KR20190072463A - Apparatus and method for removing end portion - Google Patents

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KR20190072463A
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히라미치 다니가이토
카츠요시 나카타
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미쓰보시 다이야몬도 고교 가부시키가이샤
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Abstract

In the case of exposing the inner surface of one of substrates of bonded substrates by removing an end material after forming a scribe line, the end material is removed without damaging a surface to be exposed. An end material removing device (61) divides a unit bonded substrate (100) having a first unit substrate (101) having a surface, on which a third scribe line (S3) for cutting and removing an end material (107) from a main body (106) is formed, and a second unit substrate (102) bonded to the back surface of the first unit substrate (101). The unit bonded substrate (100) is placed on a table (13) in a state that the first unit substrate (101) is downward. An air blowing device (23) separates the end material (107) from the main body (106) by causing the flow of gas (FL) to be in contact with the end material (107) or the vicinity of the end material of the second unit substrate (102).

Description

단재 제거 장치 및, 단재 제거 방법{APPARATUS AND METHOD FOR REMOVING END PORTION}[0001] APPARATUS AND METHOD FOR REMOVING END PORTION [0002]

본 발명은, 단재(端材) 제거 장치 및 단재 제거 방법, 특히, 단재를 잘라 떼어내기 위한 스크라이브 라인(scribe line)이 표면에 형성된 제1 기판과, 제1 기판의 이면에 접합된 제2 기판을 갖는 접합 기판으로부터 단재를 제거하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an edge material removing apparatus and a method for removing edge material, and more particularly, to a method of manufacturing an edge material removing apparatus and a edge material removing method, which comprises a first substrate having a scribe line formed on a surface thereof for cutting- The present invention relates to an apparatus and a method for removing an edge member from a bonded substrate having an edge.

액정 장치는, 액정층을 사이에 개재하도록 제1 기판과 제2 기판이 시일재에 의해 접합되는, 접합 기판에 의해 구성된다. 접합 기판에 있어서, 상기의 기판 중의 한쪽(예를 들면, 제1 기판)에 컬러 필터가 패턴 형성되고, 다른 한쪽의 기판(예를 들면, 제2 기판)에 TFT(Thin Film Transistor) 및 접속 단자가 형성되어 있다.The liquid crystal device is constituted by a bonded substrate on which a first substrate and a second substrate are bonded by a sealing material so as to interpose the liquid crystal layer therebetween. In the bonded substrate, a color filter is pattern-formed on one of the substrates (for example, the first substrate), and a TFT (Thin Film Transistor) and a connection terminal Respectively.

접합 기판에서는, 외부의 전자 기기와 접속하기 위해서는, 제2 기판에 형성된 접속 단자가 노출된다. 접합 기판에 있어서, 접속 단자가 형성된 면을 노출시키기(접합 기판 중의 한쪽의 기판의 내측면을 노출시킴)위한 기판의 분리 방법이 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1을 참조).In the bonded substrate, the connection terminal formed on the second substrate is exposed in order to connect to an external electronic device. A method of separating a substrate for exposing a surface on which a connection terminal is formed (exposing an inner surface of one of the substrates in a bonded substrate stack) in a bonded substrate is known (see, for example, Patent Document 1).

특허문헌 1에서는, 최초에 제1 기판에 스크라이브 라인을 형성하는 커터의 배치 위치와, 제2 기판에 스크라이브 라인을 형성하는 커터의 배치 위치를 어긋나게 하여, 스크라이브 라인을 형성한다. 그 후, 잘림단이 되는 쪽의 접합 기판(단재)과, 본체를 분리하여 접속 단자를 노출시킬 때에, 단재를 척(chuck) 부재에 의해 보유 지지(holding)한 상태에서 척 부재를 본체로부터 멀어지게 한다.In Patent Document 1, a scribe line is formed by shifting the arrangement position of the cutter for forming the scribe line on the first substrate first and the arrangement position of the cutter for forming the scribe line on the second substrate. Thereafter, when the connecting substrate (the end piece) on the side to be cut is separated from the main body and the connection terminal is exposed, the chuck member is moved away from the main body while holding the end member by the chuck member I will.

일본공개특허공보 2012-250871호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2012-250871

상기와 같이, 척 부재로 단재를 보유 지지하여 이동시키는 방법에 의해 단재를 제거하는 경우, 본체의 접속 단자가 형성된 면을 단재가 강하게 누르지 않도록, 척 부재의 위치를 정밀도 좋게 조정할 필요가 있다. 그 이유는, 접속단의 손상을 방지하기 위함이다.In the case of removing the end member by the method of holding and moving the end member with the chuck member as described above, it is necessary to adjust the position of the chuck member accurately so that the end member does not strongly press the surface on which the connection terminal of the main body is formed. The reason for this is to prevent damage to the connection end.

본 발명의 목적은, 스크라이브 라인을 형성 후에 단재를 제거하여 접합 기판의 어느 하나의 기판의 내측면을 노출시키는 경우에 있어서, 노출하고자 하는 면을 손상시키는 일 없이 단재를 제거하는 것에 있다.An object of the present invention is to remove edge members without damaging the surface to be exposed in the case of exposing the inner side surfaces of any of the substrates of the bonded substrate stack by removing the edge members after forming the scribe lines.

이하에, 과제를 해결하기 위한 수단으로서 복수의 실시 형태를 설명한다. 이들 실시 형태는, 필요에 따라서 임의로 조합할 수 있다.Hereinafter, a plurality of embodiments will be described as means for solving the problems. These embodiments may be arbitrarily combined as necessary.

본 발명의 일 견지에 따른 단재 제거 장치는, 본체로부터 단재를 잘라 떼어내기 위한 스크라이브 라인이 표면에 형성된 제1 기판과, 제1 기판의 이면에 접합된 제2 기판을 갖는, 접합 기판의 분단 장치로서, 기판 재치부와, 에어 블로우 장치를 구비하고 있다.A cutting apparatus according to one aspect of the present invention includes a first substrate having a scribe line formed on a surface thereof for cutting off a substrate from a main body and a second substrate bonded to a back surface of the first substrate, A substrate mounting portion, and an air blowing device.

기판 재치부에는, 제1 기판이 하방으로 된 상태에서 접합 기판이 올려놓인다.In the substrate mounting portion, the bonded substrate stack is placed with the first substrate downward.

에어 블로우 장치는, 가스의 흐름을 단재 및/또는 제2 기판의 단재 근방 부분에 닿게 함으로써, 단재를 본체로부터 분리시킨다.The air blow device separates the end material from the main body by bringing the flow of the gas into contact with the end member and / or the vicinity of the end member of the second substrate.

이 장치에서는, 에어 블로우 장치에 의해 발생시킨 가스의 흐름에 의해, 단재를 제1 기판의 본체로부터 떼어 놓는다.In this apparatus, the end member is separated from the main body of the first substrate by the flow of the gas generated by the air blowing apparatus.

이러한 분단에 의해, 종래와는 달리, 단재가 제2 기판의 표면을 압압(pressing)하는 일이 없어진다. 그 결과, 단재가 제2 기판의 노출면을 손상시키는 일이 생기기 어려워진다.By this division, the edge member does not press the surface of the second substrate unlike the prior art. As a result, it is difficult for the step to damage the exposed surface of the second substrate.

