KR20190080729A - Coating apparatus and control method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 도포 장치 및 도포 장치의 제어 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a coating device and a control method of the coating device.
반도체 또는 유리 등의 기판에 박막을 형성하기 위해, 기판 상에 소정의 액체를 슬릿 노즐 등의 노즐로부터 토출하는 도포 장치가 알려져 있다 (예를 들어, 특허문헌 1 참조). 또, 최근, 전자 장치를 제조하는 방법의 일례로서, 이른바 팬 아웃형 PLP (Fan-out Panel Level Package) 기술이라고 불리는 수법이 제안되어 있다. 팬 아웃형 PLP 기술에서는, 예를 들어, 반도체 웨이퍼 등의 지지체에, 광의 흡수 또는 가열에 의해 변질되는 분리층을 형성하고, 그 위에 전자 부품을 갖는 층 (이 층을 기판이라고 부르는 경우가 있다) 을 적층하여 적층체를 형성한다.2. Description of the Related Art In order to form a thin film on a substrate such as a semiconductor or glass, a coating apparatus for discharging a predetermined liquid from a nozzle such as a slit nozzle is known (see, for example, Patent Document 1). Recently, a so-called Fan-out Panel Level Package (PLP) technique has been proposed as an example of a method of manufacturing an electronic device. In the fan-out type PLP technology, for example, a separation layer deformed by absorption or heating of light is formed on a support such as a semiconductor wafer, and a layer having an electronic component thereon (this layer is sometimes referred to as a substrate) Are laminated to form a laminate.
그 후, 분리층에 광 또는 열을 가하여 지지체로부터 전자 부품을 갖는 층 (기판) 을 분리시키고, 전자 부품을 갖는 층 (기판) 을 전자 부품별로 절단하여 전자 장치를 얻고 있다. 지지체로는 사각형상의 유리 지지체를 사용하는 것도 제안되어 있고, 이러한 유리 지지체를 사용한 팬 아웃형 PLP 기술에서는, 분리층을 형성하기 위한 도포액을 유리 지지체에 도포하여 건조시킴으로써, 유리 지지체 상에 분리층을 형성하고 있다. 유리 지지체에 대한 도포액의 도포는, 예를 들어, 슬릿 노즐 등을 갖는 전술한 도포 장치를 적용하는 것도 고려할 수 있다.Thereafter, light or heat is applied to the separation layer to separate the layer (substrate) having the electronic component from the support and the layer (substrate) having the electronic component is cut for each electronic component to obtain the electronic device. It has also been proposed to use a quadrangular glass support as the support. In the fan-out type PLP technology using such a glass support, the coating liquid for forming the separation layer is applied to a glass support and dried, . For applying the coating liquid to the glass support, for example, application of the above-described coating apparatus having a slit nozzle or the like may be considered.
통상적으로, 도포 장치는, 기판에 대하여 도포 동작을 실시하는 경우, 미리 노즐로부터 도포액을 예비 토출시켜 노즐 선단을 세정한 후에, 유리 지지체 등에 대하여 도포액의 도포를 실시한다. 또, 다음의 도포 동작을 실시하기까지의 사이에, 노즐을 소정의 대기 위치에서 대기시켜 두는 것이 통상적이다.Usually, in a case where a coating operation is performed on a substrate, the coating apparatus usually applies a coating liquid to a glass support or the like after cleaning the tip of the nozzle by previously discharging the coating liquid from the nozzle in advance. In addition, it is customary to wait the nozzle at a predetermined standby position until the next application operation is performed.
특히, 상기한 팬 아웃형 PLP 기술에 있어서 상기한 도포 장치를 적용한 경우, 노즐의 대기 시간이 길어지는 경우가 있다. 이 경우, 노즐 선단이 대기 기간 중에 건조되는 것을 방지하기 위해, 노즐 선단을 건조 방지용의 액체에 침치해 두는 것도 가능하다. 단, 노즐 선단을 장기간 액체에 침치하면, 모세관 현상에 의해 액체가 노즐 선단으로부터 노즐의 내부로 많이 침입할 가능성이 있다. 침입한 액체는, 예비 토출시에 노즐로부터 배출 가능하지만, 그 경우, 예비 토출 동작에 있어서의 도포액의 토출량을 많게 할 필요가 있어, 불필요하게 도포액을 토출시키게 된다.Particularly, in the case of applying the above-described coating device in the above-mentioned fan-out type PLP technology, the waiting time of the nozzle may become longer. In this case, in order to prevent the nozzle tip from drying during the waiting period, it is also possible to immerse the tip of the nozzle in the liquid for preventing drying. However, if the tip of the nozzle is immersed in the liquid for a long period of time, there is a possibility that the liquid may intrude into the nozzle from the tip of the nozzle by the capillary phenomenon. The infiltrated liquid can be discharged from the nozzle in the preliminary discharge, but in this case, it is necessary to increase the discharging amount of the coating liquid in the preliminary discharge operation, thereby unnecessarily discharging the coating liquid.
본 발명은, 노즐의 대기 시간이 길어져도 노즐 선단의 건조를 방지하면서, 예비 토출시의 도포액의 토출량을 억제하는 것이 가능한 도포 장치 및 도포 장치의 제어 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a coating apparatus and a coating apparatus control method capable of suppressing the drying amount of the coating liquid in the preliminary soil release while preventing drying of the tip of the nozzle even if the waiting time of the nozzle becomes long.
본 발명의 제 1 양태에서는, 기판과 노즐을 상대적으로 이동시키는 이동 장치와, 이동 장치에 의해 노즐을 배치 가능한 대기부와, 노즐 및 이동 장치를 제어하는 제어부를 구비하는 도포 장치로서, 대기부는, 노즐의 선단에 액체를 공급하는 공급부를 갖고, 제어부는, 대기부에 있어서의 노즐이 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정하는 판정부와, 판정부에 의해 소정 대기 시간을 경과했다고 판정한 경우에, 노즐의 선단에 대하여 공급부에 의해 소정 공급 시간만큼 액체를 공급하도록 이동 장치를 동작시키는 지시부를 갖는, 도포 장치가 제공된다.According to a first aspect of the present invention, there is provided a coating device comprising a moving device for relatively moving a substrate and a nozzle, a standby part for placing the nozzle by the moving device, and a control part for controlling the nozzle and the moving device, And a supply unit for supplying a liquid to the tip of the nozzle, wherein the control unit includes: a determination unit that determines whether or not a predetermined waiting time has elapsed from the nozzle in the standby portion; and a determination unit And an instruction section for operating the moving device to supply the liquid to the leading end of the nozzle by a predetermined supply time by the supply section.
본 발명의 제 2 양태에서는, 기판과 노즐을 상대적으로 이동시키는 이동 장치와, 이동 장치에 의해 노즐을 배치 가능한 대기부를 구비하는 도포 장치의 제어 방법으로서, 대기부는, 노즐의 선단에 액체를 공급하는 공급부를 갖고, 대기부에 있어서의 노즐이 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정하는 판정 처리와, 판정 처리에 의해 소정 대기 시간을 경과했다고 판정한 경우에, 노즐의 선단에 대하여 공급부에 의해 소정 공급 시간만큼 액체를 공급하도록 이동 장치를 동작시키는 공급 처리를 포함하는, 도포 장치의 제어 방법이 제공된다.According to a second aspect of the present invention, there is provided a control method of a coating apparatus comprising a moving device for relatively moving a substrate and a nozzle, and a waiting part capable of placing the nozzle by the moving device, wherein the waiting part includes: A determination process of determining whether or not a predetermined waiting time has elapsed in a nozzle in a standby portion and a determination process of determining whether or not a predetermined waiting time has elapsed by the determination process, A supply process for operating the moving device to supply the liquid by a predetermined amount of time.
본 발명에 의하면, 노즐의 대기 시간이 길어져도 노즐 선단의 건조를 방지할 수 있고, 또한 예비 토출시의 도포액의 토출량을 억제할 수 있다.According to the present invention, even when the waiting time of the nozzle is prolonged, drying of the tip of the nozzle can be prevented, and the discharge amount of the coating liquid in the preliminary soil release can be suppressed.
도 1 은, 제 1 실시형태에 관련된 도포 장치의 일례를 모식적으로 나타내는 측면도이다.
도 2 는, 제 1 실시형태에 관련된 도포 장치의 일례를 모식적으로 나타내는 평면도이다.
도 3 은, 노즐의 일례를 나타내고, (A) 는 X 방향에서 본 도면, (B) 는 (A) 의 A-A 선을 따른 단면도이다.
도 4 는, 공급부의 일례를 나타내고, (A) 는 평면도, (B) 는 (A) 의 B-B 선을 따른 단면도이다.
도 5 는, 노즐의 선단을 공급부 내의 공급액에 침지시키는 침지 동작의 일례를 나타내고, (A) 는 침지시의 상태를 나타내는 단면도, (B) 는 노즐 선단을 공급액으로부터 떼어놓은 상태의 도면이다.
도 6 은, 공급부의 다른 예를 나타내는 단면도이다.
도 7 은, 예비 토출부 및 세정부의 일례를 나타내는 도면이다.
도 8 은, 스퀴지에 의한 세정 동작의 일례를 나타내는 도면이다.
도 9 는, 실시형태에 관련된 도포 장치의 제어 방법의 일례를 나타내는 플로 차트이다.
도 10 은, 도포 장치의 동작의 일례를 나타내고, 노즐이 대기 위치에 대기하고 있는 상태의 도면이다.
도 11 은, 도포 장치의 동작의 일례를 나타내고, 예비 토출하고 있는 상태의 도면이다.
도 12 는, 도포 장치의 동작의 일례를 나타내고, 도포액을 도포하고 있는 상태의 도면이다.
도 13 은, 도포 장치의 동작의 일례를 나타내고, 노즐 선단을 공급액에 침지하고 있는 상태의 도면이다.
도 14 는, 도포 장치의 동작의 일례를 나타내고, 노즐이 대기 위치로 되돌아온 상태의 도면이다.
도 15 는, 제 2 실시형태에 관련된 도포 장치의 일례를 나타내는 평면도이다.
도 16 은, 제 3 실시형태에 관련된 도포 장치의 일례를 나타내는 평면도이다.1 is a side view schematically showing an example of a coating apparatus according to the first embodiment.
