의하여 필름형 테스트 프로브 장치를 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 발명에 대해 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도이고, 도 2는 도 1의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도이다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치(100)는 패널의 바깥 방향으로 외부와 신호를 송수신하도록 연결되는 다각형태의 돌출된 단자가 형성되고, 돌출된 단자의 다각 형태의 각 면으로 가압 접촉되면서 연결 상태를 검사하는 장치이다.
이런, 필름형 테스트 프로브 장치(100)는 단자의 검사 위치로 이동하면서 하강되어 접촉 검사하도록 지지하는 필름지지블록(110), 테스트필름(120), 및 탄성부재(130)를 포함한다.
여기서, 테스트필름(120)과 탄성부재(130)를 지지하고 있는 필름지지블록(110)를 패널의 바깥 방향 외부에서 패널의 단자 위치로 이송하고, 접촉을 위해서 상하로 구동시키는 구동되는 장치는 통상의 기술을 적용하는 것으로, 상세한 설명을 생략하도록 한다.
필름지지블록(110)은 단자가 구비된 피검사대상의 상부에 위치하여 테스트필름(120)과 탄성부재(130)를 지지하는 블록몸체(111), 제1검사돌기(112), 및 제2검사돌기(114)를 포함한다. 블록몸체(111)은 피검사대상의 상부에 배치되며, 단자의 피검사대상의 본체 방향과 바깥 방향을 가로지른 검사 위치에서 테스트필름(120)과 탄성부재(130)를 지지하도록 설치된다. 블록몸체(111)은 블록 형태로 단자의 피검대상의 본체 방향과 바깥 방향을 동시에 검사하도록 가로지른 상부에 구비된다.
제1검사돌기(112)는 블록몸체(111)의 하부에 돌출되며, 단자의 피검사대상의 본체 방향에 접촉 검사 위치로 돌출되도록 구비된다. 제1검사돌기(112)의 본체의 바깥 방향에는 상부 방향으로 검사 시에 단자가 접촉되지 않도록 안쪽에 위치하는 블록공간(113)이 형성되도록 경사진 제1경사면(112a)이 형성된다. 제1경사면(112a)은 돌출된 제1검사돌기(112)에 지지된 테스트필름(120)이 가압 접촉되는 피검사대상의 본체 방향이 하부에 위치하고, 본체의 바깥 방향이 상부에 위치하도록 경사지게 형성된다.
또한, 제1경사면(112a)은 피검사대상 본체의 바깥 방향이 상부 방향으로 경사지도록 구비되어 단자의 본체 방향에 접촉 검사 시 단자가 접촉되지 않도록 위치하는 블록공간(113)이 형성되어 단자가 블록공간(113)에 위치한 상태에서 제1검사돌기(112)에 지지된 테스트필름(120)이 접촉한 상태로 검사를 실시할 수 있다.
그리고, 단자의 피검사대상의 본체 방향의 검사 위치도 바깥 방향의 검사 위치와 동시에 접촉 검사할 수 있음에 따라 본체 방향에 블록몸체(111)이 위치하지 않아 검사 시 피검사대상의 본체에 간섭을 회피할 수 있다.
아울러, 제1검사돌기(112)의 돌출된 피검사대상의 본체 방향에는 하부에 지지된 테스트필름(120)과 탄성부재(130)가 가압 접촉 시에 삽입되는 홈형태의 접촉홈(112b)이 형성된다. 접촉홈(112b)은 제1검사돌기(112)에 지지된 테스트필름(120)과 탄성부재(130)가 가압 접촉 시에 밀착되면서 휘어지면서 제1검사돌기(112)와의 접촉을 방지하기 위해서 삽입되는 홈 형태로 형성된다.
