KR20180104721A

KR20180104721A - 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법

Info

Publication number: KR20180104721A
Application number: KR1020187024534A
Authority: KR
Inventors: 신타오 구이; 샤오샹 첸; 샹 종
Original assignee: 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드
Priority date: 2016-11-08
Filing date: 2016-11-08
Publication date: 2018-09-21
Also published as: CN108604136A; WO2018085991A1; KR102166563B1; CN108604136B; EP3407169A1; EP3407169A4; US20180364867A1; US10884563B2

Abstract

본 발명의 실시예에서 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법을 제공한다. 이 방법은 터치 패널이 압력을 받을 때 터치 패널의 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 스텝과, 미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하는 스텝과, 각 유도 전극이 출력한 수정후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여, 유도 전극 중에서 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하고, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하고, 각 유도 전극에 령점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 령점 위치의 데이터에 상대하여 변화하는 것에 의해, 압력을 받을 때 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터를 교정하는 스텝을 포함한다. 이것에 의해 압력을 자기 교정하고, 압력의 검출 결과의 정확성을 확보할 수 있다.

Description

유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법

본 발명의 실시예는 압력 터치 기술에 관하고, 특히는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법에 관한 것이다.

휴대형 전자 장치는 사용자의 생활에 여러가지 편리성을 주고 있으므로 사용자에 있어서 없으면 안될 도구로 되어 있다. 휴대형 전자 장치의 종류는 다종하고 예를 들면 키보드, 마우스, 조이 스틱(Joystick), 레이저 포인터 (Laser Pointer), 터치패널 등이 있다. 그중 터치 기술은 양호한 인터렉티브를 가지고 있으므로 여러가지 전자 장치에 폭 넓게 응용되고 있다. 하기에 사용자는 손가락을 움직이는 것에 의해 단말을 조작할 수 있고 종래의 키보드를 사용하지 않아도 좋다. 이것에 의해 사용자와 단말 사이 인터렉티브를 좋게할 수 있다.

터치 기술의 발전에 따라, 손가락 만으로 터치하는 기술은 현재의 다차원 입력의 수요를 만족시킬 수 없으므로 터치 기술에 압력 검출 기술을 증가시키는 것에 의해 위치 정보에 다차원 정보를 증가시키고 있다. 이럴 경우 터치 패널은 손가락의 압력에 관한 많은 정보를 감지할 수 있다. 즉 압력이 작아지거나 혹은 압력이 커지는 것를 검출하는 것에 의해 소정의 기능을 기동시키고 사용자에게 양호한 편리성을 줄 수 있다. 예를 들면 터치 패널을 터치하는 것에 의해 메뉴 또는 소정의 기능을 기동시키고 터치 패널을 강하게 터치하는 것에 의해 페이지의 상하 방향 혹은 좌우 방향의 이동을 가속화시키는 것에 의하여 양호한 효과를 획득할 수 있다.

현재 휴대형 전자 장치의 터치 검출 기술로서 콘덴서 센서를 많이 사용하고 있고, 압력 검출 수단인 매트릭스 콘덴서를 사용한 압력검출 센서는 양호한 성능을 가지고 있다. 본 발명을 발명할 때 발명자는 콘덴서 센서가 초기 거리에 대한 반응이 크고, 휴대형 전자 장치를 사용할 때 낙하, 변형, 충돌 등이 발생하는 것에 의해 유도 전극의 초기 거리가 변화되고 압력의 검출 결과에 큰 편차가 발생하는 것을 발견했다.

본 발명의 실시예의 목적은 종래 기술의 과제를 해결하기 위하여 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법, 특징 데이터와 압력 사이 대응 관계를 자기 교정하는 방법, 자기 교정이 가능한 압력검출 방법을 제공하는 것에 있다.

본 발명의 실시예의 목적을 실현하기 위하여 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법을 제공한다. 이 방법은,

터치 패널이 압력을 받을 때 터치 패널의 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 스텝과,

미리 기억되고 부동한 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하는 스텝과,

각 유도 전극이 출력한 수정 후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여 유도 전극 중의 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하고, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 스텝을 포함한다.

본 발명의 실시예에 있어서, 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법을 더 제공한다. 이 방법은 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정한 후에 실시되는 스텝, 즉

미리 기억되고 부동한 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 사용하고, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하여 수정 후의 압력을 획득하고, 수정 후의 압력의 분산 정도가 미리 설정된 제1 한계치보다 큰가를 확정하는 스텝과,

터치 전후의 복수 조의 특징 데이터, 미리 기억되고 부동한 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여 초기 거리가 변화된 상기 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 스텝을 포함한다.

본 발명의 실시예에 있어서, 자기 교정이 가능한 압력 검출 방법을 더 제공한다. 이 방법은,

상술한 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법에 의해 교정 후의 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 획득하고,

각 유도 전극의 영점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 영정 위치의 데이터에 상대하여 변화하는 것에 의하여, 압력을 받을 때 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터를 교정하고,

각 유도 전극의 교정 후의 특징 데이터와 교정 후의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 압력을 받을 때 유도 전극이 출력하는 압력의 크기를 계산한다.

본 발명의 실시예에 있어서, 터치 패널이 압력을 받을 때 터치 패널의 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출한다. 그후 미리 기억되고 부동한 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정한다. 그후 각 유도 전극이 출력하는 수정 후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여, 유도 전극 중의 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하고, 미리 기억된 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정한다. 즉 각 유도 전극에 영점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 영점 위치의 데이터에 상대하여 변화하는 것에 의하여, 압력을 받을 때 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터를 교정하고, 압력을 자기 교정하는 것에 의해 압력의 측정 결과의 정확도를 확보할 수 있다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 관한 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법을 나타내는 플로차트이다.
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 있어서 출하되기 전에 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 설정하는 방법을 나타내는 플로차트이다.
도 3은 도 2의 방법을 채용한 압력 유도 전극을 나타내는 평면도이다.
도 4a, 도 4b는 압력 유도 전극이 압력에 의해 변형된 것을 나타내는 도면이다.
도 5는 압력 검출 회로의 구조를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 2의 방법에 의한 커브 피팅의 결과를 나타내는 도면이다 .
도 7은 자기 용량에 응용된 검출 회로를 나타내는 도면이다 .
도 8은 상호 용량에 응용된 검출 회로를 나타내는 도면이다 .
도 9는 본 발명의 제3 실시예에 있어서 상대적 탄성 계수를 형성하는 방법을 나타내는 플로차트이다.
도 10은 도 9의 방법에 응용되는 터치 매트릭스와 로직 채널의 분포를 나타내는 도면이다 .
도 11은 본 발명의 제4 실시예에 있어서 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법을 나타내는 플로차트이다.
도 12는 본 발명의 제5 실시예에 있어서 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법을 나타내는 구체적인 플로차트이다.
도 13은 본 발명의 제6 실시예에 있어서 자기 교정을 한 압력을 검출하는 방법을 나타내는 플로차트이다.
도 14는 본 발명의 제7 실시예에 관한 압력 검출 장치를 나타내는 단면도이다.
도 15는 본 발명의 제8 실시예에 관한 압력 검출 장치를 나타내는 단면도이다.
도 16은 본 발명의 제9 실시예에 관한 압력 검출 장치를 나타내는 단면도이다.
도 17은 본 발명의 제10 실시예에 관한 압력 검출 장치의 유도 전극의 분포를 나타내는 평면도이다.
도 18은 본 발명의 제11 실시예에 관한 압력 검출 장치의 유도 전극의 분포를 나타내는 평면도이다.
도 19은 본 발명의 제12 실시예에 관한 압력 검출 장치의 유도 전극의 분포를 나타내는 평면도이다.
도 20은 본 발명의 제13 실시예에 관한 압력 검출 장치의 터치 참조 위치의 분포를 나타내는 평면도이다.
도 21은 본 발명의 제14 실시예에 관한 압력 검출 장치의 터치 참조 위치의 분포를 나타내는 평면도이다.