2 is a plan view schematically showing an example of a coating apparatus according to the first embodiment.
Fig. 3 shows an example of a nozzle, (A) is a view in the X direction, and Fig. 3 (B) is a cross-sectional view along the line AA in Fig.
Fig. 4 shows an example of a supply unit, and Fig. 4 (A) is a plan view and Fig. 4 (B) is a cross-sectional view taken along line BB of Fig.
Fig. 5 shows an example of the immersion operation in which the tip end of the nozzle is immersed in the supply liquid in the supply section. Fig. 5A is a cross-sectional view showing the immersion state, and Fig. 5B is a state in which the tip end of the nozzle is separated from the supply liquid.
6 is a cross-sectional view showing another example of the supply unit.
7 is a diagram showing an example of the preliminary ejection unit and the cleaning unit.
8 is a view showing an example of a squeegee cleaning operation.
Fig. 9 is a flowchart showing an example of a control method of a coating apparatus according to the embodiment.
Fig. 10 shows an example of the operation of the applicator and shows the state in which the nozzle is waiting at the standby position.
Fig. 11 shows an example of the operation of the application device, and shows a state in which it is preliminarily ejected.
Fig. 12 shows an example of the operation of the application device, and shows a state in which the application liquid is applied.
Fig. 13 shows an example of the operation of the application device, and shows the state in which the tip of the nozzle is immersed in the feed liquid.
Fig. 14 shows an example of the operation of the applicator and shows the state in which the nozzle is returned to the standby position.
15 is a plan view showing an example of a coating apparatus according to the second embodiment.
16 is a plan view showing an example of a coating apparatus according to the third embodiment.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 또한, 도면에 있어서는, 각 구성을 이해하기 쉽게 하기 위해, 일부를 강조하거나 혹은 일부를 간략화하여 나타내고 있어, 실제의 구조 또는 형상, 축척 등이 상이한 경우가 있다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, parts are emphasized or a part thereof is shown in a simplified manner in order to facilitate understanding of the respective components, and actual structures, shapes, scale, and the like may be different.
[제 1 실시형태][First Embodiment]
도 1 은, 제 1 실시형태에 관련된 도포 장치 (100) 의 일례를 모식적으로 나타내는 측면도이다. 도 2 는, 도포 장치 (100) 의 일례를 모식적으로 나타내는 평면도이다. 도 1 및 도 2 에 나타내는 도포 장치 (100) 는, 예를 들어, 팬 아웃형 PLP (Fan-out Panel Level Package) 기술에 있어서, 지지체가 되는 유리 또는 반도체 웨이퍼 등의 기판 (S) 상에, 광의 흡수 또는 가열에 의해 변질되는 분리층을 형성하기 위한 도포액을 도포하는 경우, 또는, 분리층 상에 접착층을 형성하기 위한 도포액을 도포하는 경우, 접착층 상 혹은 분리층 상에 배치된 전자 부품을 몰드하기 위한 도포액을 도포하는 경우 등에 사용된다.Fig. 1 is a side view schematically showing an example of a
도포 장치 (100) 는, 도 1 및 도 2 에 나타내는 바와 같이, 스테이지 (10) 와, 노즐 (20) 과, 대기부 (30) 와, 이동 장치 (40) 와, 제어부 (50) 를 구비한다. 이하, 도포 장치 (100) 의 구성을 설명함에 있어서, XYZ 좌표계를 사용하여 도면 중의 방향을 설명한다. 이 XYZ 좌표계에 있어서, 수평면에 평행한 평면을 XY 평면이라고 한다. 이 XY 평면에 있어서 스테이지 (10) 와 노즐 (20) 사이의 상대적인 이동 방향을 X 방향이라고 표기하고, X 방향에 직교하는 방향을 Y 방향이라고 표기한다. 또, XY 평면에 수직인 상하 방향은 Z 방향이라고 표기한다. 또, X 방향, Y 방향 및 Z 방향의 각각은, 도면 중의 화살표가 가리키는 방향이 + 방향이고, 반대 방향이 - 방향이라고 하여 설명한다.1 and 2, the
스테이지 (10) 는, 예를 들어, 사각형의 스테이지이며, 기판 (S) 을 재치 (載置) 하는 재치면 (11) 을 갖는다. 재치면 (11) 은, 기판 (S) 을 지지 가능한 치수로 설정되어 있다. 스테이지 (10) 는, 재치면 (11) 에 재치된 기판 (S) 을 유지하기 위한 도시 생략한 유지 장치를 구비하고 있다. 이 유지 장치는, 예를 들어, 재치면 (11) 에 재치된 기판 (S) 을 진공 흡착하는 흡착 장치여도 되고, 재치면 (11) 에 재치된 기판 (S) 의 단부 등을 클램프하는 클램프 장치여도 된다. 또, 스테이지 (10) 에는, 예를 들어, 재치면 (11) 에 재치된 기판 (S) 을 위치 결정하기 위한 위치 결정부를 구비해도 된다.The
스테이지 (10) 에는, 예를 들어, 도시 생략한 기판 반송 장치에 의해 도포 장치 (100) 의 주위에 배치되어 있는 기판 (S) 이 반송된다. 또, 도시 생략한 기판 반송 장치는, 스테이지 (10) 로부터 기판 (S) 을 반출한다. 이 기판 반송 장치의 구성은 임의이며, 또, 도포 장치 (100) 가 기판 반송 장치를 구비해도 된다. 또, 도포 장치 (100) 는, 도시 생략한 기판 반송 장치와의 사이에서 기판 (S) 을 주고받는 수수 (授受) 장치를 구비해도 된다. 또한, 기판 (S) 은, 그대로 스테이지 (10) 에 반송되어 재치되어도 되고, 트레이 등에 재치된 상태로 반송되어, 트레이와 함께 재치면 (11) 에 재치되어도 된다.On the
스테이지 (10) 상에는, 노즐 (20) 의 위치의 하나인 도포 위치 (P3) 가 설정된다. 도포 위치 (P3) 는, 기판 (S) 에 대하여 도포액 (Q1) 의 도포를 개시하는 위치이다. 도포 위치 (P3) 는, 스테이지 (10) 의 +Z 측 (상방) 의 영역에 설정된다. 본 실시형태에 있어서, 도포 위치 (P3) 는, 기판 (S) 에 대한 도포 개시 위치이기 때문에, 스테이지 (10) 에 재치되는 기판 (S) 은, +X 측의 단부가 도포 위치 (P3) 에 맞춰 유지된다. 또한, 도포 위치 (P3) 는 고정된 위치가 아니라, 스테이지 (10) 에 재치되는 기판 (S) 의 +X 측의 단부에 맞춰 적절히 변경되어도 된다. 또, 스테이지 (10) 는, 고정 배치되는 것에 한정되지 않고, 구동 장치 등에 의해 X 방향, Y 방향, Z 방향 중 적어도 일 방향으로 이동 가능해도 된다.On the
노즐 (20) 은, 분리층 등을 형성하기 위한 도포액 (Q1) 을 기판 (S) 에 토출한다. 도 3 은, 노즐 (20) 의 일례를 나타내는 도면이다. 도 3(A) 는 측면도, 도 3(B) 는 도 3(A) 에 있어서의 A-A 선을 따른 단면도이다. 노즐 (20) 은, 슬릿 노즐이다. 도 3(A) 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 은, Y 방향으로 연장되는 장척상 (長尺狀) 이다. 노즐 (20) 의 -Z 방향 (하방측) 의 선단 (21) 에는, Y 방향을 따른 슬릿상의 개구부 (21a) 가 형성된다. 개구부 (21a) 는, -Z 방향 (하방) 을 향해 있다. 노즐 (20) 은, 개구부 (21a) 로부터 도포액 (Q1) 등을 -Z 방향으로 토출 가능하다.The
개구부 (21a) 의 Y 방향의 치수는, 예를 들어, 재치면 (11) 에 재치된 기판 (S) 에 맞춰 형성되어 있고, Y 방향의 치수가 기판 (S) 의 Y 방향의 치수보다 작게 설정되어 있다. 이 구성에 의해, 스테이지 (10) 상의 기판 (S) 의 주변 영역에 대하여 노즐 (20) 로부터 도포액 (Q1) 을 도포하지 않도록 하고 있다. 노즐 (20) 은, 예를 들어 교환 가능하게 형성되어 있고, 도포 대상이 되는 기판 (S) 의 사이즈 (Y 방향의 치수) 에 맞춰 적절히 교환하여 사용된다. 교환용의 노즐 (20) 은, 예를 들어, 스테이지 (10) 의 근방에 배치되고, 작업자의 수작업에 의해, 또는 도시 생략한 노즐 교환 장치에 의해 교환 가능하다. 또한, 노즐 (20) 은, Y 방향에 있어서의 도포액 (Q1) 의 토출 길이 (혹은 토출 폭) 를 조정 가능한 기구를 구비해도 된다.The dimension of the
도 3(B) 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 의 내부에는, 도포액 (Q1) 을 개구부 (21a) 에 유통시키는 유통로 (21b) 와, 유통로 (21b) 의 상방측 (상류측) 에 도포액 (Q1) 을 유지하는 도포액 유지부 (21c) 가 형성되어 있다. 도포액 유지부 (21c) 에는, 도시되지 않은 도포액 공급원이 접속되어 있다. 이 도포액 공급원은, 도시 생략한 펌프를 갖고 있다. 이 펌프를 구동함으로써, 도포액 유지부 (21c) 내에 도포액 공급원으로부터 도포액 (Q1) 이 공급되고, 도포액 유지부 (21c) 내의 압력을 상승시킴으로써, 유통로 (21b) 를 통해 개구부 (21a) 로부터 도포액 (Q1) 을 토출한다.3 (B), a
