KR20180074175A - 렌즈 모듈 비전 검사 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 렌즈 모듈 비전 검사 방법에 관한 것으로서, 중앙부에 노출구가 형성된 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 분석대상 이미지를 획득하는 촬영단계와, 상기 분석대상 이미지에서 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 검출하고, 검출된 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 토대로 상기 렌즈 모듈 외형의 변형 유무를 판별하는 변형 판별단계를 포함한다.
본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법은 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 획득한 분석대상 이미지를 영상처리하여 렌즈모듈의 외형을 검사하므로 렌즈모듈 검사에 소요되는 시간 및 인력을 절감할 수 있고, 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다는 장점이 있다.
본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법은 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 획득한 분석대상 이미지를 영상처리하여 렌즈모듈의 외형을 검사하므로 렌즈모듈 검사에 소요되는 시간 및 인력을 절감할 수 있고, 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다는 장점이 있다.
Description
본 발명은 렌즈 모듈 비전 검사방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 렌즈 모듈을 촬영한 이미지로부터 렌즈모듈의 외형을 검사하는 렌즈 모듈 비전 검사방법에 관한 것이다.
휴대폰, PDA 등과 같은 휴대용 단말기는 단말기 본연의 기능 뿐만 아니라, 영화감상, 사진촬영등의 부가적인 기능들이 추가되는 컨버전스(convergence)가 활발하게 진행되고, 이러한 멀티 컨버전스로의 전개를 이끌어 가는 것 중의 하나로서 휴대 단말기에 장착되는 카메라 렌즈모듈이 가장 대표적이라 할 수 있다.
그리고, 최근 들어 카메라 렌즈모듈은 해상도가 점차 고화소로 높아질 뿐만 아니라, 오토포커싱(AF), 광학 줌(OPTICAL ZOOM) 등과 같은 다양한 부가 기능이 추가적으로 구현되고 있다.
또한, 일반적으로 휴대용 단말기에 장착되는 카메라 렌즈모듈은 CCD(charge-coupled device)나 CMOS(complementary metal-oxide semiconductor) 등의 이미지센서를 주요 부품으로 하여 COB(Chip On Board) 또는 COF(Chip On Flexibe) 등의 방식으로 제작되고 있으며, 이미지 센서를 통해 사물의 이미지를 집광시켜 기기내의 메모리상에 데이터로 저장하고, 저장된 데이터는 해당 휴대용 단말기의 표시부를 통해 영상으로 디스플레이되도록 구성된다.
한편, 상기와 같은 카메라용 렌즈모듈은 제작과 조립 및 운반 과정에서 떨어뜨림 등에 의한 손상이 발생할 우려가 있는데, 이러한 손상이 발생할 경우, 카메라용 렌즈모듈 특히, 렌즈부의 외관에 흠집이 생기기 되므로 소비자에 의한 불만이 지속적으로 야기되는 실정이다.
따라서, 이와 같은 카메라용 렌즈모듈은 조립 완료 후 이물 검사를 포함하는 검사를 거치게 되는데, 종래에는 작업자가 카메라용 렌즈모듈의 검사를 목시 검사로 수행함에 따라 검사시간이 오래 걸릴 뿐만 아니라, 정확한 검사가 이루어지지 못하는 문제점이 있었다. 한편, 종래에는 검사대상 렌즈모듈을 촬영한 영상을 통해 검사하는 검사장치도 이용되나, 상기 검사장치는 촬영된 영상을 검수자가 육안으로 확인하여 검사하므로 번거럽고, 정확성이 떨어지는 단점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창안된 것으로서, 렌즈 모듈의 상면 이미지를 분석하여 렌즈모듈의 외형을 검사할 수 있는 렌즈 모듈 비전 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법은 중앙부에 노출구가 형성된 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 분석대상 이미지를 획득하는 촬영단계와, 상기 분석대상 이미지에서 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 검출하고, 검출된 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 토대로 상기 렌즈 모듈 외형의 변형 유무를 판별하는 변형 판별단계를 포함한다.