이하 도면과 실시예를 통하여 본 발명의 실시 형태를 상세하게 설명한다. 당업자는 이 설명을 통하여 본 발명의 기술적 사항을 통하여 소정의 과제를 해결하고 소정의 발명의 효과를 획득하는 것을 충분히 이해하고 이 발명을 실시할 수 있다.

본 발명의 다음의 실시예에 있어서 터치 패널이 압력을 받을 때 터치 패널의 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출한다. 그후 미리 기억되고 부동한 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정한다. 각 유도 전극이 출력하는 수정 후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여 유도 전극 중의 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하고, 미리 기억된 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정한다. 그후 각 유도 전극에 영점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 영점 위치의 데이터에 상대하여 변화하는 것에 의하여, 압력을 받을 때 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터를 교정한다. 즉 압력을 자기 교정하는 것에 의하여 압력의 측정 결과의 정확도를 확보할 수 있다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법을 나타내는 플로차트이다. 도 1에 표시된 바와 같이 상기 방법은 터치 패널이 압력을 받을 때 터치 패널의 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 스텝 S101을 포함한다.

본 실시예에 있어서 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계는 출하 전에 설정된 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계이거나 혹은 출하 전에 설정된 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 것에 의해 획득한 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계일 수 있다. 본 실시예에 있어서 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계가 출하 전에 설정된 계산 규칙인 것을 예 로 하여 설명한다.

본 실시예에 있어서 터치 패널을 출하하기 전에, 압력을 받을 때의 압력 크기와 압력을 받을 때 각 유도 전극이 출력하는 특징 데이터 사이의 관계를 미리 설정한다. 실제의 응용에 있어서 유도 전극이 출력한 실시간 특징 데이터를 출하 전에 설정된 특징 데이터와 압력 사이의 관계에 입력하는 것에 의하여, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출한다. 상기 실시간 압력을 통하여 터치 패널이 압력을 받을 때의 압력의 크기를 표시할 수 있다.

본 실시예에 있어서 유도 전극이 출력하는 특징 데이터는 검출 회로에 의해 결정된다. 예를 들면 유도 전극의 출력 전압을 검출하는 검출 회로를 채용할 경우 특징 데이터는 전압의 크기에 관한 것이다. 다른 경우도 이것과 비슷하므로 여기서 더 설명하지 않는다.

특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 형성하는 구체적인 과정은 아래의 도 2의 설명을 참조할 수 있으므로 여기서 더 설명하지 않는다.

본 실시예에 있어서 상기 실시간 특징 데이터는 아래의 도 13의 자기 교정이 가능한 압력 검출 방법에 의해 교정된 특징 데이터일 수 있다.

본 발명의 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법은 미리 기억되고 부동한 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하는 스텝 S102를 더 포함한다.

본 실시예에 있어서 터치 위치가 다른 것에 의해 유도 전극의 같은 부위의 변형량이 다른 경우가 있지만 터치 압력과 변형량은 소정된 관계를 가지고 있고 이 관계는 패널의 물리적 구조에 의해 결정된다. 이 관계에 의해 출력되는 압력을 수정하는 것을 통하여 터치 패널의 부동한 부위가 부동한 압력에 터치될 때에 시스템이 출력하는 압력을 동일하게할 수 있다.

본 발명을 발명할 때 이 발명자는 유도 전극의 변형량과 압력의 관계가 선형 관계를 가지고 있는 것을 발견했다. Pa 부위를 임의의 압력

로 터치하고, 임의의 하나의 유도 전극 (예를 들면 S0)의 변형량은

일 때, 상기 유도 전극의 기준점을 직접 터치하는 것에 의하여 상기 유도 전극의 변형량은

로 되고, 압력은

로 되도록 한다. 상기 유도 전극에 있어서 유도 전극의 기준점을 압력

으로 터치하는 것은 Pa 부위를 압력

로 터치하는 것과 같고, 상기 유도 전극의 특징 데이터도 같다. 상술한 설명에 의해 아래와 같은 관계를 용이하게 획득할 수 있다.

즉 Pa 부위를 터치할 때 상기 유도 전극이 출력한 특징 데이터를 스텝 S101 중의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 입력하고, 상기 유도 전극에 대응하는 특징 데이터에 의해 압력

을 획득할 수 있다.

또한

에

를 승하는 것에 의하여 현재의 Pa 부위의 압력

을 획득할 수 있다.

상기

는 Pa 부위가 상기 유도 전극의 SO 부위에 놓인 상7대적 탄성 계수이며 이 계수를

로 표시한다. 상기 상대적 탄성 계수는 터치 패널 위의 임의의 한 위치를 터치할 때 이 위치의 변형량을 나타내는 계수이며, 이 계수는 물리적 구조에 의하여 결정된다. 각 유도 전극이 설치된 임의의 위치 P는 모두 소정의 상대적 탄성 계수를 가지고 있고 이 계수를

로 표시할 수 있다.

상대적 탄성 계수를 획득하는 방법은 도 9의 설명을 참조할 수 있다.

본 발명의 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법은 각 유도 전극이 출력한 수정 후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여 유도 전극 중의 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하고, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 스텝 S103을 더 포함한다.

본 실시예에 있어서 각 유도 전극이 출력한 수정 후의 실시간 압력의 분산 정도에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력 사이의 편차를 확정하고 유도 전극 중에서 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정할 수 있다.

본 실시예에 있어서 수정 후의 각 유도 전극의 실시간 압력에 의하여 평균 차이 (MD), 평방 편차 (

), 변동 계수(CV)을 산출하고 이것들에 의하여 상기 분산 정도를 획득할 수 있다.

평균 차이:

평방 편차:

변동 계수:

상기 식에 있어서 n은 유도 전극의 수량을 가리키고,

는 제i번째의 유도 전극의 수정 후의 압력을 가리킨다.

