KR20180076307A - 카메라의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터의 구동량을 교정하기 위한 방법 - Google Patents

카메라의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터의 구동량을 교정하기 위한 방법 Download PDF

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히로시 무라카미
미츠마사 무라카미
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르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤
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Abstract

[해결수단] 장치에 설치된 카메라의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터의 구동량을 교정하기 위한 방법은, 장치의 예정된 자세를 반영시킨 지표를 카메라로 촬영하여 제1 화상을 생성하는 것과, 제1 화상에 있어서의 지표의 기울기를 검출하는 것과, 지표의 기울기에 근거하여, 장치의 자세 변화를 검지하기 위한 센서의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 구비한다.

Description

카메라의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터의 구동량을 교정하기 위한 방법{Method for Calibrating Driving Amount of Actuator Configured to Correct Blurring of Image Taken by Camera}
이 개시는, 카메라의 상 흔들림을 보정하기 위한 액츄에이터의 구동량을 보정하는 기술에 관한 것이다.
종래, 카메라의 상 흔들림을 보정하는 다양한 기술이 제안되어 있다. 예를 들면, 일본 특개 2016-173517호 공보는, 「상 흔들림 보정 중의 모터 제어량 중, 이동 제어량을 제1 보정 계수로 온도 보정하고, 흔들림 보정 기구(110)를 중심 위치에 유지하기 위해 이용되는 유지 제어량을 제2 보정 계수로 온도 보정하는」 상 흔들림 보정 장치를 개시하고 있다(「요약」 참조).
근년, 휴대 전화 단말, 태블릿 단말 등을 비롯하여, 다양한 디바이스에 카메라 모듈이 탑재되고 있다. 또한, 이러한 정보처리단말은, 카메라의 고해상도화나 다기능화가 진행됨에 따라, 탑재되는 부품 점수도 많아지고 있다. 한편으로, 정보처리단말에 대한 유저의 경량화 요구는 강하다. 그 때문에, 카메라 모듈을 소형화하기 위한 기술이 필요로 되고 있다.
본 개시는, 상기와 같은 문제를 해결하기 위해 이루어진 것으로서, 어느 국면에 있어서의 목적은, 자세를 검지(檢知) 가능한 센서를 탑재하는 정보처리단말에 장착되는 카메라 모듈에 있어서, 부품 점수를 삭감할 수 있는 기술을 제공하는 데에 있다.
그 외의 과제와 신규한 특징은, 본 명세서의 기술 및 첨부도면으로부터 명확해질 것이다.
어느 실시형태에 따르면, 장치에 장착된 카메라의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터의 구동량을 교정하기 위한 방법이 제공된다. 장치는, 해당 장치의 자세 변화를 검지하기 위한 센서를 포함한다. 상기 방법은, 장치의 예정된 자세를 반영시킨 지표를 카메라로 촬영하여 제1 화상을 생성하는 것과, 제1 화상에 있어서의 지표의 기울기를 검출하는 것과, 지표의 기울기에 근거하여, 센서의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 구비한다.
본 발명의 상기 및 다른 목적, 특징, 국면 및 이점은, 첨부된 도면과 관련해서 이해되는 본 발명에 관한 다음의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.
도 1a는, 관련 기술에 따른 정보처리단말의 구성을 설명하는 도면이다.
도 1b는, 실시형태에 따른 정보처리단말의 구성예를 설명하는 도면이다.
도 2는, 실시형태 1에 따른 검사 시스템의 구성예에 대해서 설명하는 도면이다.
도 3a는, 자이로 센서의 축과 액츄에이터의 축이 일치하고 있는 것을 나타내는 도면이다.
도 3b는, 자이로 센서의 축과 액츄에이터의 축이 어긋나 있는 것을 나타내는 도면이다.
도 4는, 액츄에이터의 구동량을 보정하기 위한 보정 계수에 대해서 설명하는 도면이다.
도 5는, 실시형태 1에 따른 애플리케이션 프로세서(AP)가 보정 계수를 산출하는 제어의 흐름을 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 6은, 드라이버 IC(Integrated Circuit)가 상 흔들림을 보정하기 위한 제어의 흐름을 설명하는 도면이다.
도 7은, 실시형태 1에 따른 상 흔들림 보정의 정도(degree)를 설명하는 도면이다.
도 8은, 축 어긋남 각도(θ1)와, 흔들림량의 관계를 설명하는 도면이다.
도 9는, 변형예에 따른 차트를 설명하는 도면이다.
도 10은, 다른 변형예에 따른 차트를 설명하는 도면이다.
도 11은, 액츄에이터의 축과 이미지 센서의 축의 어긋남에 대해서 설명하는 도면이다.
도 12a는, 액츄에이터의 축과 이미지 센서의 축이 일치하고 있는 것을 나타내는 도면이다.
도 12b는, 액츄에이터의 축과 이미지 센서의 축이 어긋나 있는 것을 나타내는 도면이다.
도 13은, 실시형태 2에 따른 AP가 보정 계수를 산출하는 제어의 흐름을 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 14는, 실시형태 3에 따른 검사 시스템의 구성예를 설명하는 도면이다.
도 15는, 실시형태 3에 따른 축 어긋남 각도의 검출 방법에 대해서 설명하는 도면이다.
도 16은, 실시형태 3에 따른 AP가 보정 계수를 산출하는 제어의 흐름을 설명하기 위한 플로우 차트이다.
이하, 본 발명의 실시형태에 대해 도면을 참조하면서 상세히 설명한다. 이하의 설명에서는, 동일 부품에는 동일 부호를 붙이고 있다. 그들의 명칭 및 기능도 동일하다. 따라서, 그들에 대한 상세한 설명은 반복되지 않는다. 또한, 이하에서 설명되는 각 실시형태 및 각 변형예는, 적당하게 선택적으로 조합되어도 된다.
[A. 도입]
도 1a 및 도 1b는, 실시형태에 따른 기술의 개요를 설명하기 위한 도면이다. 도 1a는, 관련 기술에 따른 정보처리단말(100R)의 구성을 설명하는 도면이다. 도 1b는, 실시형태에 따른 정보처리단말(100)의 구성예를 설명하는 도면이다.
도 1a를 참조하여, 관련 기술에 따른 정보처리단말(100R)은, 메인보드(110)와, 카메라 모듈(120R)을 가진다. 메인보드(110)에는, 정보처리단말(100R)의 자세 변화를 검지하기 위한 모션 센서의 일례로서 자이로 센서(115)가 설치되어 있다. 「자세」란, 디바이스가 향해 있는 방향(예를 들면, 정보처리단말(100R)의 종방향, 횡방향, 높이방향)을 지시한다. 자이로 센서(115)는, 일례로서, 정보처리단말(100R)의 종방향 및 횡방향의 2축 둘레의 각속도를 검지 가능하게 구성된다. 다른 국면에 있어서, 정보처리단말(100R)의 자세 변화를 검지하는 센서의 다른 예로서, 지자기(地磁氣) 센서를 사용해도 된다. 카메라 모듈(120R)은, 해당 모듈의 자세 변화를 검지하기 위한 자이로 센서(130)와, 해당 모듈에 포함되는 촬상 소자가 취득하는 화상의 흔들림(상 흔들림)을 보정하기 위한 액츄에이터(140)를 포함한다.