상기 변형 판별단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 전방 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제1가상선, 상기 렌즈 모듈의 후방 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제2가상선, 상기 렌즈 모듈의 좌측 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제3가상선 및 상기 렌즈 모듈의 우측 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제4가상선을 산출하는 직선 산출단계와, 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리 중 상기 제1 내지 제4가상선으로부터 기 설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분을 검출하거나 상기 제1 내지 제4가상선의 기울기를 통해 상기 렌즈 모듈의 불량 여부를 판단하는 이상 검출단계를 포함한다.
상기 직선 산출단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 전방 가장자리에 대응되는 다수의 제1경계점을 검출하고, 상기 렌즈 모듈의 후방 가장자리에 대응되는 다수의 제2경계점을 검출하고, 상기 렌즈 모듈의 좌측 가장자리에 대응되는 다수의 제3경계점을 검출하고, 상기 렌즈 모듈의 우측 가장자리에 대응되는 다수의 제4경계점을 검출하는 제1경계점 검출단계와, 상기 제1 내지 제4경계점들을 기반으로 연장선 산출 알고리즘을 이용하여 상기 제1 내지 제4가상선을 각각 산출하는 제1가상선 산출단계를 포함하는 것이 바람직하다.
한편, 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법은 상기 분석대상 이미지를 토대로 상기 렌즈 모듈의 모서리에 호형으로 모떼기된 모떼기부의 불량 발생 여부를 판별하는 모떼기 판별단계를 더 포함하고, 상기 모떼기 판별단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 모떼기부 가장자리를 따라 곡선 형태로 연장된 가상의 검출곡선을 검출하는 곡선 검출단계와, 상기 직선 산출단계를 통해 산출된 상기 제1 내지 제4가상선의 교차점들 중 상기 검출곡선에 인접된 교차점으로부터 상기 검출곡선까지의 거리인 제1검출반경을 산출하는 제1반경 산출단계와, 상기 제1반경 산출단계를 통해 산출된 제1검출반경과 기설정된 상기 렌즈 모듈의 모떼기부의 반경을 비교하는 비교 단계를 포함한다.
상기 곡선 검출단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 모떼기부 가장자리에 대응되는 다수의 제5경계점을 검출하는 제2경계점 검출단계와, 상기 제5경계점들을 기반으로 연장선 산출 알고리즘을 이용하여 상기 검출곡선을 산출하는 제2가상선 산출단계를 포함할 수도 있다.
한편, 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법은 상기 분석대상 이미지를 토대로 상기 렌즈 모듈의 상면에서 하방으로 갈수록 내경이 감소하도록 형성된 노출구의 상단부 내경 및 하단부 내경을 산출하여 상기 노출구의 동심도를 측정하는 동심도 산출단계를 더 포함하고, 상기 동심도 산출단계는 상기 분석대상 이미지에서 상기 노출구의 상단부 가장자리에 대응되는 다수의 제6경계점과, 상기 노출구의 하단부 가장자리에 대응되는 다수의 제7경계점을 검출하는 제3경계점 검출단계와, 상기 제6경계점들을 따라 원형으로 연장된 제1가상원과, 상기 제7경계점들을 따라 원형으로 연장된 제2가상원을 산출하는 제3가성선 검출단계와, 상기 직선 산출단계를 통해 산출된 상기 제1 내지 제4가상선들을 토대로 상기 렌즈 모듈의 중심점을 산출하는 중심점 산출단계와, 상기 중심점 산출단계를 통해 산출된 중심점으로부터 상기 제1 및 제2가상원까지의 이격 거리인 제2검출반경 및 제3검출반경을 산출하는 제2반경 산출단계를 포함한다.