다른 실시예에 있어서 터치의 압력을 계산할 때 수정 후의 압력

, ……,

은 실제의 압력과 같거나 혹은 실제의 압력보다 크거나 혹은 실제의 압력보다 작을 경우가 있으므로

,

, ……

,에 대하여 필터링을 한 후의 압력 출력을 최종의 압력 출력으로 한다. 예를 들면 각 유도 전극의 평균치를 산출하거나 혹은 터치 위치와 유도 전극 사이의 거리에 의해 가중 평균을 산출하거나 혹은 터치 위치에 가장 가까운 하나 또는 복수개의 유전 전극의 평균치를 산출하는 것에 의해 최종의 압력을 획득할 수 있다.

도2 는 본 발명의 제2 실시예에 있어서 출하 전에 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 설정하는 방법을 나타내는 플로차트이다. 도 2에 표시된 바와 같이 상기 대응 관계의 설정 방법은 복수개의 미리 설정된 압력 (견본 압력)으로 각 유도 전극의 기준점을 터치하는 것에 의하여 각 유도 전극에 대응하는 복수개의 특징 데이터 (견본 데이터)를 획득하는 스텝 S111을 포함한다.

본 실시예에 있어서 터치 위치는 각 유도 전극의 중앙 위치이거나 혹은 임의의 위치이며, 이 위치를 전극의 기준점이라고 한다. 기준점으로서 유도 전극의 변형량을 제일 크게 할 수 있는 위치, 예를 들면 중심점을 선택하는 것이 바람직하다. 견본 압력의 크기는 실제의 사용 과정에서 나타나는 최대 압력과 최소 압력에 의하여 복수개의 압력을 선택할 수 있다.

상기 대응 관계의 설정 방법에 있어서 복수개의 견본 압력과 각 유도 전극이 출력한 복수개의 특징 데이터에 의하여 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 형성하고, 이 관계를 상기 각 유도 전극의 상기 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계로 하는 스텝 S121을 더 포함한다.

본 실시예에 있어서 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 표의 형식으로 기억시키고, 표를 조회하는 방법에 의해 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하거나 혹은 커브 피팅에 의하여 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 형성할 수 있다. 커브 피팅에 의하여 이 관계를 형성하고, 이 관계에 의하여 기억표를 형성할 경우, 수량이 적은 견본 압력에 의하여 스텝이 보다 작은 표를 형성할 수 있다.

본 실시예에 있어서 표를 조회하는 방법에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출할 때 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터가 두 견본 특징 데이터 사이에 놓여지면, 분단 근사치 계산 방법에 의해 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출할 수 있다.

본 실시예에 있어서 터치 제어 장치의 처리 능력이 강하면, 커브 피팅에 의해 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 나타내는 식을 형성하고, 이 식에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출할 수 있다. 터치 제어 장치의 처리 능력이 약하면, 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 표의 형식으로 기억시키로, 표를 조회하는 방법에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하고, 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터가 두 견본 특징 데이터 사이에 놓여지면, 분단 근사치 계산 방법에 의하여 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출할 수 있다.

이하 도3 ∼ 도5을 참조하는 것에 의하여 상기 도 2의 사항을 간단히 설명한다.

도 3은 도 2의 방법을 채용한 압력 유도 전극을 나타내는 평면도이며, 도 4a, 도 4b는 압력 유도 전극이 압력에 의하여 변형된 것을 나타내는 도면이며, 도 5는 압력 검출 회로의 구조를 나타내는 도면이며, 도 6은 도 2의 방법에 의한 커브 피팅의 결과를 나타내는 도면이다.

도 3을 참조하면, 이 장치는 9개의 콘덴서식 유도 전극을 포함하고, 각 유도 전극은 하나의 센서에 상당한다. 도 4a, 도 4b를 참조하면 유도 전극 중에서 평판상 콘덴서

를 압력을 검출하는 콘덴서로 하고 압력을 받기 전의 평판상 콘덴서

의 전기 용량은

이며, 두 전극 사이의 초기 거리는

이고, 압력을 받은 평판상 콘덴서

의 변형량은

이고, 압력을 받은 평판상 콘덴서

의 전기용량은

이다.

도 5을 참조하면 유도 전극이 자기 용량 (Self capacitance)일 경우 구동 신호는 저항 R을 통하여 검출 콘덴서 Ctp(Ctp=C1+C2)에 접속되고, 검출 콘덴서 Ctp의 신호는 증폭 회로에 의하여 증폭된다. 증폭 회로에 의하여 증폭된 신호를 필터 회로에 송신하여 필터링하고, 필터 회로의 출력 신호를 복조 회복 회로에 송신하여 복조하는 것에 의해, 특정한 형식의 특징 데이터 (Rawdata) (예를 들면 전압 또는 전류의 폭, 위상의 크기)을 형성하고, 이것으로 압력의 크기를 표시한다. 마지막으로, Rawdata를 컴퓨터에 송신하면 컴퓨터는 Rawdata에 의하여 현재 압력의 크기를 산출한다.

구동 신호가

이고, 증폭 회로의 증폭이

일 경우 출력된 신호의 폭, 즉 Rawdata는 아래와 같다.

식 (4)에 있어서,

는 일정한 압력

에 의하여 형성된 변형량이다. 본 발명의 실시예에 있어서 압력에 의해 형성된 변형은 작은 변형이며

와

는 훅의 법칙, 즉

을 만족시키고 위치에 따라

는 다르게 된다. 식 (4)을 아래와 같이 나타낼 수 있다.

이고, 식 (5)을 아래와 같이 나타낼 수 있다.

상기 검출 회로에 있어서, 확정하려고 하는 파라미터

는 a , b , c , d 이다. 각 유도 전극은 한조의 파라미터

에 대응하고, 상기 식 (5)을 가정 함수 모형이라고 이해할 수 있다.

상기 파라미터

를 확정하기 위해서, 본 실시예에 있어서 커브 피팅을 채용한다. 각 유도 전극의 압력 곡선은 각 유도 전극의 기준점이 터치되는 것을 나타낸다. 상기 유도 전극이 검출한 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 R-F곡선 (RawData-Force곡선)이라고 약칭하고

,

,이며, 이 식에 있어서

는 확정하려고 하는 파라미터이며, 이는 제j번째의 유도 전극에 대응한다. 구체적인 방법은 아래와 같다.

a, 각 유도 전극에 n개의 같지 않은 견본 압력

을 각각 사용하고,

일 경우 상기 유도 전극의 기준점을 터치하여 원시 특징치 (RawData)을 기록한다. 이 특징치은 9조의 원시 견본 데이터

;

;... ... ;

을 포함한다.

b, 각 유도 전극의 R-F곡선

과

인 가설 함수 모형을 피팅시킨다. 상기 식(5)에 표시된 바와 같이 원시 견본 데이터

;

;... ...;

을 통하여

과

를 피팅시키는 것에 의하여 파라미터

,

를 확정한다.

상기 방법에 의해 피팅된 곡선은 도 6에 표시된 것과 같아. 견본 압력은 0g, 100g, 200g, 300g, 400g, 500g, 600g이며, 상기 견본 데이터를 피팅시키는 것에 의해 Rawdata-Force곡선을 획득한다. 도 6에 표시된 바와 같이 견본 데이터는 Rawdata-Force곡선 위에 유효적으로 피팅되어 있다.