또한, 단재가 기판 재치부에 올려놓인 상태에서 상기의 분단(dividing)이 행해지기 때문에, 분단 후의 단재의 관리가 용이하다.Further, since the above-described dividing is performed in a state in which the term material is placed on the substrate mounting portion, management of the term material after the termination is easy.

에어 블로우 장치는, 접합 기판보다 높은 위치에 배치되고, 단재 및/또는 제2 기판의 단재 근방 부분을 향하여 비스듬히 하방을 향한 노즐을 갖고 있어도 좋다.The air blowing device may have a nozzle arranged at a position higher than the bonded substrate and oriented obliquely downward toward the end member of the end member and / or the end member of the second substrate.

이 장치에서는, 에어 블로우 장치가 상기의 노즐을 가짐으로써, 단재 및/또는 본체에 대하여, 단재를 본체로부터 떼어낼 수 있는 최적의 가스의 흐름을 부여할 수 있다.In this apparatus, by providing the above-described nozzle, the air blow apparatus can provide an optimum flow of gas to the end member and / or the main body so that the end member can be detached from the main body.

단재 제거 장치는, 흡착 장치를 추가로 구비하고 있어도 좋다. 흡착 장치는, 기판 재치부에 형성되어, 접합 기판을 흡착해도 좋다.The end material removal device may further include an absorption device. The adsorption apparatus may be formed in the substrate mounting section to adsorb the bonded substrate.

이 장치에서는, 에어 블로우 장치에 의한 분단 중에 본체 및 단재를 흡착 장치에 의해 기판 재치부에 흡착할 수 있기 때문에, 상기 분단이 안정적으로 행해진다.In this apparatus, since the main body and the end member can be sucked to the substrate mounting portion by the sucking device during the division by the air blowing device, the division is stably performed.

단재 제거 장치는, 들어올림 장치를 추가로 구비하고 있어도 좋다. 들어올림 장치는, 제2 기판을 흡착하여 접합 기판을 기판 재치부로부터 들어올려도 좋다.The end material removal device may further include a lifting device. The lifting device may lift the bonded substrate stack from the substrate mounting portion by sucking the second substrate.

이 장치에서는, 블로우 스텝에 의한 분단 후에 제1 기판 및 제2 기판이 들어올림 장치에 의해 기판 재치부로부터 들어올려진다. 그 결과, 분단된 단재가 기판 재치부 상에 남는다.In this apparatus, the first substrate and the second substrate are lifted up from the substrate mounting portion by a lifting device after division by the blow step. As a result, the divided end member remains on the substrate mounting portion.

본 발명의 다른 견지에 따른 단재 제거 방법은, 본체로부터 단재를 잘라 떼어내기 위한 스크라이브 라인이 표면에 형성된 제1 기판과, 제1 기판의 이면에 접합된 제2 기판을 갖는, 접합 기판의 단재 제거 방법으로서, 하기의 스텝을 구비하고 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method for removing a substrate, comprising: a first substrate having a scribe line formed on a surface thereof for cutting off a substrate from the substrate; and a second substrate bonded to a back surface of the first substrate, As a method, the following steps are provided.

◎ 제1 기판이 하방으로 된 상태에서 접합 기판을 기판 재치부에 올려놓는 재치 스텝.A placing step of placing the bonded substrate stack on the substrate mounting portion in a state that the first substrate is downward.

◎ 가스의 흐름을 단재 및/또는 본체의 단재 근방 부분에 닿게 함으로써, 단재를 본체로부터 분리시키는 에어 블로우 스텝.An air blow step for separating the end material from the main body by bringing the gas flow into contact with the end member and / or the vicinity of the end member of the main body.

이 방법에서는, 에어 블로우 장치에 의해 발생시킨 가스의 흐름에 의해, 단재를 제1 기판의 본체로부터 떼어놓는다.In this method, the end material is separated from the main body of the first substrate by the flow of the gas generated by the air blowing device.

이러한 분단에 의해, 종래와는 달리, 단재가 제2 기판의 표면을 압압하는 일이 없어진다. 그 결과, 단재가 제2 기판의 노출면을 손상시키는 일이 생기기 어려워진다.By this division, the edge member does not press the surface of the second substrate unlike the prior art. As a result, it is difficult for the step to damage the exposed surface of the second substrate.

또한, 단재가 기판 재치부에 올려놓인 상태에서 상기의 분단이 행해지기 때문에, 분단 후의 단재의 관리가 용이하다.In addition, since the above-described division is performed in a state in which the term material is placed on the substrate mounting portion, management of the termination after the termination is easy.

에어 블로우 스텝은, 접합 기판보다 높은 위치에서, 단재 및/또는 본체의 단재 근방 부분을 향하여 비스듬히 가스의 흐름을 닿게 해도 좋다.The air blow step may be carried out at a position higher than the bonded substrate, and the flow of the gas may be obliquely directed toward the end member of the end member and / or the end member of the main body.

이 방법에서는, 블로우 스텝이 상기의 가스의 흐름을 발생함으로써, 단재 및/또는 본체에 대하여, 단재를 본체로부터 떼어낼 수 있는 최적의 가스의 흐름을 부여할 수 있다.In this method, the blow step generates the above-mentioned flow of gas, so that it is possible to give the end material and / or the main body an optimal flow of gas capable of detaching the end material from the main body.

단재 제거 방법은, 접합 기판을 기판 재치부에 흡착하는 흡착 스텝을 추가로 구비하고 있어도 좋다.The edge material removing method may further include an adsorption step of adsorbing the bonded substrate stack to the substrate placing section.

이 방법에서는, 블로우 스텝에 의한 분단 중에 본체 및 단재를 기판 재치부에 흡착할 수 있기 때문에, 상기 분단이 안정되게 행해진다.In this method, since the main body and the end member can be attracted to the substrate mounting portion during the division by the blow step, the division is stably performed.

단재 제거 방법은, 제2 기판을 흡착하여 제1 기판과 제2 기판을 기판 재치부로부터 들어올리는 들어올림 스텝을 추가로 구비하고 있어도 좋다.The edge member removing method may further include a lifting step of lifting the first substrate and the second substrate from the substrate mounting portion by suctioning the second substrate.

이 방법에서는, 블로우 스텝에 의한 분단 후에 제1 기판 및 제2 기판이 기판 재치부로부터 들어올려진다. 그 결과, 분단된 단재가 기판 재치부 상에 남는다.In this method, the first substrate and the second substrate are lifted from the substrate mounting portion after division by the blow step. As a result, the divided end member remains on the substrate mounting portion.

본 발명에 따른 단재 제거 장치 및 단재 제거 방법에서는, 스크라이브 라인을 형성 후에 단부를 제거하여 접합 기판의 제2 기판의 내측면을 노출시키는 경우에 있어서, 보다 단순한 방법으로, 제2 기판의 노출하고자 하고 있는 면에 과잉의 힘을 부여하는 일 없이 단재를 제거할 수 있다.In the edge member removing apparatus and the edge member removing method according to the present invention, in the case of exposing the inner surface of the second substrate of the bonded substrate stack by removing the end portion after formation of the scribe line, in a simpler method, It is possible to remove the edge member without giving excessive force to the surface having the edge.

