KR20190132689A

KR20190132689A - 골판지 시트의 불량 검출 장치 및 골판지 시트의 불량 제거 장치와, 골판지 시트의 제조 장치

Info

Publication number: KR20190132689A
Application number: KR1020197032887A
Authority: KR
Inventors: 슈이치 다케모토; 나오유키 후쿠시게
Original assignee: 미츠비시 쥬고 기카이 시스템 가부시키가이샤
Priority date: 2017-05-12
Filing date: 2018-04-03
Publication date: 2019-11-28
Also published as: JP2018192633A; EP3611015A4; US20200118262A1; EP3611015A1; JP6273594B1; WO2018207504A1

Abstract

골판지 시트의 불량 검출 장치 및 골판지 시트의 불량 제거 장치와, 골판지 시트의 제조 장치에 있어서, 편면 골판지 시트(D)의 수직선(L1)에 대하여 미리 설정된 소정 각도만큼 경사진 조사 각도(θ1)로 골심지(B)를 향하여 평행광을 조사하는 조사 장치(51)와, 골심지(B)에 있어서의 평행광의 조사부를 촬상하는 촬상 장치(52)와, 촬상 장치(52)에 의하여 촬상된 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따르는 명부(W) 또는 암부(G)를 규정하는 음영 화상 처리 장치(57)와, 음영 화상 처리 장치(57)에 의하여 규정된 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 미리 설정된 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정하는 판정 장치(58)를 마련한다.

Description

골판지 시트의 불량 검출 장치 및 골판지 시트의 불량 제거 장치와, 골판지 시트의 제조 장치

본 발명은, 표측 라이너와 파형(波形) 가공된 골심지와 이측 라이너를 첩합시킨 골판지 시트의 불량을 검출하는 골판지 시트의 불량 검출 장치, 이 골판지 시트의 불량 검출 장치를 구비하는 골판지 시트의 불량 제거 장치, 이 골판지 시트의 불량 제거 장치를 구비하는 골판지 시트의 제조 장치에 관한 것이다.

골판지 시트의 제조 장치로서의 코러게이트 머신은, 편면 골판지 시트를 형성하는 싱글 페이서와, 편면 골판지 시트에 표측 라이너지(紙)를 첩합시켜 양면 골판지 시트를 형성하는 더블 페이서를 구비하고 있다. 싱글 페이서는, 골심지를 파형으로 가공하여, 이측 라이너를 첩합시켜 편면 골판지 시트를 형성하며, 더블 페이서는, 이 편면 골판지 시트에 표측 라이너를 첩합시켜 양면 골판지 시트를 형성한다. 이 더블 페이서에 의하여 제조된 연속된 양면 골판지 시트는, 슬리터 스코어러에 의하여 소정의 폭으로 절단되고, 컷 오프 장치에 의하여 소정의 길이로 절단되어 골판지 시트가 된다.

이 코러게이트 머신으로, 파형의 골심지가 이측 라이너에 첩합시켜 편면 골판지 시트를 형성할 때, 골심지의 파형의 산(山)이 변형되는 경우가 있고, 골심지에 변형이 있으면, 편면 골판지 시트에 표측 라이너를 첩합시킬 때에 접착 불량이 발생하거나, 양면 골판지 시트 두께가 불균일해지는 경우가 있으며, 불량의 골판지 시트가 발생하는 원인이 된다.

따라서, 편면 골판지 시트에 있어서의 골심지의 변형을 검출하는 골판지 시트의 불량 검출 장치가, 예를 들면 하기 특허문헌으로서 제안되어 있다. 특허문헌 1에 기재된 편면 골판지의 불량 검출 장치는, 골심지에 광을 조사하여 스트라이프상의 음영을 발생시키고, 이 음영을 일정 주기로 촬상하여, 그 스트라이프의 수에 의하여 불량을 판정하는 것이다.

일본 공개특허공보 소62-279931호

상술한 특허문헌 1의 편면 골판지의 불량 검출 장치는, 골심지에 광을 조사하여 발생한 스트라이프상의 음영의 수에 의하여 불량을 판정하고 있다. 그런데, 편면 골판지 시트에 있어서의 골심지의 파형의 산이 큰 폭으로 변형하면, 인접하는 골심지의 파형의 산끼리의 음영이 겹쳐, 스트라이프상의 음영의 수가 감소되어 이것을 불량으로서 검출할 수 있다. 그러나, 골심지의 파형의 산이 작은 폭으로 변형된 경우, 인접하는 골심지의 파형의 산끼리의 음영이 겹치지 않고, 스트라이프상의 음영의 수가 감소하지 않으며, 편면 골판지 시트가 불량이어도, 이것을 불량으로서 판정할 수 없다.

본 발명은, 상술한 과제를 해결하는 것이며, 골심지에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 골판지 시트의 불량을 고정밀도로 검출 가능하게 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치, 골판지 시트의 불량 제거 장치, 골판지 시트의 제조 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치는, 파형 형상을 이루는 골심지를 외측으로 하여 안내 부재에 의하여 안내되는 편면 골판지 시트의 불량을 검출하는 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서, 상기 편면 골판지 시트에 대하여 미리 설정된 소정 각도만큼 경사진 조사 각도로 상기 골심지를 향하여 광을 조사하는 조사 장치와, 상기 골심지에 있어서의 상기 광의 조사부를 촬상하는 촬상 장치와, 상기 촬상 장치에 의하여 촬상된 촬영 화상에 근거하여 상기 편면 골판지 시트의 반송 방향을 따르는 명부(明部) 또는 암부(暗部)를 규정하는 화상 처리 장치와, 상기 화상 처리 장치에 의하여 규정된 상기 명부의 길이 또는 상기 암부의 길이를 미리 설정된 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정하는 판정 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 것이다.

따라서, 조사 장치가 안내 부재에 의하여 안내되는 편면 골판지 시트의 골심지를 향하여 광을 조사하면, 촬상 장치가 골심지에 있어서의 광의 조사부를 촬상하고, 화상 처리 장치는, 이 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트의 반송 방향을 따르는 명부 또는 암부를 규정하며, 판정 장치는, 이 명부의 길이 또는 암부의 길이를 판정값과 비교하여 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정한다. 이때, 파형 형상을 이루는 골심지의 산의 음영에 의하여 형성되는 명부 또는 암부의 길이에 근거하여 골심지의 불량, 즉 골판지 시트의 불량을 검출하게 된다. 이로 인하여, 골심지의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 골판지 시트의 불량을 고정밀도로 검출할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정 장치는, 상기 명부의 길이 또는 상기 암부의 길이를 상기 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정한 후, 판정 결과를 소정 개수 수집 후에, 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 상기 명부의 길이 또는 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 상기 암부의 길이를 평균하여 산출한 값을 판정값으로서 사용하는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정값을 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 명부의 길이 또는 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 암부의 길이를 평균한 값, 이른바, 이동 평균값으로 함으로써, 운전 조건에 의하여 골심지의 산의 형상이 변화된 경우여도, 이것을 불량이라고 판정하지 않아, 불량의 오검출의 발생을 억제할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정값은, 미리 설정된 상기 명부 또는 상기 암부의 길이의 판정 기준값에 대하여 소정의 여유도를 가미한 판정 영역으로서 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 명부 또는 암부의 길이의 판정 기준값에 대하여 여유도를 가미한 판정 영역을 판정값으로 함으로써, 골판지 시트의 품질을 확보한 후에, 제조 시에 있어서의 편면 골판지 시트의 골심지의 산의 형상의 편차를 고려하여 불량 여부 판정을 행함으로써, 불량의 오검출의 발생을 억제할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정값은, 상기 편면 골판지 시트의 종류마다 설정되어, 기억 장치에 저장되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 골심지의 산의 높이나 폭에 따라 판정값을 변경함으로써, 편면 골판지 시트의 종류가 변경되어도, 고정밀도인 불량 여부 판정이 가능해져, 불량 여부 판정 정밀도를 향상시킬 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 편면 골판지 시트의 폭 정보에 근거하여 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하는 검사 위치 설정 장치가 마련되고, 상기 판정 장치는, 상기 촬상 장치가 촬상한 폭 방향의 전역에 있어서의 촬영 화상으로부터 상기 검사 위치 설정 장치가 설정한 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상에 근거하여 상기 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 폭 정보에 근거하여 편면 골판지 시트의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하고, 촬상 장치가 촬상한 촬영 화상으로부터 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하는 점에서, 판정 장치는, 편면 골판지 시트의 폭 정보에 근거하여 편면 골판지 시트의 폭 방향에 있어서의 최적인 검사 위치에서의 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하게 된다. 그 결과, 편면 골판지 시트의 단부에 있어서의 미검사 영역을 저감시킴으로써 편면 골판지 시트의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 검사 위치 설정 장치는, 상기 편면 골판지 시트에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역을 설정하고, 각 단부의 상기 미검사 영역의 사이에 설정되는 검사 영역에 소정 간격마다 상기 복수의 검사 위치를 설정하는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 먼저 편면 골판지 시트에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역을 설정하고, 그 후 각 미검사 영역의 사이에 설정되는 검사 영역에 복수의 검사 위치를 설정함으로써, 편면 골판지 시트의 폭 치수에 관계없이, 원하는 치수의 미검사 영역을 설정할 수 있으며, 편면 골판지 시트 폭의 변경 후에 있어서의 미검사 영역의 확대를 억제할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 복수의 검사 위치는, 상기 검사 영역에 등간격으로 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 복수의 검사 위치를 검사 영역에 등간격으로 설정함으로써, 편면 골판지 시트의 불량 여부 판정 정밀도의 편차를 억제할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향의 각 단부 측에 있어서의 상기 복수의 검사 위치의 설정 밀도가, 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향의 중심 측에 있어서의 상기 복수의 검사 위치의 설정 밀도보다 높게 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 폭 방향의 각 단부 측에 있어서의 복수의 검사 위치의 간격을 좁게 하고, 중심 측에 있어서의 복수의 검사 위치의 간격을 넓게 함으로써, 첩합 불량 등이 발생하기 쉬운 단부 측을 상세하게 검사할 수 있어, 편면 골판지 시트의 불량 여부 판정 정밀도를 향상시킬 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정 장치에 의하여 상기 편면 골판지 시트의 불량이 판정되었을 때에 불량 발생을 알리는 알림 장치가 마련되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 불량이 판정되었을 때에 불량 발생이 알려짐으로써, 오퍼레이터에게 불량의 발생을 알려 조기에 대응책을 강구할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 알림 장치는, 경보를 발하는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 불량이 판정되었을 때에 경보를 발함으로써, 오퍼레이터에게 불량의 발생을 정확하게 알릴 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정 장치가 판정한 상기 편면 골판지 시트의 화상을 표시하는 표시 장치가 마련되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 불량이 판정되었을 때에, 표시 장치에 불량이라고 판정된 편면 골판지 시트의 화상을 표시함으로써, 오퍼레이터는, 표시 장치의 화상에 의하여 불량의 형태를 인식할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정 장치가 판정한 상기 편면 골판지 시트의 화상을 기억하는 기억 장치가 마련되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 불량이 판정되었을 때에, 기억 장치에 불량이라고 판정된 편면 골판지 시트의 화상을 기억함으로써, 오퍼레이터는, 나중에 기억 장치에 기억된 화상에 의하여 불량의 형태를 인식할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정값은, 미리 설정되는 제1 판정값과, 상기 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 상기 촬상 장치가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 설정되는 제2 판정값을 갖고, 상기 판정 장치는, 상기 제1 판정값과 상기 제2 판정값을 전환 가능한 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치는, 촬영 화상과 제1 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하고, 이 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 촬상 장치가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정하며, 제2 판정값이 설정되면, 제1 판정값으로부터 제2 판정값으로 전환하고, 촬영 화상과 제2 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정한다. 그 결과, 편면 골판지 시트의 불량 여부 판정을 촬상 장치 등의 특성에 대응한 제2 판정값을 이용하여 행함으로써, 편면 골판지 시트의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정 장치는, 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상과 상기 복수의 검사 위치마다 설정되는 상기 판정값을 비교하여 상기 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하는 것이고, 상기 제1 판정값은, 상기 복수의 검사 위치에 대응한 일정값으로 설정되며, 상기 제2 판정값은, 상기 복수의 검사 위치에 대응한 개별값으로 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치는, 복수의 검사 위치에 대응한 일정값을 제1 판정값으로서 설정하고, 복수의 검사 위치에 대응한 개별값으로서 제2 판정값을 설정함으로써, 사전에 편면 골판지 시트의 설곗값 등에 의하여 제1 판정값을 용이하게 설정할 수 있으며, 또 제1 판정값에 의한 편면 골판지 시트의 불량 여부 판정의 결과를 이용함으로써, 제2 판정값을 복수의 검사 위치에 따라 고정밀도로 설정할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 상기 촬영 화상에 근거하여 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정함으로써, 제2 판정값을 촬상 장치 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있어, 편면 골판지 시트의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 평균값에 근거하여 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 평균값에 근거하여 제2 판정값을 설정함으로써, 제2 판정값을 촬상 장치 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 평균값에 미리 설정된 여윳값을 가산하여 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 평균값에 여윳값을 가산하여 제2 판정값을 설정함으로써, 제2 판정값을 촬상 장치 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 근거하여 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 근거하여 제2 판정값을 설정함으로써, 제2 판정값의 영역을 촬상 장치 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 미리 설정된 여윳값을 가산하여 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 판정 장치가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 여윳값을 가산하여 제2 판정값을 설정함으로써, 제2 판정값의 영역을 촬상 장치 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 편면 골판지 시트의 반송 속도가 미리 설정된 판정값 설정 속도에 도달하고, 또한 일정 속도로 유지된 후에 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 반송 속도가 판정값 설정 속도에 도달하고, 일정 속도로 유지된 후에 제2 판정값을 설정함으로써, 촬상 장치가 촬상한 복수의 촬영 화상의 적정화를 도모하며, 골판지 시트의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 제2 판정값은, 상기 편면 골판지 시트의 반송 속도가 일정 속도로 유지된 후부터 미리 설정된 소정 시간의 경과 후에 설정되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 반송 속도가 판정값 설정 속도에 도달하고, 일정 속도로 유지된 후부터 소정 시간의 경과 후에 제2 판정값을 설정함으로써, 편면 골판지 시트의 반송 상태가 안정된 상태에서 촬상 장치가 골심지를 촬상하게 되며, 촬영 화상의 적정화를 도모하고 편면 골판지 시트의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 편면 골판지 시트의 종류가 변경되었을 때, 상기 판정 장치는, 상기 제2 판정값으로부터 상기 제1 판정값으로 전환하고, 상기 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 상기 촬상 장치가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정하는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 종류가 변경되면, 판정 장치는, 제2 판정값을 이용한 불량 여부 판정으로부터 제1 판정값을 이용한 불량 여부 판정으로 전환하고, 재차 제2 판정값을 설정함으로써, 편면 골판지 시트의 불량 여부 판정을 계속해서 행할 수 있음과 함께, 편면 골판지 시트의 종류에 따른 최적인 제2 판정값을 설정할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 상기 판정 장치에 의한 상기 제2 판정값으로부터 상기 제1 판정값으로의 전환은, 상기 편면 골판지 시트의 종이 이음부가 촬상 장치에 의한 촬상 위치의 통과 시에 실시되는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 편면 골판지 시트의 종이 이음부는, 다른 불량 검출 장치에 의하여 불량이라고 판정되는 점에서, 편면 골판지 시트의 종이 이음부가 촬상 위치를 통과할 때에 제2 판정값으로부터 제1 판정값으로 전환함으로써, 불량품의 미검출이나 우량품의 오검출의 발생을 억제할 수 있다.