주의 받고 싶은 것은 상기 견본 데이터를 획득할 때 견본 압력으로서 0g, 100g, 200g, 300g, 400g, 500g, 600g 만을 사용하는 것은 아니고, 소정의 범위 내에서 임의의 압력을 사용할 수 있다. 견본 압력의 수량은 파라미터

중의 분량의 수량보다 많으면 안된다. 예를 들면, 상기 실시예에 있어서 파라미터 가 a, b, c, d 4개의 분량을 포함할 경우, 견본 압력의 개수는 4개이상이 되지 않으면 안된다.

실시간 압력을 계산할 때 파라미터

가 확정된 R-F곡선

과

에 의해 실시간 압력을 계산하고, 터치 제어 장치의 처리 능력이 약할 경우 분단 근사치 계산 방법에 의하여 실시간 압력을 산출할 수 있다.

(1)

,

, 소정의 압력 간격

(예를 들면 50g)에 의하여 각 유도 전극의 Rawdata-Force 관계표를 형성하고, 이 표를 시스템의 메모리에 미리 기억시킨다.

획득한 소정 압력 하의 제j번째의 유도 전극의 원시 특징치가

라고 가정하고, 상기

는 미리 설정된 두 압력

사이에 놓이고,

는

에 대응하는과 동시에

의 사이에 놓인다. 즉

(혹은

)이다. 분단 근사치 계산 방법에 의해 산출된 압력은

이다.

주의 받고 싶은 것은 상기 도 5의 검출 회로 대신에 다른 회로 예를 들면 도 7, 도 8에 표시된 회로를 사용할 수 있다. 도 7은 자기 용량에 응용되는 검출 회로를 나타내는 도면이며, 도 8은 상호 용량 (Mutual capacitance)에 응용되는 검출 회로를 나타내는 도면이다. 상술한 회로 (즉 두가지 종류의 회로)에서 상기 도 6의 방법에 의하여 상기 파라미터

를 확정할 수 있으므로 여기서 다시 설명하지 않는다.

도 7에 있어서 전하 이전 방법에 의해 압력을 검출하고, 이 방법은 자기 용량에 응용된다. Tx는 구동 신호이며 정현파, 구형파 등과 같은 여러가지 신호일 수 있다. 검출 원리는 아래와 같다.

먼저, 스위치

를 온 시켜, 스위치

를 오프시키는 것에 의해 검출 콘덴서 Ctp가 충전을 하고, 콘덴서 C1’이 방전을 하도록 한다. 그후 스위치

를 오프시켜, 스위치

를 온 시키는 것에 의해 검출 콘덴서 Ctp가 콘덴서 C1’에 대하여 분압 충전을 하고, 콘덴서 C2’에 대하여 적분 충전을 하도록 한다. 그후 적분 회로의 출력 신호를 필터 회로에 송신하여 필터링하고, 필터 회로의 출력 신호를 보조 회로에 송신하여 복조하는 것에 의해 특정 형식의 특징 데이터 (Rawdata)을 형성한다. 최후 특징 데이터 (Rawdata)을 컴퓨터에 송신하면 컴퓨터는 특징 데이터 (Rawdata)에 의해 현재 압력의 크기를 산출할 수 있다.

도 8은 전기 용량 검출 방법의 실시예를 나타내는 도면이다. Tx는 구동 신호이며, 정현파, 구형파 등과 같은 여러가지 신호이며, 이 방법의 원리는 아래와 같다.

먼저 구동 신호를 검출 콘덴서 Ctp의 후측에 접속되는 적분 증폭 회로에 송신한다. 그후 적분 증폭 회로의 출력 신호를 필터 회로에 송신하여 필터링하고, 필터 회로의 출력 신호를 복조 회로에 송신하여 복조하는 것에 의해, 특정 형식의 특징 데이터 (Rawdata)을 형성한다. 최후 특징 데이터 (Rawdata)을 컴퓨터에 송신하면, 컴퓨터는 특징 데이터 (Rawdata)의 변화에 의하여 현재 압력의 크기를 산출한다.

도 9는 본 발명의 제3 실시예에 있어서 상대적 탄성 계수를 형성하는 방법을 나타내는 플로차트이다. 도 9에 표시된 바와 같이 상기 방법은 미리 설정된 복수개의 압력으로 터치 패널 위에 형성된 각 로직 채널을 터치할 때 각 유도 전극이 출력하는 특징 데이터 및 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 미리 설정된 압력으로 터치할 때 각유도 전극이 출력하는 압력을 산출하는 스텝 S112을 포함한다.

본 실시예에 있어서 미리 설정된 복수개의 압력과 각 유도 전극이 출력하는 복수개의 압력에 의하여, 각 유도 전극과 각 로직 채널 사이의 복수개의 제1 상대적 탄성 계수를 확정하고, 상기 복수개의 제1 상대적 탄성 계수의 평균치를 소정 유도 전극과 소정 로직 채널 사이의 최종 상대적 탄성 계수로 한다.

본 실시예에 있어서 미리 설정된 복수개의 압력으로 각 로직 채널의 중심을 터치할 때 각 유도 전극에 대응하는 하나의 특징 데이터, 미리 설정된 복수개의 압력으로 터치할 때 각 유도 전극에 대응하는 복수개의 특징 데이터를 획득한다. 상기 각 유도 전극의 특징 데이터를 상기 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계, 예를 들면 피팅 곡선에 입력하는 것에 의하여, 미리 설정된 압력으로 터치할 때 각 유도 전극이 출력하는 압력을 획득한다.

상기 상대적 탄성 계수를 형성하는 방법은 미리 설정된 복수개의 압력과 미리 설정된 압력으로 터치할 때 각 유도 전극이 출력하는 압력에 의하여, 각 로직 채널이 각 유도 전극에 위치하는 부위의 상대적 탄성 계수를 확정하는 스텝 S122을 더 포함한다.

하나의 로직 채널의 미리 설정된 구체적인 압력과 각 유도 전극이 출력하는 압력을 사용하고,

를 참조하는 것에 의하여, 각 로직 채널이 각 유도 전극에 위치하는 부위의 상대적 탄성 계수를 확정할 수 있다.

도 10은 도 9의 방법에 응용되는 터치 매트릭스를 나타내는 도면이다. 터치패널은 N개의 구역으로 분할되고, 이 구역들을

,

, …,

이라고 표시한다. 본 실시예에 있어서 N은 77이다.

(1) 미리 설정된 m(ｍ≥１)개의 압력

으로 각 로직 채널의 중심을 각각 터치하여 각 유도 전극의 데이터를 기록하고, 미리 설정된 압력

으로 로직 채널을 터치할 때 각 유도 전극의 데이터는

,

, ……,

이며 ,

이다.