도 1은 기판 재치 스테이지 및 기판 반전 장치의 측면도이다.
도 2는 기판 반전 장치의 사시도이다.
도 3은 기판 재치 스테이지의 개략적 사시도이다.
도 4는 기판 재치 스테이지의 개략적 평면도이다.
도 5는 에어 블로우 장치의 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일실시 형태에 이용되는 접합 기판의 개략적 측면도이다.
도 7은 분단 후의 접합 기판의 개략적 측면도이다.
도 8은 단재가 남은 상태의 분단 후의 접합 기판의 개략적 측면도이다.
도 9는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 단재 제거 장치의 개략적 측면도이다.
도 10은 단재 제거 장치의 제어 구성을 나타내는 블록도이다.
도 11은 단재 제거 장치의 제어 동작을 나타내는 플로우차트이다.
도 12는 단재 제거 장치의 블로우 스텝을 나타내는 단재 제거 장치의 개략적 측면도이다.
도 13은 도 12의 부분 확대도이다.
도 14는 단재 제거 장치의 블로우 스텝을 나타내는 단재 제거 장치의 개략적 측면도이다.
도 15는 단재 제거 장치의 블로우 스텝을 나타내는 단재 제거 장치의 개략적 측면도이다.
1 is a side view of a substrate placement stage and a substrate flipping device.
2 is a perspective view of the substrate inverting apparatus.
3 is a schematic perspective view of the substrate placement stage.
4 is a schematic plan view of a substrate placement stage.
5 is a perspective view of the air blowing apparatus.
6 is a schematic side view of a bonded substrate used in an embodiment of the present invention.
Fig. 7 is a schematic side view of the bonded substrate after the separation. Fig.
Fig. 8 is a schematic side view of the bonded substrate stack after the dividing state in which the termination material remains. Fig.
9 is a schematic side view of the apparatus for removing a substrate according to the first embodiment of the present invention.
10 is a block diagram showing a control configuration of the termination removing apparatus.
11 is a flowchart showing a control operation of the term-material removing device.
12 is a schematic side view of an apparatus for removing a section showing a blow step of the apparatus.
13 is a partially enlarged view of Fig.
14 is a schematic side view of an apparatus for removing a substrate showing a blow step of the apparatus.
15 is a schematic side view of an apparatus for removing a substrate showing a blow step of the apparatus.

(발명을 실시하기 위한 설명)DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [

1.제1 실시 형태1. First Embodiment

(1) 기판 재치 스테이지 및 기판 반전 장치(1) Substrate placement stage and substrate reversing device

도 1∼도 5를 이용하여, 기판 재치 스테이지 및 기판 반전 장치를 설명한다. 도 1은, 기판 재치 스테이지 및 기판 반전 장치의 측면도이다. 도 2는, 기판 반전 장치의 사시도이다. 도 3은, 기판 재치 스테이지의 개략적 사시도이다. 도 4는, 기판 재치 스테이지의 개략적 평면도이다. 도 5는, 에어 블로우 장치의 사시도이다.1 to 5, the substrate placement stage and the substrate inverting apparatus will be described. 1 is a side view of a substrate placement stage and a substrate inverting apparatus. 2 is a perspective view of the substrate inverting apparatus. 3 is a schematic perspective view of the substrate placement stage. 4 is a schematic plan view of the substrate placement stage. 5 is a perspective view of the air blowing apparatus.

또한, 도 1∼도 5에 있어서, 화살표 X가 제1 수평 방향이고, 화살표 Y가 제2 수평 방향이다.1 to 5, the arrow X is the first horizontal direction, and the arrow Y is the second horizontal direction.

기판 가공 장치(1)는, 기판 재치 스테이지(3)와, 기판 반전 장치(5)와, 흡착 반송 장치(7)를 갖고 있다. 흡착 반송 장치(7)가 단위 접합 기판(100)(이하, 기판(100)이라고 함)을 기판 재치 스테이지(3)로 반송하고, 다음으로, 기판 반전 장치(5)가 기판(100)을 반전하면서 다른 장치(9)로 반송한다.The substrate processing apparatus 1 has a substrate placement stage 3, a substrate inverting apparatus 5, and a suction conveying apparatus 7. The adsorption transport apparatus 7 transports the unit bonded substrate 100 (hereinafter referred to as the substrate 100) to the substrate placement stage 3 and then the substrate inverting apparatus 5 reverses the substrate 100 To another apparatus (9).

(1-1) 기판 재치 스테이지 (1-1) Substrate placement stage

기판 재치 스테이지(3)는, 고정의 대(臺)(11)와, 대(11) 상에 배치된 테이블(13)(기판 재치부의 일 예)을 갖고 있다. 테이블(13)은, 대(11)에 대하여, 제2 수평 방향인 반송 방향 상류측의 제1 위치(도 3 및 도 4)와, 반송 방향 하류측의 제2 위치의 사이에서 이동 가능하다.The substrate placement stage 3 has a stationary stage 11 and a table 13 (an example of a substrate placement section) arranged on the stage 11. The table 13 is movable between a first position (Figs. 3 and 4) on the upstream side in the transport direction, which is the second horizontal direction, and a second position on the downstream side in the transport direction, with respect to the table 11.

테이블(13)은, 도 3 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 복수의 받침 부재(15)로 구성되어 있다. 복수의 받침 부재(15)는, 제1 위치에서, 흡착 반송 장치(7)로부터 기판(100)(도 1)을 수취한다. 복수의 받침 부재(15)는, 제1 수평 방향으로 나열되어 제2 수평 방향으로 서로 평행하게 연장되어 있다. 받침 부재(15)의 상면에는 도시하지 않는 복수의 흡착 구멍이 형성되어 있어, 흡착 장치(16)(도 10)에 접속되어 있다.As shown in Figs. 3 and 4, the table 13 is composed of a plurality of supporting members 15. A plurality of supporting members 15 receive the substrate 100 (Fig. 1) from the adsorption transport apparatus 7 at the first position. The plurality of supporting members 15 are arranged in the first horizontal direction and extend parallel to each other in the second horizontal direction. A plurality of suction holes (not shown) are formed on the upper surface of the support member 15 and are connected to the adsorption device 16 (Fig. 10).

(1-2) 기판 반전 장치 (1-2) Substrate reversing device

기판 반전 장치(5)는, 기판(100)을 반전하는 장치이다. 구체적으로는, 기판 반전 장치(5)는, 테이블(13)의 상면에 배치된 기판(100)을 반전시켜 다른 장치(9)에 반송한다.The substrate inverting apparatus 5 is an apparatus for inverting the substrate 100. Specifically, the substrate inverting apparatus 5 reverses the substrate 100 disposed on the upper surface of the table 13 and conveys the substrate 100 to another apparatus 9.

기판 반전 장치(5)는, 도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이, 지지 구조(31)와, 반전 구조(33)를 갖고 있다.As shown in Figs. 1 and 2, the substrate inverting apparatus 5 has a supporting structure 31 and an inverting structure 33. [

반전 구조(33)는, 지지 구조(31)에 의해, 지면 직교 방향으로 연장되는 회동축(35)을 중심으로 회동이 자유롭게 지지되어 있다. 반전 구조(33)는, 샤프트(37)를 갖고 있고, 샤프트(37)가 회동축(35)과 동심으로 되어 있다. 반전 구조(33)는, 샤프트(37)로부터 수직으로 연재(延在)하는 복수의 보유 지지 아암(39)을 갖고 있다. 복수의 보유 지지 아암(39)은, 동일한 방향으로 평행하게 연장되어 있다.The inversion structure 33 is supported by the support structure 31 so as to be pivotable about a pivot 35 extending in the direction perpendicular to the paper. The inverted structure 33 has a shaft 37 and the shaft 37 is concentric with the rotary shaft 35. [ The inverting structure 33 has a plurality of holding arms 39 vertically extending from the shaft 37. [ The plurality of holding arms 39 extend in parallel in the same direction.