제2검사돌기(114)는 블록몸체(111)의 하부에 돌출되며, 단자의 피검사대상의 본체 바깥 방향 검사 위치에 돌출되도록 제1검사돌기(112)의 바깥 방향에 돌출되도록 구비된다. 제2검사돌기(114)는 단자의 바깥 방향을 검사하는 위치에 돌출되어 테스트필름(120)과 탄성부재(130)가 지지되도록 구비된다. 제2검사돌기(114)의 피검사대상의 바깥 방향에는 상부 방향으로 경사진 제2경사면(114a)이 형성된다. 제2경사면(114a)은 단자의 피검사대상의 바깥 방향으로 접촉되는 위치에 테스트필름(120)과 탄성부재(130)가 경사지게 지지되어 검사 시에 접촉을 유지하도록 형성된다.
테스트필름(120)은 블록몸체(111)의 하부에 지지되어 단자의 본체 방향과 바깥방향을 동시에 접촉 검사하도록 필름 형태로 구비된다. 테스트필름(120)은 제1검사돌기(112)의 하부에 지지되어 단자의 본체 방향의 검사 위치에 접촉되어 검사를 실시하도록 하부에 제1범퍼(122)가 구비되어 접촉되는 본체 방향에서 바깥 방향으로 상부로 경사져 검사 시에 단자가 위치하는 검사공간(123)을 가지는 제1검사부(121)가 형성된다. 제1검사부(121)는 제1경사면(112a)과 블록공간(113)을 가지는 제1검사돌기(112)의 하부에 지지되어 경사진 상태에서 단자의 본체 방향에 제1범퍼(122)가 접촉되어 검사를 실시하도록 구비된다.
또한, 제1검사부(121)의 바깥 방향에 연결되면서 하부 방향으로 돌출되어 하부에 검사 시 단자의 바깥 방향에 접촉 검사하는 제2범퍼(125)가 구비된 제2검사부(124)를 구비한다. 제2검사부(124)는 제2경사면(114a)을 가지는 제2검사돌기(114)의 하부에 지지되어 제1검사부(121)와 연결되어 경사진 상태에서 단자의 바깥 방향에 제2범퍼(125)가 접촉되어 검사를 실시함에 따라 단자의 본체 방향과 바깥 방향을 동시에 접촉 검사를 실시할 수 있다.
탄성부재(130)는 필름지지블록(110)와 테스트필름(120) 사이에서 탄성력을 부여하는 제1탄성체(131), 및 제2탄성체(132)를 포함한다. 제1탄성체(131)는 제1검사돌기(112)와 제1검사부(121) 사이에 배치되며, 단자의 본체 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름의 제1검사부(121)에 탄성력을 부가하여 제1검사부(121)에 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판 형태로 설치된다. 제1탄성체(131)는 탄성을 가지는 얇은 박판 형태로 구비되어 테스트필름의 제1검사부(121)가 접촉 검사 시에 가압력을 제공하고, 검사 후에는 원위치로 복귀하는 복귀력을 제공하도록 설치된다.
제2탄성체(132)는 제2검사돌기(114)와 제2검사부(124) 사이에 배치되며, 단자의 바깥 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 제2검사부(124)에 탄성력을 부가하여 제2검사부(124)에 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판 형태로 설치된다. 제2탄성체(132)는 탄성을 가지는 얇은 박판 형태로 구비되어 테스트필름(120)의 제2검사부(124)가 접촉 검사 시에 가압력을 제공하고, 검사 후에는 원위치로 복귀하는 복귀력을 제공하도록 설치된다.
즉, 블록몸체(111)의 하부에 단자의 본체 방향과 바깥 방향에 각각 제1검사돌기(112)와 제2검사돌기(114)를 구비하고, 제1검사돌기(112)와 제2검사돌기(114) 사이에 단자가 삽입되는 블록공간(113)을 구비하여 제1검사돌기(112)에 제1탄성체(131)로 탄성력이 부여된 테스트필름(120)의 제1검사부(121)가 위치하고, 제2검사돌기(114)에 제2탄성체(132)로 탄성력이 부여된 제2검사부(124)가 위치하며, 제1검사부(121)와 제2검사부(124) 사이에 블록공간(113)에 지지되는 검사공간(123)이 구비되어 단자의 본체 방향과 일측 방향을 동시에 가압 접촉하여 검사를 실시하도록 구비된다.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도이고, 도 4는 도 3의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치(100)는 필름지지블록(110), 테스트필름(120), 및 탄성부재(130)를 포함한다. 여기서, 필름지지블록(110), 테스트필름(120), 및 탄성부재(130)의 일부 구성은 도 1 및 도 2에서 나타내는 필름형 테스트 프로브 장치(100)와 유사함에 따라 차이가 있는 부분에 대해서만 설명하도록 한다.