상기 동심도 산출단계는 상기 제2반경 산출단계를 통해 산출된 제2 및 제3검출반경과 상기 렌즈 모듈의 상하방향 두께 정보를 토대로 상기 노출구의 내측면의 경사도를 산출하는 경사도 산출단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법은 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 상면에 소정의 문양을 갖도록 형성된 패턴부에 대응되는 영역을 제외한 영역이 마스킹된 제1마스크 이미지를 생성하는 제1마스킹 단계와, 상기 분석이미지와 제1마스크 이미지 간의 차영상인 제1차영상을 획득하고, 상기 제1차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 기설정된 기준 값 미만의 픽셀들을 제1색상으로 변환하며, 상기 제1차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 상기 기준값 이상의 픽셀들을 상기 제1색상과 상이한 제2색상으로 변환하는 제1차영상 획득단계와, 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 패턴부에 대응되는 영역이 마스킹된 제2마스트 이미지를 생성하는 제2마스킹 단계와, 상기 분석대상 이미지와 제2마스트 이미지 간의 차영상인 제2차영상을 획득하고, 상기 제2차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 기설정된 기준 값 미만의 픽셀들을 상기 제1색상으로 변환하며, 제2차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 상기 기준값 이상의 픽셀들을 상기 제2색상으로 변환하는 제2차영상 획득단계와, 상기 제1 및 제2차영상을 상호 중첩시켜 중첩이미지를 획득하는 중첩단계와, 상기 중첩단계를 통해 획득된 상기 중첩이미지에는 이물질에 대응되는 부분을 검출하는 흑점 검출단계를 더 포함한다.
본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법은 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 획득한 분석대상 이미지를 영상처리하여 렌즈모듈의 외형을 검사하므로 렌즈모듈 검사에 소요되는 시간 및 인력을 절감할 수 있고, 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다는 장점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법의 외형 검사 대상인 렌즈 모듈의 실제 사진이고,
도 2는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법에 대한 순서도이고,
도 3은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법에 사용되는 분석대상 이미지이고,
도 4는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 변형 판별단계에 대한 순서도이고,
도 5는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 변형 판별단계를 통해 검출된 제1 내지 제4경계점들이 표시된 분석대상 이미지이고,
도 6은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 모떼기 판별단계에 대한 순서도이고,
도 7은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 모떼기 판별단계를 통해 검출된 검출곡선이 표시된 분석대상 이미지이고,
도 8은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 동심도 산출단계에 대한 순서도이고,
도 9는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 동심도 산출단계를 통해 산출된 제1가상원 및 제2가상원이 표시된 분석대상 이미지이고,
도 10은 분석대상인 렌즈모듈에 대한 단면도이고,
도 11은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제1마스킹 단계를 통해 생성된 제1마스크 이미지이고,
도 12는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제1차영상 획득 단계를 통해 생성된 제1차영상의 사진이고,
도 13은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제2마스킹 단계를 통해 생성된 제2마스크 이미지이고,
도 14는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제2차영상 획득 단계를 통해 생성된 제2차영상의 사진이고,
도 15는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 중첩단계를 통해 생성된 중첩이미지이고,
도 16는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 문자 판독단계를 나타내는 분석대상 이미지의 예시이다.
도 2는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법에 대한 순서도이고,
도 3은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법에 사용되는 분석대상 이미지이고,
도 4는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 변형 판별단계에 대한 순서도이고,
도 5는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 변형 판별단계를 통해 검출된 제1 내지 제4경계점들이 표시된 분석대상 이미지이고,
도 6은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 모떼기 판별단계에 대한 순서도이고,
도 7은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 모떼기 판별단계를 통해 검출된 검출곡선이 표시된 분석대상 이미지이고,
도 8은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 동심도 산출단계에 대한 순서도이고,
도 9는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 동심도 산출단계를 통해 산출된 제1가상원 및 제2가상원이 표시된 분석대상 이미지이고,
도 10은 분석대상인 렌즈모듈에 대한 단면도이고,
도 11은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제1마스킹 단계를 통해 생성된 제1마스크 이미지이고,
도 12는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제1차영상 획득 단계를 통해 생성된 제1차영상의 사진이고,
도 13은 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제2마스킹 단계를 통해 생성된 제2마스크 이미지이고,
도 14는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 제2차영상 획득 단계를 통해 생성된 제2차영상의 사진이고,
도 15는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 중첩단계를 통해 생성된 중첩이미지이고,
도 16는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법의 문자 판독단계를 나타내는 분석대상 이미지의 예시이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 렌즈모듈 비전 검사 방법에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
도 1에는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법의 외형 검사 대상인 렌즈 모듈의 실제 사진이 게제되어 있고, 도 2에는 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법에 따른 순서도가 도시되어 있다.