복수의 보유 지지 아암(39)은, 도 1에 나타내는 바와 같이, 테이블(13) 상의 위치와, 다른 장치(9)의 사이에서 회동축(35)을 중심으로 회동한다. 또한, 도 2에 나타내는 바와 같이, 보유 지지 아암(39)의 동일한 측의 면에는 다수의 에어 흡착 패드(41)가 형성되어 있다. 에어 흡착 패드(41)는, 보유 지지 아암(39)이 테이블(13) 상에 배치된 자세에 있어서, 보유 지지 아암(39)의 상면에 배치되어 있다.As shown in Fig. 1, the plurality of holding arms 39 pivot about the rotary shaft 35 between the position on the table 13 and the other device 9. As shown in Fig. 2, a plurality of air adsorption pads 41 are formed on the same side of the holding arm 39. As shown in Fig. The air adsorption pad 41 is disposed on the upper surface of the holding arm 39 in a posture in which the holding arm 39 is disposed on the table 13. [

테이블(13) 상에 올려놓인 기판(100)을, 기판 반전 장치(5)의 보유 지지 아암(39)으로 흡착하여 회동시키는 동작을 설명한다. 보유 지지 아암(39)은, 최초에, 테이블(13)의 재치면(13a)이 예정되어 있는 높이보다 낮은 위치에 배치되어 있다. 그리고, 기판(100)을 얹은 테이블(13)이 제1 위치로부터 제2 위치로 이동한다. 이에 따라, 보유 지지 아암(39)의 상방에 기판(100)이 위치한다. 다음으로, 보유 지지 아암(39)이 상방으로 이동하고, 에어 흡착 패드(41)가, 테이블(13) 상의 기판(100)의 하면에 접촉한다. 그리고, 흡인 펌프(도시하지 않음)를 작동시킴으로써, 에어 흡착 패드(41)에 기판(100)을 흡착 보유 지지시킨다.An operation of sucking and rotating the substrate 100 placed on the table 13 by the holding arm 39 of the substrate inverting apparatus 5 will be described. The holding arm 39 is initially disposed at a position lower than a height at which the placement surface 13a of the table 13 is planned. Then, the table 13 on which the substrate 100 is placed is moved from the first position to the second position. Thus, the substrate 100 is positioned above the holding arm 39. [ Next, the holding arm 39 moves upward, and the air adsorption pad 41 comes into contact with the lower surface of the substrate 100 on the table 13. Then, by operating a suction pump (not shown), the substrate 100 is held and held by the air adsorption pad 41.

이어서, 보유 지지 아암(39)을 180도 반전시킨다. 보유 지지 아암(39)은, 받침 부재(15)의 사이로부터 나와, 기판(100)을 다른 장치(9)의 상면에 인수 인도한다.Then, the holding arm 39 is inverted by 180 degrees. The holding arms 39 come out from between the supporting members 15 and guide the substrate 100 to the upper surface of the other device 9.

(1-3) 흡착 반송 장치 (1-3) Adsorption conveying device

흡착 반송 장치(7)는, 기판(100)을 흡착하여 반송하고, 기판(100)을 기판 재치 스테이지(3)의 테이블(13)에 올려놓는 장치이다. 흡착 반송 장치(7)는, 흡착부(7a), 반송 방향 이동부(도시하지 않음), 승강부(도시하지 않음) 등을 갖고 있다. 흡착 반송 장치(7)의 동작은 후술한다.The adsorption transport device 7 is a device for adsorbing and transporting the substrate 100 and placing the substrate 100 on the table 13 of the substrate placement stage 3. The adsorption transport apparatus 7 has a suction section 7a, a transport direction movement section (not shown), a lift section (not shown), and the like. The operation of the adsorption transport apparatus 7 will be described later.

또한, 기판 반전 장치(5)의 보유 지지 아암(39)의 에어 흡착 패드(41) 및, 흡착 반송 장치(7)의 흡착부(7a)는, 배관을 통하여 진공 펌프 등의 에어 흡인 장치(도시하지 않음)에 접속되어 있다.The air adsorption pad 41 of the holding arm 39 of the substrate inverting apparatus 5 and the adsorption section 7a of the adsorption transport apparatus 7 are connected to an air suction device such as a vacuum pump (Not shown).

(1-4) 에어 블로우 장치 (1-4) Air blow device

기판 재치 스테이지(3)는, 추가로, 도 3 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 좌우 한 쌍의 지주(17)와, 이들 지주(17)에 가교되어 제1 수평 방향으로 연장되는 빔(19)으로 이루어지는 문형의 지지 구조(21)를 갖고 있다. 빔(19)에는, 도 5에 나타내는 바와 같이, 에어 블로우 장치(23)가 부착되어 있다. 에어 블로우 장치(23)는, 테이블(13)에 올려놓인 기판(100)의 아래에 내려들어간 단재를 분리하기 위한 장치이다. 에어 블로우 장치(23)는, 제1 수평 방향으로 나열된 복수의 에어 노즐(23a)을 갖고 있다. 각 에어 노즐(23a)은, 비스듬히 하방을 향하고 있고, 구체적으로는 기판(100)의 반송 방향 하류측 단면을 향하고 있다. 에어 블로우 장치(23)는 후술된다.3 and 4, the substrate placement stage 3 further includes a pair of right and left pillars 17 and a beam 19 bridging the pillars 17 and extending in the first horizontal direction, Shaped support structure 21 made of a metal. As shown in Fig. 5, an air blow device 23 is attached to the beam 19. As shown in Fig. The air blowing device 23 is a device for separating the stage material that has fallen below the substrate 100 placed on the table 13. The air blowing device 23 has a plurality of air nozzles 23a arranged in the first horizontal direction. Each of the air nozzles 23a faces obliquely downward, specifically, toward the downstream end surface of the substrate 100 in the transport direction. The air blow device 23 will be described later.

(2) 접합 기판(2)

도 6을 이용하여, 전체 접합 기판(100A)을 설명한다. 도 6은, 본 발명의 일실시 형태에 이용되는 접합 기판의 개략적 측면도이다.With reference to Fig. 6, the entire bonded substrate 100A will be described. 6 is a schematic side view of a bonded substrate used in an embodiment of the present invention.

전체 접합 기판(100A)은, 제1 기판(101A)과, 제1 기판(101A)의 이면에 접합된 제2 기판(102A)으로 구성되어 있다. 제1 기판(101A)과 제2 기판(102A)에는 등간격으로 제1 스크라이브 라인(S1) 및 제2 스크라이브 라인(S2)이 폭방향(제1 수평 방향)으로 신장하여 형성되어 있고, 그들을 경계로 분단됨으로써 단위 접합 기판(100)(이하, 「기판(100)」이라고 함)이 얻어진다.The entire bonded substrate 100A is composed of a first substrate 101A and a second substrate 102A bonded to the back surface of the first substrate 101A. The first scribing line S1 and the second scribing line S2 are formed in the first substrate 101A and the second substrate 102A at equal intervals by extending in the width direction (first horizontal direction) The unit bonded substrate 100 (hereinafter referred to as " substrate 100 ") is obtained.