먼저, 필름지지블록(110)는 블록몸체(111), 제1검사돌기(112), 제2검사돌기(114), 측부검사블록(115), 및 측부검사돌기(116)를 포함한다. 여기서, 블록몸체(111), 제1검사돌기(112), 및 제2검사돌기(114)는 도 1 내지 도 ?에서 나타내는 필름형 테스트 프로브 장치(100)와 유사함에 따라 차이가 있는 측부검사블록(115), 및 측부검사돌기(116)를 설명하도록 한다.
측부검사블록(115)은 블록몸체(111)에 양측면에 각각 연장 구비되며, 단자의 양측 방향에 검사되는 상부에 위치하도록 구비되어 단자의 양쪽 측면의 검사 위치에서 테스트필름(120)과 탄성부재(130)를 지지하도록 설치된다.
측부검사돌기(116)는 측부검사블록(115)의 하부에 돌출되며, 단자의 양측으로 마주보는 검사 위치에 각각 돌출되어 서로 마주보는 검사 위치에서 바깥에 상부 방향으로 각각 경사진 측부경사면(116a)이 형성된다. 측부경사면(116a)은 측부검사돌기(116)에 지지되는 테스트필름(120)과 탄성부재(130)의 서로 마주보는 안쪽이 단자의 양쪽 검사 위치에 각각 접촉되도록 하부에 위치하고, 바깥 방향이 상부로 위치하도록 경사지게 구비되어 접촉 효율이 향상될 수 있다.
테스트필름(120)은 제1검사돌기(112)와 제2검사돌기(114)에 지지되는 제1검사부(121)와 제2검사부(124)는 도 1 및 도 2에서 나타내는 필름형 테스트 프로브 장치(100)와 유사함에 따라 차이가 있는 측부검사부(126)를 설명하도록 한다.
측부검사부(126)는 측부검사블록(115)의 하부에 돌출된 측부검사돌기(116)의 하부에 지지되어 제2검사부(124)의 양측에 각각 연결되어 서로 마주보는 양측의 바깥에서 본체 방향으로 연장되어 단자의 양측면에 검사되는 위치의 상부로 서로 마주보는 방향에서 바깥을 향해서 측부경사면(116a)의 경사도에 따라 상부 방향으로 경사지게 형성되고, 서로 마주보는 하부에 단자와 접촉 검사하는 위치에 측부범퍼(127)를 구비한다. 측부검사부(126)는 제2검사부(124)와 연결되어 블록몸체(111)의 양측에 각각 구비된 측부검사블록(115)의 하부로 돌출된 측부검사돌기(116)의 하부에 바깥 방향으로 경사지게 지지되어 단자의 양측 부분을 각각 접촉하여 검사하도록 구비된다.
탄성부재(130)는 제1탄성체(131), 제2탄성체(132), 및 측부탄성체(133)를 포함한다. 여기서, 제1탄성체(131), 및 제2탄성체(132)는 도 1 및 도 2에서 나타내는 필름형 테스트 프로브 장치(100)와 유사함에 따라 차이가 있는 측부탄성체(133)를 설명하도록 한다.
측부탄성체(133)는 측부검사돌기(116)와 측부검사부(126) 사이에 배치되며, 단자의 양측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 측부검사부(126)에 탄성력을 부가하도록 서로 마주보는 양측에 각각 구비되어 측부검사부(126)가 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판형태로 설치된다. 측부탄성체(133)는 단자의 양측면에 접촉 검사하는 측부검사부(126)에 탄성을 제공하도록 설치된다.