상기 렌즈 모듈은 카메라용 렌즈가 조립된 렌즈 조립체로서, 중앙부에 노출구(11)가 형성되고, 상면 모서리에 각각 호형으로 모떼기된 모떼기부(12)가 형성되어 있다. 또한, 렌즈모듈(10)은 노출구(11)의 인접된 상면에 소정의 문양을 갖는 패턴이 형성되어 있으며, 패턴 중에는 문자 형상을 갖는 문자 패턴도 포함된다. 또한, 노출구(11)는 상기 렌즈 모듈의 상면에서 하방으로 갈수록 내경이 감소하도록 테이퍼지게 형성되어 있다.
도 2를 참조하여, 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사방법을 보다 상세히 설명하면 다음과 같다. 상기 렌즈 모듈 비전 검사방법은 촬영단계(S110), 변형 판별단계(S120), 모떼기 판별단계(S130), 동심도 산출단계(S140), 이물 검사 단계(S150) 및 문자 판독단계(S160)를 포함한다.
촬영단계(S110)는 중앙부에 상하방향으로 관통된 노출구(11)가 형성된 렌즈모듈(10)의 상면을 촬영하여 분석대상 이미지를 획득하는 단계이다. 작업자는 작업대의 상면에 렌즈모듈(10)을 안착시킨 다음, 카메라를 통해 렌즈모듈(10)의 상면을 촬영한다. 이때, 카메라는 분석대상 이미지가 모노톤으로 출력되도록 모노 카메라가 적용되는 것이 바람직하다. 도 3에는 실제로 촬영된 분석대상 이미지에 대한 예시가 게제되어 있다.
변형 판별단계(S120)는 상기 분석대상 이미지에서 상기 렌즈모듈(10)의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 검출하고, 검출된 상기 렌즈모듈(10)의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 토대로 상기 렌즈모듈(10) 외형의 변형 유무를 판별하는 단계이다. 도 4에는 상기 변형 판별단계(S120)에 대한 순서도가 도시되어 있다.
도면을 참조하면, 상기 변형 판별단계(S120)는 직선 산출단계 및 이상 검출단계(S123)를 포함한다.
직선 산출단계는 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈모듈(10)의 전방 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제1가상선, 상기 렌즈모듈(10)의 후방 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제2가상선, 상기 렌즈모듈(10)의 좌측 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제3가상선 및 상기 렌즈모듈(10)의 우측 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제4가상선을 산출하는 단계로서, 제1경계점 검출단계(S121) 및 제1가상선 산출단계(S122)를 포함한다.
제1경계점 검출단계(S121)는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈모듈(10)의 전방 가장자리에 대응되는 다수의 제1경계점을 검출하고, 상기 렌즈모듈(10)의 후방 가장자리에 대응되는 다수의 제2경계점을 검출하고, 상기 렌즈모듈(10)의 좌측 가장자리에 대응되는 다수의 제3경계점을 검출하고, 상기 렌즈모듈(10)의 우측 가장자리에 대응되는 다수의 제4경계점을 검출하는 단계이다.
이때, 분석대상 이미지에서, 렌즈모듈(10)의 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중, 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀을 상기 제1 내지 제4경계점으로 검출한다.
즉, 렌즈모듈(10)의 전방 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀들을 제1경계점들로 검출하고, 렌즈모듈(10)의 후방 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀들을 제2경계점들로 검출한다. 또한, 렌즈모듈(10)의 좌측 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀들을 제3경계점들로 검출하고, 렌즈모듈(10)의 후방 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀들을 제4경계점들로 검출한다. 도 5에는 검출된 제1 내지 제4경계점들이 표시된 분석대상 이미지가 게제되어 있다.