(2) 상기 (1)로 획득한

,

, ……,

,

을 소정 R-F곡선

,

에 입력하여 압력을 계산하고, 이것을

,

, ……,

,

라고 기록한다.

(3) 상기 (2)로 산출한 압력에 의하여 로직 채널의

와

위치의 상대적 탄성 계수

,

을 산출한다.

는 미리 설정된 복수개의 압력으로 로직 채널을 터치할 때 로직 채널의

와

위치 복수개의 상대적 탄성 계수의 평균치이다.

를 시스템에 기억시킨 결과는 표 2에 표시된 것 같다.

주의 받고 싶은 것은 소정 역학 모의 소프트로 상기 방법을 실시하는 것에 의해 상기 상대적 탄성 계수를 획득할 수 있다.

기억 공간, 양산 효율 등과 같은 여러 요소에 한도가 있는 것에 의하여 가설 채널의 수량 N에는 일정한 한도가 있다. 터치 위치 주위의 복수개의 로직 채널이 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 대응할 때 선형 보간 방법과 커브 피팅을 사용하는 것에 의하여 임의의 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 확정할 수 있다.

P 부위의 좌표 (좌측 상부은 좌표의 령점 위치이다)는

이고, C28, C29, C39, C40 부위의 좌표는

,

일 때 S4을 참조하는 것에 의하여 C28, C29, C39, C40 부위의 상대적 탄성 계수

,

을 확정할 수 있다.

Ｙ 방향의 보간치:

,

Ｘ 방향의 보간치:

P 부위 부근의 복수개의 로직 채널을 선택하고, 커브 피팅에 의하여 P 부위의 상대적 탄성 계수를 예측할 수도 있다. 예를 들면 C16, C17, C18, C27, C28, C39, C38, C39, C40을 포하한 9개의 로직 채널을 선택하고, 커브 피팅에 의하여 상대적 탄성 계수를 예측할 수 있다.

양산 샘플을 제조할 때, 상기 방법에 의하여 각 유도 전극의 R-F 곡선과 상대적 탄성 계수표를 형성할 수 있다. 생산 효율에 일정한 한도가 있기에 양산을 시작할 때 소량의 샘플을 선택하여 R-F 곡선과 상대적 탄성 계수표를 형성하고, 이것들을 표준 R-F 곡선과 상대적 탄성 계수표로 할 수 있다. 다른 샘플의 각 유도 전극의 R-F 곡선과 상대적 탄성 계수표로서 표준 R-F 곡선과 상대적 탄성 계수표를 수정하는 것에 의해 획득 할수 있다.

P 부위를 터치할 때 각 유도 전극의 특징 데이터를 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 입력하는 것에 의하여, 압력

,

, ……,

을 형성하고, 상대적 탄성 계수에 의해 수정된 압력은

,

, ……,

이다.

도 11은 본 발명의 제4 실시예에 있어서 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법을 나타내는 플로차트이다. 도 11에 표시된 바와 같이 상기 방법은 상술한 임의의 한 방법에 의하여 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정한 후에 실시되는 아래와 같은 스텝, 즉

미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 사용하고, 터치된 압력을 수정하는 것에 의하여 수정 후의 압력을 획득하고, 수정 후의 압력의 분산 정도가 미리 설정된 제1 한계치보다 큰가를 확정하는 스텝 S401을 포함한다.

본 실시예에 있어서 출하되기 전에 형성된 여러 위치의 로직 채널이 각 유도 전극에 대응하는 상대적 탄성 계수에 의하여, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하여 수정 후의 압력을 획득한다.

특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법은 터치 전후의 복수 조의 특징 데이터, 미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수 및 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정 및 갱신하는 스텝 S402을 더 포함한다.

본 실시예에 있어서, 출하되기 전의 상기 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 형성하는 방법으로서 상기 방법을 참조할 수 있으므로 여기에서 다시 설명하지 않는다.

본 실시예에 있어서, 출하되기 전에 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 형성하는 방법으로서 상기 방법을 참조할 수 있으므로, 여기에서 다시 설명하지 않는다.

본 실시예에 있어서, 터치 전후의 복수 조의 특징 데이터는 출하된 후의 유도 전극을 터치하기 전후의 실시간 특징 데이터를 가리킨다.

본 실시예에 있어서, 수정후의 압력의 분산 정도에 의하여 초기 거리가 변화된 유도 전극의 수량이 미리 설정된 수량 한계치보다 큰가를 확정할 때 터치 전후의 복수 조의 특징 데이터, 미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수 및 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정한다. 수정후의 압력의 분산 정도에 의하여 유도 전극에 있어서 초기 거리가 변화된 유도 전극의 수량이 미리 설정된 수량 한계치 보다 큰가를 확정할 때, 터치 전후의 복수조의 특징 데이터, 미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수 및 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 방정식을 형성하고 교정 파라미터를 형성한다. 획득한 교정 파라미터에 의해 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정한다. 상기 수량 한계치를 자유롭게 설정할 수 있다. 예를 들면 유도 전극의 총수량이 9개일 경우 상기 수량 한계치는 2개이다. 유도 전극의 수량이 증가될 때 상기 수량 한계치를 증가시킬 수 있다.

도 12는 본 발명의 제5 실시예에 있어서 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법을 나타내는 구체적인 플로차트이다. 도 12에 표시된 바와 같이 이 방법은 아래와 같은 스텝을 포함한다.

스텝 S501에 있어서, 터치가 검출되면 CV값을 계산한다.

스텝 S502에 있어서, CV값이 미리 설정된 제1 한계치를 넘는가를 판단하고, CV값이 제1 한계값을 넘을 경우 스텝 S503을 실시한다.

스텝 S503에 있어서, 터치 전후의 각 유도 전극의 원시 특징 데이터와 좌표

,

를 기록하고, 회수 기록 장치는 제1 한계값을 넘긴 회수 t에 1을 더한다. 즉 t=t+1이다 (t의 초기 값은 0이다).

상기 스텝에 있어서,

는 S0이 터치되기 전에 출력하는 특징 데이터를 가리키고,

는 S0이 터치된 후에 출력하는 특징 데이터를 가리키고,

는 현재 터치 위치의 좌표 중심을 가리킨다.

CV값이 제1 한계치를 넘을 때, t를 0으로 하고, 전에 기억된 t조의 원시 특징 데이터를 삭제하고, 스텝 S501에 되돌아가므로 자기 교정 기능을 기동시킬 필요가 없다.

스텝S504에 있어서, t가 2보다 작지 않은가를 판단하고, t≥2일 경우, 스텝 S505을 실시하고, 반대의 경우 스텝 S501을 실시한다.

스텝 S505에 있어서, 터치 전후의 t조의 특징 데이터

,

, ……,

,

에 의하여 방정식을 형성하고, 교정 파라미터를 산출한다. (

과

는 같을 수 있다).

스텝 S506에 있어서, 확정된 유일한 교정 파라미터가 존재하는 가를 판단한다.

유일한 교정 파라미터가 존재할 경우, 스텝 S501에 되돌아가고 유일한 교정 파라미터를 확정할 수 있을 경우 스텝 S507을 실시한다.