또, 본 발명의 골판지 시트의 불량 제거 장치는, 상기 골판지 시트의 불량 검출 장치와, 상기 골판지 시트의 불량 검출 장치가 검출한 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트를 배출하는 배출 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 것이다.

따라서, 골판지 시트의 불량 검출 장치가 파형 형상을 이루는 골심지의 산의 음영에 의하여 형성되는 명부 또는 암부의 길이에 근거하여 골심지의 불량, 즉 편면 골판지 시트의 불량을 검출하고, 배출 장치가 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트를 반송 라인으로부터 배출하여 제거한다. 이로 인하여, 골심지의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 편면 골판지 시트의 불량을 고정밀도로 검출하여, 우량품의 골판지 시트만을 반송할 수 있다.

또, 본 발명의 골판지 시트의 제조 장치는, 파형 가공된 골심지에 제2 라이너를 첩합시켜 편면 골판지 시트를 제조하는 싱글 페이서와, 상기 편면 골판지 시트에 있어서의 상기 골심지 측에 제1 라이너를 첩합시켜 양면 골판지 시트를 제조하는 더블 페이서와, 상기 골판지 시트의 불량 제거 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 것이다.

따라서, 싱글 페이서는, 파형 가공된 골심지에 제2 라이너를 첩합시켜 편면 골판지 시트를 제조하고, 더블 페이서는, 싱글 페이서에서 제조되는 편면 골판지 시트에 있어서의 골심지 측에 제1 라이너를 첩합시켜 양면 골판지 시트를 제조한다. 이때, 불량 제거 장치가 골판지 시트의 불량을 검출하고, 배출 장치가 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트를 반송 라인으로부터 배출하여 제거한다. 이로 인하여, 골심지의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 골판지 시트의 불량을 고정밀도로 검출하여, 우량품의 골판지 시트만을 반송할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 제조 장치에서는, 상기 골판지 시트의 불량 검출 장치가 상기 골판지 시트의 불량을 판정했을 때, 상기 골판지 시트의 반송 속도를 저하시키는 것을 특징으로 하고 있다.

따라서, 싱글 페이서가 파형 가공된 골심지에 제2 라이너를 첩합시킬 때, 파형 가공된 골심지에 접착제 도포를 행한 후 제2 라이너를 가압하고 나서 가열하여 첩합시키고 편면 골판지 시트를 제조하는 점에서, 골판지 시트의 불량이 발생했을 때, 편면 골판지 시트의 반송 속도를 저하시킴으로써, 편면 골판지 시트의 가압 시간이나 가열 시간을 증가시킬 수 있어, 첩합 불량 발생을 억제할 수 있다.

본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치, 골판지 시트의 불량 제거 장치, 골판지 시트의 제조 장치에 의하면, 골심지에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 골판지 시트의 불량을 고정밀도로 검출할 수 있다.

도 1은, 제1 실시형태의 골판지 시트의 제조 장치로서의 코러게이트 머신을 나타내는 개략도이다.
도 2는, 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치가 장착된 싱글 페이서의 주요부 개략도이다.
도 3은, 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치를 나타내는 개략 구성도이다.
도 4는, 편면 골판지 시트에 대한 조사 장치 및 촬상 장치의 배치 구성을 나타내는 측면도이다.
도 5는, 편면 골판지 시트에 대한 조사 장치 및 촬상 장치의 배치 구성을 나타내는 평면도이다.
도 6은, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조사 장치의 조사 각도를 설명하기 위한 개략도이다.
도 7a는, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조명광의 작용을 나타내는 개략도 이고, 확산광에 의한 작용을 나타내고 있다.
도 7b는, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조명광의 작용을 나타내는 개략도 이고, 평행광에 의한 작용을 나타내고 있다.
도 8은, 화상 처리 방법을 설명하기 위한 플로차트이다.
도 9는, 화상 처리 방법의 변형예를 설명하기 위한 플로차트이다.
도 10은, 화상 처리 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
도 11a는, 편면 골판지 시트의 골심지의 변형예를 나타내는 개략도이고, 산저(山低)를 나타내고 있다.
도 11b는, 편면 골판지 시트의 골심지의 변형예를 나타내는 개략도이고, 산고(山高)를 나타내고 있다.
도 12는, 제2 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서의 화상 처리 방법을 설명하기 위한 플로차트이다.
도 13은, 제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치를 나타내는 개략 구성도이다.
도 14는, 편면 골판지 시트에 대한 조사 장치 및 촬상 장치의 배치 구성을 나타내는 평면도이다.
도 15는, 촬상 장치를 나타내는 개략 구성도이다.
도 16은, 골판지 시트의 불량 검출 장치에 의한 검출 위치를 나타내는 개략도이다.
도 17은, 화상 처리 방법을 설명하기 위한 플로차트이다.
도 18은, 표시 장치에 의한 골판지 시트의 불량 화상을 나타내는 개략도이다.
도 19는, 골판지 시트의 불량 검출 장치의 작동을 설명하기 위한 플로차트이다.
도 20은, 골판지 시트의 불량 검출 장치의 작동을 설명하기 위한 타임 차트이다.
도 21은, 복수의 검사 위치에 대한 명부 또는 암부의 길이의 평균값, 최댓값, 최솟값과 판정값과의 관계를 나타내는 그래프이다.

이하에 첨부 도면을 참조하여, 본 발명의 골판지 시트의 불량 검출 장치, 골판지 시트의 불량 제거 장치, 골판지 시트의 제조 장치의 적합한 실시형태를 상세하게 설명한다. 또한, 이 실시형태에 의하여 본 발명이 한정되는 것은 아니고, 또 실시형태가 복수 있는 경우에는, 각 실시형태를 조합하여 구성하는 것도 포함하는 것이다.

[제1 실시형태]

도 1은, 제1 실시형태의 골판지 시트의 제조 장치로서의 코러게이트 머신을 나타내는 개략도이다.

제1 실시형태에 있어서, 도 1에 나타내는 바와 같이, 골판지 시트의 제조 장치로서의 코러게이트 머신(10)은, 먼저, 파형 가공된 골심지(B1)에 이측 라이너(제2 라이너)(C1)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D1)를 제조함과 함께, 파형 가공된 골심지(B2)에 이측 라이너(제2 라이너)(C2)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D2)를 제조한다. 다음으로, 제조된 편면 골판지 시트(D1)의 골심지(B1)에 편면 골판지 시트(D2)의 이측 라이너(C2)를 첩합시킴과 함께, 편면 골판지 시트(D2)의 골심지(B2)에 표측 라이너(제1 라이너)(A)를 첩합시켜 연속된 양면 골판지 시트(E)를 제조한다. 그리고, 연속된 양면 골판지 시트(E)를 소정 길이로 절단함으로써, 판상의 양면 골판지 시트(F)를 제조하는 것이다.

코러게이트 머신(10)은, 골심지(B1)의 밀 롤 스탠드(11)와, 이측 라이너(C1)의 밀 롤 스탠드(12)와, 싱글 페이서(13)와, 브리지(14)와, 골심지(B2)의 밀 롤 스탠드(15)와, 이측 라이너(C2)의 밀 롤 스탠드(16)와, 싱글 페이서(17)와, 브리지(18)와, 표측 라이너(A)의 밀 롤 스탠드(19)와, 프리히터(20)와, 글루 머신(21)과, 더블 페이서(22)와, 로터리 시어(23)와, 슬리터 스코어러(24)와, 컷 오프(25)와, 불량품 배출 장치(26)와, 스태커(27)를 갖고 있다.

각 밀 롤 스탠드(11, 15)는, 양측에 각각 골심지(B1, B2)가 형성되는 골심지가 롤상으로 감긴 롤지가 장착되어 있고, 각 롤지의 사이에 종이 이음을 행하는 스플라이서가 마련되어 있다. 한쪽의 롤지로부터 급지되고 있을 때에, 다른 한쪽의 롤지가 장착되어 종이 이음 준비가 이루어지고, 스플라이서는, 한쪽의 롤지가 얼마 남지 않게 되면, 한쪽의 롤지에 다른 한쪽의 롤지가 종이 이음된다. 이로 인하여, 각 밀 롤 스탠드(11, 15)로부터 하류 측을 향하여 연속적으로 급지되게 된다.

또, 밀 롤 스탠드(12, 16)는, 양측에 각각 이측 라이너(C1, C2)가 롤상으로 감긴 롤지가 장착되어 있고, 각 롤지의 사이에 종이 이음을 행하는 스플라이서가 마련되어 있다. 한쪽의 롤지로부터 급지되고 있을 때에, 다른 한쪽의 롤지가 장착되어 종이 이음 준비가 이루어지고, 스플라이서는, 한쪽의 롤지가 얼마 남지 않게 되면, 한쪽의 롤지에 다른 한쪽의 롤지가 종이 이음된다. 이로 인하여, 각 밀 롤 스탠드(12, 16)로부터 하류 측을 향하여 연속적으로 급지되게 된다.

각 밀 롤 스탠드(11, 15)로부터 조출되는 골심지(B1, B2)와, 밀 롤 스탠드(12, 16)로부터 조출되는 이측 라이너(C1, C2)는, 각각 도시하지 않는 프리히터에 의하여 예열된다. 각 프리히터는, 내부에 증기가 공급되는 가열 롤을 갖고, 골심지(B1, B2)나 이측 라이너(C1, C2)를 가열 롤에 권취하여 반송함으로써, 소정 온도까지 승온시킨다.

싱글 페이서(13)는, 가열된 골심지(B1)를 파상(波狀)으로 가공한 후에 각 골 정상부에 접착제 도포하고, 가열된 이측 라이너(C1)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D1)를 형성한다. 싱글 페이서(13)는, 반송 방향 하류 측의 비스듬한 상방에 취상 컨베이어가 마련되어 있고, 싱글 페이서(13)로 형성된 편면 골판지 시트(D1)를 브리지(14)로 반송한다. 이 브리지(14)는, 싱글 페이서(13)와 더블 페이서(22)와의 속도차를 흡수하기 때문에, 편면 골판지 시트(D1)를 일차적으로 체류시킬 수 있다.

또, 싱글 페이서(17)는, 가열된 골심지(B2)를 파상으로 가공한 후에 각 골 정상부에 접착제 도포하고, 가열된 이측 라이너(C2)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D2)를 형성한다. 싱글 페이서(17)는, 반송 방향 하류 측의 비스듬한 상방에 취상 컨베이어가 마련되어 있고, 싱글 페이서(17)로 형성된 편면 골판지 시트(D2)를 브리지(18)로 반송한다. 이 브리지(18)는, 싱글 페이서(17)와 더블 페이서(22)와의 속도차를 흡수하기 때문에, 편면 골판지 시트(D2)를 일차적으로 체류시킬 수 있다.

밀 롤 스탠드(19)는, 양측에 각각 표측 라이너(A)가 롤상으로 감긴 롤지가 장착되어 있고, 각 롤지의 사이에 종이 이음을 행하는 스플라이서가 마련되어 있다. 한쪽의 롤지로부터 급지되고 있을 때에, 다른 한쪽의 롤지가 장착되어 종이 이음 준비가 이루어지고, 스플라이서는, 한쪽의 롤지가 얼마 남지 않게 되면, 한쪽의 롤지에 다른 한쪽의 롤지가 종이 이음된다. 이로 인하여, 밀 롤 스탠드(19)로부터 하류 측을 향하여 연속적으로 급지되게 된다.

프리히터(20)는, 3개의 예열 롤(31, 32, 33)이 연직 방향으로 나란히 배치되어 있다. 예열 롤(31)은, 표측 라이너(A)를 가열하는 것이고, 예열 롤(32)은, 편면 골판지 시트(D2)를 가열하는 것이며, 예열 롤(33)은, 편면 골판지 시트(D1)를 가열하는 것이다. 또, 각 예열 롤(31, 32, 33)은, 권취량 조정 장치(도시 생략)를 가짐과 함께, 내부에 증기가 공급되어 소정의 온도로 가열되어 있고, 주면(周面)에 표측 라이너(A), 편면 골판지 시트(D2), 편면 골판지 시트(D1)가 권취됨으로써, 예가열할 수 있다.