제1가상선 산출단계(S122)는 상기 제1 내지 제4경계점들을 기반으로 연장선 산출 알고리즘을 이용하여 상기 제1 내지 제4가상선을 각각 산출하는 단계이다. 제1경계점들을 기반으로 제1가상선을 산출하고, 제2경계점들을 기반으로 제2가상선을 산출하며, 제3경계점들을 기반으로 제3가상선을 산출하고, 제4경계점들을 기반으로 제4가상선을 산출한다.
이때, 가상선 산출에 사용되는 상기 연장선 산출 알고리즘은 허프 변환(Hough Transform) 알고리즘, 최소자승법, RANSAC(RANdom SAmple Consensus) 중 어느 하나가 적용되며, 바람직하게는 RANSAC 알고리즘이 적용된다.
이상 검출단계(S123)는 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리 중 상기 제1 내지 제4가장선으로부터 기 설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분을 검출하는 단계이다. 제1경계점들 중 제1가상선으로부터 기설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분, 제2경계점들 중 제2가상선으로부터 기설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분, 제3경계점들 중 제3가상선으로부터 기설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분 및 제4경계점들 중 제4가상선으로부터 기설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분을 검출한다. 이때, 검출된 부분은 불량 부위로 판별되어 분석대상 이미지에 표시하여 모니터와 같은 디스플레이장치(미도시)를 통해 작업자에게 출력한다.
또한, 이상 검출단계(S123)에서, 상기 제1 내지 제4가상선의 기울기를 통해 상기 렌즈 모듈의 불량 여부를 판단한다. 정상적인 렌즈모듈(10)은 사각형의 단면을 갖도록 형성되며, 렌즈모듈(10)의 가장자리들 중 상호 마주보는 가장자리들은 평행하게 형성된다. 따라서, 제1 내지 제4가상선들의 기울기를 산출하고, 제1 내지 제4가상선 중 상호 마주보는 가상선들의 평행여부를 판별하여 렌즈모듈(10)의 외형에 불량 발생 여부를 판단한다. 즉, 제1 내지 제4가상선들 중 상호 마주보는 가상선들이 평행하지 않을 경우, 렌즈모듈(10)이 뒤틀리게 제조된 것이므로서, 상기 렌즈모듈(10)은 불량으로 판별된다.
모떼기 판별단계(S130)는 상기 분석대상 이미지를 토대로 상기 렌즈 모듈의 모서리에 호형으로 모떼기된 모떼기부(12)의 불량 발생 여부를 판별하는 단계이다. 도 6에는 상기 모떼기 판별단계(S130)의 순서도가 도시되어 있다. 도면을 참조하면, 모떼기 판별단계(S130)는 곡선 검출단계, 제1반경 산출단계(S133) 및 비교 단계(S134)를 포함한다.
곡선 검출단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 모떼기부(12) 가장자리를 따라 곡선 형태로 연장된 가상의 검출곡선을 검출하는 단계로서, 제2경계점 검출단계(S131) 및 제2가상선 산출단계(S132)를 포함한다.
제2경계점 검출단계(S131)는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 모떼기부(12) 가장자리에 대응되는 다수의 제5경계점을 검출하는 단계이다.
이때, 분석대상 이미지에서, 렌즈모듈(10)의 모떼기부(12) 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀을 상기 제5경계점들로 검출한다.
제2가상선 산출단계(S132)는 상기 제5경계점들을 기반으로 연장선 산출 알고리즘을 이용하여 상기 검출곡선을 산출하는 단계이다. 이때, 가상선 산출에 사용되는 상기 연장선 산출 알고리즘은 허프 변환(Hough Transform) 알고리즘, 최소자승법, RANSAC(RANdom SAmple Consensus) 중 어느 하나가 적용되며, 바람직하게는 RANSAC 알고리즘이 적용된다. 도 7에는 검출곡선이 표시된 분석대상 이미지가 게제되어 있다.