스텝 S507에 있어서, 교정 파라미터와 표2의 각 유도 전극의 R-F 곡선

,

에 의해 교정을 하고, 또한 t를 0으로 하고, 전에 기억된 t조의 특징 데이터를 삭제한다.

획득한 교정 파라미터가 파라미터

를 조절하는 분량인 것에 의하여 수정 후의 압력과 진실한 압력을 될수록 일치하게 할 수 있다.

간단히 설명하면, 교정후의 압력

,

, ……,

에 있어서 대부분이 일치하고, 소수의 차이가 클 때

, ……,

이 근사한 것을 설명하고

,

의 차이가 클 때

,

의 Gap가 변화하는 것을 설명한다. 도 11 또는 도 11의 과정을 아래와 같이 간소화할 수 있다.

, ……,

의 평균치를 진실한 압력이라고 예측하고

,

에 대하여 교정 또는 갱신을 하여 표1을 획득한다.

,

, ……,

이 분산되어 있으므로 도 11 또는 도 12의 방법에 의하여 교정을 할 수 있다.

도 13은 본 발명의 제6 실시예에 있어서 자기 교정을 한 압력을 검출하는 방법을 나타내는 플로차트이다. 도 13에 표시된 바와 같이 이 방법은 아래와 같은 스텝을 포함한다.

스텝 S601에 있어서, 상기 실시예 중의 임의의 한 실시예의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 사용하고, 자기 교정 방법에 의해 교정된 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 획득한다.

스텝 S602에 있어서, 각 유도 전극의 현재 령점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 령점 위치의 데이터에 상대하여 변화하는 것에 의하여, 터치될 때 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터를 교정한다.

스텝 S603에 있어서, 각 유도 전극의 교정 후의 특징 데이터와 교정 후의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 터치될 때 각 유도 전극이 출력하는 압력의 크기를 계산한다.

이하, 상기 도 13의 예시에 관하여 설명하고, 출하 전후의 령점 위치의 특징 데이터의 변화를 예로 하여 설명한다. 주의받고 싶은 것은 다른 실시예 또는 실시형태에 있어서 령점 위치의 특징 데이터의 변화는 현재 령점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 령점 위치의 특징 데이터에 상대하여 변화하는 변화일 수 있다. 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계가 교정된 후 교정 후의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 미리 기억된 령점 위치의 특징 데이터를 계산 및 갱신한다.

실제의 응용에 있어서, 상용하는 환경 변화는 온도, 습도 등과 같은 변화이다. 도 14에 표시된 바와 같이 이러한 요소가

곡선에 영향을 주는 것에 의하여 곡선의 수치가 상승 또는 저하할 수 있다. 출력된 특징 데이터

를 출하 전에 형성된 R-F 곡선에 입력하여 획득한 압력이

일 경우,

와 진실한 압력

사이에 큰 편차가 존재하는 것을 설명한다.

한 유도 전극 (예를 들면 SO)에 있어서, 환경의 요소가 일정한 범위 내에서 변화할 때

, 즉

를 획득할 수 있다.

는 출하 전에 형성된 R-F곡선이 압력이 령일 때 원시 특징 데이터, 즉 출하 전의 령점 위치의 데이터에 입력되는 것을 가리키고,

는 출하 전에 터치되지 않을 때의 현재 령점 위치의 데이터를 가리키고, 교정후의 특징 데이터

를 출하 전에 형성된 R-F곡선에 의하여 획득한 압력은 진실한 압력 F다. 압력을 계산할 때, 터치 전후의 데이터

,

에 의하여 현재 령점 위치와 출하 후의 렬점 위치

의 편이량

을 계산하고, 현재의 터치 위치에 대응하는 특징 데이터

, 즉

을 갱신한다. 그후 갱신된

를

에 입력하는 것에 의해 진실한 압력을 획득한다.

도 14는 본 발명의 제7 실시예에 관한 압력 검출 장치를 나타내는 단면도이다. 도 14에 표시된 바와 같이 유도 전극은 LCD 하측에 부착되고, 유도 전극과 LCD 모듈을 지지하는 중앙 프레임 사이에는 일정한 틈새이 형성되고, 틈새 내에는 압축성이 좋은 해면이 충전되어 있다. 시스템이 작동할 때, LCD 모듈의 Vcom층과 중앙 프레임은 시스템에 접속되고, 유도 전극과 LCD 모듈의 Vcom층에는 부하 압력 검출 콘덴서

가 형성되고, 유도 전극과 중앙 프레임에는 유효 압력 검출 콘덴서

가 형성되고

과

는 병렬 접속된다. Cover를 터치할 때, Cover가 변화하는 것에 의해 유도 전극과 중앙 프레임 사이의 거리가 감소하고, 콘덴서

의 전기용량이 증가한다. 이 때

의 변화를 무시하고,

의 변화를 검출하는 것에 의해 현재의 압력을 획득할 수 있다.

도 15은 본 발명의 제8 실시예에 따른 압력 검출 장치를 나타내는 단면도이다. 도 15에 표시된 바와 같이 이 구조에 있어서, 유도 전극은 OCA 테이프에 의하여 LCD 모듈의 중앙 프레임에 부착되고, 유도 전극과 LCD 모듈 사이에는 일정한 틈새이 형성되고, Vcom층은 LCD 모듈의 적층 1과 적층 2 사이에 위치한다. 시스템이 작동할 때, LCD 모듈의 Vcom층과 중앙 프레임은 시스템에 접속되고, 유도 전극과 LCD 모듈의 Vcom층에는 콘덴서

가 형성되고, 유도 전극과 중앙 프레임에는 콘덴서

가 형성되고

과

는 병렬 접속된다. Cover를 터치할 때, Cover가 변화하는 것에 의해 LCD 모듈의 Vcom층과 유도 전극 사이의 거리가 감소하고, 유효 압력 검출 콘덴서

의 전기 용량이 증가한다. 이 때, 부하 압력 검출 콘덴서

의 변화를 무시하고,

상기 실시예에서 백라이트 모듈, 반사 필름의 위치를 설명하지 않는다.

도 16은 본 발명의 제9 실시예에 관한 압력 검출 장치를 나타내는 단면도이다. 도 16에 표시된 바와 같이 상기 구조는 금속 프레임을 구비하는 LCD 모듈의 실시예에 응용되고, 유도 전극은 LCD 모듈의 금속 프레임에 부착된다.

도 17은 본 발명의 제10 실시예에 관한 압력 검출 장치의 유도 전극의 분포를 나타내는 평면도이며, 도 18은 본 발명의 제11 실시예에 관한 압력 검출 장치의 유도 전극의 분포를 나타내는 평면도이며, 도 19은 본 발명의 제12 실시예에 관한 압력 검출 장치의 유도 전극의 분포를 나타내는 평면도이다. 도 17, 도 18, 도 19에 표시된 바와 같이 유도 전극의 수량은 각각 4개, 9개, 32개이다. 주의 받고 싶은 것은 유도 전극의 수량은 실제의 상황에 따라 자유롭게 설정할 수 있고, 여기에서는 이것을 한정하지 않는다.