도 1 및 도 2 에 나타내는 바와 같이, 대기부 (30) 는, 스테이지 (10) 에 대하여, 노즐 (20) 과의 상대적인 이동 방향, 요컨대 스테이지 (10) 의 X 방향의 단부측에 배치된다. 예를 들어, 대기부 (30) 는, 스테이지 (10) 에 대하여, 노즐 (20) 에 의한 도포 동작의 개시 위치인 도포 위치 (P3) 에 가까운 쪽의 단부측에 배치된다. 대기부 (30) 는, 공급부 (31) 와, 예비 토출부 (32) 와, 세정부 (33) 를 갖는다. 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 는, 동일 지점에 형성되어 있지만, 이 구성에 한정되지 않고, 예비 토출부 (32) 와 세정부 (33) 가 별도로 형성되어 있어도 된다. 공급부 (31) 는, 스테이지 (10) 의 +X 측에 배치되고, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 는, 공급부 (31) 의 +X 측에 배치되어 있다. 공급부 (31) 는, 평면에서 보아 스테이지 (10) 와 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 에 협지되어 배치되어 있다.As shown in Figs. 1 and 2, the
또한, 공급부 (31) 와, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 배치는, 도 1 및 도 2 에 나타내는 형태에 한정되지 않는다. 예를 들어, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 가 스테이지 (10) 의 +X 측에 배치되고, 공급부 (31) 가 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 +X 측에 배치되는 형태여도 된다. 또, 공급부 (31) 와, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 상하 (Z 방향) 로 겹쳐지도록 배치되어도 된다.The arrangements of the
도 4 는, 공급부 (31) 의 일례를 나타내는 도면이다. 도 4(A) 는 평면도, 도 4(B) 는 도 4(A) 에 있어서의 B-B 선을 따른 단면도이다. 도 4(A) 및 도 4(B) 에 나타내는 바와 같이, 공급부 (31) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 공급액 (액체) (Q2) 을 공급한다. 공급액 (Q2) 은, 노즐 (20) 의 선단 (21) 의 건조를 억제하기 위한 액체이다. 공급액 (Q2) 으로는, 예를 들어 노즐 (20) 로부터 도포하는 도포액 (Q1) 에 사용되는 용매를 사용할 수 있다. 이와 같은 용매로는, 예를 들어 시너 등의 유기 용제를 들 수 있다.Fig. 4 is a diagram showing an example of the
본 실시형태에 있어서, 공급부 (31) 는, 예를 들어 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 에 침지하기 위한 딥핑조이다. 공급부 (31) 는, 공급액 (Q2) 을 저류하는 저류부 (31a) 를 갖는다.In this embodiment, the
저류부 (31a) 의 정보가 해방되어 있는 경우, 저류된 공급액 (Q2) 은, 증발하여 감소되는 경우가 있다. 이 경우, 저류부 (31a) 에 대하여 도시 생략한 액체 공급원을 접속하여, 이 액체 공급원으로부터 공급액 (Q2) 이 저류부 (31a) 에 적절히 공급될 수 있도록 해도 된다. 저류부 (31a) 에 대한 공급액 (Q2) 의 공급은, 예를 들어, 연속적으로 실시해도 되고, 소정 시간 간격으로 단속적으로 실시해도 된다. 또, 저류부 (31a) 에 액면 센서 등이 형성되고, 이 액면 센서로부터의 출력에 따라 공급액 (Q2) 의 공급을 실시해도 된다. 예를 들어, 저류부 (31a) 로부터 공급액 (Q2) 을 배출하는 도시 생략한 배출부가 형성되어 있어도 된다. 이 배출부에 의해 공급액 (Q2) 을 배출하고, 새로운 공급액 (Q2) 을 저류부 (31a) 에 공급하는 구성이어도 된다. 이 구성에 의해, 저류부 (31a) 에 저류되는 공급액 (Q2) 이 교환 가능해진다.When the information of the
도 5(A) 및 도 5(B) 는, 노즐 (20) 의 선단을 공급부 (31) 내의 공급액 (Q2) 에 침지시키는 침지 동작의 일례를 나타내는 도면이다. 도 5(A) 에 나타내는 바와 같이, 침지 동작에서는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 소정 침지 시간 (소정 공급 시간) 만큼 공급액 (Q2) 에 침지시킨다. 이 경우, 예를 들어, 선단 (21) 으로부터 5 ㎜ ∼ 8 ㎜ 정도의 위치까지 공급액 (Q2) 에 침지시킨다. 선단 (21) 이 공급액 (Q2) 에 침지되면, 모세관 현상에 의해, 개구부 (21a) 로부터 공급액 (Q2) 이 노즐 (20) 의 내부로 침입한다.5A and 5B are views showing an example of an immersion operation in which the tip of the
노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 에 침지시키고 나서 소정 침지 시간만큼 경과한 후, 도 5(B) 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 으로부터 건져낸다. 일 양태에 있어서, 소정 침지 시간은, 노즐 (20) 이 대기하고 있는 시간보다 짧다. 소정 침지 시간은, 예를 들어, 노즐 (20) 에 있어서의 소정 대기 시간의 50 분의 1 이하로 설정되어 있다. 소정 침지 시간은, 예를 들어, 1 초간 ∼ 2 초간 정도이다. 공급액 (Q2) 의 종류에 따라 다르기도 하지만, 소정 침지 시간을 이와 같은 단시간으로 설정함으로써, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 긴 시간에 있어서 공급액 (Q2) 에 침지시키는 것과 비교하여, 공급액 (Q2) 이 모세관 현상에 의해 유통로 (21b) 의 상방까지 도달하는 것이 억제된다. 그 때문에, 원하는 도포액 (Q1) 을 노즐 (20) 로부터 토출하는 공정을, 적은 예비 토출로 실시할 수 있다.The
또한, 공급액 (Q2) 으로서 도포액 (Q1) 의 용매가 사용됨으로써, 유통로 (21b) 에 있어서 도포액 (Q1) 에 미치는 영향을 경감시키고 있다.Further, by using the solvent of the coating liquid Q1 as the supply liquid Q2, the influence on the coating liquid Q1 in the
도 6 은, 본 실시형태에 있어서의 공급부의 다른 예를 나타내는 단면도이다. 도 6 에 나타내는 바와 같이, 공급부 (34) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 향하여 공급액 (Q2) 을 뿌리거나 또는 분무하기 위한 토출 장치여도 된다. 공급부 (34) 는, 공급액 (Q2) 을 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 향하여 분사하는 토출부 (34a) 를 구비하고 있다. 토출부 (34a) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 X 방향으로 협지하도록 배치되어 있고, 노즐 (20) 의 +X 측 및 -X 측에 있어서, 예를 들어, 선단 (21) 을 따라 Y 방향으로 복수 일정 간격으로 형성되어 있다.Fig. 6 is a cross-sectional view showing another example of the supply unit in the present embodiment. 6, the supplying
공급부 (34) 는, 상기한 공급부 (31) 와 마찬가지로, 소정 공급 시간 (상기한 소정 침지 시간에 대응하는 시간) 만큼, 상기한 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 향하여 토출부 (34a) 로부터 공급액 (Q2) 을 토출한다. 또한, 공급부 (34) 에 있어서의 소정 공급 시간은, 상기한 공급부 (31) 에 있어서의 소정 침지 시간보다 긴 시간이어도 되고, 또는 짧은 시간이어도 된다. 토출부 (34a) 로부터의 단위 시간당의 토출량은, 임의로 설정 가능하다. 토출부 (34a) 로부터 토출된 공급액 (Q2) 은, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 부착되거나, 또는, 미스트화된 공급액 (Q2) 이 개구부 (21a) 의 근방을 부유함으로써, 개구부 (21a) 의 건조를 방지한다.The
도 6 에 나타내는 공급부 (34) 와 같이, 토출부 (34a) 로부터 공급액 (Q2) 을 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 뿌리거나 또는 분무하는 경우에는, 토출 시간 또는 단위 시간당의 토출량에 따라 다르기도 하지만, 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 에 침지시키는 경우에 비해, 모세관 현상에 의한 유통로 (21b) 내에 대한 공급액 (Q2) 의 침입을 줄이는 것이 가능하다.When the feed liquid Q2 is sprinkled or sprayed onto the
도 7 은, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 일례를 나타내는 도면이다. 도 7 에 나타내는 바와 같이, 예비 토출부 (32) 는, 노즐 (20) 에 대하여 예비 토출 동작을 실시하기 위해서 형성된다. 예비 토출 동작은, 기판 (S) 에 대하여 도포액 (Q1) 의 토출을 실시하기 전에, 개구부 (21a) 로부터 도포액 (Q1) 을 예비적으로 토출하는 동작이다. 예비 토출에서는, 도포액 (Q1) 을 토출함으로써, 노즐 (20) 의 내부로 침입하고 있는 공급액 (Q2) 이 도포액 (Q1) 과 함께 배출된다. 예비 토출에 있어서, 처음에는 공급액 (Q2) 이 토출되고, 공급액 (Q2) 과 도포액 (Q1) 의 혼합물이 토출된 후에, 도포액 (Q1) 의 토출로 변화한다.7 is a view showing an example of the preliminary ejecting portion 32 and the cleaning portion 33. Fig. As shown in Fig. 7, the preliminary ejecting portion 32 is formed to perform the preliminary ejecting operation with respect to the