자이로 센서(130)와, 액츄에이터(140)는, 동일한 카메라 모듈(120R)에 설치된다. 그 때문에, 어느 국면에 따른 카메라 모듈(120R)의 제조시에, 자이로 센서(130)의 X축, Y축이, 액츄에이터(140)의 구동 방향인 AX축, AY축에 각각 일치하도록 이들 디바이스가 카메라 모듈(120R)에 배치된다.
관련 기술에 따른 정보처리단말(100R)은, X축에 따른 자이로 센서(130)의 출력(각속도)과, Y축에 따른 자이로 센서(130)의 출력에 대응하여 예정된 구동량만큼 액츄에이터(140)를 구동한다. 이에 의해, 카메라 모듈(120R)에 포함되는 렌즈 또는 센서가 상 흔들림을 상쇄하도록 이동한다. 이 예정된 구동량은, 자이로 센서(130)의 축과, 액츄에이터(140)의 축이 일치되는 것이 전제로 되어 설정되어 있다.
정보처리단말(100R)은, 측정 대상이 다르지만, 동일한 기능을 가지는 2개의 자이로 센서를 가지고 있다. 그 때문에, 정보처리단말(100R)은, 장치 전체적으로 부품 점수가 많아져, 생산 코스트가 높아질 수 있다.
도 1b를 참조하여, 실시형태에 따른 정보처리단말(100)은, 카메라 모듈(120) 내에 자이로 센서(130)를 갖지 않는 점에 있어서, 관련 기술에 따른 정보처리단말(100R)과 상이하다.
정보처리단말(100)은, 메인보드(110)(정보처리단말(100))에 설치된 자이로 센서(115)의 출력에 대응하여, 액츄에이터(140)의 구동량을 설정한다. 그 때문에, 실시형태에 따른 정보처리단말(100)은, 카메라 모듈(120) 내에 별도로 자이로 센서(130)를 탑재할 필요가 없다.
그러나, 도 1b에 나타내는 바와 같이, 카메라 모듈(120)이 정보처리단말(100)에 대해 경사지게 설치될 수 있다. 이것은, 카메라 모듈(120)이 정보처리단말(100)에 대해 나사 고정 등이 되지 않고, 충격 흡수성을 가진 부드러운 소재로 싸이도록 정보처리단말(100)에 설치되어 있기 때문이다. 그 때문에, 복수 대의 정보처리단말(100)에 있어서, 카메라 모듈(120)의 정보처리단말(100)에 대한 설치 위치(기울기)에는, 개체 차가 생길 수 있다. 한편, 자이로 센서(115)는, 정보처리단말(100)에 대해 거의 경사지는 일없이 납땜에 의해 설치된다.
그 때문에, 카메라 모듈(120)이 정보처리단말(100)에 대해 경사지게 설치되면, 자이로 센서(115)의 축(X, Y)과, 액츄에이터(140)의 축(AX, AY)이 어긋난다. 이러한 상황에 있어서, 정보처리단말(100)은, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 구동량만큼 액츄에이터(140)를 구동하면, 정밀하게 상 흔들림을 보정할 수 없게 된다. 그 이유는, 상술한 바와 같이, 예정된 구동량은, 자이로 센서(115)의 축과, 액츄에이터(140)의 축이 일치하는 것이 전제로 설정되어 있기 때문이다.
그래서, 실시형태에 따른 정보처리단말(100)은, 카메라 모듈(120) 바깥에 설치되는 자이로 센서(115)의 축과, 액츄에이터(140)의 축의 기울기(어긋남량)를 검출한다. 정보처리단말(100)은, 검출한 기울기에 근거하여, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정한다. 이에 의해, 정보처리단말(100)은, 카메라 모듈(120) 바깥에 설치되는 자이로 센서(115)를 액츄에이터(140)의 제어에 이용하는 경우에도, 정확하게 상 흔들림을 보정할 수 있다. 이하에, 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 제어의 상세에 대해 설명한다.
[B. 실시형태 1]
(b1. 검사 시스템(200))
도 2는, 실시형태 1에 따른 검사 시스템(200)의 구성예에 대해 설명하는 도면이다. 검사 시스템(200)은, 정보처리단말(100)과, 지그(260)와, 모니터(270)와, 테스트 호스트(280)를 구비한다.
정보처리단말(100)은, 메인보드(110)와, 카메라 모듈(120)을 포함한다. 메인보드(110)는, 화상 메모리(205)와, 화상 신호 프로세서(ISP : Image Signal Processor)(210)와, 자이로 센서(115)와, 애플리케이션 프로세서(AP : Application Processor)(215)와, 메모리(217)와, I/F(인터페이스)(220)를 포함한다. I/F(220)는, 화상 메모리(205), ISP(210), 자이로 센서(115), AP(215), 메모리(217) 및 후술하는 I/F(250)에, 전기적으로 접속되어 있다.
정보처리단말(100)은, 카메라(카메라 모듈(120))를 탑재하며, 해당 카메라 바깥에 단말의 자세를 검지 가능한 센서(예를 들면, 자이로 센서)를 더 탑재하고 있으면 된다. 정보처리단말(100)은, 예를 들면, 스마트 폰, 태블릿, 감시 카메라, 네트워크 카메라, 그 외의 단말일 수 있다.
ISP(210)는, 후술하는 이미지 센서(225)가 취득한 화상 데이터에 대해 화상 처리를 행한다. 화상 처리는, 예를 들면, 광학계의 보정 처리나, 이미지 센서(225)의 변동(variation) 등으로부터 생기는 스크래치 보정 등을 포함한다.
화상 메모리(205)는, ISP(210)가 처리를 행한 화상 데이터를 저장하도록 구성된다. 자이로 센서(115)는, 정보처리단말(100)의 자세 변화를 검지하도록 구성된다. 자이로 센서(115)는, 일례로서 진동식으로 한다. 다른 국면에 있어서, 자이로 센서(115)는, 광학식이어도 된다.
AP(215)는, 후술하는 검사용 F/W(펌웨어)(295)를 실행하여, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 교정하기 위한 보정 계수를 결정한다. 메모리(217)는, 상기 보정 계수의 결정에 이용되는 룩업 테이블(219)을 저장한다.
카메라 모듈(120)은, 이미지 센서(225)와, 렌즈(230)와, 액츄에이터(140X, 140Y)와, 드라이버 IC(Integrated Circuit)(240)와, 메모리(245)(예를 들면, 플래시 메모리)와, I/F(250)를 포함한다.
이미지 센서(225)는, 직교하는 2방향으로 배열되는 복수의 광전변환소자를 포함하며, 화상 데이터를 생성하도록 구성된다.
액츄에이터(140X)는, 렌즈(230)를 AX방향으로 구동 가능하게 구성된다. 액츄에이터(140Y)는, 렌즈(230)를 AY방향으로 구동 가능하게 구성된다. 이하, 액츄에이터(140X, 140Y)를 총칭하여 「액츄에이터(140)」라고도 한다. 액츄에이터(140)는, 렌즈(230)를 움직임으로써 상 흔들림(image blurring)을 보정하도록 구성된다(렌즈 시프트 방식).