글루 머신(21)은, 접착제 도포 롤(34, 35)이 연직 방향으로 나란히 배치되어 있다. 접착제 도포 롤(34)은, 예열 롤(32)로 가열된 편면 골판지 시트(D2)에 있어서의 골심지(B2)의 골의 각 정상부에 접촉하여 접착제 도포를 행하는 것이다. 접착제 도포 롤(35)은, 예열 롤(33)로 가열된 편면 골판지 시트(D1)에 있어서의 골심지(B1)의 골의 각 정상부에 접촉하여 접착제 도포를 행하는 것이다. 글루 머신(21)에 의하여 접착제 도포된 편면 골판지 시트(D1, D2)는, 다음 공정의 더블 페이서(22)로 이송된다. 또, 예열 롤(31)로 가열된 표측 라이너(A)도 글루 머신(21) 내를 통과하여 더블 페이서(22)로 이송된다.

더블 페이서(22)는, 각 편면 골판지 시트(D1, D2) 및 표측 라이너(A)의 주행 라인을 따라, 상류 측의 히팅 섹션(36)과, 하류 측의 쿨링 섹션(37)을 갖고 있다. 글루 머신(21)으로 접착제 도포된 편면 골판지 시트(D1, D2) 및 표측 라이너(A)는, 히팅 섹션(36)에서, 가압 벨트와 열판의 사이에 반입되고, 서로 겹쳐진 상태로 일체가 되어 쿨링 섹션(37)을 향하여 이송된다. 이 이송 중, 각 편면 골판지 시트(D1, D2)와 표측 라이너(A)는, 가압되면서 가열됨으로써, 서로 첩합되어 연속된 양면 골판지 시트(E)가 되고, 그 후 반송되면서 자연 냉각된다.

더블 페이서(22)에서 제조된 양면 골판지 시트(E)는, 슬리터 스코어러(24)로 이송된다. 이 슬리터 스코어러(24)는, 폭이 넓은 양면 골판지 시트(E)를 소정의 폭을 갖도록 반송 방향을 따라 재단하고, 또한 반송 방향으로 뻗는 괘선을 가공하는 것이다. 이 슬리터 스코어러(24)는, 양면 골판지 시트(E)의 반송 방향을 따라 배열된 대략 동일 구조를 한 제1 슬리터 스코어러 유닛(38)과 제2 슬리터 스코어러 유닛(39)으로 구성되어 있다. 폭이 넓은 양면 골판지 시트(E)는, 이 슬리터 스코어러(24)에 의하여 재단됨으로써, 소정 폭의 양면 골판지 시트(E)가 형성된다.

컷 오프(25)는, 슬리터 스코어러(24)에 의하여 반송 방향으로 재단된 양면 골판지 시트(E)를 폭 방향을 따라 절단하여, 소정 길이를 가진 판상의 양면 골판지 시트(F)로 형성하는 것이다. 불량품 배출 장치(26)는, 후술하는 불량 검출 장치에 의하여 불량품이라고 판정된 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 배출하는 것이다. 스태커(27)는, 우량품이라고 판정된 양면 골판지 시트(F)를 적재하여 제품으로서 기외(機外)로 배출하는 것이다.

여기에서, 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에 대하여 설명한다. 도 2는, 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치가 장착된 싱글 페이서의 주요부 개략도이다.

제1 실시형태에 있어서, 도 2에 나타내는 바와 같이, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)는, 브리지(18)와 프리히터(20)의 사이에 마련되어 있다. 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)는, 편면 골판지 시트(D1)(B1, C1)의 불량을 검출하는 제1 불량 검출 장치(40A)와, 편면 골판지 시트(D2)(B2, C2)의 불량을 검출하는 제2 불량 검출 장치(40B)로 구성되어 있고, 거의 동일한 구성으로 되어 있다. 브리지(18) 측으로부터 반송된 편면 골판지 시트(D1)는, 가이드 롤러(41a, 42a, 43a)에 가이드되어 제1 불량 검출 장치(40A)에 이르고, 가이드 롤러(44a, 45a, 46a, 47a)에 가이드되어 프리히터(20) 측으로 반송된다. 또, 브리지(18) 측으로부터 반송된 편면 골판지 시트(D2)는, 가이드 롤러(41b, 42b, 43b)에 가이드되어 제2 불량 검출 장치(40B)에 이르고, 가이드 롤러(44b, 45b, 46b)에 가이드되어 프리히터(20) 측으로 반송된다.

프레임(48)에 지지판(49, 50)이 고정되어 있고, 지지판(49)에 가이드 롤러(43a, 43b)가 회전 가능하게 지지되며, 지지판(50)에 가이드 롤러(44a, 44b, 45a, 45b, 46a, 46b, 47a)가 회전 가능하게 지지되어 있다. 또, 지지판(49)에 후술하는 촬상 장치(52a, 52b)가 지지되고, 지지판(50)에 후술하는 조사 장치(51a, 51b)가 지지되어 있다. 이하, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)(40A, 40B)에 대하여 상세하게 설명한다.

도 3은, 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치를 나타내는 개략 구성도, 도 4는, 편면 골판지 시트에 대한 조사 장치 및 촬상 장치의 배치 구성을 나타내는 측면도, 도 5는, 편면 골판지 시트에 대한 조사 장치 및 촬상 장치의 배치 구성을 나타내는 평면도, 도 6은, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조사 장치의 조사 각도를 설명하기 위한 개략도이다.

골판지 시트의 불량 검출 장치(40)(40A, 40B)는, 도 3에 나타내는 바와 같이, 파형 형상을 이루는 골심지(B)를 외측으로 하여 가이드 롤러(43, 44, 45, 46)에 의하여 반송되는 편면 골판지 시트(D)(D1, D2)의 불량을 검출하는 것이다. 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)는, 안내 부재로서의 가이드 롤러(43, 44, 45, 46)에 더하여, 조사 장치(51)(51a, 51b)와, 촬상 장치(52)(52a, 52b)와, 제어 장치(53)와, 알림 장치(54)와, 표시 장치(55)를 갖고 있다. 그리고, 제어 장치(53)는, 음영 화상 처리 장치(57)와, 판정 장치(58)와, 기억 장치(59)를 갖고 있다. 또, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)는, 이 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)와, 불량품 배출 장치(26)를 갖고 있다. 구체적으로, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)는, 제어 장치(53)를 구성하는 불량 위치 특정 장치(61)와, 추적 장치(62)를 갖고 있다.

이하, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40) 및 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)에 대하여 상세하게 설명한다.

가이드 롤러(43, 44, 45, 46)는, 구동 회전 또는 종동 회전 가능하고, 외주부에서 편면 골판지 시트(D)를 가이드하여 반송 가능하다. 편면 골판지 시트(D)는, 파형 형상을 이루는 골심지(B)가 이측 라이너(C)에 첩합되어 형성된 것이고, 가이드 롤러(43)는, 파형 형상을 이루는 골심지(B)를 외측으로 하여 편면 골판지 시트(D)를 가이드하고 있다.

조사 장치(51)는, 편면 골판지 시트(D)의 수직선에 대하여 미리 설정된 소정 각도만큼 경사진 조사 각도로 골심지(B)를 향하여 평행광을 조사하는 것이다. 촬상 장치(52)는, 골심지(B)에 있어서의 평행광의 조사부(음영)를 촬상하는 것이다. 음영 화상 처리 장치(57)는, 촬상 장치(52)에 의하여 촬상된 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따르는 명부 또는 암부를 규정하는 것이다. 판정 장치(58)는, 음영 화상 처리 장치(57)에 의하여 규정된 명부의 길이 또는 암부의 길이를 미리 설정된 판정값과 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 것이다. 기억 장치(59)는, 판정 장치(58)가 사용하는 판정값을 저장하고 있다. 또, 알림 장치(54)는, 판정 장치(58)의 판정 결과 등을 알리고, 표시 장치(55)는, 판정 장치(58)의 판정 결과 등을 표시한다.

또, 불량 위치 특정 장치(61)는, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)가 검출한 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 불량 위치를 특정하는 것이다. 추적 장치(62)는, 불량 위치 특정 장치(61)가 특정한 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 불량 위치를 추적하는 것이다. 제어 장치(53)는, 이 추적 장치(62)의 추적 결과에 근거하여 불량품 배출 장치(26)를 작동시킨다.

도 3 내지 도 5에 나타내는 바와 같이, 조사 장치(51)는, 가이드 롤러(45)로부터 소정 거리만큼 이간된 위치에 배치되고, 장착 브래킷(71)에 의하여 장치 본체(지지판(50))에 고정되어 있다. 또, 조사 장치(51)는, 가이드 롤러(45)의 축 방향의 길이에 대응하도록, 가이드 롤러(45)의 주면에 대향하여 배치되어 있고, 가이드 롤러(45)의 외주면, 즉 가이드 롤러(45)에 의하여 가이드되는 편면 골판지 시트(D)의 전체 폭의 영역을 향하여 평행광을 조사할 수 있다. 이 평행광이란, 특히 가이드 롤러(45)를 축 방향에서 보았을 경우, 가이드 롤러(45)를 향하여 조사되는 광축이 방사상으로 확산되지 않고, 서로 평행하게 직진하는 광이다.

촬상 장치(52)는, 가이드 롤러(45)로부터 소정 거리만큼 이간된 위치에 배치되고, 장착 브래킷(72)에 의하여 장치 본체(지지판(49))에 고정되어 있다. 또, 촬상 장치(52)는, 가이드 롤러(45)의 축 방향에 있어서의 중간 위치에 대향하여 배치되어 있고, 가이드 롤러(45)의 외주면, 즉 가이드 롤러(45)에 의하여 가이드되는 편면 골판지 시트(D)의 전체 폭의 영역을 촬상할 수 있다. 이 촬상 장치(52)는, 1개의 라인 카메라이고, 파형 형상을 이루는 골심지(B)에 있어서의 산에 있어서의 조사부를 촬상한다. 이 경우, 촬상 장치(52)는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따라 1화소, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향을 따라 복수 화소의 화상을 판독할 수 있다. 이로 인하여, 촬상 장치(52)는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도 또는 골심지(B)의 산의 피치에 따라 촬상 간격이 설정된다.

본 실시형태에서, 촬상 장치(라인 카메라)(52)는, 편면 골판지 시트(D)의 수직선, 즉 가이드 롤러(43)의 중심을 통과하는 직경 방향을 따른 선 상에 배치되지만, 조사 장치(51)는, 편면 골판지 시트(D)의 수직선(가이드 롤러(43)의 중심을 통과하는 직경 방향을 따른 선)에 대하여 소정 각도만큼 경사진 각도(조사 각도)의 선 상에 배치된다.

도 6은, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조사 장치의 조사 각도를 설명하기 위한 개략도, 도 7a는, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조명광의 작용을 나타내는 개략도이고, 확산광에 의한 작용을 나타내며, 도 7b는, 편면 골판지 시트의 골심지에 대한 조명광의 작용을 나타내는 개략도이고, 평행광에 의한 작용을 나타내고 있다.

도 6에 나타내는 바와 같이, 편면 골판지 시트(D)는, 이측 라이너(C)에 파형 형상을 이루는 골심지(B)가 첩합되어 이루어지고, 이측 라이너(C)가 가이드 롤러(43)에 접촉하고, 골심지(B)가 외측에 노출되어 반송된다. 또한, 편면 골판지 시트(D)는, 가이드 롤러(45)에 지지되어 호(弧)상으로 주행하는 것이지만, 여기에서는, 직선상으로 주행하는 것으로 하여 설명한다. 가이드 롤러(45)의 중심 및 골심지(B)의 산의 산정상부(Ba)를 통과하여 직경 방향을 따르는 편면 골판지 시트(D)의 수직선(L1)이 규정된다. 조사 장치(51)에 의한 평행광(S)의 조사 각도(θ1)는, 이 수직선(L1)에 대한 각도이고, 수직선(L1)으로부터 골심지(B)의 산의 경사면을 따르는 경사선(L2)까지의 각도(θ)보다 큰 각도(θ1)로 설정된다. 또한, 골심지(B)의 산은, 산정상부(Ba)로부터 베이스부에 걸쳐 외측으로 볼록 형상을 이루는 제1 곡선부(Bb)와, 외측의 오목 형상을 이루는 제2 곡선부(Bc)로 이루어지고, 경사선(L2)은, 제1 곡선부(Bb)에 있어서의 가장 베이스 측의 위치에 대한 접선이다. 조사 장치(51)에 의한 평행광(S)의 조사 각도(θ1)가 수직선(L1)으로부터 경사선(L2)까지의 각도(θ)보다 큰 각도(θ1)로 설정되는 점에서, 조사광에 의하여 산의 음영을 생성할 수 있다.

그리고, 조사 장치(51)는, 소정의 조사 각도(θ1)로 골심지(B)를 향하여 평행광을 조사한다. 도 7a에 나타내는 바와 같이, 조사 장치(51)로부터의 조사광이 평행광이 아닌 경우, 이 조사광(S)에 의하여 골심지(B)의 산의 음영이 형성됨으로써, 명부(W)와 암부(G)가 형성되지만, 예를 들면 광의 조사 방향에 편차가 있는 경우, 조사 방향이 다른 광마다 경사면과 접하기 때문에, 이로써 조사 방향이 다른 광마다 명부(W)와 암부(G)와의 경계가 발생하게 된다. 따라서, 명부(W)와 암부(G)의 사이에 희미해지는 영역(I)이 형성되어, 명부(W)의 길이와 암부(G)의 길이를 고정밀도로 규정하는 것이 곤란해진다. 한편, 도 7b에 나타내는 바와 같이, 조사 장치(51)로부터의 조사광이 평행광인 경우, 이 조사광에 의하여 골심지(B)의 산의 음영이 형성됨으로써, 명부(W)와 암부(G)가 형성된다. 여기에서, 조사광이 평행광인 점에서, 명부(W)와 암부(G)의 사이에 경계선(J)이 명확하게 형성되어, 명부(W)의 길이와 암부(G)의 길이를 고정밀도로 규정할 수 있다.

도 3에 나타내는 바와 같이, 음영 화상 처리 장치(57)는, 촬상 장치(52)의 촬영 화상으로부터 골심지(B)의 각 산의 음영으로부터 명부(W)와 암부(G)를 규정한다. 이 경우, 촬상 장치(라인 카메라)(52)는, 파형 형상을 이루는 골심지(B)에 있어서의 1개의 산의 음영을, 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따라 1화소, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향을 따라 복수 화소의 화상으로서 판독하고 있다. 이로 인하여, 음영 화상 처리 장치(57)는, 이 1화소Х복수 화소의 화상을 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따라 복수 개 결합함으로써, 편면 골판지 시트(D)의 소정 길이에 있어서의 복수 연속된 명부(W)와 암부(G)를 규정한다.