제1반경 산출단계(S133)는 곡선 검출단계를 통해 산출된 검출곡선의 곡률 반경을 산출하는 단계이다. 먼저, 상기 직선 산출단계를 통해 산출된 상기 제1 내지 제4가상선의 교차점들을 산출하고, 상기 교차점들 중 상기 검출곡선에 인접된 교차점으로부터 상기 검출곡선까지의 거리인 제1검출반경을 산출한다. 이때, 산출된 제1검출반경은 모니터와 같은 디스플레이 장치(미도시)를 통해 작업자에게 표시된다.
비교 단계(S134)는 상기 제1반경 산출단계(S133)를 통해 산출된 제1검출반경과 기설정된 상기 렌즈 모듈의 모떼기부(12)의 곡률반경을 비교하는 단계이다. 이때, 기설정된 렌즈모듈(10)의 모떼기부(12)의 곡률반경을 렌즈 모듈의 설계시 설정된 모떼기부(12)의 곡률 반경인 것이 바람직하다.
비교 단계(S134)에서, 작업자는 분석대상 이미지를 통해 산출된 제1검출반경과, 렌즈모듈(10)의 설계시 설정된 모떼기부(12)의 곡률 반경을 상호 비교하여 제조된 렌즈모듈(10)의 모떼기부(12)에서 불량 발생 여부를 판별한다.
동심도 산출단계(S140)는 상기 분석대상 이미지를 토대로 노출구(11)의 상단부 내경 및 하단부 내경을 산출하여 상기 노출구(11)의 동심도를 측정하는 단계로서, 제3경계점 검출단계(S141), 제3가상선 검출단계(S142), 중심점 산출단계(S143), 제2반경 산출단계(S144) 및 경사도 산출단계(S145)를 포함한다. 도 8에는 본 발명에 따른 동심도 산출단계(S140)에 대한 순서도가 도시되어 있다.
상기 제3경계점 검출단계(S141)는 상기 분석대상 이미지에서 상기 노출구(11)의 상단부 가장자리에 대응되는 다수의 제6경계점과, 상기 노출구(11)의 하단부 가장자리에 대응되는 다수의 제7경계점을 검출하는 단계이다.
노출구(11)는 테이퍼지게 형성되어 있으므로 렌즈모듈(10)의 상면을 촬영한 분석대상 이미지에 노출구(11)의 상단부 가장자리와 노출구(11)의 하단부 가장자리가 나타나있는데, 분석대상 이미지에서, 노출구(11)의 상단부 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀을 상기 제6경계점들로 검출한다. 또한, 분석대상 이미지에서, 노출구(11)의 하단부 가장자리에 인접된 위치의 픽셀들 중 주위 픽셀에 대한 색 밝기의 차이값이 기설정된 기준 차이값보다 큰 픽셀을 상기 제7경계점들로 검출한다.
제3가상선 검출단계(S142)는 상기 제6경계점들을 따라 원형으로 연장된 제1가상원과, 상기 제7경계점들을 따라 원형으로 연장된 제2가상원을 산출하는 단계이다. 이때, 가상선 산출에 사용되는 상기 연장선 산출 알고리즘은 허프 변환(Hough Transform) 알고리즘, 최소자승법, RANSAC(RANdom SAmple Consensus) 중 어느 하나가 적용되며, 바람직하게는 RANSAC 알고리즘이 적용된다. 도 9에는 제1가상원 및 제2가상원이 표시된 분석대상 이미지가 게제되어 있다. 여기서, a는 제2가상원의 반경이고, b는 제1가상원의 반경이다.