예비 토출부 (32) 에는, 도 7 에 나타내는 바와 같이, 배출조 (35) 가 형성된다. 배출조 (35) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 끼워넣을 수 있도록, XZ 평면을 따른 단면이 V 형상인 홈부 (35a) 를 구비하고 있다. V 형상의 홈부 (35a) 에 의해, 노즐 (20) 로부터 토출된 도포액 (Q1), 공급액 (Q2) 을 바닥부 (35b) 에 용이하게 모을 수 있다. 바닥부 (35b) 에는, 도시 생략한 배출부가 접속되어 있고, 바닥부 (35b) 에 고인 도포액 (Q1) 등을 통해 외부로 배출한다. 또한, 외부로 배출된 배출액 (도포액 (Q1), 공급액 (Q2) 등) 은, 도포액 (Q1) 또는 공급액 (Q2) 의 생성에 사용되어도 된다.In the preliminary discharge portion 32, as shown in Fig. 7, a
세정부 (33) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 부착되어 있는 도포액 (Q1) 혹은 공급액 (Q2) 등의 부착물을 제거한다. 세정부 (33) 는, 도 7 에 나타내는 바와 같이, 예비 토출부 (32) 와 동일 지점에 배치되어 있지만, 이 구성에 한정되지 않고, 예비 토출부 (32) 와는 별도로 배치되어도 된다. 세정부 (33) 는, 스퀴지 (36) 를 갖는다. 스퀴지 (36) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 대하여 +X 측 및 -X 측에 배치되고, 도시 생략한 구동 장치에 의해 각각 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 대하여 맞닿음 또는 이간 가능하고, 또한 각각이 Y 방향으로 이동 가능하게 형성되어 있다.The cleaning section 33 removes deposits such as the coating liquid Q1 or the supply liquid Q2 adhered to the
도 8 은, 스퀴지 (36) 에 의한 세정 동작의 일례를 나타내는 도면이다. 도 8 에 나타내는 바와 같이, 스퀴지 (36) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 의 -Y 측의 표면에 맞닿고, 맞닿은 상태로 +Y 방향으로 이동함으로써, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 부착되어 있는 도포액 (Q1), 공급액 (Q2) 등의 부착물을 긁어낸다. 스퀴지 (36) 에 의해 긁어낸 부착물은, 배출조 (35) 에 떨어지고, 배출조 (35) 로부터 외부로 배출된다. 이와 같이, 예비 토출부 (32) 와 세정부 (33) 에서는, 동일한 배출조 (35) 가 사용된다. 또한, 세정부 (33) 는, 스퀴지 (36) 를 사용하는 것에 한정되지 않고, 예를 들어, 에어 나이프 등이 사용되어도 된다.Fig. 8 is a view showing an example of the cleaning operation by the
이동 장치 (40) 에 의해 이동하는 노즐 (20) 은, 대기부 (30) 에 있어서 대기 가능하다. 대기부 (30) 내에서는, 도 1 에 나타내는 바와 같이, 대기 위치 (P1), 예비 토출·세정 위치 (P2), 공급 위치 (P4) 의 각각의 위치에 노즐 (20) 을 배치 가능하다. 대기 위치 (P1) 는, 예를 들어, 기판 (S) 이 재치면 (11) 에 재치되기까지의 사이에 있어서 (즉 재치면 (11) 에 기판 (S) 이 존재하지 않는 경우), 노즐 (20) 이 대기하는 위치이다. 대기 위치 (P1) 는, 공급부 (31), 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 어느 것에도 액세스하고 있지 않은 위치이다. 본 실시형태에 있어서, 대기 위치 (P1) 는, 예를 들어 배출조 (35) 로부터 +Z 측 (상방) 으로 떨어진 위치에 설정된다. 단, 대기 위치 (P1) 는, 배출조 (35) 의 상방 (예비 토출부 (32) 및 세정부 (33)) 인 것에 한정되지 않고, 예를 들어, 공급부 (31) 의 상방의 위치여도 되고, 공급부 (31), 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 상방으로부터 벗어난 위치여도 된다.The
예비 토출·세정 위치 (P2) 는, 예비 토출부 (32) 에 있어서 노즐 (20) 에 의한 예비 토출을 실시하는 위치이며, 또, 세정부 (33) 에 의해 노즐 (20) 의 선단 (21) 의 세정이 실시되는 위치이다. 본 실시형태에서는, 예비 토출을 실시하는 위치 및 세정이 실시되는 위치가 공통된 위치 (예비 토출·세정 위치 (P2)) 이다. 공급 위치 (P4) 는, 공급부 (31) 에 의해 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 대하여 공급액 (Q2) 의 공급이 실시되는 위치이다. 공급 위치 (P4) 는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 이 공급부 (31) 의 저류부 (31a) 내의 공급액 (Q2) 에 침지되는 위치이다.The preliminary ejection / cleaning position P2 is a position at which the preliminary ejection is performed by the
이동 장치 (40) 는, 도 1 및 도 2 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 을 X 방향 및 Z 방향으로 이동시킨다. 이동 장치 (40) 는, 노즐 (20) 을 X 방향 및 Z 방향으로 이동시킴으로써, 노즐 (20) 을, 대기 위치 (P1), 예비 토출·세정 위치 (P2), 도포 위치 (P3), 공급 위치 (P4) 의 각각으로 이동시킬 수 있고, 또한, 각각의 위치에서 노즐 (20) 을 유지할 수 있다. 또, 이동 장치 (40) 는, 스테이지 (10) 에 지지되는 기판 (S) 에 대하여 노즐 (20) 을 이동시킴으로써, 기판 (S) 과 노즐 (20) 을 상대적으로 이동시킬 수 있다.As shown in Figs. 1 and 2, the moving
이동 장치 (40) 는, 예를 들어, 스테이지 (10) 에 대하여 X 방향으로 이동 가능한 도어형 프레임과, 도어형 프레임의 상측의 빔부에 있어서 노즐 (20) 을 Z 방향으로 이동 가능하게 지지하는 지지부로 구성된다. 도어형 프레임의 X 방향으로의 이동, 및 노즐 (20) 의 Z 방향으로의 이동은, 도시 생략한 구동 장치를 구동함으로써 실시한다. 또한, 이동 장치 (40) 는, 도어형 프레임 등을 사용하는 구성에 한정되지 않는다. 예를 들어, 이동 장치 (40) 로서, 노즐 (20) 을 유지하는 로봇 핸드 혹은 머니퓰레이터 등이 사용되고, 노즐 (20) 을 6 자유도로 이동 가능한 구성이어도 된다. 또, 이동 장치 (40) 는, 미리 배치된 공급부 (31) 또는 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 로 노즐 (20) 을 이동시키는 구성 대신에, 어느 하나에 배치된 노즐 (20) 에 대하여 공급부 (31) 또는 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 를 이동시키는 구성이어도 된다.The
제어부 (50) 는, 노즐 (20), 대기부 (30) 의 공급부 (31 (34)), 예비 토출부 (32), 세정부 (33), 및 이동 장치 (40) 의 동작을 제어한다. 제어부 (50) 는, CPU (Central Processing Unit) 등의 연산 처리 장치와, 도시 생략한 주기억 장치나 보조 기억 장치 등의 기억 장치를 갖고 있다. 기억 장치에는, 각종 프로그램, 각종 정보가 격납되어 있다. 제어부 (50) 는, 도 1 에 나타내는 바와 같이, 동작 제어부 (51) 와, 판정부 (52) 와, 지시부 (53) 와, 타이머 (54) 와, 기억부 (55) 를 갖는다.The
동작 제어부 (51) 는, 대기 위치 (P1) 에서 노즐 (20) 을 대기시키는 대기 동작, 예비 토출·세정 위치 (P2) 에서 노즐 (20) 의 예비 토출을 실시시키는 예비 토출 동작, 예비 토출·세정 위치 (P2) 에서 노즐 (20) 의 세정을 실시시키는 세정 동작, 공급 위치 (P4) 에서 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 대하여 공급액 (Q2) 의 공급을 실시시키는 공급 동작, 도포 위치 (P3) 에서 노즐 (20) 로부터 기판 (S) 에 도포액 (Q1) 을 도포하는 도포 동작을 각각 제어한다.The
동작 제어부 (51) 는, 대기 동작에 있어서는, 이동 장치 (40) 를 제어하여 노즐 (20) 을 대기 위치 (P1) 에서 이동시켜 대기시킨다. 동작 제어부 (51) 는, 예비 토출 동작에 있어서는, 이동 장치 (40) 를 제어하여 노즐 (20) 을 예비 토출·세정 위치 (P2) 로 이동시키고, 노즐 (20) 을 제어하여 개구부 (21a) 로부터 도포액 (Q1) 을 토출시킨다. 동작 제어부 (51) 는, 세정 동작에 있어서는, 이동 장치 (40) 를 제어하여 노즐 (20) 을 예비 토출·세정 위치 (P2) 로 이동시키고, 세정부 (33) 를 제어하여 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 스퀴지 (36) 를 맞닿게 하여 스퀴지 (36) 를 Y 방향으로 이동시킨다. 동작 제어부 (51) 는, 공급 동작에 있어서는, 이동 장치 (40) 를 제어하여 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 로 이동시키고, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 공급부 (31 (34)) 의 공급액 (Q2) 을 공급시킨다. 동작 제어부 (51) 는, 도포 동작에 있어서는, 이동 장치 (40) 를 제어하여 노즐 (20) 을 기판 (S) 에 대하여 X 방향으로 이동시키면서, 노즐 (20) 을 제어하여 개구부 (21a) 로부터 도포액 (Q1) 을 기판 (S) 에 토출시킨다.In the waiting operation, the
판정부 (52) 는, 대기부 (30) 에 있어서 대기하는 노즐 (20) 의 대기 시간이 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정한다. 소정 대기 시간은, 예를 들어, 노즐 (20) 로부터 도포하는 도포액 (Q1) 등에 따라서, 오퍼레이터 등에 의해 미리 설정되어 있다. 판정부 (52) 는, 타이머 (54) 에 의해 계측된 시간이 소정 대기 시간을 경과하는지 여부를 판정한다. 이 경우, 타이머 (54) 는, 노즐 (20) 에 의한 기판 (S) 에 대한 도포 동작이 완료된 시점으로부터의 경과 시간, 또는, 후술하는 공급부 (31) 에 대한 노즐 (20) 의 침지 동작이 완료된 시점으로부터의 경과 시간을 계측한다.The judging