이 경우, 음영 화상 처리 장치(57)는, 편면 골판지 시트(D)의 소정 길이만큼의 명부(W)나 암부(G)의 화상에 있어서, 명부(W)나 암부(G)의 촬상 데이터의 전부를 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 가산하여 명부(W)나 암부(G)를 규정한다. 또한, 편면 골판지 시트(D)의 소정 길이만큼의 명부(W)나 암부(G)의 화상에 있어서, 명부(W)나 암부(G)의 촬상 데이터의 일부만을 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 가산하여 명부(W)나 암부(G)를 규정해도 된다.

판정 장치(58)는, 음영 화상 처리 장치(57)에 의하여 규정된 명부(W)의 길이 또는 암부(G)의 길이를 판정값과 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정한다. 이 경우, 판정 장치(58)는, 명부(W)의 길이와 명부 판정값을 비교하여 불량 여부를 판정하거나, 암부(G)의 길이와 암부 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정한다. 즉, 편면 골판지 시트(D)가 반송될 때, 명부(W) 또는 암부(G)가 연속하여 규정되어, 판정 장치(58)가 불량 여부 판정을 행하고, 명부(W)의 불량 여부 판정 또는 암부(G)의 불량 여부 판정을 연속하여 행하고 있다.

그리고, 편면 골판지 시트(D)는, 제조하는 양면 골판지 시트(F)의 사양(사이즈나 플루트의 종류 등)에 따라 그 형상의 표준값(산골의 높이나 피치의 설곗값)이 설정되어 있다. 조사 장치(51)에 있어서의 평행광(S)의 조사 각도(θ1)가 소정 각도로 설정되었을 때, 표준값으로 설정된 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B)의 산의 형상에 따라 미리 실험 등에 의하여 판정 기준값을 설정한다. 이 판정 기준값을 판정값이라고 해도 되지만, 제조 오차나 검출 오차 등을 고려함으로써, 우량품이라고 판정되는 양면 골판지 시트(F)의 판정 기준 범위를 설정하는 것이 바람직하다. 이로 인하여, 본 실시형태에서는, 판정 기준값에 소정의 여유도를 가미하여 판정 영역을 설정하고 있다. 즉, 음영 화상 처리 장치(57)가 처리하여 구한 명부(W)의 길이가, 명부 판정 영역 내에 있으면 편면 골판지 시트(D)를 우량품이라고 판정하고, 명부 판정 영역 내에 없으면 편면 골판지 시트(D)를 불량품이라고 판정한다. 또는, 동일하게 음영 화상 처리 장치(57)가 처리하여 구한 암부(G)의 길이가, 암부 판정 영역 내에 있으면 편면 골판지 시트(D)를 우량품이라고 판정하고, 암부 판정 영역 내에 없으면 편면 골판지 시트(D)를 불량품이라고 판정한다.

또한, 명부 판정값과 암부 판정값의 설정의 방법은, 이 방법에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 명부 판정값과 암부 판정값을 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 명부(W)의 길이 또는 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 암부(G)의 길이를 평균하여 산출한 값, 이른바, 이동 평균값이라고 해도 된다. 이 경우, 이미 불량 여부 판정이 종료된 명부(W)의 길이의 수(소정 개수), 또는 이미 불량 여부 판정이 종료된 암부(G)의 길이의 수(소정 개수)는, 적절히 설정하면 된다. 또, 명부(W)의 길이 또는 암부(G)의 길이의 촬상 데이터가 소정 개수만 수집할 수 있을 때까지는, 상술한 판정 기준값에 근거한 명부 판정값과 암부 판정값을 사용하면 된다.

그리고, 이 명부 판정값(명부 판정 영역)이나 암부 판정값(암부 판정 영역)은, 편면 골판지 시트(D)의 종류(골심지(B)의 종류)마다 설정되어, 기억 장치(59)에 저장되어 있다. 편면 골판지 시트(D)는, 특히 골심지(B)의 형상(높이나 피치)이 상이한 경우, 음영의 형상이 상이한 점에서, 명부(W)의 길이나 암부(G)의 길이가 상이하다. 이로 인하여, 골심지(B)의 형상에 따른 복수 종류의 명부 판정값(명부 판정 영역)이나 암부 판정값(암부 판정 영역)이 설정되어 있다.

여기에서, 음영 화상 처리 장치(57)와 판정 장치(58)의 처리에 대하여 상세하게 설명한다. 도 8은, 화상 처리 방법을 설명하기 위한 플로차트, 도 9는, 화상 처리 방법의 변형예를 설명하기 위한 플로차트, 도 10은, 화상 처리 방법을 설명하기 위한 설명도이다.

도 8에 나타내는 바와 같이, 스텝 S11에서, 판독된 골심지(B)의 음영 화상을 사영한다. 즉, 도 10(a) (b) (c)에 나타내는 바와 같이, 1화소Х복수 화소의 화상을 반송 방향으로 복수 촬영하여 나열한 음영 화상에서, 명부(W)와 암부(G)의 촬상 데이터를 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 가산하여, 가산 휘도를 산출한다. 도 8로 되돌아와, 스텝 S12에서, 가산 휘도를 반송 방향으로 평활화함으로써 노이즈를 제거한다. 스텝 S13에서, 도 10(d)에 나타내는 바와 같이, 반송 방향으로 인접하는 화소의 가산 휘도의 차를 취한다, 즉 차분을 구한다. 도 8로 되돌아와, 스텝 S14에서, 명부(W)와 암부(G)와의 에지에서는, 차분의 값이 커지기 때문에, 차분의 값이 커지는 피크값(P)을 추출한다. 스텝 S15에서, 명부(W)의 길이(W1)를 산출한다.

스텝 S16에서, 명부(W)의 길이(W1)와 명부 판정 영역을 비교하여, 명부(W)의 길이(W1)가 명부 판정 영역 내에 있는지 여부를 판정한다. 여기에서, 명부(W)의 길이(W1)가 명부 판정 영역 내에 있다고 판정(Yes)되면, 우량품이라고 하여 스텝 S17로 이행하고, 여기에서 골심지(B)의 하나의 산이 우량품이라고 판정한다. 한편, 스텝 S16에서, 명부(W)의 길이(W1)가 명부 판정 영역 내에 없다고 판정(No)되면, 불량품이라고 하여 스텝 S18로 이행한다. 그리고, 스텝 S18에서, 골심지(B)의 하나의 산이 불량품이라고 이상 판정하고, 스텝 S19에서, 이 불량의 산이 포함되는 불량의 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 외부로 배출한다.

또한, 판정 장치(58)에 의한 편면 골판지 시트(D)의 처리에 있어서, 명부(W)의 길이(W1)와 명부 판정 영역을 비교했지만, 이 방법에 한정되는 것은 아니다. 도 9에 나타내는 바와 같이, 스텝 S21에서, 판독된 골심지(B)의 음영 화상을 사영한다. 스텝 S22에서, 가산 휘도를 반송 방향으로 평활화함으로써 노이즈를 제거한다. 스텝 S23에서, 반송 방향으로 인접하는 화소의 가산 휘도의 차를 취한다, 즉 차분을 구한다. 스텝 S24에서, 명부(W)와 암부(G)와의 에지에서는, 차분의 값이 커지기 때문에, 차분의 값이 커지는 피크값(P)을 추출한다. 스텝 S25에서, 암부(G)의 길이(G1)를 산출한다.

스텝 S26에서, 암부(G)의 길이(G1)와 암부 판정 영역을 비교하여, 암부(G)의 길이(G1)가 암부 판정 영역 내에 있는지 여부를 판정한다. 여기에서, 암부(G)의 길이(G1)가 암부 판정 영역 내에 있다고 판정(Yes)되면, 우량품이라고 하여 스텝 S27로 이행하고, 여기에서 골심지(B)의 하나의 산이 우량품이라고 판정한다. 한편, 스텝 S26에서, 암부(G)의 길이(G1)가 암부 판정 영역 내에 없다고 판정(No)되면, 불량품이라고 하여 스텝 S28로 이행한다. 그리고, 스텝 S28에서, 골심지(B)의 하나의 산이 불량품이라고 이상 판정하고, 스텝 S29에서, 이 불량의 산이 포함되는 불량의 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 외부로 배출한다.

여기에서, 구체적인 불량의 골심지(B)에 있어서의 불량 여부 판정에 대하여 설명한다. 도 11a에 나타내는 골심지(B)의 불량은, 산저에 의한 것이고, 일부의 산이 낮음으로써, 암부(G)의 길이(G1)가 짧아져 이상이며, 또한 명부(W)의 길이(W1)가 길어져 이상이 된다. 도 11b에 나타내는 골심지(B)의 불량은, 산고에 의한 것이고, 일부의 산이 높음으로써, 암부(G)의 길이(G1)가 길어져 이상이며, 또한 명부(W)의 길이(W1)가 짧아져 이상이 된다. 즉, 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)가 길거나 짧거나 하면, 골심지(B)에 있어서의 산의 형상이 불량이라고 판정한다.

즉, 도 3에 나타내는 바와 같이, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B)의 소정의 위치에 불량부가 발생하면, 이 불량부가 발생한 위치를 추적하고, 이 불량부가 포함되는 양면 골판지 시트(F)를 배제한다. 불량 위치 특정 장치(61)는, 촬상 장치(52)에 의한 골심지(B)의 산의 촬상 시기(시각)부터 판정 장치(58)에 의한 불량 여부 시기(시각)까지 편면 골판지 시트(D)(양면 골판지 시트(E, F))가 반송된 거리를 산출하고, 이 골판지 시트 반송 거리에 근거하여 골심지(B)의 산의 불량 위치를 특정한다. 추적 장치(62)는, 시간의 경과와 함께 이동하는 골심지(B)의 산의 불량 위치를 추적하고, 이 불량 위치가 포함되는 절단 후의 양면 골판지 시트(F)가 불량품 배출 장치(26)에 도달하는 시기(시각)를 추정한다. 제어 장치(53)는, 이 추적 장치(62)의 추적 결과에 근거하여, 불량 위치가 포함되는 양면 골판지 시트(F)가 불량품 배출 장치(26)에 도달했을 때, 이 불량품 배출 장치(26)를 작동시킨다.

이때, 불량품 배출 장치(26)가 작동함으로써, 반송 라인으로부터 배출된 불량품의 양면 골판지 시트(F)는, 도시하지 않는 반송 장치에 의하여 슈레더에 보내져 재단된다. 반송 라인으로부터 배출되는 불량품의 양면 골판지 시트(F)는, 골심지(B)의 산골 불량뿐만 아니라, 첩합 불량이나 종이 이음부 등이 있다. 따라서, 반송 장치에 전환 장치를 마련하여, 골심지(B)의 산골 불량이라고 판정된 양면 골판지 시트(F)만을 반송 장치에 의하여 슈레더에 보내지 않고, 저장해도 된다. 즉, 나중에 오퍼레이터가 골심지(B)의 산골 불량이라고 판정된 양면 골판지 시트(F)를 시인할 수 있다.

이와 같이 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서는, 가이드 롤러(43)에 의하여 반송되는 편면 골판지 시트(D)의 불량을 검출하는 것이고, 편면 골판지 시트(D)의 수직선(L1)에 대하여 미리 설정된 소정 각도만큼 경사진 조사 각도(θ1)로 골심지(B)를 향하여 평행광(S)을 조사하는 조사 장치(51)와, 골심지(B)에 있어서의 평행광의 조사부를 촬상하는 촬상 장치(52)와, 촬상 장치(52)에 의하여 촬상된 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따르는 명부(W) 또는 암부(G)를 규정하는 음영 화상 처리 장치(57)와, 음영 화상 처리 장치(57)에 의하여 규정된 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 미리 설정된 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정하는 판정 장치(58)를 마련하고 있다.

따라서, 조사 장치(51)가 가이드 롤러(43)에 의하여 반송되는 편면 골판지 시트(D)의 골심지(B)를 향하여 평행광을 조사하면, 촬상 장치(52)가 골심지(B)에 있어서의 평행광(S)의 조사부를 촬상하고, 음영 화상 처리 장치(57)는, 이 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따르는 명부(W) 또는 암부(G)를 규정하며, 판정 장치(58)는, 이 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 판정값과 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정한다. 이때, 파형 형상을 이루는 골심지(B)의 산의 음영에 의하여 형성되는 명부(W) 또는 암부(G)의 길이(W1, G1)에 근거하여 골심지(B)의 불량, 즉 양면 골판지 시트(F)의 불량을 검출하게 된다. 이로 인하여, 골심지(B)의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지(B)에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 양면 골판지 시트(F)의 불량을 고정밀도로 검출할 수 있다.

그리고, 조사 장치(51)는, 편면 골판지 시트(D)에 대하여 평행광(S)을 조사함으로써, 명부(W)와 암부(G)의 사이에 경계선(J)이 명확하게 형성되어, 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 고정밀도로 규정할 수 있다.

또, 안내 부재로서 만곡면을 갖는 가이드 롤러(45)로 함으로써, 가이드 롤러(45)에 편면 골판지 시트(D)를 따르게 하기 쉬워지고, 또한 편면 골판지 시트(D)가 가이드 롤러(45)에 접촉시켜 안내되게 되어, 편면 골판지 시트(D)의 진동을 억제하면서, 가이드 롤러(45)의 회전에 의하여 편면 골판지 시트(D)를 순조롭게 안내할 수 있다.

제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 명부 판정값이나 암부 판정값은, 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 명부(W)의 길이(W1) 또는 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 암부(G)의 길이(G1)를 평균하여 산출한 값이다. 따라서, 판정값을 소정 개수의 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 각각 평균한 값, 이른바, 이동 평균값으로 함으로써, 코러게이트 머신(10)의 운전 조건에 의하여 골심지(B)의 산의 형상이 변화된 경우여도, 이것을 불량이라고 판정하지는 않고, 불량의 오검출의 발생을 억제할 수 있다.