또한, 다른 국면에 있어서, 액츄에이터(140)는, 렌즈(230) 대신에 이미지 센서(225)를 움직임으로써 상 흔들림을 보정하도록 구성되어도 된다(센서 시프트 방식).
드라이버 IC(240)는, 액츄에이터(140)에 의한 렌즈(230)의 구동량을 제어한다. 드라이버 IC(240)는, 자이로 센서(115)의 출력에 근거하여, 이미지 센서(225)에 있어서의 상 흔들림을 보정하도록 렌즈(230)를 구동한다.
메모리(245)는, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하기 위한 보정 계수(sinθ1, cosθ1)를 저장한다.
I/F(220, 250)는, I2C(등록상표), MIPI(등록상표)(Mobile Industry Processor Interface), 그 외의 단자를 이용하여 실현된다.
지그(260)는, 정보처리단말(100)을 예정된 자세로 고정한다. 자이로 센서(115)는, 해당 센서의 X축, Y축이, 정보처리단말(100)의 장축, 단축에 각각 일치하도록 메인보드(110)에 설치된다.
모니터(270)는, 차트(275)를 표시하도록 구성된다. 차트(275)는, 정보처리단말(100)의 예정된 자세를 반영시킨 지표로서 기능한다. 차트(275)는, 일례로서, 자이로 센서(115)의 X축, Y축으로 연재(延在)하는 직선을 포함하는 십자형을 하고 있다.
테스트 호스트(280)는, 마이크로컴퓨터(285)와, 메모리(290)를 포함한다. 메모리(290)는, 예를 들면, 불휘발성의 기억 장치로서 기능한다. 메모리(290)는, 검사용 F/W(펌웨어)(295)를 기억한다.
어느 국면에 있어서, 테스트 호스트(280)는, 검사용 F/W(295)를, 메모리(217)에 전송할 수 있다. AP(215)는, 메모리(217)로부터 검사용 F/W(295)를 RAM(Random Access Memory)(도시하지 않음) 등으로 판독하여 실행할 수 있다.
(b2. 자이로 센서(115)와 액츄에이터(140)의 축 어긋남)
도 3a 및 도 3b는, 자이로 센서(115)의 축과, 액츄에이터(140)의 축의 어긋남을 설명하는 도면이다. 도 3a는, 자이로 센서(115)의 축과 액츄에이터(140)의 축이 일치하고 있는 것을 나타내는 도면이다. 도 3b는, 자이로 센서(115)의 축과 액츄에이터(140)의 축이 어긋나 있는 것을 나타내는 도면이다.
실시형태 1에 있어서, 이미지 센서(225)를 구성하는 복수의 광전변환소자가 배열되는 방향은, 액츄에이터(140)의 축 방향(즉, AX방향, AY방향)에 일치하는 것으로 한다.
도 3a 및 도 3b에 나타내는 예에 있어서, 이미지 센서(225)는, 정보처리단말(100)이 지그(260)에 고정된 상태에 있어서, 모니터(270)에 표시되는 차트(275)를 촬영하고 있다.
도 3a에 있어서, 차트(275)를 형성하는 십자(十字)가 연재하는 방향이 이미지 센서(225)의 축 방향에 일치해 있다. 상기와 같이, 차트(275)를 형성하는 십자 방향은, 자이로 센서(115)의 축 방향(X축, Y축)으로 연재한다. 그리고, 이미지 센서(225)의 축 방향은 액츄에이터(140)의 축 방향(AX축, AY축)에 일치한다. 즉, 도 3a에 나타내는 예에 있어서, 액츄에이터(140)의 축 방향(AX축, AY축)은, 자이로 센서(115)의 축 방향(X축, Y축)에 일치해 있다.
어느 국면에 있어서, AP(215)는, 이미지 센서(225)가 촬영하는 차트(275)를 포함하는 화상에 근거하여, 액츄에이터(140)의 축 방향이 자이로 센서(115)의 축 방향에 일치해 있는지 아닌지를 판단한다.
AP(215)는, 화상에 대해 에지(edge) 처리를 행함으로써, 차트(275)를 검출한다. AP(215)는 또한, 차트(275)에 있어서의 대표점(P1, P2)의 좌표를 특정한다. 일례로서, 대표점(P1, P2)은, Y축으로 연재하는 직선의 단부로 한다. AP(215)는, 대표점(P1, P2)의 AX방향에 있어서의 위치가 일치할 경우, 액츄에이터(140)의 축 방향이 자이로 센서(115)의 축 방향에 일치해 있다고 판단할 수 있다.
도 3b에 있어서, 차트(275)를 형성하는 십자가 연재하는 방향이, 이미지 센서(225)의 축 방향에 대해 일치해 있지 않다(경사져 있다). 어느 국면에 있어서, AP(215)는, 대표점(P1, P2)의 좌표의 차분 정보(α, β)를 도출한다. AP(215)는, 이 차분 정보에 근거하여, 이미지 센서(225)의 축 방향에 대한 차트(275)의 기울기 각도(θ1)를 산출한다. 더 구체적으로는, AP(215)는, atan(arc tangent)(β/α)를 계산하여, 각도(θ1)를 산출한다.
상기와 같이, 차트(275)를 형성하는 십자 방향은, 자이로 센서(115)의 축 방향(X축, Y축)으로 연재한다. 그리고, 이미지 센서(225)의 축 방향은 액츄에이터(140)의 축 방향(AX축, AY축)에 일치한다. 즉, 이미지 센서(225)의 축 방향에 대한 차트(275)의 기울기 각도(θ1)는, 자이로 센서(115)의 축 방향과, 액츄에이터(140)의 축 방향이 이루는 각도(즉, 축 어긋남 각도)를 나타낸다.
도 4는, 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하기 위한 보정 계수에 대해 설명하는 도면이다. 도 4에 나타내는 예에 있어서, 자이로 센서(115)의 축(X, Y)과, 액츄에이터(140)의 축(AX, AY)이 각도(θ1)만큼 어긋나 있다.
상술한 바와 같이, 이들 축이 어긋나 있는 상태에 있어서, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 구동량만큼 액츄에이터(140)를 구동하면, 정확하게 상 흔들림을 보정할 수 없다. 예정된 구동량은, 자이로 센서(115)의 축과, 액츄에이터(140)의 축이 일치되는 것이 전제로 설정되어 있기 때문이다.
그래서, AP(215)는, 축 어긋남 각도(θ1)에 근거하여, 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하기 위한 보정 계수를 결정한다.
도 4를 참조하여, AX축의 성분은, X축의 성분에 cosθ1을 곱한 값에서 Y축의 성분에 sinθ1을 곱한 값을 뺀 값이다. AY축의 성분은, X축의 성분에 sinθ1을 곱한 값과, Y축의 성분에 cosθ1을 곱한 값을 모두 더한 값이다. 즉, sinθ1과, cosθ1이 정해지면, 자이로 센서(115)의 출력은, 액츄에이터(140)의 축 방향으로 변환할 수 있다. 따라서, AP(215)는, 축 어긋남 각도(θ1)에 근거하여, 보정 계수 sinθ1과, cosθ1을 결정한다.