지시부 (53) 는, 판정부 (52) 에 의해 소정 대기 시간을 경과했다고 판정한 경우에, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 대하여 공급부 (31) 에 의해 소정 침지 시간만큼 액체를 공급하는 침지 동작을 실시시킨다. 이 침지 동작은, 상기한 공급 동작 중 하나의 예이다. 지시부 (53) 는, 침지 동작에 있어서, 이동 장치 (40) 를 제어하여 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 로 이동시키고, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급부 (31) 의 공급액 (Q2) 에 소정 침지 시간만큼 침지시킨다. 여기서, 소정 침지 시간은, 소정 대기 시간보다 짧은 시간으로, 예를 들어 소정 대기 시간의 50 분의 1 이하이다. 또한, 소정 침지 시간은, 오퍼레이터 등에 의해 설정되어도 되고, 상기한 소정 대기 시간이 설정되었을 때, 예를 들어 소정 대기 시간의 50 분의 1 이하 등으로 자동적으로 설정되어도 된다.The instructing
기억부 (55) 는, 대기 동작, 예비 토출 동작, 공급 동작 (침지 동작), 세정 동작, 도포 동작의 각 동작을 실시하기 위한 프로그램, 정보 등이 기억된다. 이러한 프로그램, 정보 등은, 노즐 (20), 대기부 (30) (공급부 (31 (34)), 예비 토출부 (32), 세정부 (33)), 및 이동 장치 (40) 의 각 동작을 제어하기 위한 프로그램, 정보 등을 포함한다.The
다음으로, 상기 서술한 바와 같이 구성된 도포 장치 (100) 에 있어서의 동작을 설명한다. 도 9 는, 실시형태에 관련된 도포 장치 (100) 의 제어 방법의 일례를 나타내는 플로 차트이다. 도 10 내지 도 14 는, 실시형태에 관련된 도포 장치 (100) 의 동작의 일례를 나타내는 도면이다. 실시형태에 관련된 도포 장치 (100) 의 제어 방법에서는, 제어부 (50) 의 제어에 의해 각 부가 동작을 실시한다. 또한, 도 9 의 플로 차트를 설명함에 있어서, 적절히 도 1 내지 도 8 을 참작한다. 먼저, 도 9 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 을 대기 위치 (P1) 에서 대기시킨다 (스텝 ST01). 제어부 (50) 의 동작 제어부 (51) (도 1 참조) 는, 도 10 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 을 대기부 (30) 에 있어서의 대기 위치 (P1) 에 대기시키도록 제어한다.Next, the operation of the
계속해서, 동작 제어부 (51) 는, 기판 (S) 에 대한 도포 동작을 개시하는지 여부를 판정한다 (판정 처리 : 스텝 ST02). 동작 제어부 (51) 는, 예를 들어, 도시 생략한 기판 반송 장치에 의해 기판 (S) 이 스테이지 (10) 의 재치면 (11) 에 재치된 것을 검지한 경우, 기판 (S) 에 대한 도포 동작을 개시한다고 판정한다. 동작 제어부 (51) 는, 도시 생략한 기판 반송 장치로부터 기판 (S) 의 반송 완료의 신호를 수신함으로써 재치면 (11) 에 대한 기판 (S) 의 재치를 검지해도 되고, 스테이지 (10) 의 일부에 형성된 센서 등으로부터의 신호에 의해 재치면 (11) 에 대한 기판 (S) 의 재치를 검지해도 된다. 또한, 동작 제어부 (51) 는, 재치면 (11) 에 대한 기판 (S) 의 재치 유무에 따라 기판 (S) 에 대한 도포 동작의 개시의 판정을 실시하는 것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 동작 제어부 (51) 는, 다른 상태 (예를 들어, 스테이지 (10) 에 대한 기판 (S) 의 위치 결정이 완료된 상태 등) 를 검지하여 도포 동작의 개시를 판정해도 된다.Subsequently, the
스텝 ST02 에 있어서, 기판 (S) 에 대한 도포 동작을 개시한다고 판정한 경우 (스텝 ST02 의 YES), 동작 제어부 (51) 는, 도 11 에 나타내는 바와 같이, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 예비 토출·세정 위치 (P2) 로 이동시킨다. 노즐 (20) 을 예비 토출·세정 위치 (P2) 로 이동시킨 후, 동작 제어부 (51) 는, 노즐 (20) 에 의해 예비 토출 동작을 실시시킨다 (예비 토출 처리 : 스텝 ST03). 스텝 ST03 에 있어서, 동작 제어부 (51) 는, 노즐 (20) 에 대하여, 소정량의 도포액 (Q1) 을 개구부 (21a) 로부터 배출조 (35) 를 향하여 토출시킨다. 예비 토출시키는 도포액 (Q1) 의 양은, 미리 오퍼레이터 등에 의해 설정되어 있다.11, in the case where it is determined in step ST02 that the application operation to the substrate S is to be started (YES in step ST02), the
예비 토출 동작에 의해 노즐 (20) 의 개구부 (21a) 로부터 토출된 도포액 (Q1) 은, 배출조 (35) 에 수용된 후, 외부로 배출된다. 예비 토출 동작을 실시함으로써, 개구부 (21a) 나 노즐 (20) 의 내부로 침입한 이물질 (예를 들어 공급액 (Q2) 등의 액체) 이 배출된다. 또, 예비 토출을 실시함으로써, 노즐 (20) 의 내부에 있어서, 개구부 (21a) 의 근방에 유지되는 도포액 (Q1) 의 형상, 점도 등의 상태가 조정된다.The coating liquid Q1 discharged from the
스텝 ST03 의 예비 토출 처리에서 노즐 (20) 에 예비 토출 동작을 실시시킨 후, 동작 제어부 (51) 는, 계속해서 예비 토출·세정 위치 (P2) 에 있어서, 세정부 (33) 에 의해 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 세정시킨다 (세정 처리 : 스텝 ST04). 스텝 ST04 의 세정 처리에 있어서, 동작 제어부 (51) 는, 세정부 (33) 의 스퀴지 (36) 를 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 맞닿게 하여, 이 상태로 스퀴지 (36) 를 Y 방향으로 이동시킨다. 스퀴지 (36) 의 이동에 의해, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 부착된 액체, 이물질 등이 긁혀져, 배출조 (35) 로부터 외부로 배출된다.After the preliminary ejection operation is performed on the
노즐 (20) 의 선단 (21) 이 세정된 후, 동작 제어부 (51) 는, 도 12 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (20) 을 도포 위치 (P3) 로 이동시키도록 이동 장치 (40) 를 제어한다. 노즐 (20) 이 이동된 후, 동작 제어부 (51) 는, 기판 (S) 에 대하여 도포 동작을 실시시킨다 (도포 처리 : 스텝 ST05). 스텝 ST05 에 있어서, 동작 제어부 (51) 는, 개구부 (21a) 를 기판 (S) 에 대향시키고, 기판 (S) 에 대한 개구부 (21a) 의 위치 (개구부 (21a) 와 기판 (S) 의 간격) 를 조정함으로써, 토출 개시 위치의 위치 맞춤을 실시한다.After the
개구부 (21a) (노즐 (20)) 의 위치 맞춤을 실시한 후, 동작 제어부 (51) 는, 노즐 (20) 의 개구부 (21a) 로부터 기판 (S) 에 대하여 도포액 (Q1) 을 토출시키면서, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 -X 방향으로 이동시킨다. 동작 제어부 (51) 는, 기판 (S) 의 X 방향의 치수에 대응한 소정 거리만큼 노즐 (20) 을 -X 방향으로 이동시킨 후, 노즐 (20) 로부터의 도포액 (Q1) 의 토출을 정지시키고, 이동 장치 (40) 에 의한 노즐 (20) 의 이동을 정지시킨다. 이와 같이, 기판 (S) 과 노즐 (20) 을 X 방향으로 상대적으로 이동시키면서, 노즐 (20) 로부터 도포액 (Q1) 을 기판 (S) 에 토출함으로써, 기판 (S) 에 도포액 (Q1) 의 도막이 형성된다. 이와 같이 하여, 1 장의 기판 (S) 에 대한 도포 동작이 완료된다.After the positioning of the
1 장의 기판 (S) 에 대한 도포 동작이 완료된 후, 동작 제어부 (51) 는, 모든 기판에 대하여 도포 동작이 완료되었는지 여부를 판단한다 (스텝 ST06). 스텝 ST06 에 대해, 동작 제어부 (51) 는, 예를 들어, 1 장의 기판 (S) 에 대한 도포 동작이 완료될 때마다 도포 동작 완료의 횟수를 +1 만큼 카운트하고, 카운트한 횟수의 합계가 미리 설정된 기판 (S) 의 장수에 도달한 경우에, 모든 기판에 대하여 도포 동작이 완료되었다고 판단한다. 또, 동작 제어부 (51) 는, 카운트한 횟수가 미리 설정된 기판 (S) 의 장수에 도달하지 않은 경우에는, 모든 기판에 대하여 도포 동작이 완료되지 않았다고 판단한다.After the coating operation for one substrate S is completed, the
또한, 스텝 ST06 의 판단 수법은, 상기한 판단 수법에 한정되지 않는다. 예를 들어 도포 동작의 대상이 되는 기판 중 마지막 기판 (S) 이 스테이지 (10) 에 반입된 경우에, 기판 반송 장치 (60) 등으로부터 제어부 (50) 에 대하여 마지막 기판 (S) 의 반송이 완료되었다는 신호가 송신되는 구성이어도 된다. 이 경우, 동작 제어부 (51) 는, 당해 신호를 수신하고 있는지 여부를 검출하여, 수신하고 있는 경우에, 모든 기판에 대하여 도포 동작이 완료되었다고 판단해도 된다. 또, 미리 도포 장치 (100) 의 가동 개시로부터 소정 시간을 설정해 두고, 그 소정 시간에 도달했을 때의 기판 (S) 을 마지막 기판 (S) 으로 해도 된다.Further, the determination method in step ST06 is not limited to the above determination method. For example, when the final substrate S among the substrates to be subjected to the coating operation is carried into the
동작 제어부 (51) 는, 스텝 ST06 에 있어서, 모든 기판에 대하여 도포 동작이 완료되었다고 판단한 경우 (스텝 ST06 의 YES), 예를 들어, 노즐 (20) 을 대기 위치 (P1) 로 이동시키고, 스테이지 (10) 및 대기부 (30) 의 각 동작을 정지시켜, 도포 장치 (100) 에 있어서의 동작을 완료시킨다.The