도 7을 이용하여, 기판(100)을 설명한다. 도 7은, 단위 접합 기판의 개략적 측면도이다. 기판(100)은, 제1 단위 기판(101)과, 제1 단위 기판(101)의 이면에 접합된 제2 단위 기판(102)을 갖는다. 도 2에서는, 제1 단위 기판(101)의 단부인 단재가 제거되어 있고, 그 때문에 제2 단위 기판(102)의 주면의 일부가 노출된 노출면(102a)으로 되어 있다.The substrate 100 will be described with reference to Fig. 7 is a schematic side view of the unit bonded substrate. The substrate 100 has a first unit substrate 101 and a second unit substrate 102 bonded to the back surface of the first unit substrate 101. [ In Fig. 2, the end portion of the first unit substrate 101 is removed, and therefore, a part of the main surface of the second unit substrate 102 is exposed to the exposed surface 102a.

그러나, 전체 접합 기판(100A)을 분단할 때에, 단재를 제거할 수 없는 경우를 생각할 수 있다.However, a case can be considered in which the end member can not be removed when the whole bonded substrate 100A is divided.

도 8을 이용하여, 상기의 설명과 같이 단재가 남은 기판(100)을 설명한다. 도 8은, 단재가 남은 상태의 분단 후의 접합 기판의 개략적 측면도이다.With reference to Fig. 8, the substrate 100 in which the edge member remains as described above will be described. Fig. 8 is a schematic side view of the bonded substrate stack after the dividing step in a state in which the end members remain.

도 8에 나타내는 바와 같이, 제3 스크라이브 라인(S3)은 형성되어 있기는 하지만, 단재(107)는, 제1 단위 기판(101)의 본체(106)에 부착된 상태이다.8, the stage member 107 is attached to the main body 106 of the first unit substrate 101 although the third scribing line S3 is formed.

(3) 단재 제거 장치의 기계 구성(3) Mechanical configuration of the termination removing device

도 9를 이용하여, 단재 제거 장치(61)를 설명한다. 단재 제거 장치(61)는, 상기의 설명과 같이 단재(107)가 남은 기판(100)으로부터, 단재(107)를 분단하기 위한 장치이다. 도 9는, 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 단재 제거 장치의 개략적 측면도이다.With reference to Fig. 9, a description will be given of the material removal device 61. Fig. The termination removing device 61 is a device for dividing the end member 107 from the substrate 100 in which the end member 107 is left as described above. Fig. 9 is a schematic side view of the edge material removal device according to the first embodiment of the present invention. Fig.

단재 제거 장치(61)는, 전술의 테이블(13)과, 에어 블로우 장치(23)로 구성되어 있다. 또한, 이하의 설명에서는, 단재 제거의 동작을 중심으로 설명하고, 단재 제거에 직접 관계없는 구성 및 동작은 설명을 생략한다. 또한, 도면도 간략화되어 있다.The end material removal device 61 comprises the table 13 and the air blow device 23 described above. In the following description, the operation of removing the termination will be mainly described, and a description of the constitution and operation that are not directly related to termination elimination will be omitted. Also, the drawings are simplified.

기판(100)은, 도 9에 나타내는 바와 같이, 제1 단위 기판(101)과, 제1 단위 기판(101)의 이면에 접합된 제2 단위 기판(102)으로 구성되어 있다. 여기에서는, 제1 단위 기판(101)의 표면에, 본체(106)와 단재(107)를 나누는 제3 스크라이브 라인(S3)이 형성되어 있다.The substrate 100 is composed of a first unit substrate 101 and a second unit substrate 102 bonded to the back surface of the first unit substrate 101 as shown in Fig. Here, on the surface of the first unit substrate 101, a third scribe line S3 dividing the main body 106 and the end member 107 is formed.

기판(100)은, 제1 단위 기판(101)이 하방에 위치하도록 하여, 테이블(13)의 위에 올려놓여진다.The substrate 100 is placed on the table 13 such that the first unit substrate 101 is positioned downward.

도 9에 나타내는 바와 같이, 테이블(13)에는, 전술과 같이 흡착 장치(16)가 접속되어 있다. 흡착 장치(16)는, 테이블(13)에 형성되고, 기판(100)을 흡착 고정한다. 흡착 장치(16)는, 진공 펌프 등의 에어 흡인 장치(도시하지 않음)를 갖고 있다.As shown in Fig. 9, the adsorption device 16 is connected to the table 13 as described above. The adsorption apparatus 16 is formed on the table 13, and adsorbs and fixes the substrate 100. The adsorption device 16 has an air suction device (not shown) such as a vacuum pump.

에어 블로우 장치(23)는, 소정의 유속 및 압력을 갖는 가스의 흐름(FL)을 단재(107) 또는 제2 단위 기판(102)의 단재 근방 부분에 닿게 함으로써, 단재(107)를 본체(106)로부터 분리시키는 장치이다. 구체적으로는, 에어 블로우 장치(23)는, 제2 단위 기판(102)의 단면(102b)에 대하여 비스듬한 방향으로 가스(예를 들면, 공기, 질소 등)의 흐름(FL)을 발생함으로써, 제1 단위 기판(101)의 본체(106)로부터 단재(107)를 떼어내는 장치이다.The air blow device 23 is configured to cause the flow of the gas FL having the predetermined flow rate and pressure to touch the end member 107 or the vicinity of the end member of the second unit substrate 102, ). Specifically, the air blow device 23 generates a flow FL of gas (for example, air, nitrogen or the like) in an oblique direction with respect to the end face 102b of the second unit substrate 102, And separates the end member 107 from the main body 106 of the one unit substrate 101. [

에어 블로우 장치(23)는, 전술과 같이, 에어 노즐(23a)을 갖는다. 에어 노즐(23a)은, 기판(100)의 단부(단재(107)에 가까운 쪽)의 상방에 있어서, 단재(107) 또는 제2 단위 기판(102)의 단재 근방 부분에 대하여 비스듬히 향하여 배치되어 있다.The air blowing device 23 has an air nozzle 23a as described above. The air nozzle 23a is disposed at an upper side of the end portion (closer to the end member 107) of the substrate 100 toward the end member 107 or the vicinity of the end member of the second unit substrate 102 .

이 장치에서는, 에어 블로우 장치(23)가 상기의 에어 노즐(23a)을 가짐으로써, 단재(107) 및/또는 제2 단위 기판(102)에 대하여, 단재(107)를 본체(106)로부터 떼어낼 수 있는 최적의 가스의 흐름을 부여할 수 있다.In this apparatus, the air nozzle 23 has the above-described air nozzle 23a, so that the end member 107 is detached from the main body 106 with respect to the end member 107 and / or the second unit substrate 102 It is possible to provide an optimum flow of gas that can be discharged.

에어 블로우 장치(23)는, 에어 노즐(23a)에 접속된 가스 공급 장치(25)(가스 봄베 등을 포함하는 가스를 공급하는 장치)를 갖고 있다.The air blowing device 23 has a gas supply device 25 (a device for supplying gas including a gas cylinder) connected to the air nozzle 23a.

가스의 흐름(FL)의 가스 유속이나 압력은, 예를 들면, 단재(107)의 크기나 무게에 기초하여, 적절히 조정할 수 있다.The gas flow rate and pressure of the gas flow FL can be appropriately adjusted based on, for example, the size and weight of the end member 107. [

에어 노즐(23a)은, 기판(100)의 폭방향(제1 수평 방향)을 따라서 복수 배치되어 있다(도 5를 참조).A plurality of air nozzles 23a are arranged along the width direction (first horizontal direction) of the substrate 100 (see FIG. 5).