제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 명부 판정값이나 암부 판정값은, 미리 설정된 명부(W)나 암부(G)의 길이의 판정 기준값에 대하여 소정의 여유도를 가미한 명부 판정 영역 또는 암부 판정 영역으로 하고 있다. 따라서, 양면 골판지 시트(F)의 품질을 확보한 후에, 제조 시에 있어서의 편면 골판지 시트(D)의 골심지(B)의 산의 형상의 편차를 고려하여 불량 여부 판정을 행함으로써, 불량의 오검출의 발생을 억제할 수 있다.

제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 명부 판정값 또는 암부 판정값은, 편면 골판지 시트(D)의 종류마다 설정되어, 기억 장치(59)에 저장되어 있다. 따라서, 골심지(B)의 산의 높이나 폭에 따라 각 판정값을 변경함으로써, 편면 골판지 시트(D)의 종류가 변경되어도, 고정밀도인 불량 여부 판정이 가능해져, 불량 여부 판정 정밀도를 향상시킬 수 있다.

또, 제1 실시형태의 골판지 시트의 불량 제거 장치에 있어서는, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)와, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)가 검출한 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트(F)를 배출하는 불량품 배출 장치(26)를 마련하고 있다.

따라서, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)가 파형 형상을 이루는 골심지(B)의 산의 음영에 의하여 형성되는 명부(W) 또는 암부(G)의 길이(W1, G1)에 근거하여 골심지(B)의 불량, 즉 양면 골판지 시트(F)의 불량을 검출하게 된다. 이로 인하여, 골심지(B)의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지(B)에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 양면 골판지 시트(F)의 불량을 고정밀도로 검출하여, 우량품의 양면 골판지 시트(F)만을 반송할 수 있다.

또, 제1 실시형태의 골판지 시트의 제조 장치에 있어서는, 파형 가공된 골심지(B)에 이측 라이너(C)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D)를 제조하는 싱글 페이서(17)와, 싱글 페이서(17)에서 제조되는 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B) 측에 표측 라이너(A)를 첩합시켜 양면 골판지 시트(E)를 제조하는 더블 페이서(22)와, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)를 마련하고 있다.

따라서, 싱글 페이서(17)는, 파형 가공된 골심지(B)에 이측 라이너(C)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D)를 제조하고, 더블 페이서(22)는, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B) 측에 표측 라이너(A)를 첩합시켜 양면 골판지 시트(E)를 제조한다. 이때, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)가 편면 골판지 시트(D)의 불량을 검출하고, 불량품 배출 장치(26)가 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 배출하여 제거한다. 이로 인하여, 골심지(B)의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지(B)에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 양면 골판지 시트(F)의 불량을 고정밀도로 검출하여, 우량품의 양면 골판지 시트(F)만을 반송할 수 있다.

[제2 실시형태]

도 12는, 제2 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서의 화상 처리 방법을 설명하기 위한 플로차트이다. 또한, 본 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치의 기본적인 구성은, 상술한 제1 실시형태와 거의 동일한 구성이고, 도 3을 이용하여 설명함과 함께, 상술한 제1 실시형태와 동일한 기능을 갖는 부재에는, 동일한 부호를 붙여 상세한 설명은 생략한다.

제2 실시형태에 있어서, 도 3에 나타내는 바와 같이, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)는, 가이드 롤러(43, 44, 45, 46)와, 조사 장치(51)와, 촬상 장치(52)와, 제어 장치(53)와, 알림 장치(54)와, 표시 장치(55)를 갖고 있다. 그리고, 제어 장치(53)는, 음영 화상 처리 장치(57)와, 판정 장치(58)와, 기억 장치(59)를 갖고 있다. 본 실시형태에서, 판정 장치(58)는, 복수의 명부(W)의 길이(W1)를 평균하여 산출한 명부 평균값과 명부 판정값을 비교하여 불량 여부를 판정하거나, 복수의 소정 개수의 암부(G)의 길이(G1)를 평균하여 산출한 암부 평균값과 암부 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정한다.

도 12에 나타내는 바와 같이, 스텝 S31에서, 판독된 골심지(B)의 음영 화상을 사영하고, 명부(W)와 암부(G)의 촬상 데이터를 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 가산하여, 가산 휘도를 산출한다. 스텝 S32에서, 가산 휘도를 반송 방향으로 평활화함으로써 노이즈를 제거한다. 스텝 S33에서, 반송 방향으로 인접하는 화소의 가산 휘도의 차를 취한다, 즉 차분을 구한다. 스텝 S34에서, 명부(W)와 암부(G)와의 에지에서는, 차분의 값이 커지기 때문에, 차분의 값이 커지는 피크값(P)을 추출한다. 스텝 S35에서, 명부(W)의 길이(W1)(또는, 암부(G)의 길이(G1))를 산출한다. 그리고, 스텝 S36에서, 복수의 명부(W)의 길이(W1)를 평균하여 산출한 명부 평균값(복수의 암부(G)의 길이(G1)를 평균하여 산출한 암부 평균값)을 산출한다.

스텝 S37에서, 명부(W)의 길이(W1)의 평균값과 명부 판정 영역을 비교(암부(G)의 길이(G2)의 평균값과 제2 판정 영역을 비교)하여, 명부(W)의 길이(W1)의 평균값이 명부 판정 영역 내에 있는지 여부를 판정한다. 예를 들면, 하기와 같이 평균값을 산출하여, 이 평균값이 판정 영역 내에 있으면, 우량품이라고 판정하고, 평균값이 판정 영역 외에 있으면, 불량품이라고 판정한다.

명부 평균값=(명부(W)의 길이(W1)+길이(W2)+길이(W3))/3

암부 평균값=(암부(G)의 길이(G1)+길이(G2)+길이(G3))/3

여기에서, 명부(W)의 길이(W1)의 평균값이 명부 판정 영역 내에 있다고 판정(Yes)되면, 우량품이라고 하여 스텝 S38로 이행하고, 여기에서 골심지(B)의 하나의 산이 우량품이라고 판정한다. 한편, 스텝 S37에서, 명부(W)의 길이(W1)의 평균값이 명부 판정 영역 내에 없다고 판정(No)되면, 불량품이라고 하여 스텝 S39로 이행한다. 그리고, 스텝 S39에서, 골심지(B)의 하나의 산이 불량품이라고 판정하고, 스텝 S40에서, 이 불량의 산이 포함되는 불량의 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 외부로 배출한다.

이와 같이 제2 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서는, 복수의 명부(W)의 길이(W1)를 평균하여 산출한 명부 평균값과 명부 판정값을 비교하여 불량 여부를 판정하거나, 복수의 암부(G)의 길이(G1)를 평균하여 산출한 암부 평균값과 암부 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정하고 있다. 따라서, 운전 조건에 의하여 골심지(B)의 산의 형상이 변화된 경우여도, 소정 개수의 명부(W)의 길이(W1)나 암부(G)의 길이(G1)를 평균한 평균값과 판정값(판정 영역)을 비교하여 판정한다. 이로 인하여, 이상값이 평준화된 후 비교되게 되어, 이것을 불량이라고 판정하지는 않고, 불량의 오검출의 발생을 억제하여 불량 여부 검출 정밀도를 향상시킬 수 있다.

[제3 실시형태]

도 13은, 제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치를 나타내는 개략 구성도, 도 14는, 편면 골판지 시트에 대한 조사 장치 및 촬상 장치의 배치 구성을 나타내는 평면도, 도 15는, 촬상 장치를 나타내는 개략 구성도이다. 또한, 본 실시형태의 기본적인 구성은, 상술한 제1 실시형태와 동일하고, 도 3을 이용하여 설명하며, 상술한 제1 실시형태와 동일한 기능을 갖는 부재에는, 동일한 부호를 붙여 상세한 설명은 생략한다.

도 13에 나타내는 바와 같이, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)(40A, 40B)는, 가이드 롤러(43, 44, 45, 46)와, 조사 장치(51)(51a, 51b)와, 촬상 장치(52)(52a, 52b)와, 제어 장치(53)와, 알림 장치(54)와, 표시 장치(55)를 갖고 있다. 그리고, 제어 장치(53)는, 검사 위치 설정 장치(56)와, 음영 화상 처리 장치(57)와, 판정 장치(58)와, 기억 장치(59)를 갖고 있다. 또, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)는, 이 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)와, 불량품 배출 장치(26)를 갖고 있다. 구체적으로, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)는, 제어 장치(53)를 구성하는 불량 위치 특정 장치(61)와, 추적 장치(62)를 갖고 있다. 또, 제어 장치(53)는, 편면 골판지 시트(D)의 각종 정보가 입력되는 생산 관리 장치(65)가 접속되어 있다. 또한, 가이드 롤러(45)는, 로터리 인코더(66)가 마련되어 있고, 제어 장치(53)는, 로터리 인코더(66)로부터 입력되는 가이드 롤러(45)의 회전 속도에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도를 산출한다.

조사 장치(51)와 촬상 장치(52)는, 제1 실시형태의 것과 동일하다. 검사 위치 설정 장치(56)는, 편면 골판지 시트(D)의 폭 정보에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하는 것이다. 음영 화상 처리 장치(57)는, 촬상 장치(52)에 의하여 촬상된 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향을 따르는 명부(W) 또는 암부(G)를 규정하는 것이다. 판정 장치(58)는, 음영 화상 처리 장치(57)에 의하여 규정된 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 미리 설정된 판정값과 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 것이다.

도 13 및 도 14에 나타내는 바와 같이, 조사 장치(51)는, 가이드 롤러(45)로부터 소정 거리만큼 이간된 위치에 배치되고, 장착 브래킷(71)에 의하여 장치 본체(지지판(50))에 고정되어 있다. 또, 조사 장치(51)는, 가이드 롤러(45)의 축 방향의 길이에 대응하도록, 가이드 롤러(45)의 주면에 대향하여 배치되어 있고, 가이드 롤러(45)의 외주면, 즉 가이드 롤러(45)에 의하여 가이드되는 편면 골판지 시트(D)의 전체 폭의 영역을 향하여 평행광을 조사할 수 있다. 이 평행광이란, 특히 가이드 롤러(45)를 축 방향에서 보았을 경우, 가이드 롤러(45)를 향하여 조사되는 광축이 방사상으로 확산되지 않고, 서로 평행하게 직진하는 광이다.

촬상 장치(52)는, 가이드 롤러(45)로부터 소정 거리만큼 이간된 위치에 배치되고, 장착 브래킷(72)에 의하여 장치 본체(지지판(49))에 고정되어 있다. 또, 촬상 장치(52)는, 가이드 롤러(45)의 축 방향으로 소정 간격을 두고 복수(본 실시형태에서는, 2개) 마련되어 있다. 1개의 촬상 장치(52)는, 가이드 롤러(45)의 축 방향에 있어서의 중간 위치의 한쪽 측에 가이드 롤러(45)에 대향하여 배치되고, 다른 1개의 촬상 장치(52)는, 가이드 롤러(45)의 축 방향에 있어서의 중간 위치의 다른 한쪽 측에 가이드 롤러(45)에 대향하여 배치되어 있다. 즉, 각 촬상 장치(52)는, 시야(V1, V2)가 설정되어 있고, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 중간 위치에 시야(V1, V2)의 중복 영역(V3)이 설정되며, 시야(V1, V2)가 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 각 단부를 초과하여 설정된다. 이로 인하여, 각 촬상 장치(52)는, 시야(V1, V2)가 편면 골판지 시트(D)의 폭(WD)을 초과하여 설정되는 점에서, 가이드 롤러(45)에 의하여 가이드되는 편면 골판지 시트(D)의 전체 폭의 영역을 촬상할 수 있다.

각 촬상 장치(52)는, 라인 카메라이고, 파형 형상을 이루는 골심지(B)에 있어서의 산의 조사부를 촬상한다. 이 경우, 촬상 장치(52)는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향 및 폭 방향을 따라 복수 화소의 화상을 판독할 수 있다. 즉, 각 촬상 장치(52)는, 한 번에 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 소정 길이의 영역에서, 또한 폭 방향에 있어서의 전역에 있어서의 화상을 판독한다. 이로 인하여, 촬상 장치(52)는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도 또는 골심지(B)의 산의 피치에 따라 촬상 간격이 설정된다. 이 경우, 도 15에 나타내는 바와 같이, 각 촬상 장치(52)로서의 라인 카메라는, 주로 이미징 센서 소자(CCD 이미징 센서 소자, 또는 CMOS 이미징 소자)(75)와, 렌즈(76)와, 컨트롤 회로(도시 생략)에 의하여 구성되어 있다. 편면 골판지 시트(D)로부터의 입사광이 렌즈(76)를 통과하여 이미징 센서 소자(75)에 입력함으로써 결상하고, 컨트롤 회로는, 이 결상에 있어서의 광의 양을 비디오 신호로 변환하여 출력시킨다.

도 16은, 골판지 시트의 불량 검출 장치에 의한 검출 위치를 나타내는 개략도이다.

도 13에 나타내는 바와 같이, 검사 위치 설정 장치(56)는, 생산 관리 장치(65)로부터 입력되는 편면 골판지 시트(D)의 폭 치수에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정한다. 도 16에 나타내는 바와 같이, 촬상 장치(52)는, 편면 골판지 시트(D)에 대하여 소정 길이에 걸쳐 폭 방향에 있어서의 전역에 있어서의 화상(M)을 판독한다. 검사 위치 설정 장치(56)는, 편면 골판지 시트(D)의 폭(WD)에 대하여 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)를 설정한다. 이 경우, 검사 위치 설정 장치(56)는, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역(M0)을 설정하고, 각 단부의 미검사 영역(M0)의 사이에 검사 영역(M1)을 설정하며, 검사 영역(M1)에 소정 간격마다 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)를 설정한다. 즉, 본 실시형태에서는, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향의 전역에 걸쳐서 불량 여부 판정을 하는 것은 아니고, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 위치에서 불량 여부 판정을 하는 것이다. 또한, 미검사 영역(M0)의 폭 방향 길이는, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)의 간격보다 짧은 길이로 설정되는 것이 바람직하다.