이와 같이, 동작 제어부 (51) 는, 노즐 (20) 에 대한 소정 대기 시간의 경과 전에 스테이지 (10) 의 재치면 (11) 에 기판 (S) 이 재치되면, 노즐 (20) 에 의한 도포 동작을 개시시킨다. 즉, 소정 대기 시간의 경과 전에 재치면 (11) 에 기판 (S) 이 재치되면, 노즐 (20) 은, 대기 위치 (P1) 로부터 예비 토출·세정 위치 (P2) 로 이동하고, 예비 토출 동작 및 세정 동작을 실시한 후에 도포 위치 (P3) 로 이동하여 도포 동작을 실시한다. 따라서, 대기 위치 (P1) 에서의 노즐 (20) 의 대기 시간이 짧을 때에는, 공급부 (31) 에 의한 공급액 (Q2) 의 공급 동작이 실행되지 않고, 상기한 스텝 ST03 ∼ ST05 가 실행된다.In this way, when the substrate S is placed on the
또한, 동작 제어부 (51) 는, 스텝 ST06 에 있어서, 모든 기판에 대하여 도포 동작이 완료되지 않았다고 판단한 경우 (스텝 ST06 의 NO), 도 14 에 나타내는 바와 같이, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 대기 위치 (P1) 로 이동시킨 후, 상기한 스텝 ST01 이후의 동작을 실행시킨다.14, the
또, 도 9 에 나타내는 바와 같이, 스텝 ST02 에 있어서, 기판 (S) 에 대한 도포 동작을 개시하지 않는다고 판정한 경우 (스텝 ST02 의 NO), 제어부 (50) 의 판정부 (52) (도 1 참조) 는, 노즐 (20) 이 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정한다 (계측 처리 : 스텝 ST07). 스텝 ST07 의 계측 처리에 있어서, 판정부 (52) 는, 노즐 (20) 에 의한 기판 (S) 에 대한 도포 완료의 시점, 또는, 공급부 (31) 에 대한 노즐 (20) 의 침지 완료의 시점 중, 가장 최근의 시점으로부터의 경과 시간이, 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정한다. 또한, 도포 완료의 시점으로부터의 경과 시간 및 침지 완료의 시점으로부터의 경과 시간에 대해서는, 제어부 (50) 의 타이머 (54) (도 1 참조) 가 계측하고 있다. 스텝 ST07 에 있어서, 판정부 (52) 가 소정 대기 시간을 경과하지 않았다고 판정한 경우 (스텝 ST07 의 NO), 제어부 (50) 의 지시부 (53) (도 1 참조) 는, 스텝 ST02 이후의 동작을 실행시킨다.9, when it is determined in step ST02 that the application operation to the substrate S is not started (NO in step ST02), the determination unit 52 (see FIG. 1) of the
한편, 스텝 ST07 의 계측 처리에 있어서, 판정부 (52) 가 소정 대기 시간을 경과했다고 판정한 경우 (스텝 ST07 의 YES), 도 13 에 나타내는 바와 같이, 지시부 (53) 는, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 로 이동시키고, 공급부 (31) 에 의해 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 공급액 (Q2) 을 공급시킨다 (공급 처리 : 스텝 ST08). 스텝 ST08 의 공급 처리에 있어서, 지시부 (53) 는, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 의 +Z 측에 위치 맞춤한 후, 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 까지 -Z 방향으로 이동시켜 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급부 (31) 의 공급액 (Q2) 에 침지시킨다.On the other hand, in the measurement processing in step ST07, when the
본 실시형태에서는, 스텝 ST08 의 공급 처리는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급부 (31) 의 공급액 (Q2) 에 침지시키는 침지 처리이다. 또한, 도 6 에 나타내는 공급부 (34) 가 사용되는 경우에는, 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 까지 이동시킨 후에, 토출부 (34a) 로부터 공급액 (Q2) 이 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 뿌려지거나 또는 분무된다 (도 6 참조). 이 공급부 (34) 가 사용되는 경우의 스텝 ST08 의 공급 처리는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 공급액 (Q2) 을 뿌리거나 또는 분무하는 토출 처리이다. 스텝 ST08 의 공급 처리에서는, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 에 침지한 경우, 또는 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 공급액 (Q2) 을 뿌렸거나 또는 분무한 경우 중 어느 경우라도, 모세관 현상에 의해, 개구부 (21a) 로부터 공급액 (Q2) 이 노즐 (20) 의 내부 (유통로 (21b)) 로 침입한다.In this embodiment, the supply processing in step ST08 is an immersion treatment in which the
지시부 (53) (제어부 (50)) 는, 선단 (21) 을 소정 침지 시간 (소정 공급 시간) 만큼 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 에 침지시킨 후, 노즐 (20) 을 공급 위치 (P4) 로부터 +Z 측 (상방) 으로 이동시켜, 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 으로부터 꺼낸다. 이 경우, 예를 들어, 제어부 (50) 의 타이머 (54) 는, 노즐 (20) 이 공급 위치 (P4) 에 배치되고 난 후의 경과 시간을 계측한다. 지시부 (53) 는, 타이머 (54) 에 의한 계측 결과가 소정 침지 시간에 도달한 경우, 노즐 (20) 을 +Z 방향으로 이동시켜 공급액 (Q2) 으로부터 꺼낸다. 또한, 소정 침지 시간은 단시간이기 때문에, 소정 대기 시간에 걸쳐 노즐 (20) 을 침지시키고 있는 경우와 비교하여, 모세관 현상에 의해 노즐 (20) 의 내부로 침입하는 공급액 (Q2) 의 양이 억제된다.The
지시부 (53) (제어부 (50)) 는, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 상승시켜, 노즐 (20) 의 선단 (21) 을 공급액 (Q2) 으로부터 꺼낸 후, 도 14 에 나타내는 바와 같이, 이동 장치 (40) 에 의해 노즐 (20) 을 대기 위치 (P1) 로 이동시킨다. 또한, 타이머 (54) 는, 공급부 (31) 에 대한 노즐 (20) 의 침지 완료 시점으로부터 새롭게 소정 대기 시간에 대한 경과 시간을 계측한다. 그 후, 동작 제어부 (51) 는, 스텝 ST02 이후의 동작을 실행시킨다. 스텝 ST02 이후의 동작에 대해서는 상기한 바와 같다.The
또, 스텝 ST02 이후의 동작을 실행하는 경우, 스텝 ST07 의 계측 처리에 있어서, 소정 대기 시간은, 먼저 사용한 소정 대기 시간이 사용되어도 되고, 앞선 소정 대기 시간과 상이한 새로운 소정 대기 시간이 사용되어도 된다. 새로운 소정 대기 시간은, 앞선 소정 대기 시간보다 짧은 시간이어도 되고, 앞선 소정 대기 시간보다 긴 시간이어도 된다. 새로운 소정 대기 시간은, 미리 제어부 (50) 의 기억부 (55) 등에 기억되어 있어도 되고, 기판 (S) 에 대한 도포 횟수 등에 따라 자동적으로 설정되어도 된다.In the case where the operation after step ST02 is executed, the predetermined waiting time used in the measuring process in step ST07 may be used, or a new predetermined waiting time different from the predetermined waiting time may be used. The new predetermined waiting time may be shorter than the predetermined waiting time or may be longer than the predetermined waiting time. The new predetermined waiting time may be stored in advance in the
또, 스텝 ST08 의 공급 처리에 있어서, 소정 침지 시간 (소정 공급 시간) 은, 먼저 사용한 소정 침지 시간이 사용되어도 되고, 앞선 소정 침지 시간과 상이한 새로운 소정 침지 시간이 사용되어도 된다. 예를 들어, 소정 대기 시간이 짧을 때에는, 앞선 소정 침지 시간보다 짧은 소정 침지 시간으로 해도 되고, 소정 대기 시간이 길 때에는, 앞선 소정 침지 시간보다 긴 소정 침지 시간으로 해도 된다. 또한, 소정 침지 시간이 소정 대기 시간에 따라 50 분의 1 이하 등으로 자동적으로 설정되는 경우에는, 소정 대기 시간의 변경에 따라 소정 침지 시간도 자동적으로 변경되어도 된다.In the supply process of step ST08, the predetermined immersion time previously used may be used as the predetermined immersion time (predetermined supply time), or a new predetermined immersion time different from the previously predetermined immersion time may be used. For example, when the predetermined waiting time is short, the predetermined immersion time may be shorter than the predetermined immersion time, or may be longer than the predetermined predetermined immersion time when the predetermined waiting time is long. In addition, when the predetermined immersion time is automatically set to a value equal to or less than 1/50 according to the predetermined waiting time, the predetermined immersion time may be automatically changed in accordance with the change of the predetermined waiting time.