에어 노즐(23a)은, 기판(100)의 폭방향으로 이동 가능하게 되어 있어도 좋다. 이에 따라, 제2 단위 기판(102)(및 단재(107))의 폭방향 전체에 가스의 흐름(FL)을 공급하여, 단재(107)를 제1 단위 기판(101)의 본체(106)로부터 분리할 수 있다.The air nozzle 23a may be movable in the width direction of the substrate 100. [ The gas flow FL is supplied to the entire width direction of the second unitary substrate 102 (and the end portion 107) so that the end portion 107 is separated from the main unit 106 of the first unit substrate 101 Can be separated.

(4) 단재 제거 장치의 제어 구성(4) Control configuration of the termination removing device

도 10을 이용하여, 단재 제거 장치(61)의 제어 구성을 설명한다. 도 10은, 단재 제거 장치의 제어 구성을 나타내는 블록도이다.The control configuration of the end material removal device 61 will be described with reference to Fig. 10 is a block diagram showing the control configuration of the apparatus for removing a material.

도 10에 나타내는 바와 같이, 단재 제거 장치(61)는, 콘트롤러(50)를 갖고 있다.As shown in Fig. 10, the end material removal device 61 has a controller 50. As shown in Fig.

콘트롤러(50)는, 프로세서(예를 들면, CPU)와, 기억 장치(예를 들면, ROM, RAM, HDD, SSD 등)와, 각종 인터페이스(예를 들면, A/D 컨버터, D/A 컨버터, 통신 인터페이스 등)를 갖는 컴퓨터 시스템이다. 콘트롤러(50)는, 기억부(기억 장치의 기억 영역의 일부 또는 전부에 대응)에 보존된 프로그램을 실행함으로써, 각종 제어 동작을 행한다.The controller 50 includes a processor (for example, a CPU), a storage device (for example, ROM, RAM, HDD, SSD or the like), various interfaces (for example, an A / D converter, a D / , Communication interface, etc.). The controller 50 performs various control operations by executing a program stored in a storage unit (corresponding to a part or all of the storage area of the storage device).

콘트롤러(50)는, 단일의 프로세서로 구성되어 있어도 좋지만, 각 제어를 위해 독립된 복수의 프로세서로 구성되어 있어도 좋다.The controller 50 may be composed of a single processor, but may be composed of a plurality of independent processors for each control.

콘트롤러(50)의 각 요소의 기능은, 일부 또는 전체가, 콘트롤러(50)를 구성하는 컴퓨터 시스템으로 실행 가능한 프로그램으로서 실현되어도 좋다. 그 외, 제어부의 각 요소의 기능의 일부는, 커스텀 IC에 의해 구성되어 있어도 좋다.The function of each element of the controller 50 may be partially or wholly realized as a program executable by the computer system constituting the controller 50. [ In addition, some of the functions of the elements of the control unit may be configured by a custom IC.

콘트롤러(50)에는, 흡착 장치(16), 흡착 반송 장치(7) 및 에어 블로우 장치(23)가 접속되어 있다.The adsorption device 16, the adsorption transport device 7, and the air blow device 23 are connected to the controller 50.

콘트롤러(50)에는, 도시하지 않지만, 기판의 크기, 형상 및 위치 검출하는 센서, 각 장치의 상태를 검출하기 위한 센서 및 스위치, 그리고 정보 입력 장치가 접속되어 있다.Although not shown, the controller 50 is connected to sensors for detecting the size, shape and position of the substrate, sensors and switches for detecting the state of each device, and an information input device.

(5) 단위 접합 기판으로의 형성 (5) Formation as unit bonded substrate

전체 접합 기판(100A)으로부터 단위 접합 기판(100)을 형성하는 공정을 설명한다.The process of forming the unit bonded substrate 100 from the whole bonded substrate 100A will be described.

최초에, 전체 접합 기판(100A)을 준비하고, 도시하지 않은 스크라이브 라인 형성 장치에 의해, 제1 기판(101A)의 표면에 제1 스크라이브 라인(S1) 및 제3 스크라이브 라인(S3)을 형성하고, 추가로 제2 기판(102A)의 표면에 제2 스크라이브 라인(S2)을 형성한다.First, the entire bonded substrate 100A is prepared, and a first scribing line S1 and a third scribing line S3 are formed on the surface of the first substrate 101A by a scribing line forming apparatus (not shown) , And a second scribe line (S2) is further formed on the surface of the second substrate (102A).

다음으로, 도시하지 않는 분단 장치에 의해, 제1 스크라이브 라인(S1), 제2 스크라이브 라인(S2) 및, 제3 스크라이브 라인(S3)이 분단되어 복수의 단위 접합 기판(100)이 형성된다.Next, the first scribing line S1, the second scribing line S2, and the third scribing line S3 are divided by a dividing device (not shown) to form a plurality of unit bonded substrates 100. [

(6) 단재 제거 장치의 제어 동작(6) Control operation of the termination removing device

도 11∼도 15를 이용하여, 기판(100)으로부터 제1 단위 기판(101)의 단재(107)를 분단하고, 분단된 단재(107)를 제1 단위 기판(101)으로부터 제거하는 방법을 설명한다. 도 11은, 단재 제거 장치의 제어 동작을 나타내는 플로우차트이다. 도 12 및 도 14∼도 15는, 단재 제거 장치의 블로우 스텝을 나타내는 단재 제거 장치의 개략적 측면도이다. 도 13은, 도 12의 부분 확대도이다.11 to 15, a method of dividing the end member 107 of the first unit substrate 101 from the substrate 100 and removing the end members 107 from the first unit substrate 101 will be described do. 11 is a flowchart showing a control operation of the apparatus for removing a material. Fig. 12 and Fig. 14 to Fig. 15 are schematic side views of an apparatus for removing a substrate showing a blow step of the apparatus for removing a substrate. 13 is a partially enlarged view of Fig.

이하에 설명하는 제어 플로우 차트는 예시로서, 각 스텝은 필요에 따라서 생략 및 교체 가능하다. 또한, 복수의 스텝이 동시에 실행되거나, 일부 또는 전체가 겹쳐 실행되거나 해도 좋다.The control flow chart described below is an example, and each step can be omitted and replaced as necessary. Also, a plurality of steps may be executed at the same time, or some or all of them may be executed in a superimposed manner.

또한, 제어 플로우 차트의 각 블록은, 단일 제어 동작으로는 한정되지 않고, 복수의 블록으로 표현되는 복수의 제어 동작으로 치환할 수 있다.Each block in the control flow chart is not limited to a single control operation, but can be replaced with a plurality of control operations represented by a plurality of blocks.

또한, 각 장치의 동작은, 콘트롤러(50)로부터 각 장치로의 지령의 결과이고, 이들은 소프트웨어·어플리케이션의 각 스텝에 의해 표현된다.In addition, the operation of each device is a result of a command from the controller 50 to each device, and these are expressed by each step of the software application.