즉, 블록몸체(111)의 양측으로 각각 측부검사블록(115)을 구비하여 측부검사블록(115)의 하부에 각각 측부검사돌기(116)를 돌출 형성하여 측부탄성체(133)로 탄성력이 부여된 테스트필름(120)의 측부검사부(126)로 단자의 양측면을 각각 접촉 검사할 수 있음에 따라 단자의 본체 방향, 바깥 방향과 양측면 방향을 동시에 검사할 수 있어 검사 시간이 단축되면서 정확한 위치에서 검사를 수행할 수 있다.
도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도이고, 도 6은 도 5의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도이다.
도 5 및 도 6은 본 발명의 제3실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치(100)는 필름지지블록(110), 테스트필름(120), 및 탄성부재(130)를 포함한다. 여기서, 필름지지블록(110), 및 테스트필름(120)의 구성 요소와 탄성부재(130)의 일부 구성은 도 1 및 도 2에서 나타내는 필름형 테스트 프로브 장치(100)와 유사함에 따라 차이가 있는 부분인 탄성부재(130)에 대해서만 설명하도록 한다.
탄성부재(130)는 제1검사돌기(112)의 하부에 배치된 제1탄성블록(134), 및 제2탄성블록(135)을 포함한다. 제1탄성블록(134)은 제1검사돌기(112)와 제1검사부(121) 사이에 배치되며, 제1검사돌기(112)의 피검사대상의 본체 방향에 삽입된 상태에서 단자의 피검사대상의 본체 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 제1검사부(121)에 탄성력을 부가하여 제1검사부(121)가 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된다.
제2탄성블록(135)은 제2검사돌기(114)와 제2검사부(124) 사이에 배치되며, 제2검사돌기(114)의 바깥 방향에 삽입된 상태에서 단자의 바깥 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 제2검사부(124)에 탄성력을 부가하여 제2검사부(124)가 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된다.
즉, 단자의 본체 방향과 바깥 방향을 동시에 접촉하여 검사하도록 탄성력을 부여하는 제1탄성블록(134)과 제2탄성블록(135)을 탄성 소재의 블록 형태로 구비되어 탄성력을 부여하면서 지지력을 향상시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 제4실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 사시도이고, 도 8은 도 7의 필름형 테스트 프로브 장치를 나타내는 분해사시도이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 제4실시예에 따른 필름형 테스트 프로브 장치(100)는 필름지지블록(110), 테스트필름(120), 및 탄성부재(130)를 포함한다. 여기서, 필름지지블록(110), 및 테스트필름(120)은 본 발명의 제2실시예인 도 3 및 도 4에서 나타내는 필름형 테스트 프로브 장치와 유사함에 따라 차이가 있는 부분인 탄성부재(130)에 대해서만 설명하도록 한다.
탄성부재(130)는 제1검사돌기(112)의 하부에 배치된 제1탄성블록(134), 제2탄성블록(135), 및 측부탄성블록(136)을 포함한다. 제1탄성블록(134)은 제1검사돌기(112)와 제1검사부(121) 사이에 배치되며, 제1검사돌기(112)의 본체 방향에 삽입된 상태에서 단자의 본체 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 제1검사부(121)에 탄성력을 부가하여 제1검사부(121)가 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된다.
제2탄성블록(135)은 제2검사돌기(114)와 제2검사부(124) 사이에 배치되며, 제2검사돌기(114)의 바깥 방향에 삽입된 상태에서 단자의 바깥 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 제2검사부(124)에 탄성력을 부가하여 제2검사부(124)가 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된다.
측부탄성블록(136)은 측부검사돌기(116)와 측부검사부(126) 사이에 배치되며, 측부검사돌기(116)의 양측 방향에 삽입된 상태에서 단자의 양측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 테스트필름(120)의 측부검사부(126)에 탄성력을 부가하도록 서로 마주보는 양측에 각각 구비되어 측부검사부(126)가 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된다.