도 20은 본 발명의 제13 실시예에 관한 압력 검출 장치의 터치 참조 위치의 분포를 나타내는 평면도이다. 도 20에 표시된 바와 같이 터치 구역의 중심에 접근하는 구역은 터치 구역의 변연 구역보다 높은 신호 잡음비를 가지고 있으므로, 더 높은 정확성을 확보하기 위하여 터치 구역의 중심에 접근하는 구역에 높은 신호 잡음비를 가지는 터치 교정 구역을 설치하지 않으면 안된다. 사용자가 교정 App를 기동시킬 때 전자 설비의 표시 패널 위에 터치 교정 구역을 표시한다. 이것에 의하여 사용자가 다른 압력으로 터치를 여러번 하는 것에 의해, 실시간 특징 데이터를 획득하고, 교정 파라미터를 계산하여 시스템에 기억시키고, 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하도록 한다. 교정 방법은 본 발명의 제5 실시예와 동일하므로 여기에서 다시 설명하지 않는다.

도 21은 본 발명의 제14 실시예에 관한 압력 검출 장치의 터치 참조 위치의 분포를 나타내는 평면도이다. 도 21에 표시된 바와 같이 상기 도 20의 실시예의 상이점은 본 실시예에 두 터치 교정 구역이 설치된 것에 있다. 사용자가 교정 App를 기동시킬 때 전자 설비의 표시 패널 위에 터치 교정 구역 1과 터치 교정 구역 2을 표시한다. 이럴 경우 사용자가 두 터치 교정 구역을 터치하는 것에 의하여, 실시간 특징 데이터를 획득하고, 교정 파라미터를 계산하여 시스템에 기억시키고, 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하도록 한다. 이 교정 방법은 본 발명의 제5 실시예와 동일하므로 여기에서 다시 설명하지 않는다.

본 발명의 실시예에 관한 장치는 컴퓨터 프로그램에 의하여 실시될 수 있다. 본 기술 분야의 기술자가 알다시피 상기 유닛과 모듈의 설치 방법은 여러 설치 방법 중의 일종에 지나지 않고, 상기 구성을 다른 유닛 또는 모듈에 설치하거나 혹은 어디에도 설치하지 않을 경우가 있다. 즉 본 발명의 상기 기능을 실현할 수 있는 설계이면 본 발명의 보호 범위에 속하는 것은 물론이다.

본 기술 분야의 기술자가 알다시피, 본 발명의 실시예에서 방법, 장치(설비) 또는 컴퓨터의 소프트웨어를 제공한다. 본 발명의 기술적 사항은 하드웨어에 의하여 실시되거나, 소프트웨어에 의하여 실시되거나 혹은 하드웨어와 소프트웨어의 조합에 의하여 실시될 수 있다. 본 발명에 있어서 하나 또는 복수개의 컴퓨터 소프트웨어가 기억되어 있는 기억 매체 (리지드 디스크, CD-ROM, 광학 디스크 등이 있지만, 이것들만 한정되는 것은 아니다)을 사용하고 이것에 의하여 본 발명을 실시할 수 있다.

이상 본 발명의 실시예의 방법, 장치(설비) 또는 컴퓨터 프로그램의 플로차트와 / 혹은 블록 그림에 의해 본 발명의 기술적 사항을 설명하여 왔지만, 주지하는 바와 같이 컴퓨터 프로그램 지령에 의하여 플로차트와 / 혹은 블록 그림 중의 각 흐름과 / 혹은 각 스텝, 플로차트와 / 혹은 블록 그림 중의 각 흐름과 / 혹은 각 스텝의 결합을 실현할 수 있다. 상기 컴퓨터 프로그램 지령을 공용 컴퓨터, 전용 컴퓨터, 결합식 처리 장치 또는 다른 프로그래밍이 가능한 데이터 처리 장치에 입력하는 것에 의하여 소정 장치를 형성하고, 컴퓨터 또는 다른 프로그래밍이 가능한 데이터 처리 장치의 처리 장치가 상기 지령을 실행하는 것에 의하여, 플로차트 중의 하나의 흐름 또는 복수개의 흐름 / 혹은 블록 그림 중의 하나의 스텝 또는 복수개의 스텝을 실현하는 소정 장치를 형성할 수 있다.

상기 컴퓨터 프로그램 지령은 컴퓨터 또는 다른 프로그래밍이 가능한 데이터 처리 장치가 소정 방식으로 작동하도록 안내할 수 있는 메모리에 기억될 수 있다. 상기 메모리에 기억된 지령에 의하여 지령 실시 장치를 형성하고, 상기 지령 실시 장치에 의해 플로차트 중의 하나의 흐름 또는 복수개의 흐름 / 혹은 블록 그림 중의 하나의 스텝 또는 복수개의 스텝을 실현할 수 있다.

상기 컴퓨터 프로그램 지령을 컴퓨터 또는 다른 프로그래밍이 가능한 데이터 처리 장치에 인스톨하는 것에 의하여, 컴퓨터 또는 다른 프로그래밍이 가능한 데이터 처리 장치가 소정 스텝을 실시하도록 할 수 있다. 컴퓨터 또는 다른 프로그래밍이 가능한 데이터 처리 장치에 인스톨된 지령에 의하여, 플로차트 중의 하나의 흐름 또는 복수개의 흐름 / 혹은 블록 그림 중의 하나의 스텝 또는 복수개의 스텝을 실현할 수 있다.

이상 이 발명의 실시예를 도면에 의하여 설명하여 왔지만 상기 실시예는 이 발명의 예시에 지나지 않는 것이기 때문에 이 발명은 사술한 실시예의 구성에만 한정되는 것은 아니고, 이 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위 내에서 진행된 설계 변경 등이 있어도 이러한 설계 변경 등이 본 발명에 포함되는 것은 물론이다. 예를 들면, 각 실시예에 복수개의 구성이 포함되어 있을 경우, 특별한 설명이 없어도 이 구성의 가능한 조합이 포함하는 것은 물론이다. 또한 복수개의 실시예 혹은 변형예가 나타났을 경우 특별한 설명이 없어도 이것들의 조합에 포함되는 것은 물론이다.