AP(215)는, 결정한 보정 계수를, I/F(220)을 통해 카메라 모듈(120)에 출력한다. 카메라 모듈(120)은, 이 보정 계수를 메모리(245)에 저장한다.
드라이버 IC(240)는, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 상기 액츄에이터의 구동량을, 메모리(245)에 저장되는 보정 계수를 이용하여 보정한다. 더 구체적으로는, 드라이버 IC(240)는, 예정된 구동량(X축의 성분, Y축의 성분)에 대해 보정 계수를 곱한 값을 가산 또는 감산함으로써, 이 구동량을 액츄에이터(140)의 축 방향으로 변환한다.
(b3. 보정 계수를 산출하는 제어 플로우)
도 5는, 실시형태 1에 따른 AP(215)가 보정 계수를 산출하는 제어 흐름을 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 5에 나타내는 스텝 S520∼560에 있어서 실행되는 처리는, AP(215)가 검사용 F/W(295)를 실행함으로써 실현된다. 다른 국면에 있어서, 처리의 일부 또는 전부가, 회로 소자와 그 외의 하드웨어에 의해 실행되어도 된다.
스텝 S510에 있어서, 정보처리단말(100)은, 테스트 호스트(280)로부터, 검사용 F/W(295)를 다운로드 하여, 메모리(217)에 저장한다. AP(215)는, 메모리(217)로부터 검사용 F/W(295)를 판독하여 실행한다.
스텝 S520에 있어서, AP(215)는, I/F(220), I/F(250)를 통해 화상을 촬영하는 취지의 지시를 이미지 센서(225)에 대해 출력한다. 이에 의해, 이미지 센서(225)는, 자이로 센서(115)의 축 방향을 특정 가능하게 구성되는 차트(275)를 포함하는 화상 데이터를 생성한다. 이미지 센서(225)는, 생성한 화상 데이터를 ISP(210)에 출력한다. ISP(210)는, 해당 화상 데이터에 대해 소정의 화상 처리를 행하고, 화상 처리 후의 화상 데이터를 화상 메모리(205)에 저장한다.
스텝 S530에 있어서, AP(215)는, 화상 메모리(205)에 저장되는 화상 데이터에 대해 에지 처리를 행하고, 차트(275)를 검출한다. AP(215)는 또한, 검출한 차트(275)로부터 2개의 대표점의 좌표를 특정한다.
스텝 S540에 있어서, AP(215)는, 특정한 2점의 좌표에 근거하여, 차트(275)의 기울기 각도(θ1)(축 어긋남 각도(θ1))를 산출한다.
스텝 S550에 있어서, AP(215)는, 메모리(217)에 저장되는 룩업 테이블(219)을 참조하여, 축 어긋남 각도(θ1)에 대응하는 보정 계수 sinθ1, cosθ1을 결정한다. 이 보정 계수는, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 교정하기 위한 값이다. 룩업 테이블(219)은, 도 5에 나타내는 바와 같이, 각도와, 해당 각도에 대응하는 사인함수 값과, 코사인함수 값을 서로 관련지어 보유한다.
또한, 다른 국면에 있어서, AP(215)는, 룩업 테이블(219)을 이용하지 않고, 기지의 삼각함수를 계산하기 위한 애플리케이션에 의해, 축 어긋남 각도(θ1)에 대응하는 보정 계수 sinθ1, cosθ1을 산출하는 구성이어도 된다.
스텝 S560에 있어서, AP(215)는, 특정한 보정 계수를 카메라 모듈(120)에 출력한다. 카메라 모듈(120)은, 입력된 보정 계수를 메모리(245)에 저장한다.
(b4. 상 흔들림을 보정하는 제어 플로우)
도 6은, 드라이버 IC(240)가 상 흔들림을 보정하기 위한 제어 흐름을 설명하는 도면이다. 도 6을 참조하여, 드라이버 IC(240)는, 감산기(605, 640, 655)와, 오프셋(610, 660)과, 하이 패스 필터(HPF : High Pass Filter)(615, 665)와, 적분부(620, 670)와, 감도 조정부(625, 675)와, cos 승산기(multiplier)(630, 685)와, sin 승산기(635, 680)와, 가산기(690)를 포함한다.
감산기(605)는, 자이로 센서(115)가 출력하는 X축 방향 둘레의 각속도를 나타내는 전압 값에서, 오프셋(610)이 출력하는 오프셋 전압을 뺀다. 오프셋(610)(및 오프셋(660))의 출력은, 정지 상태에 있어서의 자이로 센서(115)의 출력에 대응하는 것으로서, 제조 단계에 있어서 미리 설정된다. 또한, 다른 국면에 있어서, 오프셋(610)의 출력은, 온도에 따라 가변될 수 있다. 오프셋(610) 및 감산기(605)의 작용에 의해, 후술하는 HPF(615)에 있어서의 DC 오프셋 성분 제거에 필요한 시간(수렴 시간)이 단축될 수 있다.
다음으로, HPF(615)는, 감산기(605)가 출력하는 신호로부터, 기준 전압에 대한 DC 오프셋 성분을 제거한다. 적분부(620)는, HPF(615)로부터 입력되는 신호를 적분한다. 감도 조정부(625)는, 적분부(620)가 출력하는 신호의 증폭 처리를 행한다. 감도 조정부(625)는, 증폭된 신호를 cos 승산기(630)와 sin 승산기(635)에 출력한다.
자이로 센서(115)가 출력하는 Y축 방향 둘레의 각속도에 대해서도, 상기와 동일한 처리를 행한다. 그 때문에, 감산기(655), 오프셋(660), HPF(665), 적분부(670), 및 감도 조정부(675)가 실행하는 처리의 설명은, 반복되지 않는다.
cos 승산기(630)는, 감도 조정부(625)의 출력에 대해 메모리(245)에 저장되는 보정 계수 cosθ1을 곱해서 얻어진 값을 감산기(640)에 출력한다. sin 승산기(635)는, 감도 조정부(625)의 출력에 대해 보정 계수 sinθ1을 곱해서 얻어진 값을 가산기(690)에 출력한다.
sin 승산기(680)는, 감도 조정부(675)의 출력에 대해 보정 계수 sinθ1을 곱해서 얻어진 값을 감산기(640)에 출력한다. cos 승산기(685)는, 감도 조정부(675)의 출력에 대해 보정 계수 cosθ1을 곱해서 얻어진 값을 가산기(690)에 출력한다.
감산기(640)는, cos 승산기(630)의 출력에서 sin 승산기(680)의 출력을 뺀 값을 액츄에이터(140X)에 출력한다. 가산기(690)는, sin 승산기(635)의 출력과, cos 승산기(685)의 출력을 모두 더한 값을 액츄에이터(140Y)에 출력한다.
상기에 따르면, 검사 시스템(200)에 의해 보정 계수가 설정된 카메라 모듈(120)은, 카메라 모듈(120) 바깥의 자이로 센서(115)를 이용하여 상 흔들림 보정을 정확하게 행할 수 있다. 그 때문에, 검사 시스템(200)에 따른 검사 방법(검사용 F/W(295))은, 정보처리단말(100)의 부품 점수를 삭감할 수 있어, 정보처리단말(100)의 소형화, 경량화, 생산 코스트의 저감을 실현할 수 있다.