도 11의 스텝 S1에서는, 도 9에 나타내는 바와 같이, 단재(107)가 남은 기판(100)이 테이블(13)의 위에 올려놓여진다(재치 스텝). 여기에서, 도 9에 나타내는 바와 같이, 제1 단위 기판(101)이 제2 단위 기판(102)에 대하여 하방에 위치한다. 그 때문에, 단재(107)는, 제2 단위 기판(102)의 단부의 하측에 내려들어간 상태에서, 테이블(13)의 위에 올려놓여진다. 구체적으로는, 콘트롤러(50)가 흡착 반송 장치(7)를 제어하여 상기 동작을 실행한다.In step S1 of Fig. 11, as shown in Fig. 9, the substrate 100 on which the end member 107 is left is placed on the table 13 (mounting step). Here, as shown in Fig. 9, the first unit substrate 101 is positioned downward with respect to the second unit substrate 102. As shown in Fig. Therefore, the stage member 107 is placed on the table 13 in a state where the stage member 107 is lowered to the lower side of the end portion of the second unit substrate 102. Specifically, the controller 50 controls the adsorption transport apparatus 7 to perform the above operation.

스텝 S2에서는, 기판(100)이 테이블(13)에 흡착된다(흡착 스텝). 구체적으로는, 콘트롤러(50)가 흡착 장치(16)를 제어하여 상기 동작을 실행한다.In step S2, the substrate 100 is adsorbed on the table 13 (adsorption step). More specifically, the controller 50 controls the adsorption device 16 to execute the above operation.

스텝 S3에서는, 도 12 및 도 13에 나타내는 바와 같이, 가스의 흐름(FL)을 단재(107) 또는 제2 단위 기판(102)의 단재 근방 부분(즉, 단면(102b))에 닿게 하는 블로우가 소정 시간 행해진다(블로우 스텝). 구체적으로는, 에어 블로우 장치(23)로부터 에어 노즐(23a)로 가스를 공급하여, 가스의 흐름(FL)을 발생시킨다. 이 결과, 단재(107)가 본체(106)로부터 분리된다. 구체적으로는, 콘트롤러(50)가 에어 블로우 장치(23)를 제어하여 상기 동작을 실행한다. 또한, 블로우 동작은 스텝 S1 또는 스텝 S2보다 먼저 개시되어 있어도 좋고, 스텝 S3 이후도 행해지고 있어도 좋다.In step S3, as shown in Figs. 12 and 13, a blow for causing the gas flow FL to touch the end member 107 or the vicinity of the end member of the second unit substrate 102 (that is, the end face 102b) And is performed for a predetermined time (blow step). Specifically, gas is supplied from the air blowing device 23 to the air nozzle 23a to generate a gas flow FL. As a result, the end member 107 is separated from the main body 106. More specifically, the controller 50 controls the air blowing device 23 to execute the above operation. The blowing operation may be started before the step S1 or the step S2, or may be performed after the step S3.

에어 노즐(23a)이 단재(107)로부터 떨어진 위치의 상방으로부터, 제2 단위 기판(102)의 단면(102b)에 대하여 비스듬히(즉, 수직이 아닌 각도) 향하여 배치되어 있기 때문에, 단재(107) 또는 제2 단위 기판(102)의 단면(102b)에 대하여 비스듬히 가스의 흐름을 닿게 한다. 따라서, 단재(107) 및/또는 제2 단위 기판(102)의 단면(102b)에 대하여, 단재(107)를 본체(106)로부터 떼어낼 수 있는 최적의 가스의 흐름을 부여할 수 있다.Since the air nozzle 23a is arranged at an oblique angle (that is, not perpendicular to the end face 102b of the second unit substrate 102) from above the position away from the end member 107, Or the cross-section 102b of the second unit substrate 102, as shown in Fig. Therefore, it is possible to impart an optimal flow of gas to the end face 107 and / or the end face 102b of the second unit substrate 102 so that the end face 107 can be detached from the main body 106. [

또한, 에어 블로우 스텝에 의한 분단 중에 본체(106) 및 단재(107)를 테이블(13)에 흡착하고 있기 때문에, 상기 분단이 안정적으로 행해진다.In addition, since the main body 106 and the end member 107 are attracted to the table 13 during the division by the air blow step, the division is stably performed.

스텝 S4에서는, 기판(100)의 테이블(13)로의 흡착이 정지된다. 구체적으로는, 콘트롤러(50)가 흡착 장치(16)를 제어하여 상기 동작을 실행한다. 또한, 스텝 S4 이후에도 흡착이 계속되고 있어도 좋다.In step S4, the adsorption of the substrate 100 to the table 13 is stopped. More specifically, the controller 50 controls the adsorption device 16 to execute the above operation. Also, the adsorption may be continued after step S4.

스텝 S5에서는, 도 14에 나타내는 바와 같이 흡착 반송 장치(7)의 흡착부(7a)가 기판(100)의 제2 단위 기판(102)을 흡착하고, 도 15에 나타내는 바와 같이 기판(100)을 테이블(13)로부터 들어올린다(들어올림 스텝).14, the adsorption section 7a of the adsorption transport apparatus 7 adsorbs the second unit substrate 102 of the substrate 100 as shown in Fig. 14, and the adsorption section 7a of the adsorption section 7a adsorbs the substrate 100 And lifted from the table 13 (lifting step).

이 방법에서는, 에어 블로우 스텝에 의한 분단 후에, 기판(100)이 테이블(13)로부터 들어올려진다. 이 결과, 도 15에 나타내는 바와 같이, 분단된 단재(107)가 테이블(13) 상에 남는다.In this method, after the separation by the air blow step, the substrate 100 is lifted from the table 13. As a result, as shown in Fig. 15, the divided end member 107 is left on the table 13. Fig.

이 단재 제거 장치(61)에서는, 종래와 같이 단재를 보유 지지하여 제1 단위 기판의 본체로부터 이동시키는 것이 아니라, 에어 블로우 장치(23)에 의해 발생시킨 가스의 흐름(FL)에 의해, 단재(107)를 제1 단위 기판(101)의 본체(106)로부터 떼어낸다. 이러한 분단에 의해, 종래와는 달리, 가스의 흐름(FL)에 의해, 단재(107)를 어떠한 부재로 보유 지지하여 이동시키는 일 없이, 비접촉으로, 제1 단위 기판(101)의 본체(106)로부터 분리할 수 있다. 그 결과, 단재(107)의 분리 중에 제2 단위 기판(102)의 노출면(102a)이 단재(107)에 의해 압압되지 않기 때문에, 당해 노출면을 손상시키는 일이 없다.The end member removing device 61 does not move the end member from the main body of the first unit substrate while holding the end member as in the conventional case but allows the flow of the gas (FL) generated by the air blow device (23) 107 from the main body 106 of the first unit substrate 101. Unlike the prior art, the gas flow FL allows the main body 106 of the first unit substrate 101 to be in a noncontact manner without moving and holding the end member 107 by any member, . As a result, since the exposed surface 102a of the second unit substrate 102 is not pressed by the end member 107 during the separation of the end member 107, the exposed surface is not damaged.

또한, 단재(107)가 테이블(13)에 올려놓인 상태에서 상기의 분단이 행해지기 때문에, 분단 후의 단재(107)의 관리가 용이하다. 환언하면, 분단 후의 단재(107)가 다른 위치로 흩날리는 문제가 생기지 않는다.Since the above-described division is performed in a state in which the stage member 107 is placed on the table 13, management of the stage member 107 after the division is easy. In other words, there is no problem that the end member 107 after the division is scattered to another position.

2. 다른 실시 형태 2. Other Embodiments

이상, 본 발명의 일 실시 형태에 대해 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태에 한정되는 것이 아니라, 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서 여러 가지의 변경이 가능하다. 특히, 본 명세서에 기재된 복수의 실시 형태 및 변형예는 필요에 따라서 임의로 조합 가능하다.Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible without departing from the gist of the invention. In particular, the plurality of embodiments and modifications described in this specification may be arbitrarily combined as needed.