즉, 단자의 본체 방향, 바깥 방향, 및 양측면을 동시에 접촉하여 검사하도록 탄성력을 부여하는 제1탄성블록(134), 제2탄성블록(135), 및 측부탄성블록(136)을 탄성 소재의 블록 형태로 구비되어 탄성력을 부여하면서 지지력을 향상시킬 수 있다.
한편, 본 명세서와 도면에는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 개시하였으며, 비록 특정 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명의 기술 내용을 쉽게 설명하고 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 의미에서 사용된 것이지, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 테스트 프로브 장치 110 : 필름지지블록
111 : 블록몸체 112 : 제1검사돌기
112a : 제1경사면 112b : 접촉홈
113 : 블록공간 114 : 제2검사돌기
114a : 제2경사면 115 : 측부검사블록
116 : 측부검사돌기 116a : 측부경사면
120 : 테스트필름 121 : 제1검사부
122 : 제1범퍼 123 : 검사공간
124 : 제2검사부 125 : 제2범퍼
126 : 측부검사부 127 : 측부범퍼
130 : 탄성부재 131 : 제1탄성체
132 : 제2탄성체 133 : 측부탄성체
134 : 제1탄성블록 135 : 제2탄성블록
136 : 측부탄성블록
100 : 테스트 프로브 장치 110 : 필름지지블록
111 : 블록몸체 112 : 제1검사돌기
112a : 제1경사면 112b : 접촉홈
113 : 블록공간 114 : 제2검사돌기
114a : 제2경사면 115 : 측부검사블록
116 : 측부검사돌기 116a : 측부경사면
120 : 테스트필름 121 : 제1검사부
122 : 제1범퍼 123 : 검사공간
124 : 제2검사부 125 : 제2범퍼
126 : 측부검사부 127 : 측부범퍼
130 : 탄성부재 131 : 제1탄성체
132 : 제2탄성체 133 : 측부탄성체
134 : 제1탄성블록 135 : 제2탄성블록
136 : 측부탄성블록
Claims (9)
- 피검사대상에 형성된 단자의 인접된 바깥 둘레에 접촉하여 상기 피검사대상을 검사하는 필름형 테스트 프로브 장치에 있어서,
상기 피검사대상의 상부에 배치되며, 상기 단자의 바깥 둘레를 따라 복수의 위치를 동시 접촉하도록 상기 복수의 위치에 대응하는 위치에 복수의 범퍼(Bumper)가 구비된 테스트필름,
상기 테스트필름의 상부에 배치되며, 상기 테스트필름을 지지하는 필름지지블록; 및
상기 테스트필름과 상기 필름지지블록 사이에 배치되며, 상기 테스트필름에 구비된 상기 복수의 범퍼가 상기 단자의 복수의 위치에 각각 접촉할 때에 탄성력을 제공하는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 필름지지블록은,
상기 피검사대상의 상부에 배치되며, 상기 단자의 일측과 타측을 각각 가로지른 검사 위치에서 상기 테스트필름과 상기 탄성부재를 지지하도록 설치된 블록몸체,
상기 블록몸체의 하부에 돌출되며, 상기 단자의 일측 방향에 접촉 검사 위치로 돌출되어 타측 방향이 상부로 검사 시에 상기 단자가 접촉되지 않도록 위치하는 블록공간이 형성되도록 경사진 제1경사면이 구비되고, 돌출된 일측 방향에는 하부에 지지된 상기 테스트필름과 상기 탄성부재가 가압 접촉 시에 삽입되는 홈형태의 접촉홈이 형성된 제1검사돌기, 및
상기 블록몸체의 하부에 돌출되며, 상기 단자의 타측 방향 검사 위치에 돌출되도록 상기 제1검사돌기의 바깥 방향에 돌출되어 바깥 방향이 상부 방향으로 경사진 제2경사면을 가지는 제2검사돌기를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 필름지지블록은,
상기 블록몸체에 양측면에 각각 연장 구비되며, 상기 단자의 양측 방향으로 검사되는 상부에 위치하도록 구비되어 상기 단자의 양쪽 측면의 검사 위치에서 상기 테스트필름과 상기 탄성부재를 지지하도록 설치된 측부검사블록, 및
상기 측부검사블록의 하부에 돌출되며, 상기 단자의 양측으로 마주보는 검사 위치에 각각 돌출되어 서로 마주보는 검사 위치에서 바깥에 상부 방향으로 각각 경사진 측부경사면을 가지는 측부검사돌기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 테스트필름은, 상기 필름지지블록의 하부에 지지되어 상기 단자의 일측의 검사 위치에 접촉되어 검사를 실시하도록 하부에 제1범퍼가 구비되어 접촉되는 일측에서 타측 방향 상부로 경사져 검사 시에 상기 단자가 비접촉하도록 위치되는 검사공간을 가지는 제1검사부와, 상기 제1검사부의 타측 방향에 연결되면서 하부 방향으로 돌출되어 하부에 검사 시 상기 단자의 타측 방향을 접촉 검사하는 제2범퍼가 구비된 제2검사부를 구비한 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 4 항에 있어서,