또한, 검사 시스템(200)에 따른 검사 방법은, 종래 행해지고 있던 가진(加振)에 의한 자이로 센서(115)의 감도 조정 공정을 생략할 수 있다. 그 때문에, 이 검사 방법은, 가진 장치를 필수로 하지 않아, 저 코스트로 액츄에이터의 구동량을 교정할 수 있다.
덧붙여, 해당 방법은, 룩업 테이블을 참조하여 정확한 삼각함수 값에 근거한 교정을 실행할 수 있다. 그 때문에, 해당 방법은, 정밀하게 상 흔들림을 보정할 수 있다.
도 7은, 실시형태 1에 따른 상 흔들림 보정의 정도를 설명하는 도면이다. 도 7의 횡축은 가진 정도(각도)를 나타내며, 종축은 흔들림량을 나타낸다. 가진 각도란, 이미지 센서(225)가 광량을 받아들이는 시간(셔터 시간)에 있어서 정보처리단말(100)이 경사지는 각도를 나타낸다. 또한, 도 7에 있어서, 자이로 센서(115)의 축과 액츄에이터(140)의 축의 축 어긋남 각도(θ1)가 3도로 한다. 흔들림량이란, 흔들림에 의한 피사체의 퍼짐 정도(pixel)를 나타낸다.
도 7에 나타내는 바와 같이, 실시형태 1에 따른 상 흔들림 보정 방법(도 6에 나타내는 제어)은, 흔들림 보정이 없는 경우에 비해, 흔들림량을 저감할 수 있다. 예를 들면, 0.7도의 가진인 경우, 흔들림량이 1.5pixel에서 1.0pixel 미만으로 저감된다.
(b4. 변형예-그 1)
상기 예에 있어서, AP(215)는, 룩업 테이블(219)을 참조하여 축 어긋남 각도(θ1)에 대응하는 보정 계수를 결정하는 구성이었다. 그러나, 룩업 테이블(219)은, 데이터 용량이 커, 정보처리단말(100)의 메모리(217)에서 차지하는 비율이 커질 수 있다. 한편, 삼각함수의 연산에 의해 보정 계수를 결정하는 경우는, 고성능인 연산용 엔진(AP(215)의 처리 능력)이 필요해질 수 있다. 그래서, 변형예에 따른 AP(215)는, 축 어긋남 각도(θ1)로부터 보정 계수 sinθ1과 cosθ1을 직선 근사에 의해 산출한다.
도 8은, 축 어긋남 각도(θ1)와, 흔들림량의 관계를 설명하는 도면이다. 또한, 도 8에 있어서, 가진 각도가 1.5도로 한다. 분포(810)는, 축 어긋남 각도(θ1)에 대한 Y방향에 따른 흔들림량을 나타낸다. 분포(820)는, 축 어긋남 각도(θ1)에 대한 X방향에 따른 흔들림량을 나타낸다. 직선(830)은, 분포(810)를 직선 근사한 선이다. 직선(840)은, 분포(820)를 직선 근사한 선이다.
도 8에 나타내는 바와 같이, 축 어긋남 각도(θ1)가 3도 미만인 영역(850)에 있어서는, 분포(810)와 직선(830)의 오차, 및 분포(820)와 직선(840)의 오차는 거의 없다. 그리고, 정보처리단말(100)에 대한 카메라 모듈(120)의 설치에 의해 생기는 축 어긋남 각도(θ1)도, 대부분의 경우 3도 미만이다.
따라서, 변형예에 따른 정보처리단말은, 미소 각(예를 들면, 3도 미만)에 있어서의 사인함수 값의 직선 근사식과, 코사인함수 값의 직선 근사식을 메모리(217)에 저장한다. 변형예에 따른 AP(215)(검사용 F/W(295))는, 축 어긋남 각도(θ1)를 검출한 후, 이들 직선 근사식에 따라, 보정 계수 sinθ1과, cosθ1을 산출한다.
상기에 의하면, 변형예에 따른 검사 방법은, 룩업 테이블(219)을 필요로 하지 않아도, 간이하게 보정 계수를 산출할 수 있다. 그 때문에, 변형예에 따른 검사 방법은, 실시형태 1에 따른 검사 방법에 비해, 정보처리단말(100)의 생산 코스트를 더 저감할 수 있다.
(b5. 변형예-그 2)
상기 예에 있어서, 차트(275)는, 자이로 센서(115)의 축을 특정하는 십자형이었지만, 차트(275)의 형태는 십자로 한정되지 않는다. 차트(275)는, 자이로 센서(115)의 축과, 액츄에이터(140)의 축과의 축 어긋남 각도(θ1)를 특정할 수 있는 형상이면 된다.
도 9는, 변형예에 따른 차트(275A)를 설명하는 도면이다. 도 10은, 변형예에 따른 차트(275B)를 설명하는 도면이다. 도 9에 나타내는 바와 같이, 원을 복수 조합하여 구성되는 차트(275A)에 의해서도, 축 어긋남 각도(θ1)는 특정될 수 있다. 또한, 도 10에 나타내는 바와 같이, 자이로 센서(115)의 어느 한쪽 축 방향을 특정하는 직사각형에 의해 구성되는 차트(275B)에 의해서도, 축 어긋남 각도(θ1)는 특정될 수 있다.
(b6. 변형예-그 3)
상기 예에 있어서, 정보처리단말(100)은 지그(260)에 고정되는 구성이었다. 다른 국면에 있어서, 검사 시스템은, 정보처리단말(100)을 촬영하는 카메라를 더 구비한다. AP(215)는, 화상 처리에 의해 정보처리단말(100)의 외경선(外徑線)을 특정하고, 정보처리단말(100)의 장축(즉, X축) 및 단축(즉, Y축)을 특정한다. 이에 의해, 모니터(270)에, X축 방향, Y축 방향으로 연재하는 차트(275)를 표시할 수 있다. 이 경우, 검사 시스템은, 정보처리단말(100)을 예정된 자세로 고정하기 위한 지그(260)를 필요로 하지 않는다.
(b7. 변형예-그 4)
상기 예에 있어서, 차트(275)는 모니터(270)에 표시되는 구성이었다. 다른 국면에 있어서, 차트(275)는, 모니터(270)가 아니라, 기록 매체(용지 등)에 형성되어 있어도 된다.
[C. 실시형태 2]
(c1. 액츄에이터(140)와 이미지 센서(225)의 축 어긋남)
도 11은, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축의 어긋남에 대해서 설명하는 도면이다. 이미지 센서(225)의 축은, 이미지 센서(225)를 구성하는 복수의 광전변환소자가 배열되는 방향이다.
실시형태 1에서는, 액츄에이터(140)의 축(AX, AY)과 이미지 센서(225)의 축(IX, IY)이 일치하는 것으로 하고 있었다. 그러나, 카메라 모듈(120)의 제조시에 있어서의 액츄에이터(140), 이미지 센서(225)의 설치 정밀도에 따라서는, 이들 축이 어긋나는 일도 있을 수 있다.