편면 골판지 시트(D)는, 반송 시에 폭 방향으로 어긋나도록 사행(蛇行)하는 경우가 있고, 이 편면 골판지 시트(D)의 사행량에 따라 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역(M0)을 설정하고 있다. 이 미검사 영역(M0)의 폭 방향 길이는, 코러게이트 머신(10) 자체의 구성이나 반송 정밀도 등에 따라 설정된다. 그리고, 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)는, 검사 영역(M1)에서, 폭 방향으로 등간격을 비워 설정되어 있다. 또한, 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)를 폭 방향으로 등간격으로 설정하는 구성에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 편면 골판지 시트(D)는, 폭 방향의 단부 측에 불량이 발생하기 쉬운 점에서, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향의 각 단부 측에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)의 간격을 좁게(설정 밀도를 높게) 하고, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향의 중심 측에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)의 간격을 크게(설정 밀도를 낮게) 설정하도록 해도 된다. 또, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 단부 측 이외에서, 불량이 발생하기 쉬운 영역의 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)의 간격을 좁게(설정 밀도를 높게) 해도 된다.

도 13에 나타내는 바와 같이, 검사 위치 설정 장치(56)는, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하고 있고, 음영 화상 처리 장치(57)는, 편면 골판지 시트(D)의 소정 길이만큼의 명부(W)와 암부(G)의 화상에 있어서, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서의 명부(W) 또는 암부(G)의 촬상 데이터를 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 가산하여 명부(W) 또는 암부(G)를 규정한다.

판정 장치(58)는, 음영 화상 처리 장치(57)에 의하여 규정된 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)를 판정값과 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정한다. 이 경우, 판정 장치(58)는, 명부(W)의 길이(W1)와 명부 판정값을 비교하여 불량 여부를 판정하거나, 암부(G)의 길이(G1)와 암부 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정한다. 판정값은, 편면 골판지 시트(D)의 종류(골심지(B)의 종류)마다 설정되고, 미리 설정된 판정 기준값에 소정의 여유도를 가미하여 판정 영역이 설정된다.

여기에서, 음영 화상 처리 장치(57)와 판정 장치(58)의 처리에 대하여 상세하게 설명한다. 도 17은, 화상 처리 방법을 설명하기 위한 플로차트, 도 18은, 표시 장치에 의한 골판지 시트의 불량 화상을 나타내는 개략도이다.

도 17에 나타내는 바와 같이, 스텝 S51에서, 판독된 골심지(B)의 음영 화상을 사영한다. 스텝 S52에서, 가산 휘도를 반송 방향으로 평활화함으로써 노이즈를 제거한다. 스텝 S53에서, 반송 방향으로 인접하는 화소의 가산 휘도의 차를 취한다, 즉 차분을 구한다. 스텝 S54에서, 명부(W)와 암부(G)와의 에지에서는, 차분의 값이 커지기 때문에, 차분의 값이 커지는 피크값(P)을 추출한다. 스텝 S55에서, 명부(W)의 길이(W1)(또는, 암부(G)의 길이(G1))를 산출한다.

그리고, 스텝 S56에서, 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))와 판정 영역을 비교하여, 이 명부(W)의 길이(W1)가 판정 영역 내에 있는지 여부를 판정한다. 여기에서, 명부(W)의 길이(W1)가 판정 영역 내에 있다고 판정(Yes)되면, 우량품이라고 하여 스텝 S57로 이행하고, 여기에서 골심지(B)의 하나의 산이 우량품이라고 정상 판정한다. 한편, 명부(W)의 길이(W1)가 판정 영역 내에 없다고 판정(No)되면, 불량품이라고 하여 스텝 S58로 이행한다. 그리고, 스텝 S58에서, 골심지(B)의 하나의 산이 불량품이라고 이상 판정하고, 스텝 S59에서, 알림 장치(54)가 경보(램프나 경보음)를 발하며, 스텝 S60에서, 표시 장치(55)가 디스플레이에 불량품의 화상을 표시한다.

이 경우, 도 18에 나타내는 바와 같이, 표시 장치(55)는, 촬상 장치(52)가 촬상한 편면 골판지 시트(D)의 화상을 표시하고, 불량이라고 판정된 골심지(B)의 산의 위치에 동그라미 표시를 붙여 표시한다. 그리고, 기억 장치(59)는, 불량이라고 판정된 골심지(B)의 화상을 기억한다. 또한, 골심지(B)의 산이 불량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)는, 가열 부족에 의한 첩합 불량인 것이 많아, 이때, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도를 저하시키는 제어를 실행해도 된다. 그리고, 도 17로 되돌아와, 스텝 S61에서, 이 불량의 산이 포함되는 불량의 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 외부로 배출한다.

즉, 도 13에 나타내는 바와 같이, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B)의 소정의 위치에 불량부가 발생하면, 이 불량부가 발생한 위치를 추적하여, 이 불량부가 포함되는 양면 골판지 시트(F)를 배제한다. 불량 위치 특정 장치(61)는, 촬상 장치(52)에 의한 골심지(B)의 산의 촬상 시기(시각)부터 판정 장치(58)에 의한 불량 여부 시기(시각)까지 편면 골판지 시트(D)(양면 골판지 시트(E, F))가 반송된 거리를 산출하고, 이 골판지 시트 반송 거리에 근거하여 골심지(B)의 산의 불량 위치를 특정한다. 추적 장치(62)는, 시간의 경과와 함께 이동하는 골심지(B)의 산의 불량 위치를 추적하여, 이 불량 위치가 포함되는 절단 후의 양면 골판지 시트(F)가 불량품 배출 장치(26)에 도달하는 시기(시각)를 추정한다. 제어 장치(53)는, 이 추적 장치(62)의 추적 결과에 근거하여, 불량 위치가 포함되는 양면 골판지 시트(F)가 불량품 배출 장치(26)에 도달했을 때, 이 불량품 배출 장치(26)를 작동시킨다.

그런데, 본 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)는, 판정 장치(58)가 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B)의 명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)와 판정값(판정 영역)을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 것이다. 본 실시형태에서는, 편면 골판지 시트(D)를 검사하는 검사 모드로서, 통상 검사 모드와 고정밀도 검사 모드를 선택 전환 가능하게 되어 있다.

도 19는, 골판지 시트의 불량 검출 장치의 작동을 설명하기 위한 플로차트, 도 20은, 골판지 시트의 불량 검출 장치의 작동을 설명하기 위한 타임 차트이다.

도 13에 나타내는 바와 같이, 판정 장치(58)는, 촬상 장치(52)에 의하여 촬상된 촬영 화상과 골심지(B)의 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정한다. 골심지(B)의 판정값은, 통상 검사 모드용의 제1 판정값과, 고정밀도 검사 모드용의 제2 판정값으로 구성되고, 판정 장치(58)는, 제1 판정값을 설정하는 제1 판정값 설정부(58a)와, 제2 판정값을 설정하는 제2 판정값 설정부(58b)를 갖고 있다. 제1 판정값은, 미리 설정되는 일정값이고, 제2 판정값은, 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 설정되는 개별값이며, 판정 장치(58)는, 제1 판정값과 제2 판정값을 전환 가능하게 되어 있다.

즉, 판정 장치(58)는, 검사 위치 설정 장치(56)가 설정한 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서, 명부(W)의 길이(W1)(또는, 암부(G)의 길이(G1))와 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정한다. 이때, 제1 판정값은, 코러게이트 머신(10)의 운전 개시 전에, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B)의 산의 형상의 판정 기준값에 근거하여 설정되는 것이고, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28) 모두 일정한 값으로서 설정된다. 한편, 제2 판정값은, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))에 근거하여 설정되는 것이고, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)마다 개별의 값으로서 설정된다.

구체적으로 설명하면, 제1 판정값 설정부(58a)는, 판정 기준값에 미리 설정된 여윳값 a, b를 가산 및 감산하여 제1 판정값을 설정한다. 즉, 제1 판정값 설정부(58a)는, 판정 기준값에 여윳값 a를 가산하여 제1 상한값을 설정하고, 판정 기준값으로부터 여윳값 b를 감산하여 제1 하한값을 설정한다. 이로 인하여, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용한 통상 검사는, 편면 골판지 시트(D)의 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서, 검출한 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))가 제1 상한값과 제1 하한값의 사이의 판정 영역에 있을 때, 편면 골판지 시트(D)가 우량품이라고 판정한다. 한편, 제2 판정값 설정부(58b)는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))를 이용하여, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서의 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 평균값에 미리 설정된 여윳값 α, β를 가산 및 감산하여 제2 판정값을 설정한다. 즉, 제2 판정값 설정부(58b)는, 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)) 평균값에 여윳값 α를 가산하여 제2 상한값을 설정하고, 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 평균값으로부터 여윳값 β를 감산하여 제2 하한값을 설정한다. 이로 인하여, 판정 장치(58)가 제2 판정값을 이용한 고정밀도 검사는, 편면 골판지 시트(D)의 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서, 검출한 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))가 제2 상한값과 제2 하한값의 사이의 판정 영역에 있을 때, 편면 골판지 시트(D)가 우량품이라고 판정한다.

또한, 제2 판정값의 설정 방법은, 상술한 방법에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 제2 판정값 설정부(58b)는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))를 이용하여, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서의 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 최댓값 및 최솟값에 미리 설정된 여윳값 α1, β2를 가산 및 감산하여 제2 판정값을 설정해도 된다. 즉, 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)) 중 최댓값에 여윳값 α1을 가산하여 제2 상한값을 설정하고, 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1)) 중 최솟값으로부터 여윳값 β1을 감산하여 제2 하한값을 설정한다.

또, 예를 들면 제2 판정값 설정부(58b)는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))를 이용하여, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서의 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 표준 편차를 산출하고, 이 표준 편차를 여윳값이라고 해도 된다. 즉, 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 평균값에 여윳값으로서의 표준 편차를 가미하여 제2 상한값 및 제2 하한값을 설정한다. 또한, 표준 편차에 보정 계수(예를 들면, 1, 2, 3···등의 자연수)를 곱한 것을 판정 영역에 규정해도 된다.

도 21은, 복수의 검사 위치에 대한 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 평균값, 최댓값, 최솟값과 판정값과의 관계를 나타내는 그래프이다.

도 21에 나타내는 바와 같이, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향에 있어서의 소정 길이에서의 검사 결과(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 평균값은, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향으로 상하에 편차가 있다. 이 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 평균값은, 우량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 데이터이고, 일정값이 되어야 하지만, 촬상 장치(52)에 있어서의 렌즈(76)의 수렴차나 왜곡, 렌즈(76)에 대한 광의 통과 위치 등에 의하여 편차가 있다.

이로 인하여, 상술한 본 실시형태의 고정밀도 검사 모드에서는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하고, 그 중 우량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 검사 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))에 근거하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 제1 판정값으로서의 제1 상한값은, 판정 기준값(설곗값)에 여윳값 a를 가산하여 설정되고, 제1 하한값은, 판정 기준값(설곗값)으로부터 여윳값 b를 감산하여 설정된다. 이로 인하여, 제1 상한값과 제1 하한값은, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 관계없이 일정값이다. 또한, 여기에서, 설곗값이란, 제조하는 양면 골판지 시트(F)의 사양(사이즈나 플루트의 종류 등)이다.

한편, 제2 판정값으로서의 제2 상한값은, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서의 복수의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 평균값에 여윳값 α를 가산하여 설정되고, 제2 하한값은, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서의 복수의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 평균값으로부터 여윳값 β를 감산하여 설정된다. 이로 인하여, 제2 상한값과 제2 하한값은, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서 상이한 개별값이다. 또, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서의 복수의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 최댓값에 여윳값 α1을 가산하여 제2 상한값을 설정하고, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서의 복수의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 최솟값으로부터 여윳값 β1을 감산하여 제2 하한값을 설정한 경우여도, 제2 상한값과 제2 하한값은, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서 상이한 개별값이 된다.

또, 도 13에 나타내는 바와 같이, 판정 장치(58)의 제2 판정값 설정부(58b)는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 미리 설정된 제2 판정값 설정 속도에 도달하고, 또한 일정 속도로 유지된 후부터 미리 설정된 소정 시간의 경과 후에 제2 판정값을 설정한다.

또, 코러게이트 머신(10)은, 제조하는 양면 골판지 시트(F)의 폭이 변경될 때, 사용하는 이측 라이너(C)(C1, C2), 골심지(B)(B1, B2), 표측 라이너(A)(A1, A2)의 종이 이음을 행함으로써, 연속하여 양면 골판지 시트(F)를 제조한다. 또, 코러게이트 머신(10)은, 제조하는 양면 골판지 시트(F)의 산골 높이가 변경될 때, 사용하는 골 형성 롤을 교환하여 전환함으로써, 연속하여 양면 골판지 시트(F)를 제조한다. 이와 같이 양면 골판지 시트(F)의 종류가 변경되었을 때, 판정 장치(58)는, 제2 판정값을 이용한 고정밀도 검사로부터 제1 판정값을 이용한 통상 검사로 전환하고, 제1 판정값에 의한 통상 검사의 실시 중에, 상술과 동일하게, 제2 판정값을 설정한다. 이때, 판정 장치(58)에 의한 제2 판정값으로부터 제1 판정값으로의 전환은, 편면 골판지 시트(D)(D1, D2)의 종이 이음부가 촬상 장치(52)에 의한 촬상 위치의 통과 시에 실시된다.

여기에서, 골판지 시트의 불량 검출 장치의 작동에 대하여 상세하게 설명한다. 먼저, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)의 제어 장치(53)의 처리에 대하여 설명한다.

도 13 및 도 19에 나타내는 바와 같이, 스텝 S71에서, 코러게이트 머신(10)의 운전이 개시되면, 이측 라이너(C)(C1, C2), 골심지(B)(B1, B2), 표측 라이너(A)(A1, A2)의 반송이 개시되고, 편면 골판지 시트(D)(D1, D2), 양면 골판지 시트(E, F)의 제조가 개시된다. 스텝 S72에서, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)에서는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 미리 설정된 검사 속도에 도달했는지 여부를 판정한다. 제어 장치(53)는, 로터리 인코더(66)로부터 입력되는 가이드 롤러(45)의 회전 속도에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도를 산출한다. 여기에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도에 도달하고 있지 않다고 판정(No)되면, 이 처리를 반복한다.