또, 스텝 ST08 의 공급 처리의 후에, 노즐 (20) 을 대기 위치 (P1) 로 이동시킬 때에, 스텝 ST03 의 예비 토출 처리와 동일한 예비 토출을 실시해도 된다. 즉, 스텝 ST08 의 공급 처리에서 노즐 (20) 에는 모세관 현상에 의해 공급액 (Q2) 이 들어간 상태로 되어 있고, 이 들어간 공급액 (Q2) 을 예비 토출에 의해 일부 또는 전부 배출시켜도 된다. 이 예비 토출은, 노즐 (20) 을 대기시키는 전처리로서 실시하는 처리이며, 스텝 ST03 의 예비 토출 처리와는 상이한 양을 노즐 (20) 로부터 토출시켜도 된다. 노즐 (20) 의 대기시에 노즐 (20) 로 침입하고 있는 공급액 (Q2) 의 양이 적어지므로, 다음에 스텝 ST08 의 공급 처리를 실시했을 때, 노즐 (20) 로 침입하고 있는 공급액 (Q2) 의 양을 줄일 수 있다.When the
이상과 같이, 제 1 실시형태에 관련된 도포 장치 (100), 및 도포 장치 (100) 의 제어 방법에 의하면, 노즐 (20) 이 소정 대기 시간을 경과하였다고 판정되는 경우에, 노즐 (20) 의 선단 (21) 에 대하여 공급부 (31) 에 의해 소정 대기 시간보다 짧은 소정 공급 시간만큼 공급액 (Q2) 이 공급되기 때문에, 노즐 (20) 의 대기 시간이 길어져도 노즐 (20) 의 선단 (21) 의 건조를 방지하면서, 모세관 현상에 의해 노즐 (20) 의 내부로 침입하는 공급액 (Q2) 의 양이 억제된다. 이로써, 상기한 예비 토출 처리시에 도포액 (Q1) 의 토출량을 억제할 수 있어, 도포액 (Q1) 의 낭비를 억제할 수 있다.As described above, according to the
[제 2 실시형태][Second Embodiment]
상기한 제 1 실시형태에서는, 대기부 (30) 가 스테이지 (10) 의 +Z 측에 배치된 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 도 15 는, 제 2 실시형태에 관련된 도포 장치의 일례를 나타내는 평면도이다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 상기한 실시형태와 동일 또는 동등한 구성에 대해서는 동일한 부호를 붙여 설명을 생략 또는 간략화한다. 도 15 에 나타내는 바와 같이, 도포 장치 (100A) 는, 대기부 (30A) 를 구비하고 있다. 대기부 (30A) 는, 스테이지 (10) 의 +Y 측에 배치되어 있다. 또한, 대기부 (30A) 는, 스테이지 (10) 의 -Y 측에 배치되어도 된다. 대기부 (30A) 는, 공급부 (31) 와, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 X 방향으로 나란히 배치되어 있다.In the above-described first embodiment, the configuration in which the
또, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 의 상방에 노즐 (20) 의 대기 위치 (P1) 가 설정되고, 공급부 (31) 에 대응하여 공급 위치 (P4) 가 설정되는 점은, 상기한 제 1 실시형태와 동일하다. 또, 대기 위치 (P1) 의 하방에 예비 토출·세정 위치 (P2) 가 설정되는 점도, 상기한 제 1 실시형태와 동일하다. 이동 장치 (40) 는, 도포 위치 (P3) 와, 대기부 (30A) 에 있어서의 대기 위치 (P1) 사이에서 노즐 (20) 을 Y 방향으로 이동시키는 구성을 구비하고 있다. 또, 이동 장치 (40) 는, 대기부 (30A) 에 있어서의 대기 위치 (P1) 와 공급 위치 (P4) 사이에서 노즐 (20) 을 X 방향으로 이동시키는 구성을 구비하고 있다.The standby position P1 of the
또한, 도포 장치 (100A) 에 있어서의 동작은, 제 1 실시형태의 도포 장치 (100) 와 동일하기 때문에 설명을 생략한다. 또, 대기부 (30A) 는, 공급부 (31) 대신에, 도 6 에 나타내는 공급부 (34) 가 사용되어도 된다.Since the operation of the
이와 같이, 제 2 실시형태에 관련된 도포 장치 (100A) 는, 제 1 실시형태와 동일한 이동 장치 (40) 및 제어부 (50) 를 구비하기 때문에, 노즐 (20) 의 대기 시간이 길어져도 노즐 (20) 의 선단 (21) 의 건조를 방지하면서, 모세관 현상에 의해 노즐 (20) 의 내부로 침입하는 공급액 (Q2) 의 양을 억제할 수 있다. 또, 도포 장치 (100A) 는, 대기부 (30A) 가 스테이지 (10) 의 +Y 측에 형성되어 있기 때문에, 장치 전체의 X 방향의 길이가 짧아져, X 방향이 짧은 플로어면 상에도 설치가 가능해진다. 또, 제 2 실시형태에 관련된 도포 장치 (100A) 에 있어서, 예비 토출·세정 위치 (P2) 의 상방에 대기 위치 (P1) 가 설정되어도 된다.As described above, the
[제 3 실시형태][Third embodiment]
도 16 은, 제 3 실시형태에 관련된 도포 장치의 일례를 나타내는 평면도이다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 상기한 실시형태와 동일 또는 동등한 구성에 대해서는 동일한 부호를 붙여 설명을 생략 또는 간략화한다. 도 16 에 나타내는 바와 같이, 도포 장치 (100B) 는, 대기부 (30B) 를 구비하고 있다. 대기부 (30B) 는, 스테이지 (10) 의 +Y 측에 배치되어 있다. 또한, 대기부 (30B) 는, 스테이지 (10) 의 -Y 측에 배치되어도 된다. 대기부 (30B) 는, 공급부 (31) 와, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 Y 방향으로 나란히 배치되어 있다.16 is a plan view showing an example of a coating apparatus according to the third embodiment. In the following description, the same or equivalent constituent elements as those of the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted or simplified. As shown in Fig. 16, the
또, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 의 상방에 노즐 (20) 의 대기 위치 (P1) 가 설정되고, 공급부 (31) 에 대응하여 공급 위치 (P4) 가 설정되는 점은, 상기한 제 1 실시형태와 동일하다. 또, 대기 위치 (P1) 의 하방에 예비 토출·세정 위치 (P2) 가 설정되는 점도, 상기한 제 1 실시형태와 동일하다. 이동 장치 (40) 는, 도포 위치 (P3) 와, 대기부 (30B) 에 있어서의 대기 위치 (P1) 사이에서 노즐 (20) 을 Z 축의 축 둘레로 90°회전시키는 것이 가능한 회전 기구를 구비하고 있다. 또, 이동 장치 (40) 는, 대기 위치 (P1) 와 공급 위치 (P4) 사이에서 노즐 (20) 을 Y 방향으로 이동시키기 위한 구성을 구비하고 있다.The standby position P1 of the
또한, 도포 장치 (100A) 에 있어서의 동작은, 제 1 실시형태의 도포 장치 (100) 와 동일하기 때문에 설명을 생략한다. 또, 대기부 (30B) 는, 공급부 (31) 대신에, 도 6 에 나타내는 공급부 (34) 가 사용되어도 된다.Since the operation of the
이와 같이, 제 3 실시형태에 관련된 도포 장치 (100B) 는, 제 1 실시형태와 동일한 이동 장치 (40) 및 제어부 (50) 를 구비하기 때문에, 노즐 (20) 의 대기 시간이 길어져도 노즐 (20) 의 선단 (21) 의 건조를 방지하면서, 모세관 현상에 의해 노즐 (20) 의 내부로 침입하는 공급액 (Q2) 의 양을 억제할 수 있다. 또, 도포 장치 (100B) 는, 대기부 (30) 가 스테이지 (10) 의 +Y 측에 형성되어 있기 때문에, 장치 전체의 X 방향의 길이가 짧아져, X 방향이 짧은 플로어면 상에도 설치가 가능해진다. 또한, 공급부 (31) 및 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가, 각각 길이 방향을 X 방향을 따른 상태로 배치되기 때문에, 제 2 실시형태의 도포 장치 (100A) 와 비교하여, Y 방향의 길이를 짧게 할 수 있다.As described above, the
이상, 실시형태 및 실시예에 대해 설명하였지만, 본 발명은, 상기 서술한 설명에 한정되지 않고, 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에 있어서 여러 가지 변경이 가능하다. 예를 들어, 상기한 실시형태에 있어서는, 공급부 (31) 및 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 평면에서 볼 때 스테이지 (10) 의 주위에 배치되는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이 구성에 한정되지 않는다. 예를 들어, 공급부 (31) 및 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 평면에서 볼 때 스테이지 (10) 의 상방 (+Z 측) 에 배치되는 구성이어도 된다.Although the embodiments and the examples have been described above, the present invention is not limited to the above description, and various modifications are possible within the scope not departing from the gist of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the configuration in which the
또, 상기한 실시형태에서는, 대기부 (30, 30A, 30B) 가 스테이지 (10) 의 +X 측 또는 +Y 측에 배치되는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이 구성에 한정되지 않는다. 예를 들어, 대기부 (30) 에 있어서, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 스테이지 (10) 의 +X 측에 배치되고, 공급부 (31) 가 스테이지 (10) 의 -X 측에 배치되도록, 공급부 (31) 와 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 스테이지 (10) 를 X 방향으로 협지하는 구성이어도 되고, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 스테이지 (10) 의 +X 측에 배치되고, 공급부 (31) 가 스테이지 (10) 의 +Y 측 또는 -Y 측에 배치되는 구성이어도 된다. 또, 대기부 (30A, 30B) 에 있어서, 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 스테이지 (10) 의 +Y 측에 배치되고, 공급부 (31) 가 스테이지 (10) 의 -Y 측에 배치되도록, 공급부 (31) 와 예비 토출부 (32) (세정부 (33)) 가 스테이지 (10) 를 Y 방향으로 협지하는 구성이어도 된다.In the above-described embodiment, the description has been given taking the configuration in which the
또, 상기한 실시형태에서는, 스테이지 (10) 에 대하여 1 개의 대기부 (30, 30A, 30B) 가 배치되는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이 구성에 한정되지 않는다. 예를 들어, 스테이지 (10) 에 대하여 2 개 이상의 대기부 (30, 30A, 30B) 가 배치되는 구성이어도 된다. 또, 1 개의 대기부 (30, 30A, 30B) 에 2 이상의 공급부 (31, 34) 또는 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 가 형성되어도 된다.In the above-described embodiment, a configuration in which one
또, 상기한 실시형태에서는, 이동 장치 (40) 가 노즐 (20) 을 Z 방향으로 이동시킴으로써, 기판 (S) 과 노즐 (20) 을 상대적으로 이동시키는 구성으로 하고 있지만, 이 구성에 한정되지 않는다. 예를 들어, 기판 (S) 을 재치한 스테이지 (10) 가 노즐 (20) 에 대하여 X 방향으로 이동하는 구성이어도 되고, 스테이지 (10) 및 노즐 (20) 의 쌍방이 X 방향으로 이동하는 구성이어도 된다.In the embodiment described above, the substrate S and the
또, 상기한 도 6 에 나타내는 공급부 (34) 는, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 와 별도로 형성되는 것에 한정되지 않고, 예를 들어, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 에서 사용하는 배출조 (35) 에 공급부 (34) 의 토출부 (34a) 가 형성되고, 이 토출부 (34a) 로부터 공급액 (Q2) 을 노즐 (20) 의 선단에 뿌리거나 또는 분무해도 된다. 이 경우, 공급부 (34) 는, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 와 동일한 조가 사용되기 때문에, 대기부 (30) 등을 컴팩트하게 할 수 있다.6 is not limited to the one formed separately from the preliminary discharge portion 32 and the cleaning portion 33 but may be formed by a combination of the preliminary discharge portion 32 and the cleaning portion 33 The
또, 상기한 실시형태에서는, 대기부 (30, 30A, 30B) 가, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 쌍방을 구비하는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이 구성에 한정되지 않는다. 예를 들어, 대기부 (30) 는, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 중 어느 일방을 생략하는 구성이어도 되고, 예비 토출부 (32) 및 세정부 (33) 의 쌍방을 생략하는 구성이어도 된다.In the above-described embodiment, the description has been given taking the configuration in which the
P1 … 대기 위치
P2 … 예비 토출·세정 위치
P3 … 도포 위치
P4 … 공급 위치
Q1 … 도포액
Q2 … 공급액
S … 기판
10 … 스테이지
11 … 재치면
20 … 노즐
21 … 선단
30, 30A, 30B … 대기부
31, 34 … 공급부
31a … 저류부
32 … 예비 토출부
33 … 세정부
35 … 배출조
40 … 이동 장치
50 … 제어부
51 … 동작 제어부
52 … 판정부
53 … 지시부
54 … 타이머
55 … 기억부
100, 100A, 100B … 도포 장치P1 ... Standby position
P2 ... Preliminary discharge / cleaning position
P3 ... Application position
P4 ... Supply location
Q1 ... Coating liquid
Q2 ... Amount of supply
S ... Board
10 ... stage
11 ... If you do
20 ... Nozzle
21 ... point
30, 30A, 30B ... Base donation
31, 34 ... Supplier
31a ... Storage section
32 ... The pre-
33 ... Three governments
35 ... Exhaust tank
40 ... Mobile device
50 ... The control unit
51 ... [0040]
52 ... [0031]
53 ... Indicator
54 ... timer
55 ... The storage unit
100, 100A, 100B ... Application device
Claims (21)
상기 대기부는, 상기 노즐의 선단에 액체를 공급하는 공급부를 갖고,
상기 제어부는, 상기 대기부에 있어서의 상기 노즐이 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정하는 판정부와, 상기 판정부에 의해 상기 소정 대기 시간을 경과했다고 판정한 경우에, 상기 노즐의 선단에 대하여 상기 공급부에 의해 소정 공급 시간만큼 액체를 공급하도록 상기 이동 장치를 동작시키는 지시부를 갖는, 도포 장치.1. A coating apparatus comprising a moving device for relatively moving a substrate and a nozzle, a standby part capable of placing the nozzle by the moving device, and a control part for controlling the nozzle and the moving device,
Wherein the waiting section has a supply section for supplying liquid to the tip of the nozzle,
Wherein the control unit includes a judging unit for judging whether or not the predetermined waiting time has elapsed in the nozzle in the waiting unit, and a judging unit for judging whether or not the predetermined waiting time has elapsed And an instruction section for operating the moving device to supply the liquid by a predetermined supply time by the supplying section.