Claims

터치 패널이 압력을 받을 때, 터치 패널의 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 스텝과,
미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하는 스텝과,
각 유도 전극이 출력한 수정 후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여, 유도 전극 중에서 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하고, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 1에 있어서,
각 유도 전극의 상기 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 형성하는 스텝은 복수개의 견본 압력으로 각 유도 전극을 터치하는 것에 의하여 각 유도 전극에 대응하는 복수개의 특징 데이터를 획득하는 스텝과, 각 유도 전극 중에서 복수개의 견본 압력과 각 유도 전극이 출력한 복수개의 특징 데이터에 의해 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 형성하고, 이 관계를 상기 각 유도 전극의 상기 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계로 하는 스텝 포함하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 2에 있어서,
압력과 특징 데이터 사이의 관계를 표의 형식으로 기억시키고, 표를 조회하는 방법에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하거나 혹은 커브 피팅에 의하여 관계를 형성하고, 이 관계에 의해 기억표를 형성하고 표를 조회하는 방법에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 3에 있어서,
표를 조회하는 방법에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출할 때 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터가 두 견본 특징 데이터 사이에 놓여지면, 분단 근사치 계산 방법에 의하여 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 1에 있어서,
각 유도 전극의 출하 전의 상대적 탄성 계수를 형성하는 스텝은 미리 설정된 복수개의 압력으로 터치 패널 위에 형성된 각 로직 채널을 터치할 때, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 스텝과, 미리 설정된 복수개의 압력과 각 유도 전극이 출력하는 복수개의 실시간 압력에 의하여 각 유도 전극에 위치하는 각 로직 채널의 상대적 탄성 계수를 확정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 5에 있어서,
미리 설정된 복수개의 압력과 각 유도 전극이 출력하는 복수개의 압력에 의하여, 각 유도 전극과 각 로직 채널 사이의 복수개의 제1 상대적 탄성 계수를 확정하고, 상기 복수개의 제1 상대적 탄성 계수의 평균치를 소정된 유도 전극과 소정된 로직 채널 사이의 최종 상대적 탄성 계수로 하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 5 또는 6에 있어서,
선형 보간 방법 또는 커브 피팅을 사용하고, 터치 위치 주위의 복수개의 유도 전극과 각 로직 채널 사이의 상대적 탄성 계수에 의하여 임의의 터치 위치에 대응하는 상대적 탄성 계수를 확정하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 1에 있어서,
각 유도 전극이 출력하는 수정 후의 실시간 압력 사이의 편차에 의하여 유도 전극 중에서 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하는 스텝은, 각 유도 전극이 출력한 수정 후의 실시간 압력의 분산 정도에 의하여 유도 전극 중에서 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
청구항 8에 있어서,
수정 후의 각 유도 전극의 실시간 압력에 의하여 이 평균 차이, 평방 편차, 변동 계수를 산출하고, 이것들에 의하여 상기 분산 정도를 획득하는 것을 특징으로 하는 유도 전극의 초기 거리의 변화를 확정하는 방법.
특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법으로, 청구항 1내지 9 중의 어느 한항에 기재된 방법에 의하여 초기 거리가 변화된 유도 전극을 확정한 후에 실시되는 스텝, 즉
미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 사용하고, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 수정하여 수정 후의 압력을 획득하고, 수정 후의 압력의 분산 정도가 미리 설정된 제1 한계치보다 큰가를 확정하는 스텝과,
터치 전후의 복수조의 특징 데이터, 미리 기억되거 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 의하여, 초기 거리가 변화된 상기 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기교정하는 방법.
청구항 11에 있어서,
상기 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 형성하는 스텝은, 복수개의 견본 압력으로 각 유도 전극을 터치하는 것에 의하여, 각 유도 전극에 대응하는 복수개의 특징 데이터를 획득하는 스텝과, 각 유도 전극 중에서 복수개의 견본 압력과 각 유도 전극이 출력한 복수개의 특징 데이터에 의하여 압력과 특징 데이터 사이의 관계를 형성하고, 이 관계를 상기 각 유도 전극의 상기 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계로 하는 스텝 포함하는 것을 특징으로 하는 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기교정하는 방법.
청구항 11에 있어서,
미리 기억되고 다른 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 형성하는 방법은 미리 설정된 복수개의 압력으로 터치패널 위에 형성된 각 로직 채널을 터치할 때, 각 유도 전극이 출력하는 특징 데이터 및 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 각 유도 전극이 출력하는 실시간 압력을 산출하는 스텝과, 미리 설정된 복수개의 압력과 각 유도 전극이 출력하는 복수개의 압력에 의하여, 각 유도 전극에 위치하는 각 로직 채널의 상대적 탄성 계수를 확정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기교정하는 방법.
청구항 12에 있어서,
미리 설정된 복수개의 압력과 각 유도 전극이 출력하는 복수개의 압력에 의하여, 각 유도 전극과 각 로직 채널 사이의 복수개의 제1 상대적 탄성 계수를 확정하고, 상기 복수개의 제1 상대적 탄성 계수의 평균치를 소정된 유도 전극과 소정된 로직 채널 사이의 최종 상대적 탄성 계수로 하는 것을 특징으로 하는 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기교정하는 방법.
청구항 10에 있어서,
터치 위치 주위의 복수개의 로직 채널이 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수에 대응할 때, 선형 보간 방법과 커브 피팅을 사용하는 것에 의하여 임의의 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수를 확정하는 것을 특징으로 하는 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기교정하는 방법.
청구항 10에 있어서,
수정후의 압력의 분산 정도에 의해 초기 거리가 변화된 유도 전극의 수량이 미리 설정된 수량 한계치보다 큰것을 확정할 때, 터치 전후의 복수조의 특징 데이터, 미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수 및 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 초기 거리가 변화된 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하고,
수정 후의 압력의 분산 정도에 의하여 유도 전극 중에서 초기 거리가 변화된 유도 전극의 수량이 미리 설정된 수량 한계치보다 큰가를 확정할 때, 터치 전후의 복수조의 특징 데이터, 미리 기억되고 여러 터치 위치에 대응하는 각 유도 전극의 상대적 탄성 계수 및 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 방정식을 형성하여 교정 파라미터를 형성하고, 획득한 교정 파라미터에 의해 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 교정하는 것을 특징으로 하는 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기교정하는 방법.
자기 교정이 가능한 압력 검출 방법으로,
청구항 9 내지 15 중의 어느 한항에 기재된 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 자기 교정하는 방법에 의하여, 교정 후의 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계를 획득하고,
각 유도 전극에 령점 위치의 특징 데이터가 미리 기억된 령점 위치의 데이터에 상대하여 변화하는 것에 의하여, 압력을 받을 때 각 유도 전극이 출력하는 실시간 특징 데이터를 교정하고,
각 유도 전극의 교정 후의 특징 데이터와 교정 후의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여, 압력을 받을 때 유도 전극이 출력하는 압력의 크기를 계산하는 것을 특징으로 하는 자기 교정이 가능한 압력 검출 방법.
청구항 16에 있어서,
미리 인스톨된 애플리케이션을 기동시키는 것에 의해 미리 설치된 터치 교정 구역을 표시하고, 미리 설치된 터치 교정 구역을 터치하는 것에 의하여 실시간 특징 데이터를 획득하는 것을 특징으로 하는 자기 교정이 가능한 압력 검출 방법.
청구항 16에 있어서,
교정 후의 각 유도 전극의 특징 데이터와 압력 사이의 대응 관계에 의하여 미리 기억된 령점 위치의 데이터를 갱신하는 것을 특징으로 하는 자기 교정이 가능한 압력 검출 방법.