한편, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도에 도달했다고 판정(Yes)되면, 스텝 S73에서, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 검사 위치를 설정한다. 즉, 검사 위치 설정 장치(56)는, 생산 관리 장치(65)로부터 입력되는 편면 골판지 시트(D)의 폭 치수에 근거하여 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역(M0)을 설정함과 함께, 각 단부의 미검사 영역(M0)의 사이의 검사 영역(M1)에 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)를 설정(도 9 참조)한다.

편면 골판지 시트(D)에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)가 설정되면, 스텝 S74에서, 판정 장치(58)는, 제1 판정값 설정부(58a)에 의하여 미리 설정된 제1 판정값에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 통상 검사를 실시한다. 편면 골판지 시트(D)의 통상 검사가 개시되면, 검사 데이터가 기억 장치(59)에 기억된다. 스텝 S75에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도에 도달했는지 여부를 판정한다. 여기에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도에 도달하고 있지 않다고 판정(No)되면, 스텝 S74의 통상 검사를 계속한다.

한편, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도에 도달했다고 판정(Yes)되면, 스텝 S76에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 일정 속도로 유지되었는지 여부를 판정한다. 여기에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 일정 속도로 유지되어 있지 않다고 판정(No)되면, 이 처리를 반복한다. 한편, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 일정 속도로 유지되었다고 판정(Yes)되면, 스텝 S77에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 일정 속도로 유지된 후 미리 설정된 소정 시간을 경과했는지 여부를 판정한다. 여기에서, 소정 시간을 경과하고 있지 않다고 판정(No)되면, 이 처리를 반복한다. 한편, 소정 시간을 경과했다고 판정(Yes)되면, 스텝 S78에서, 제2 판정값을 설정한다. 예를 들면, 제2 판정값 설정부(58b)는, 통상 검사에서 우량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))를 이용하여, 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서의 복수의 데이터(명부(W)의 길이(W1) 또는 암부(G)의 길이(G1))의 평균값에 여윳값 α, β를 가산 및 감산하여 제2 판정값(제2 상한값, 제2 하한값)을 산출한다. 제2 판정값이 설정되면, 스텝 S79에서, 판정 장치(58)는, 판정값을 제1 판정값으로부터 제2 판정값으로 전환하고, 스텝 S80에서, 판정 장치(58)는, 제2 판정값에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 고정밀도 검사를 실시한다.

스텝 S81에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도보다 느린 속도로 저하되었는지 여부를 판정한다. 여기에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도보다 느린 속도로 저하되지 않았다고 판정(No)되면, 스텝 S82에서, 제어 장치(53)는, 편면 골판지 시트(D)의 시트폭 변경 지령 또는 플루트 변경 지령이 입력되었는지 여부를 판정한다. 생산 관리 장치(65)는, 소정 폭 또는 소정 플루트 형상의 양면 골판지 시트(F)의 제조 매수를 파악하고 있고, 제어 장치(53)는, 생산 관리 장치(65)로부터 시트 폭 또는 플루트 형상이 변경되는 타이밍이 입력된다.

여기에서, 편면 골판지 시트(D)의 시트폭 변경 또는 플루트 변경이 없다고 판정(No)되면, 스텝 S80의 고정밀도 검사를 계속해서 실시한다. 한편, 편면 골판지 시트(D)의 시트폭 변경 또는 플루트 변경이 있다고 판정(Yes)되면, 스텝 S73으로 되돌아와, 시트폭 변경 후 또는 플루트 변경 후, 변경 후의 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 검사 위치를 재차 설정한다. 그리고, 상술과 동일하게, 스텝 S74로부터 스텝 S81까지의 처리를 실행한다.

한편, 스텝 S81에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도보다 느린 속도로 저하되었다고 판정(Yes)되면, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)에 의한 편면 골판지 시트(D)의 검사를 종료하고, 스텝 S83에서, 코러게이트 머신(10)의 운전이 정지한다.

다음으로, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)의 판정 장치(58)의 처리에 대하여 설명한다.

도 13 및 도 20에 나타내는 바와 같이, 시간 t1에서, 코러게이트 머신(10)의 운전이 개시되면, 이측 라이너(C), 골심지(B), 표측 라이너(A)의 반송 속도가 상승하고, 시간 t2에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도에 도달한다. 여기에서, 편면 골판지 시트(D)의 폭 치수에 근거하여 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역(M0)을 설정함과 함께, 각 단부의 미검사 영역(M0)의 사이의 검사 영역(M1)에 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)를 설정한다. 그리고, 시간 t3에서, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)가 설정되면, 제1 판정값을 이용한 편면 골판지 시트(D)의 통상 검사가 개시된다.

그리고, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도를 초과하고, 시간 t4에서, 일정 속도로 유지된다. 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 일정 속도로 유지된 후 소정 시간이 경과한 시간 t5에서, 제2 판정값의 산출을 개시한다. 시간 t6에서, 제2 판정값이 설정되면, 판정값을 제1 판정값으로부터 제2 판정값으로 전환하고, 제2 판정값을 이용한 편면 골판지 시트(D)의 고정밀도 검사가 개시된다.

그 후, 편면 골판지 시트(D)의 시트폭 변경을 위하여, 시간 t7에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 저하되고, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도보다 낮은 일정 속도까지 저하되면, 시간 t8로부터 시간 t9의 사이에 편면 골판지 시트(D)의 종이 이음부가 촬상 장치(52)에 의한 촬상 위치를 통과하며, 이 시간 t9에서, 제2 판정값에 의한 고정밀도 검사로부터 제1 판정값에 의한 통상 검사로 전환된다. 여기에서, 재차 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)가 설정되어, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도를 초과하고, 소정 시간만 일정 속도로 유지된 시간 t10에서, 제2 판정값의 산출을 개시한다. 시간 t11에서, 제2 판정값이 설정되면, 판정값을 제1 판정값으로부터 제2 판정값으로 전환하고, 제2 판정값을 이용한 편면 골판지 시트(D)의 고정밀도 검사가 개시된다.

또, 편면 골판지 시트(D)의 플루트 변경을 위하여, 시간 t12에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 저하되고, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도보다 낮은 일정 속도까지 저하되면, 시간 t13로부터 시간 t14의 사이에 편면 골판지 시트(D)의 종이 이음부가 촬상 장치(52)에 의한 촬상 위치를 통과하며, 이 시간 t14에서, 제2 판정값에 의한 고정밀도 검사로부터 제1 판정값에 의한 통상 검사로 전환된다. 여기에서, 재차 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)가 설정되어, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 제2 판정값 산출 속도를 초과하고, 소정 시간만 일정 속도로 유지된 시간 t15에서, 제2 판정값의 산출을 개시한다. 시간 t16에서, 제2 판정값이 설정되면, 판정값을 제1 판정값으로부터 제2 판정값으로 전환하고, 제2 판정값을 이용한 편면 골판지 시트(D)의 고정밀도 검사가 개시된다.

그리고, 시간 t17에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 저하되고, 시간 t18에서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 검사 속도보다 느린 속도로 저하되면, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)에 의한 편면 골판지 시트(D)의 검사를 종료하며, 시간 t19에서, 코러게이트 머신(10)의 운전이 정지한다.

이와 같이 제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서는, 편면 골판지 시트(D)의 골심지(B)를 촬상하는 촬상 장치(52)와, 편면 골판지 시트(D)의 폭 정보에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하는 검사 위치 설정 장치(56)와, 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상으로부터 검사 위치 설정 장치(56)가 설정한 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 판정 장치(58)를 마련한다.

따라서, 편면 골판지 시트(D)의 폭 정보에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하고, 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상으로부터 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 점에서, 판정 장치(58)는, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 최적인 검사 위치에서의 촬영 화상에 근거하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하게 된다. 그 결과, 편면 골판지 시트(D)의 단부에 있어서의 미검사 영역을 저감시킴으로써 편면 골판지 시트(D)의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 검사 위치 설정 장치(56)는, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역(M0)을 설정하고, 각 단부의 미검사 영역(M0)의 사이에 설정되는 검사 영역(M1)에 소정 간격마다 복수의 검사 위치를 설정하고 있다. 따라서, 먼저 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역(M0)을 설정하고, 그 후 각 미검사 영역(M0)의 사이에 설정되는 검사 영역(M1)에 복수의 검사 위치를 설정함으로써, 편면 골판지 시트(D)의 폭 치수에 관계없이, 원하는 치수의 미검사 영역(M0)을 설정할 수 있으며, 편면 골판지 시트(D)의 폭 변경 후에 있어서의 미검사 영역(M0)의 확대를 억제할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 복수의 검사 위치를 검사 영역(M1)에 등간격으로 설정하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부 판정 정밀도의 편차를 억제할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향의 각 단부 측에 있어서의 복수의 검사 위치의 설정 밀도를 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향의 중심 측에 있어서의 복수의 검사 위치의 설정 밀도보다 높게 설정하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향의 각 단부 측에 있어서의 복수의 검사 위치의 간격을 좁게 하고, 중심 측에 있어서의 복수의 검사 위치의 간격을 넓게 함으로써, 첩합 불량 등이 발생하기 쉬운 단부 측을 상세하게 검사할 수 있으며, 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부 판정 정밀도를 향상시킬 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 편면 골판지 시트(D)의 불량을 판정한 것에 불량 발생을 알리는 알림 장치(54)를 마련하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 불량이 판정되었을 때에 불량 발생이 알려짐으로써, 오퍼레이터에게 불량의 발생을 알려 조기에 대응책을 강구할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 알림 장치(54)가 경보를 발하도록 하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 불량이 판정되었을 때에 경보를 발함으로써, 오퍼레이터에게 불량의 발생을 정확하게 알릴 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 판정한 편면 골판지 시트(D)의 화상을 표시하는 표시 장치(55)를 마련하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 불량이 판정되었을 때에, 표시 장치(55)에 불량이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 화상을 표시함으로써, 오퍼레이터는, 표시 장치(55)의 화상에 의하여 불량의 형태를 인식할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 판정한 편면 골판지 시트(D)의 화상을 기억하는 기억 장치(59)를 마련하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 불량이 판정되었을 때에, 기억 장치(59)에 불량이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 화상을 기억함으로써, 오퍼레이터는, 나중에 기억 장치(59)에 기억된 화상에 의하여 불량의 형태를 인식할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)는, 촬상 장치(52)에 의하여 촬상된 촬영 화상과 골심지(B)의 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 것이고, 판정값으로서, 미리 설정되는 제1 판정값과, 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 설정되는 제2 판정값을 마련하며, 판정 장치(58)는, 제1 판정값과 제2 판정값을 전환 가능하게 하고 있다.

따라서, 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상으로부터 촬영 화상과 골심지(B)의 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정할 때, 판정 장치(58)는, 촬영 화상과 제1 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하고, 이 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정하며, 제2 판정값이 설정되면, 제1 판정값으로부터 제2 판정값으로 전환하고, 촬영 화상과 제2 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정한다. 그 결과, 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부 판정을 촬상 장치(52) 등의 특성에 대응한 제2 판정값을 이용하여 행함으로써, 편면 골판지 시트(D)의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)는, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상과 복수의 검사 위치마다 설정되는 판정값을 비교하여 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부를 판정하는 것이고, 제1 판정값은, 복수의 검사 위치에 대응한 일정값으로 설정되며, 제2 판정값은, 복수의 검사 위치에 대응한 개별값으로 설정된다. 따라서, 판정 장치(58)는, 복수의 검사 위치에 대응한 일정값을 제1 판정값으로서 설정하고, 복수의 검사 위치에 대응한 개별값으로서 제2 판정값을 설정함으로써, 사전에 편면 골판지 시트(D)의 설곗값 등에 의하여 제1 판정값을 용이하게 설정할 수 있으며, 또 제1 판정값에 의한 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부 판정의 결과를 이용함으로써, 제2 판정값을 복수의 검사 위치에 따라 고정밀도로 설정할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 제2 판정값이 우량품의 촬영 화상에 근거하여 설정되는 점에서, 제2 판정값을 촬상 장치(52) 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있어, 편면 골판지 시트(D)의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 평균값에 근거하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 제2 판정값을 촬상 장치(52) 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 평균값에 미리 설정된 여윳값을 가산하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 제2 판정값을 촬상 장치(52) 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 근거하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 제2 판정값의 영역을 촬상 장치(52) 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)가 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 미리 설정된 여윳값을 가산하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 제2 판정값의 영역을 촬상 장치(52) 등의 특성에 대응하여 고정밀도로 설정할 수 있다.