실시형태 1에 따른 액츄에이터(140)의 구동량의 보정 방법은, 자이로 센서(115)의 출력을 이미지 센서(225)의 축 방향으로 변환한다. 그 때문에, 이 방법은, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축이 어긋나 있던 경우, 상 흔들림 보정을 정확하게 행할 수 없다.
그래서, 실시형태 2에 따른 검사 방법은, 액츄에이터(140)의 축과, 이미지 센서(225)의 축의 축 어긋남 각도(θ2)를 고려하여, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정한다.
또한, 실시형태 2에 따른 검사 시스템의 구성은, 실시형태 1에 따른 검사 시스템(200)의 구성과 동일하다. 따라서, 검사 시스템의 구성의 상세한 설명은 반복되지 않는다.
도 12a 및 도 12b는, 액츄에이터(140)의 축과, 이미지 센서(225)의 축의 축 어긋남 각도(θ2)를 특정하기 위한 방법을 설명하는 도면이다. 도 12a는, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축이 일치해 있는 것을 나타내는 도면이다. 도 12b는, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축이 어긋나 있는 것을 나타내는 도면이다.
도 12a 및 도 12b에 있어서, 드라이버 IC(240)는, 이미지 센서(225)가 차트(275)를 촬영하여 제1 화상을 생성한 후에, 렌즈(230)를 액츄에이터(140)의 축 AX방향으로 이동시킨다. 그 후, 이미지 센서(225)는, 차트(275)를 다시 촬영하여 제2 화상을 생성한다.
도 12a 및 도 12b에 있어서, 차트(1210)는 제1 화상에 있어서의 차트(275)에 대응하며, 차트(1220)는 제2 화상에 있어서의 차트(275)에 대응하는 것으로 한다.
도 12a를 참조하여, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축이 일치해 있는 경우, 렌즈(230)를 AX방향으로 이동시키는 전후의 차트(1210) 및 차트(1220)의 IY방향에 따른 위치는 일치한다. 한편, 도 12b를 참조하여, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축이 어긋나 있는 경우, 차트(1210) 및 차트(1220)의 IY방향에 따른 위치가 어긋난다.
실시형태 2에 따른 AP(215)(검사용 F/W)는, 차트(275)에 있어서의 대표점(Pos)의 좌표의 변화량에 근거하여, 액츄에이터(140)의 축과 이미지 센서(225)의 축의 축 어긋남 각도(θ2)를 특정할 수 있다. 일례로서, 대표점(Pos)은, X축으로 연재하는 직선과 Y축으로 연재하는 직선의 교점으로 한다.
AP(215)는, 제1 화상에 포함되는 차트(1210)의 대표점(Pos)의 좌표(N, M)를 특정한다. 다음으로, AP(215)는, 제2 화상에 포함되는 차트(1220)의 대표점(Pos)의 좌표(N+γ, M+ω)를 특정한다. AP(215)는 또한, 이들 좌표의 차분 정보(γ, ω)를 특정하고, 이 차분 정보에 근거하여, 축 어긋남 각도(θ2)를 산출한다. 더 구체적으로는, AP(215)는, atan(ω/γ)를 계산하여, 축 어긋남 각도(θ2)를 산출한다.
(c2. 보정 계수를 산출하는 제어 플로우)
도 13은, 실시형태 2에 따른 AP(215)가 보정 계수를 산출하는 제어 흐름을 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 13에 나타내는 스텝 S1320∼1390에 있어서 실행되는 처리는, AP(215)가 실시형태 2에 따른 검사용 F/W를 실행함으로써 실현된다. 다른 국면에 있어서, 처리의 일부 또는 전부가, 회로 소자와 그 외의 하드웨어에 의해 실행되어도 된다. 또한, AP(215)는, 도 5의 스텝 S510∼스텝 S550의 처리를 실행함으로써, 자이로 센서(115)의 축과, 액츄에이터(140)의 축의 축 어긋남 각도(θ1)를 이미 파악하고 있는 것으로 한다.
스텝 S1310에 있어서, AP(215)는, 테스트 호스트(280)로부터, 실시형태 2에 따른 검사용 F/W를 다운로드 하여 메모리(217)에 저장한다. AP(215)는, 메모리(217)로부터 검사용 F/W를 판독하여 실행한다.
스텝 S1320에 있어서, AP(215)는, I/F(220), I/F(250)를 통해 이미지 센서(225)에 대해서 화상을 촬영하는 취지의 지시를 출력한다. 이에 의해, 이미지 센서(225)는, 차트(275)를 촬영하여 제1 화상을 생성한다. 제1 화상은, ISP(210)에 의해 소정의 화상 처리가 행해진 후에, 화상 메모리(205)에 저장된다.
스텝 S1330에 있어서, AP(215)는, 제1 화상에 대해 에지 처리를 행하여 차트(1210)를 특정한다. AP(215)는 또한, 차트(1210)에 있어서의 대표점(Pos)의 좌표(N, M)를 특정하고, 메모리(217) 또는 RAM(도시하지 않음)에 기억한다.
스텝 S1340에 있어서, AP(215)는, I/F(220), I/F(250)를 통해 렌즈(230)를 움직이는 취지의 지시를 드라이버 IC(240)에 출력한다. 이에 의해 드라이버 IC(240)는, 액츄에이터(140X 또는 140Y)에 의해, 렌즈(230)를 AX축 방향 또는 AY축 방향으로 이동시킨다.
스텝 S1350에 있어서, AP(215)는, 이미지 센서(225)에 대해 화상을 촬영하는 취지의 지시를 출력한다. 이에 의해, 이미지 센서(225)는, 차트(275)를 촬영하여 제2 화상을 생성한다. 제2 화상은, 화상 메모리(205)에 저장된다.
스텝 S1360에 있어서, AP(215)는, 스텝 S1330과 동일하게 하여, 제2 화상에 포함되는 차트(1220)의 대표점(Pos)의 좌표(N+γ, M+ω)를 특정하고, 특정한 좌표를 나타내는 데이터를 메모리(217) 또는 RAM(도시하지 않음)에 기억한다.
스텝 S1370에 있어서, AP(215)는, 제1 화상에 있어서의 대표점(Pos)의 좌표(N, M)와, 제2 화상에 있어서의 대표점(Pos)의 좌표(N+γ, M+ω)에 근거하여, 차분 정보(γ, ω)를 특정한다. AP(215)는 또한, 차분 정보에 근거하여, 축 어긋남 각도(θ2)를 산출한다.
스텝 S1380에 있어서, AP(215)는, 축 어긋남 각도(θ2)와, 이미 특정한 축 어긋남 각도(θ1)에 근거하여, 보정 계수를 특정한다. 더 구체적으로는, AP(215)는, 자이로 센서(115)의 축에 대해 이미지 센서(225)의 축이 어긋나는 방향(회전 방향)과, 이미지 센서(225)의 축에 대해 액츄에이터(140)의 축이 어긋나는 방향이 동일한지 아닌지를 판단한다. AP(215)는, 이들 축이 어긋나는 방향이 동일하다고 판단한 경우, 각도(θ1+θ2)에 대응하는 보정 계수를 룩업 테이블(219)로부터 특정한다. 한편, AP(215)는, 이들 축이 어긋나는 방향이 다르다고 판단한 경우, 각도(θ1-θ2)에 대응하는 보정 계수를 룩업 테이블(219)로부터 특정한다.