상기 공급부는, 상기 노즐의 선단을 상기 액체에 침지하기 위한 딥핑조인, 도포 장치.The method according to claim 1,
Wherein the supply unit is a dipping joining member for dipping the tip of the nozzle into the liquid.
상기 공급부는, 상기 노즐의 선단에 상기 액체를 뿌리거나 또는 분무하기 위한 토출 장치인, 도포 장치.The method according to claim 1,
Wherein the supplying section is a discharging device for spraying or spraying the liquid onto the tip of the nozzle.
상기 액체는, 상기 노즐로부터 도포하는 도포액에 사용되는 용매인, 도포 장치.The method according to claim 1,
Wherein the liquid is a solvent used for a coating liquid applied from the nozzle.
상기 소정 공급 시간은, 상기 소정 대기 시간보다 짧은, 도포 장치.The method according to claim 1,
Wherein the predetermined supply time is shorter than the predetermined waiting time.
상기 소정 공급 시간은, 상기 소정 대기 시간의 50 분의 1 이하인, 도포 장치.6. The method of claim 5,
Wherein the predetermined supply time is one fifth or less of the predetermined waiting time.
상기 제어부는, 상기 노즐에 의한 상기 기판에 대한 도포 완료의 타이밍, 또는 상기 공급부에 의한 상기 노즐에 대한 액체의 공급 완료의 타이밍으로부터 시간을 계측하는 타이머를 갖고,
상기 판정부는, 상기 타이머에 의해 계측된 시간이 상기 소정 대기 시간을 경과하는지 여부를 판정하는, 도포 장치.7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the control unit has a timer for measuring time from timing of completion of application of the liquid to the substrate by the nozzle or timing of completion of supply of liquid to the nozzle by the supply unit,
Wherein the determination unit determines whether or not the time measured by the timer has passed the predetermined waiting time.
상기 대기부는, 상기 노즐에 대하여 예비 토출을 실시하기 위한 예비 토출부와, 상기 노즐의 선단을 세정하기 위한 세정부를 갖는, 도포 장치.7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the waiting section has a preliminary ejecting section for preliminarily ejecting the nozzle and a cleaning section for cleaning the tip of the nozzle.
상기 예비 토출부와 상기 세정부는, 동일한 조가 사용되는, 도포 장치.9. The method of claim 8,
Wherein the preliminary ejection unit and the cleaning unit use the same set.
상기 제어부는, 상기 공급부에 의해 상기 노즐의 선단에 상기 액체를 공급한 후에, 상기 예비 토출부에 있어서 상기 노즐에 예비 토출시키고, 예비 토출 후의 상기 노즐의 선단을 상기 세정부에 의해 세정하도록 제어하는, 도포 장치.9. The method of claim 8,
The control unit controls the supply unit to preliminarily discharge the liquid to the tip of the nozzle and then to the nozzle in the preliminary discharge unit and to clean the tip of the nozzle after preliminary discharge by the cleaning unit , Application device.
상기 제어부는, 상기 소정 대기 시간의 경과 전에 상기 노즐에 의해 상기 기판에 대한 도포를 실시하는 경우에, 상기 공급부에 의한 상기 액체의 공급을 실시하지 않고, 상기 예비 토출부에 있어서 상기 노즐에 예비 토출시키고, 예비 토출 후의 상기 노즐의 선단을 상기 세정부에 의해 세정하도록 제어하는, 도포 장치.9. The method of claim 8,
Wherein the controller is configured to perform the preliminary ejection of the liquid to the nozzle in the preliminary ejecting part without performing the supply of the liquid by the supplying part when the substrate is coated with the substrate by the nozzle before the predetermined waiting time elapses, And the tip of the nozzle after the preliminary ejection is cleaned by the cleaning section.
상기 기판을 재치하는 스테이지를 갖고,
상기 대기부는, 상기 스테이지에 대하여 상대적인 이동 방향의 단부측에 배치되는, 도포 장치.7. The method according to any one of claims 1 to 6,
And a stage for mounting the substrate,
Wherein the waiting portion is disposed on an end side in a moving direction relative to the stage.
상기 대기부는, 상기 노즐의 선단에 액체를 공급하는 공급부를 갖고,
상기 대기부에 있어서의 상기 노즐이 소정 대기 시간을 경과했는지 여부를 판정하는 판정 처리와,
상기 판정 처리에 의해 상기 소정 대기 시간을 경과했다고 판정한 경우에, 상기 노즐의 선단에 대하여 상기 공급부에 의해 소정 공급 시간만큼 액체를 공급하도록 상기 이동 장치를 동작시키는 공급 처리를 포함하는, 도포 장치의 제어 방법.There is provided a control method of a coating device comprising a moving device for relatively moving a substrate and a nozzle, and a waiting part capable of placing the nozzle by the moving device,
Wherein the waiting section has a supply section for supplying liquid to the tip of the nozzle,
A determination process of determining whether or not the predetermined waiting time of the nozzle in the standby portion has elapsed;
And a supplying process of operating the moving device to supply the liquid by a predetermined supply time to the leading end of the nozzle when the predetermined waiting time has elapsed by the determining process Control method.
상기 공급 처리는, 상기 공급부로서 형성된 딥핑조에 상기 노즐의 선단을 침지하는 것을 포함하는, 도포 장치의 제어 방법.14. The method of claim 13,
Wherein the supplying treatment includes immersing the tip of the nozzle in a dipping tank formed as the supplying part.
상기 공급 처리는, 상기 공급부로서 형성된 토출 장치로부터 상기 노즐의 선단에 상기 액체를 뿌리거나 또는 분무하는 것을 포함하는, 도포 장치의 제어 방법.14. The method of claim 13,
Wherein the supplying process includes spraying or spraying the liquid from the discharging device formed as the supplying part to the tip of the nozzle.
상기 공급 처리에 있어서의 상기 액체는, 상기 노즐로부터 도포하는 도포액에 사용되는 용매인, 도포 장치의 제어 방법.14. The method of claim 13,
Wherein the liquid in the supplying process is a solvent used in a coating liquid applied from the nozzle.
상기 소정 공급 시간은, 상기 소정 대기 시간보다 짧은, 도포 장치의 제어 방법.17. The method according to any one of claims 13 to 16,
Wherein the predetermined supply time is shorter than the predetermined waiting time.
상기 소정 공급 시간은, 상기 소정 대기 시간의 50 분의 1 이하인, 도포 장치의 제어 방법.18. The method of claim 17,
Wherein the predetermined supply time is not more than 1/50 of the predetermined waiting time.
상기 노즐에 의한 상기 기판에 대한 도포 완료의 타이밍, 또는 상기 공급부에 의한 상기 노즐에 대한 액체의 공급 완료의 타이밍으로부터 시간을 계측하는 계측 처리를 포함하고,
상기 판정 처리는, 상기 계측 처리에 의해 계측된 시간이 상기 소정 대기 시간을 경과하는지 여부를 판정하는, 도포 장치의 제어 방법.17. The method according to any one of claims 13 to 16,
And measuring the time from the timing of completion of application of the liquid to the substrate by the nozzle or the timing of completion of supply of the liquid to the nozzle by the supply unit,
Wherein the determination processing determines whether or not the time measured by the measurement processing exceeds the predetermined waiting time.
상기 공급 처리의 후에, 상기 노즐에 예비 토출시키는 예비 토출 처리와, 상기 예비 토출 처리 후의 상기 노즐의 선단을 세정부에 의해 세정하는 세정 처리를 포함하는, 도포 장치의 제어 방법.17. The method according to any one of claims 13 to 16,
A preliminary ejection process of preliminarily ejecting the nozzle after the supply process and a cleaning process of cleaning the tip of the nozzle after the preliminary ejection process by a cleaning section.
상기 소정 대기 시간의 경과 전에 상기 노즐에 의해 상기 기판에 대한 도포를 실시하는 경우에, 상기 공급 처리를 실시하지 않고, 상기 예비 토출 처리를 실시하고, 상기 예비 토출 처리 후에 상기 세정 처리를 실시하는 것을 포함하는, 도포 장치의 제어 방법.21. The method of claim 20,
The preliminary discharge processing is performed without performing the supply processing and the cleaning processing is performed after the preliminary discharge processing when the substrate is coated with the substrate by the nozzle before the predetermined waiting time elapses Wherein the control unit controls the dispensing apparatus.
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