(1) 단재 제거 장치의 변형예(1) Modification of the end member removing device

단재 제거 장치는, 기판 반전 장치에 의해 접합 기판이 올려놓이는 받침대 이외의 장치에 형성되어 있어도 좋다.The edge material removing device may be formed in a device other than the pedestal on which the bonded substrate stack is placed by the substrate inverting device.

(2) 기판의 변형예(2) Modification of substrate

2매의 취성 재료 기판을 접합한 접합 취성 재료 기판에는, 유리 기판을 접합한 액정 패널, 플라즈마 디스플레이 패널, 유기 EL 디스플레이 패널 등의 플랫 디스플레이 패널과, 실리콘 기판, 사파이어 기판 등을 유리 기판에 접합한 반도체 기판이 포함된다.A bonded brittle material substrate to which two brittle material substrates are bonded includes a flat display panel such as a liquid crystal panel, a plasma display panel, and an organic EL display panel to which a glass substrate is bonded and a flat display panel in which a silicon substrate, a sapphire substrate, And a semiconductor substrate.

기판의 종류는 특별히 한정되지 않는다. 기판은, 단판의 유리, 반도체 웨이퍼, 세라믹 기판을 포함하고 있다.The type of the substrate is not particularly limited. The substrate includes glass of a single plate, a semiconductor wafer, and a ceramic substrate.

(3) 스크라이브 라인의 변형예(3) Variation of scribe line

스크라이브 라인의 형상은 한정되지 않는다. 제1 실시 형태에서는 스크라이브 라인은 직선이었지만, 예를 들면 곡선을 일부 또는 전체에 갖는 형상이라도 좋다.The shape of the scribe line is not limited. In the first embodiment, the scribe line is a straight line, but a scribe line may have a curve partially or entirely.

(4) 가스의 변형예(4) Variation of gas

상기 실시 형태에서는, 단재를 분리하기 위한 가스로서, 공기 또는 질소가 이용되고 있었지만, 단재의 분리가 행해지는 환경(분위기)에 따라서, 다른 가스(예를 들면, 아르곤 등의 불활성 가스)를 이용할 수도 있다.In the above embodiment, air or nitrogen is used as the gas for separating the end member. However, it is also possible to use another gas (for example, an inert gas such as argon) in accordance with the environment (atmosphere) have.

1 : 기판 가공 장치
3 : 기판 재치 스테이지
5 : 기판 반전 장치
7 : 흡착 반송 장치
13 : 테이블
13a : 재치면
15 : 받침 부재
23 : 에어 블로우 장치
23a : 에어 노즐
25 : 가스 공급 장치
61 : 단재 제거 장치
100 : 단위 접합 기판
101 : 제1 단위 기판
102 : 제2 단위 기판
102a : 노출면
102b : 단면
106 : 본체
107 : 단재
1: substrate processing apparatus
3: Substrate placement stage
5: substrate reversing device
7: Adsorption conveying device
13: Table
13a: Putting it on
15: Support member
23: Air blow device
23a: Air nozzle
25: Gas supply device
61:
100: unit bonded substrate
101: first unit substrate
102: second unit substrate
102a: exposed surface
102b: section
106: Body
107: Component

Claims (8)

본체로부터 단재를 잘라 떼어내기 위한 스크라이브 라인이 표면에 형성된 제1 기판과, 상기 제1 기판의 이면에 접합된 제2 기판을 갖는, 접합 기판의 분단 장치로서,
상기 제1 기판이 하방으로 된 상태에서 상기 접합 기판이 올려놓이는 기판 재치부와,
가스의 흐름을 상기 단재 또는 상기 제2 기판의 단재 근방 부분에 닿게 함으로써, 상기 단재를 상기 본체로부터 분리시키는 에어 블로우 장치
를 구비한 단재 제거 장치.
And a second substrate bonded to the back surface of the first substrate, wherein the scribing line is formed on a surface of the scribing line for cutting off the substrate from the main body,
A substrate mounting part on which the bonded substrate stack is placed with the first substrate facing downward,
An air blow device for separating the end material from the main body by causing a flow of gas to touch the end material of the end material or the end material of the second substrate,
(10).
제1항에 있어서,
상기 에어 블로우 장치는, 상기 접합 기판보다 높은 위치에 배치되고, 상기 단재 또는 상기 제2 기판의 상기 단재 근방 부분을 향하여 비스듬히 하방을 향한 노즐을 갖고 있는, 단재 제거 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the air blow device is disposed at a higher position than the bonded substrate and has a nozzle which faces downwardly toward the end of the step material or the vicinity of the step material of the second substrate.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 기판 재치부에 형성되고, 상기 접합 기판을 흡착하는 흡착 장치를 추가로 구비하는, 단재 제거 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
Further comprising an adsorption device formed in the substrate mounting section for adsorbing the bonded substrate.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 제2 기판을 흡착하여 상기 접합 기판을 상기 기판 재치부로부터 들어올리는 들어올림 장치를 추가로 구비하는, 단재 제거 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
And a lifting device for lifting the bonded substrate from the substrate mounting portion by suctioning the second substrate.
본체로부터 단재를 잘라 떼어내기 위한 스크라이브 라인이 표면에 형성된 제1 기판과, 상기 제1 기판의 이면에 접합된 제2 기판을 갖는, 접합 기판의 단재 제거 방법으로서,
상기 제1 기판이 하방으로 된 상태에서 상기 접합 기판을 기판 재치부에 올려놓는 재치 스텝과,
가스의 흐름을 상기 단재 또는 상기 본체의 단재 근방 부분에 닿게 함으로써, 상기 단재를 상기 본체로부터 분리시키는 에어 블로우 스텝
을 구비한 단재 제거 방법.
A first substrate having a scribe line formed on a surface thereof for cutting off a substrate from a main body and a second substrate bonded to a back surface of the first substrate,
A mounting step of placing the bonded substrate stack on a substrate mounting part in a state in which the first substrate is downward,
An air blow step for separating the end material from the main body by making a flow of the gas come into contact with the end material or the vicinity of the end material of the main body,
.
제5항에 있어서,
상기 에어 블로우 스텝은, 상기 접합 기판보다 높은 위치로부터, 상기 단재 또는 상기 본체의 상기 단재 근방 부분을 향하여 비스듬히 하방으로 가스의 흐름을 닿게 하는, 단재 제거 방법.
6. The method of claim 5,
Wherein the air blow step causes a flow of gas to be obliquely downward from a position higher than the bonded substrate toward the end member of the end member or the end member of the main body.
제5항 또는 제6항에 있어서,
상기 접합 기판을 상기 기판 재치부에 흡착하는 흡착 스텝을 추가로 구비하는, 단재 제거 방법.
The method according to claim 5 or 6,
Further comprising an adsorption step of adsorbing the bonded substrate to the substrate mounting section.
제5항 또는 제6항에 있어서,
상기 제2 기판을 흡착하여 상기 제1 기판과 상기 제2 기판을 상기 기판 재치부로부터 들어올리는 들어올림 스텝을 추가로 구비하는, 단재 제거 방법.
The method according to claim 5 or 6,
Further comprising a lifting step of lifting the first substrate and the second substrate from the substrate mounting portion by suctioning the second substrate.
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