즉, 도 21에 나타내는 바와 같이, 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에 있어서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 방향에 있어서의 소정 길이에서의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 평균값은, 촬상 장치(52)의 특성(렌즈(76)의 수렴차나 왜곡, 렌즈(76)에 대한 광의 통과 위치 등)에 의하여 편면 골판지 시트(D)의 폭 방향으로 상하에 편차가 있다. 이로 인하여, 판정 장치(58)는, 제1 판정값을 이용하여 우량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 평균값에 여윳값 α, β를 가산 및 감산하여 제2 상한값 및 제2 하한값을 설정한다. 또, 판정 장치(58)는, 제1 판정값을 이용하여 우량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)의 명부(W)의 길이(W1)(암부(G)의 길이(G1))의 최댓값 및 최솟값에 여윳값 α1, β1을 가산 및 감산하여 제2 상한값 및 제2 하한값을 설정한다. 이 제2 상한값 및 제2 하한값을 이용한 판정은, 평균값, 최댓값, 최솟값을 따라 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)에서 상이한 개별값이다. 이로 인하여, 우량품이라고 판정하는 영역은, 제1 상한값 및 제1 하한값을 이용한 판정보다 좁아져, 고품질인 편면 골판지 시트(D)만을 우량품이라고 판정할 수 있다. 또, 제1 판정값을 이용한 판정에서는, 잘못하여 불량품이라고 판정된 편면 골판지 시트(D)를 우량품으로서 판정할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 미리 설정된 판정값 설정 속도에 도달하고, 또한 일정 속도로 유지된 후에 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 촬상 장치(52)는, 일정한 속도로 반송하는 편면 골판지 시트(D)를 촬상하게 되어, 촬상 장치(52)가 촬상한 복수의 촬영 화상의 적정화를 도모하고, 편면 골판지 시트(D)의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도가 일정 속도로 유지된 후부터 미리 설정된 소정 시간의 경과 후에 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 반송 상태가 안정된 상태로 촬상 장치(52)가 골심지(B)를 촬상하게 되어, 촬영 화상의 적정화를 도모하는 편면 골판지 시트(D)의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 편면 골판지 시트(D)의 종류가 변경되었을 때, 판정 장치(58)는, 제2 판정값으로부터 제1 판정값으로 전환하고, 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 촬상 장치(52)가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정하고 있다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 종류가 변경되면, 판정 장치(58)는, 제2 판정값을 이용한 불량 여부 판정으로부터 제1 판정값을 이용한 불량 여부 판정으로 전환하고, 재차 제2 판정값을 설정함으로써, 편면 골판지 시트(D)의 불량 여부 판정을 계속해서 행할 수 있음과 함께, 편면 골판지 시트(D)의 종류에 따른 최적인 제2 판정값을 설정할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 검출 장치에서는, 판정 장치(58)에 의한 제2 판정값으로부터 제1 판정값으로의 전환이 편면 골판지 시트(D)의 종이 이음부가 촬상 장치(52)에 의한 촬상 위치의 통과 시에 실시된다. 따라서, 편면 골판지 시트(D)의 종이 이음부는, 다른 불량 검출 장치에 의하여 불량이라고 판정되는 점에서, 편면 골판지 시트(D)의 종이 이음부가 촬상 위치를 통과할 때에 제2 판정값으로부터 제1 판정값으로 전환함으로써, 불량품의 미검출이나 우량품의 오검출의 발생을 억제할 수 있다.

또, 제3 실시형태의 골판지 시트의 불량 제거 장치에 있어서는, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)와, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)가 검출한 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트(F)를 배출하는 불량품 배출 장치(26)를 마련하고 있다.

따라서, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)가 파형 형상을 이루는 골심지(B)의 산의 음영에 의하여 형성되는 명부(W)와 암부(G)의 길이(W1, G1)에 근거하여 골심지(B)의 불량, 즉 양면 골판지 시트(F)의 불량을 검출하게 된다. 이로 인하여, 골심지(B)의 산의 찌그러짐 불량, 고저 불량, 길이 불량 등을 검출할 수 있고, 골심지(B)에 있어서의 파형의 산의 변형에 의한 양면 골판지 시트(F)의 불량을 고정밀도로 검출하여, 우량품의 양면 골판지 시트(F)만을 반송할 수 있다.

또, 제3 실시형태의 골판지 시트의 제조 장치에 있어서는, 파형 가공된 골심지(B)에 이측 라이너(C)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D)를 제조하는 싱글 페이서(13, 17)와, 싱글 페이서(13, 17)에서 제조되는 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B) 측에 표측 라이너(A)를 첩합시켜 양면 골판지 시트(E)를 제조하는 더블 페이서(22)와, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)를 마련하고 있다.

따라서, 싱글 페이서(13, 17)는, 파형 가공된 골심지(B)에 이측 라이너(C)를 첩합시켜 편면 골판지 시트(D)를 제조하고, 더블 페이서(22)는, 편면 골판지 시트(D)에 있어서의 골심지(B) 측에 표측 라이너(A)를 첩합시켜 양면 골판지 시트(E)를 제조한다. 이때, 골판지 시트의 불량 제거 장치(60)가 편면 골판지 시트(D)의 불량을 검출하고, 불량품 배출 장치(26)가 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트(F)를 반송 라인으로부터 배출하여 제거한다. 이로 인하여, 편면 골판지 시트(D)의 불량 검출 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

제3 실시형태의 골판지 시트의 제조 장치에서는, 골판지 시트의 불량 검출 장치(40)가 편면 골판지 시트(D)의 불량을 판정했을 때, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도를 저하시키도록 하고 있다. 따라서, 싱글 페이서(13, 17)가 파형 가공된 골심지(B)(B1, B2)에 이측 라이너(C)(C1, C2)를 첩합시킬 때, 파형 가공된 골심지(B)(B1, B2)에 접착제 도포를 행한 후 이측 라이너(C)(C1, C2)를 가압하고 나서 가열하여 첩합시키고 편면 골판지 시트(D)(D1, D2)를 제조하는 점에서, 편면 골판지 시트(D)의 불량이 발생했을 때, 편면 골판지 시트(D)의 반송 속도를 저하시킴으로써, 편면 골판지 시트(D)의 가압 시간이나 가열 시간을 증가시킬 수 있으며, 첩합 불량 발생을 억제할 수 있다.

또한, 상술한 실시형태에서, 촬상 장치(52)의 개수를 1개 또는 2개로 했지만, 3개 이상 배치해도 된다.

또, 상술한 실시형태에서, 편면 골판지 시트(D)는, 종류마다 골심지(B)의 산의 형상이 상이한 점에서, 조사 장치(51)의 조사 각도(θ1)를 변경하는 조사 각도 변경 장치를 마련하고, 골심지(B)의 산의 형상마다 조사 장치(51)의 조사 각도(θ1)를 변경하여, 평행광에 의하여 골심지(B)의 산의 음영을 명료하게 형성하도록 해도 된다.

또, 상술한 실시형태에서, 조사 장치(51)와 촬상 장치(52) 중 적어도 한쪽의 진동을 검출하는 진동 검출 장치를 마련하고, 제어 장치(53)는, 진동 검출 장치의 검출값이 진동 기준값을 초과하면, 알림 장치(54)를 작동시키도록 해도 된다.

또, 상술한 실시형태에서, 안내 부재로서 가이드 롤러(45)를 적용했지만, 이것에 한정하지 않고, 원주체, 만곡체, 판상체로 하거나, 안내 부재의 내부에 흡인 장치를 배치해도 된다.

또, 상술한 제3 실시형태에서, 검사 영역(M1)으로 설정한 각 검사 위치(N1, N2, N3···N27, N28)의 개수를 28개로 했지만, 이 개수에 한정하지 않고, 적절히 설정하면 된다.

또, 상술한 실시형태에서, 코러게이트 머신(10)은, 편면 골판지 시트(D1)와 편면 골판지 시트(D2)와 표측 라이너(A)를 첩합시킨 이중 양면 골판지 시트를 제조하는 것으로 했지만, 편면 골판지 시트(D2)(D1)와 표측 라이너(A)를 첩합시킨 양면 골판지 시트를 제조하는 것이라고 해도 된다.

10 코러게이트 머신(골판지 시트의 제조 장치)
11, 12, 15, 16, 19 밀 롤 스탠드
13, 17 싱글 페이서
14, 18 브리지
20 프리히터
21 글루 머신
22 더블 페이서
23 로터리 시어
24 슬리터 스코어러
25 컷 오프
26 불량품 배출 장치
27 스태커
40 골판지 시트의 불량 검출 장치
40A 제1 불량 검출 장치
40B 제2 불량 검출 장치
43, 44, 45, 46 가이드 롤러
51 조사 장치
52 촬상 장치
53 제어 장치
54 알림 장치
55 표시 장치
56 검사 위치 설정 장치
57 음영 화상 처리 장치
58 판정 장치
58a 제1 판정값 설정부
58b 제2 판정값 설정부
59 기억 장치
60 골판지 시트의 불량 제거 장치
61 불량 위치 특정 장치
62 추적 장치
65 생산 관리 장치
66 로터리 인코더
75 이미징 센서 소자
76 렌즈
A 표측 라이너(제1 라이너)
B 골심지
C 이측 라이너(제2 라이너)
D 편면 골판지 시트
E, F 양면 골판지 시트
W 명부
G 암부

Claims

파형 형상을 이루는 골심지를 외측으로 하여 안내 부재에 의하여 안내되는 편면 골판지 시트의 불량을 검출하는 골판지 시트의 불량 검출 장치에 있어서,
상기 편면 골판지 시트에 대하여 미리 설정된 소정 각도만큼 경사진 조사 각도로 상기 골심지를 향하여 광을 조사하는 조사 장치와,
상기 골심지에 있어서의 상기 광의 조사부를 촬상하는 촬상 장치와,
상기 촬상 장치에 의하여 촬상된 촬영 화상에 근거하여 상기 편면 골판지 시트의 반송 방향을 따르는 명부 또는 암부를 규정하는 화상 처리 장치와,
상기 화상 처리 장치에 의하여 규정된 상기 명부의 길이 또는 상기 암부의 길이를 미리 설정된 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정하는 판정 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1에 있어서,
상기 판정 장치는, 상기 명부의 길이 또는 상기 암부의 길이를 상기 판정값과 비교하여 불량 여부를 판정한 후, 판정 결과를 소정 개수 수집 후에, 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 상기 명부의 길이 또는 이미 불량 여부 판정이 종료된 복수의 상기 암부의 길이를 평균하여 산출한 값을 판정값으로서 사용하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 판정값은, 미리 설정된 상기 명부 또는 상기 암부의 길이의 판정 기준값에 대하여 소정의 여유도를 가미한 판정 영역으로서 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
상기 판정값은, 상기 편면 골판지 시트의 종류마다 설정되어, 기억 장치에 저장되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,
상기 편면 골판지 시트의 폭 정보에 근거하여 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치를 설정하는 검사 위치 설정 장치가 마련되고, 상기 판정 장치는, 상기 촬상 장치가 촬상한 폭 방향의 전역에 있어서의 촬영 화상으로부터 상기 검사 위치 설정 장치가 설정한 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상에 근거하여 상기 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 검사 위치 설정 장치는, 상기 편면 골판지 시트에 있어서의 폭 방향의 각 단부에 미검사 영역을 설정하고, 각 단부의 상기 미검사 영역의 사이에 설정되는 검사 영역에 소정 간격마다 상기 복수의 검사 위치를 설정하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 6에 있어서,
상기 복수의 검사 위치는, 상기 검사 영역에 등간격으로 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 6에 있어서,
상기 편면 골판지 시트의 폭 방향의 각 단부 측에 있어서의 상기 복수의 검사 위치의 설정 밀도가, 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향의 중심 측에 있어서의 상기 복수의 검사 위치의 설정 밀도보다 높게 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
상기 판정 장치에 의하여 상기 편면 골판지 시트의 불량이 판정되었을 때에 불량 발생을 알리는 알림 장치가 마련되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 9에 있어서,
상기 알림 장치는, 경보를 발하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 10 중 어느 한 항에 있어서,
상기 판정 장치가 판정한 상기 편면 골판지 시트의 화상을 표시하는 표시 장치가 마련되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 있어서,
상기 판정 장치가 판정한 상기 편면 골판지 시트의 화상을 기억하는 기억 장치가 마련되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 12 중 어느 한 항에 있어서,
상기 판정값은, 미리 설정되는 제1 판정값과, 상기 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 상기 촬상 장치가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 설정되는 제2 판정값을 갖고, 상기 판정 장치는, 상기 제1 판정값과 상기 제2 판정값을 전환 가능한 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 13에 있어서,
상기 판정 장치는, 상기 편면 골판지 시트의 폭 방향에 있어서의 복수의 검사 위치에 있어서의 촬영 화상과 상기 복수의 검사 위치마다 설정되는 상기 판정값을 비교하여 상기 편면 골판지 시트의 불량 여부를 판정하는 것이고, 상기 제1 판정값은, 상기 복수의 검사 위치에 대응한 일정값으로 설정되며, 상기 제2 판정값은, 상기 복수의 검사 위치에 대응한 개별값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 13 또는 청구항 14에 있어서,
상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 상기 촬영 화상에 근거하여 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 15에 있어서,
상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 평균값에 근거하여 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 16에 있어서,
상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 평균값에 미리 설정된 여윳값을 가산하여 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 15에 있어서,
상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 근거하여 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 18에 있어서,
상기 제2 판정값은, 상기 판정 장치가 상기 제1 판정값을 이용하여 우량품을 판정한 복수의 상기 촬영 화상의 최댓값 또는 최솟값에 미리 설정된 여윳값을 가산하여 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 13 내지 청구항 19 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제2 판정값은, 상기 편면 골판지 시트의 반송 속도가 미리 설정된 판정값 설정 속도에 도달하고, 또한 일정 속도로 유지된 후에 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 20에 있어서
상기 제2 판정값은, 상기 편면 골판지 시트의 반송 속도가 일정 속도로 유지된 후부터 미리 설정된 소정 시간의 경과 후에 설정되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 13 내지 청구항 21 중 어느 한 항에 있어서,
상기 편면 골판지 시트의 종류가 변경되었을 때, 상기 판정 장치는, 상기 제2 판정값으로부터 상기 제1 판정값으로 전환하고, 상기 제1 판정값에 의한 판정 개시 후에 상기 촬상 장치가 촬상한 촬영 화상에 근거하여 제2 판정값을 설정하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 22에 있어서,
상기 판정 장치에 의한 상기 제2 판정값으로부터 상기 제1 판정값으로의 전환은, 상기 편면 골판지 시트의 종이 이음부가 촬상 장치에 의한 촬상 위치의 통과 시에 실시되는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 검출 장치.
청구항 1 내지 청구항 23에 기재된 골판지 시트의 불량 검출 장치와,
상기 골판지 시트의 불량 검출 장치가 검출한 불량 개소를 포함하는 소정 길이로 절단된 양면 골판지 시트를 배출하는 배출 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 불량 제거 장치.
파형 가공된 골심지에 제2 라이너를 첩합시켜 편면 골판지 시트를 제조하는 싱글 페이서와,
상기 편면 골판지 시트에 있어서의 상기 골심지 측에 제1 라이너를 첩합시켜 양면 골판지 시트를 제조하는 더블 페이서와,
청구항 24에 기재된 골판지 시트의 불량 제거 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 골판지 시트의 제조 장치.