스텝 S1390에 있어서, AP(215)는, 특정한 보정 계수를 카메라 모듈(120)에 출력한다. 카메라 모듈(120)은, 입력된 보정 계수를 메모리(245)에 저장한다.
상기에 의하면, 실시형태 2에 따른 검사 방법은, 액츄에이터(140)의 축과, 이미지 센서(225)의 축의 축 어긋남도 고려하여, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 교정할 수 있다. 그 때문에, 실시형태 2에 따른 검사 방법은, 실시형태 1에 따른 검사 방법에 비해, 더 정밀하게 상 흔들림을 보정할 수 있다.
[D. 실시형태 3]
상기 실시형태에 따른 검사 방법은, 차트를 촬영한 화상에 근거하여, 축 어긋남 각도(θ1)(및 θ2)를 산출하고, 이 축 어긋남 각도에 근거하여 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하기 위한 보정 계수를 결정하는 구성이었다. 실시형태 3에 따른 검사 방법은, 정보처리단말(100)을 가진하고, 그때에 얻어지는 자이로 센서(115)의 출력(가진 정보)에 근거하여, 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하기 위한 보정 계수를 결정한다.
(d1. 검사 시스템(1400))
도 14는, 실시형태 3에 따른 검사 시스템(1400)의 구성예를 설명하는 도면이다. 또한, 도 2와 동일 부호를 붙이고 있는 부분에 대해서는 동일하기 때문에, 그 부분에 대한 설명은 반복되지 않는다.
검사 시스템(1400)은, 가진 장치(1410)를 구비하는 점, 검사용 F/W(295) 대신에 검사용 F/W(1420)가 메모리(290)에 저장되어 있는 점, 및 모니터(270)를 구비하지 않는 점에 있어서, 도 2에서 설명한 검사 시스템(200)과는 상이하다.
(d2. 자이로 센서(115)와 액츄에이터(140)의 축 어긋남)
도 15는, 실시형태 3에 따른 축 어긋남 각도의 검출 방법에 대해 설명하는 도면이다. 도 15의 횡축은 시간을, 종축은 자이로 센서(115)의 출력(전압을 A/D 변환한 값)을 나타내고 있다. 도 15의 예에 있어서, 가진대(vibration table)(1410)를 사용하여, 정보처리단말(100)을 액츄에이터(140)의 AX축 둘레(요(yaw) 방향)로 1도(degree)만큼 가진한 경우의 자이로 센서(115)의 출력을 나타낸다.
곡선(1510)은, X축(요 방향)에 따른 자이로 센서(115)의 출력을 나타낸다. 곡선(1520)은, Y축(피치(pitch) 방향)에 따른 자이로 센서(115)의 출력을 나타낸다. 곡선(1530)은, 곡선(1520)에 대해 필터 처리(예를 들면, 평활화 처리)를 행한 데이터를 나타낸다. 자이로 센서(115)의 X축 방향은, 액츄에이터(140)의 AX축 방향과 거의 동일 방향으로 연재한다.
자이로 센서(115)의 축(X, Y)과, 액츄에이터(140)의 축(AX, AY)이 어긋나 있는 경우, 요 방향의 가진에 대해, X축에 따른 자이로 센서(115)의 출력이 감소한다. 또한, Y축에 따른 자이로 센서(115)의 출력이 발생한다.
실시형태 4에 따른 검사 방법은, 상기 성질을 이용하여 자이로 센서(115)의 축과 액츄에이터(140)의 축의 축 어긋남 각도(θ1)를 산출한다. 더 구체적으로는, AP(215)는, 곡선(1510)의 진폭(1540)과, 곡선(1530)의 진폭(1550)을 산출한다. 다음으로, AP(215)는, 진폭(1540)에 대한 진폭(1550)의 비율을 산출한다. 다음으로, AP(215)는 산출한 비율의 atan을 계산하여, 축 어긋남 각도(θ1)를 산출한다.
(d3. 보정 계수를 산출하는 제어 플로우)
도 16은, 실시형태 3에 따른 AP(215)가 보정 계수를 산출하는 제어 흐름을 설명하기 위한 플로우 차트이다.
스텝 S1610에 있어서, AP(215)는, 테스트 호스트(280)로부터, 검사용 F/W(1420)를 다운로드 하여 메모리(217)에 저장한다. AP(215)는, 메모리(217)로부터 검사용 F/W를 판독하여 실행한다.
스텝 S1620에 있어서, 가진 장치(1410)에 고정된 정보처리단말(100)은, 액츄에이터(140)의 AX축 방향으로 가진된다. 또한, 다른 국면에 있어서, 정보처리단말(100)은, 액츄에이터(140)의 AY축 방향으로 가진되어도 된다.
스텝 S1630에 있어서, AP(215)는, 자이로 센서(115)를 인에이블(enable)로 하여, 자이로 센서(115)의 출력(가진 정보)을 취득한다. 스텝 S1640에 있어서, AP(215)는, 가진 정보에 대해 필터 처리(예를 들면, 평활화 처리)를 실시한다.
스텝 S1650에 있어서, AP(215)는, 필터 처리 후의 가진 정보에 근거하여, 진폭을 산출한다. 더 구체적으로는, AP(215)는, X축에 따른 가진 정보의 진폭과, Y축에 따른 가진 정보의 진폭을 산출한다.
스텝 S1660에 있어서, AP(215)는, 스텝 S1650에서 산출한 X축에 따른 가진 정보의 진폭과, Y축에 따른 가진 정보의 진폭의 비율에 근거하여, 축 어긋남 각도(θ1)를 산출한다.
스텝 S1670에 있어서, AP(215)는, 메모리(217)에 저장되는 룩업 테이블(219)을 참조하여, 축 어긋남 각도(θ1)에 대응하는 보정 계수 sinθ1, cosθ1을 특정한다. 이 보정 계수는, 자이로 센서(115)의 출력에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 교정하기 위한 값이다.
스텝 S1680에 있어서, AP(215)는, 특정한 보정 계수를 카메라 모듈(120)에 출력한다. 카메라 모듈(120)은, 입력된 보정 계수를 메모리(245)에 저장한다.
상기에 의하면, 검사 시스템(1400)에 따른 검사 방법은, 가진 장치를 이용하여, 자이로 센서와 액츄에이터의 축 어긋남 각도를 산출할 수 있다. 일반적으로, 가진 장치는, 자이로 센서의 감도 조정을 행하기 위해서 이용되고 있다. 그 때문에, 이 검사 방법은, 새로운 설비 투자를 필요로 하지 않고, 기존 설비를 이용하여, 카메라 모듈(120) 바깥의 자이로 센서(115)를 이용한 경우에 필요한 액츄에이터(140)의 구동량의 보정(교정)을 행할 수 있다.
이상과 같이, 어느 실시형태에 따르면, 개시된 기술적 특징은, 예를 들면, 이하와 같이 요약될 수 있다.