상기 테스트필름은 상기 필름지지블록의 하부에 지지되어 상기 제2검사부의 양측에 각각 연결되어 서로 마주보는 양측의 바깥에서 일측 방향으로 연장되어 상기 단자의 양측면에 검사되는 위치의 상부로 서로 마주보는 방향에 바깥을 향해서 상부 방향으로 경사지게 형성되고, 서로 마주보는 하부에 상기 단자와 접촉 검사하는 위치에 측부범퍼를 가지는 측부검사부를 더 구비한 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 탄성부재는,
상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 단자의 일측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판 형태로 설치된 제1탄성체, 및
상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 단자의 타측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름에 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판 형태로 설치된 제2탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 6 항에 있어서,
상기 탄성부재는,
상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 단자의 양측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하도록 서로 마주보는 양측에 각각 구비되어 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 판형태로 설치된 측부탄성체를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 탄성부재는,
상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 필름지지블록의 일측 방향에 삽입된 상태에서 상기 단자의 일측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된 제1탄성블록, 및
상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 필름지지블록의 타측 방향에 삽입된 상태에서 상기 단자의 타측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하여 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된 제2탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치. - 제 8 항에 있어서,
상기 탄성부재는,
상기 필름지지블록과 상기 테스트필름 사이에 배치되며, 상기 필름지지블록의 양측 방향에 삽입된 상태에서 상기 단자의 양측 방향으로 접촉 검사되도록 위치한 상기 테스트필름에 탄성력을 부가하도록 서로 마주보는 양측에 각각 구비되어 상기 테스트필름이 검사를 위해 접촉 시 탄성에 의한 가압력을 제공하고, 검사 후에 원위치로 복귀하도록 탄성재질의 블록 형태로 설치된 측부탄성블록를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 테스트 프로브 장치.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130032647A KR101257226B1 (ko) | 2013-03-27 | 2013-03-27 | 필름형 테스트 프로브 장치 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130032647A KR101257226B1 (ko) | 2013-03-27 | 2013-03-27 | 필름형 테스트 프로브 장치 |
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KR101257226B1 true KR101257226B1 (ko) | 2013-04-29 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1020130032647A KR101257226B1 (ko) | 2013-03-27 | 2013-03-27 | 필름형 테스트 프로브 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR101257226B1 (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101469222B1 (ko) * | 2013-07-01 | 2014-12-10 | 주식회사 나노리퀴드디바이시스코리아 | 반도체 패키지 테스트 소켓용 필름형 컨택부재, 필름형 컨택복합체 및 이를 포함하는 소켓 |
KR101480681B1 (ko) | 2014-04-17 | 2015-01-14 | 주식회사 디엠엔티 | 범프 필름, 범프 필름 제조 방법 및 범프 필름을 구비하는 프로브 장치 |
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- 2013-03-27 KR KR1020130032647A patent/KR101257226B1/ko active IP Right Grant
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