[구성]
(구성 1)
어느 실시형태에 따르면, 정보처리단말(100)에 설치된 카메라 모듈(120)의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터(140)의 구동량을 교정하기 위한 방법이 제공된다. 정보처리단말(100)은, 해당 정보처리단말(100)의 자세 변화를 검지하기 위한 자이로 센서(115)를 포함한다. 이 방법은, 정보처리단말(100)의 예정된 자세를 반영시킨 차트(275)를 이미지 센서(225)로 촬영하여 제1 화상을 생성하는 것(스텝 S520)과, 제1 화상에 있어서의 차트(275)의 기울기(축 어긋남 각도(θ1))를 검출하는 것(스텝 S540)과, 차트(275)의 기울기에 근거하여, 자이로 센서(115)의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것(스텝 S550, S560)을 구비한다.
(구성 2)
(구성 1)에 있어서, 차트(275)는, 자이로 센서(115)의 축 방향(X, Y)을 특정하는 형태이다.
(구성 3)
(구성 1)에 있어서, 차트(275)의 기울기는, 액츄에이터(140)의 축(AX, AY)의, 자이로 센서(115)의 축(X, Y)에 대한 기울기를 나타낸다.
(구성 4)
(구성 1)에 있어서, 카메라 모듈(120)은, 촬상 소자에 의해 구성되는 이미지 센서(225)와, 이미지 센서(225)에 광을 결상(結像)시키기 위한 렌즈(230)를 포함한다. 상기 방법은, 제1 화상을 촬영한 상태로부터 액츄에이터(140)를 렌즈(230) 또는 이미지 센서(225)에 작용시킨 후에, 차트(275)를 이미지 센서(225)로 촬영하여 제2 화상을 생성하는 것(스텝 S1340, 스텝 S1350)과, 제1 화상에 있어서의 차트(275(1210))의 위치와, 제2 화상에 있어서의 차트(275(1220))의 위치의 차분(差分)을 산출하는 것(스텝 S1370)과, 차분에 근거하여, 자이로 센서(115)의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것(스텝 S1380)을 더 구비한다.
(구성 5)
(구성 1)에 있어서, 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것은, 메모리(217)에 저장되는 기울기와 보정 값이 서로 관련 지워진 룩업 테이블(219)을 참조하여, 차트(275)의 기울기에 따른 보정 계수를 특정하는 것과, 특정한 보정 계수에 근거하여, 자이로 센서(115)의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것을 포함한다.
(구성 6)
(구성 1)에 있어서, 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것은, 메모리(217)에 저장되는 기울기와 보정 값의 관계식을 참조하여, 차트(275)의 기울기에 따른 보정 계수를 특정하는 것과, 특정한 보정 계수에 근거하여, 자이로 센서(115)의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것을 포함한다.
(구성 7)
다른 실시형태에 따르면, 정보처리단말(100)에 설치된 카메라 모듈(120)의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터(140)의 구동량을 교정하기 위한 방법이 제공된다. 정보처리단말(100)은, 해당 정보처리단말(100)의 자세 변화를 검지하기 위한 자이로 센서(115)를 포함한다. 카메라 모듈(120)이 설치된 정보처리단말(100)을, 액츄에이터(140)의 AX축 또는 AY축 둘레 방향으로 요동시키는 것(스텝 S1620)과, 정보처리단말(100)을 요동시키고 있는 동안에, 소정의 축과 거의 동일 방향으로 연재하는 X축 방향, 및 X축 방향과 직교하는 Y축 방향에 따른 자이로 센서(115)의 출력의 변화량을 검출하는 것(스텝 S1630)과, X축 방향에 따른 자이로 센서의 출력의 변화량과, Y축 방향에 따른 자이로 센서의 출력의 변화량의 비율에 근거하여, 자이로 센서(115)의 검지 결과에 따라 예정된 액츄에이터(140)의 구동량을 보정하는 것(스텝 S670, S1680)을 구비한다.
본 발명의 실시형태에 대해 설명했지만, 이번 개시된 실시형태는 모든 점에서 예시로서 제한적인 것은 아니라고 생각되어야 한다. 본 발명의 범위는 청구범위에 의해 나타나며, 청구범위와 균등의 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.

Claims (8)

  1. 방법으로서,
    카메라가 설치된 장치의 예정된 자세를 반영시킨 지표를 상기 카메라로 촬영하여 제1 화상을 생성하는 것과,
    상기 제1 화상에 있어서의 상기 지표의 기울기를 검출하는 것과,
    상기 지표의 기울기에 근거하여, 상기 장치의 자세 변화를 검지하는 센서의 검지 결과에 따라 예정된 상기 카메라의 상 흔들림을 보정하기 위한 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 구비하는, 방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 센서는, 자이로 센서를 포함하는, 방법.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 지표는, 상기 자이로 센서의 축 방향을 특정하는 형태인, 방법.
  4. 청구항 2에 있어서,
    상기 지표의 기울기는, 상기 액츄에이터의 축의, 상기 자이로 센서의 축에 대한 기울기를 포함하는, 방법.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 카메라는,
    촬상 소자에 의해 구성되는 이미지 센서와,
    상기 이미지 센서에 광을 결상시키기 위한 렌즈를 포함하고,
    상기 방법은,
    상기 제1 화상을 촬영한 상태로부터 상기 액츄에이터를 상기 렌즈 또는 상기 이미지 센서에 작용시킨 후에, 상기 지표를 상기 카메라로 촬영하여 제2 화상을 생성하는 것과,
    상기 제1 화상에 있어서의 상기 지표의 위치와, 상기 제2 화상에 있어서의 상기 지표의 위치와의 차분을 산출하는 것과,
    상기 차분에 근거하여, 상기 센서의 검지 결과에 따라 예정된 상기 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 더 구비하는, 방법.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것은,
    메모리에 저장되는 기울기와 보정 값이 서로 관련 지워진 룩업 테이블을 참조하여, 상기 지표의 기울기에 따른 보정 계수를 특정하는 것과,
    상기 특정한 보정 계수에 근거하여, 상기 센서의 검지 결과에 따라 예정된 상기 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 포함하는, 방법.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것은,
    메모리에 저장되는 기울기와 보정 값의 관계식을 참조하여, 상기 지표의 기울기에 따른 보정 계수를 특정하는 것과,
    상기 특정한 보정 계수에 근거하여, 상기 센서의 검지 결과에 따라 예정된 상기 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 포함하는, 방법.
  8. 방법으로서,
    카메라가 설치된 장치를, 상기 카메라의 상 흔들림을 보정하도록 구성된 액츄에이터의 소정의 축 둘레 방향으로 요동시키는 것과,
    상기 장치를 요동시키고 있는 동안에, 상기 소정의 축과 거의 동일 방향으로 연재하는 제1 방향, 및 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향에 따른, 상기 장치의 자세 변화를 검지하기 위한 자이로 센서의 출력의 변화량을 검출하는 것과,
    상기 제1 방향에 따른 상기 자이로 센서의 출력의 변화량과, 상기 제2 방향에 따른 상기 자이로 센서의 출력의 변화량과의 비율에 근거하여, 상기 자이로 센서의 검지 결과에 따라 예정된 상기 액츄에이터의 구동량을 보정하는 것을 구비하는, 방법.
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