중심점 산출단계(S143)는 상기 직선 산출단계를 통해 산출된 상기 제1 내지 제4가상선들을 토대로 상기 렌즈 모듈의 중심점을 산출하는 단계이다. 모떼기부(12)들 사이의 제1가상선 구간의 중심점을 지나며 제1가상선에 대해 수직한 제1수직선, 모떼기부(12)들 사이의 제2가상선 구간의 중심점을 지나며 제2가상선에 대해 수직한 제2수직선, 모떼기부(12)들 사이의 제3가상선 구간의 중심점을 지나며 제3가상선에 대해 수직한 제3수직선 및 모떼기부(12)들 사이의 제4가상선 구간의 중심점을 지나며 제4가상선에 대해 수직한 제4수직선이 상호 교차하는 교점을 렌즈모듈(10)의 중심점으로 산출한다.
제2반경산출단계는 상기 중심점 산출단계(S143)를 통해 산출된 중심점으로부터 상기 제1 및 제2가상원까지의 이격 거리인 제2검출반경 및 제3검출반경을 산출한다. 산출된 제2검출반경 및 제3검출반경은 모니터와 같은 디스플레이 장치(미도시)를 통해 작업자에게 표시된다.
이때, 작업자는 산출된 제2검출반경 및 제3검출반경과, 렌즈모듈(10)의 설계시 설정된 노출구(11)의 상단부 가장자리 반경 및 하단부 가장자리 반경을 상호 비교하여 제조된 렌즈모듈(10)의 노출구(11)에서 불량 발생 여부를 판별한다.
경사도 산출단계(S145)는 상기 제2반경 산출단계(S144)를 통해 산출된 제2 및 제3검출반경과 상기 렌즈 모듈의 상하방향 두께 정보를 토대로 상기 노출구(11)의 내측면의 경사도를 산출하는 단계이다. 도 10에는 렌즈모듈(10)에 대한 단면도가 도시되어 있다. 여기서, D1은 노출구(11)의 하단부 가장자리 반경으로 제3검출반경의 2배이고, D2는 노출구(11)의 상단부 가장자리 반경으로 제2검출반경의 2배이다. 이때, 노출구(11)의 경사도(φ)는 하기의 수학식1에 의해 산출된다.
여기서, a는 제3검출반경이고, b는 제2검출반경이며, H는 렌즈모듈(10)의 상하방향 높이이다. 수학식1에 의해 산출된 노출구(11)의 경사도는 모니터와 같은 디스플레이 장치(미도시)를 통해 작업자에게 표시되며, 작업자는 노출구(11)의 경사도와 렌즈모듈(10)의 설계시 설정된 노출구(11)의 경사도를 상호 비교하여 제조된 렌즈모듈(10)의 노출구(11)에서 불량 발생 여부를 판별한다.
이물 검사 단계(S150)는 분석대상 이미지를 통해 렌즈모듈(10)의 상면에 안착된 이물질을 판별하는 단계로서, 제1마스킹 단계, 제1차영상 획득단계, 제2마스킹 단계, 제2차영상 획득단계, 중첩단계 및 흑점 검출단계를 포함한다.
제1마스킹 단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 상면에 소정의 문양을 갖도록 형성된 패턴부에 대응되는 영역을 제외한 영역이 마스킹된 제1마스크 이미지를 생성하는 단계이다. 마스크 이미지를 생성하는, 종래에 일반적으로 사용되는 영상처리 디바이스를 사용하여 제1마스크 이미지를 생성하며, 도 11에는 제1마스킹 단계를 통해 생성된 제1마스크 이미지가 도시되어 있다. 한편, 작업자가 분석대상 이미지에서 패턴부 영역을 제외한 영역을 직접 표시하여 제1마스크 이미지를 생성할 수도 있다.
제1차영상 획득단계는 상기 분석이미지와 제1마스크 이미지 간의 차영상인 제1차영상을 획득하는 단계이다. 이때, 획득된 제1차영상의 픽셀들 중 색 밝기가 기설정된 기준 값 미만의 픽셀들은 제1색상인 흑색으로 변환하고, 제1차영상의 픽셀들 중 색 밝기가 상기 기준값 이상의 픽셀들은 제2색상인 백색으로 변환한다. 도 12에는 상술된 바와 같이 변환된 제1차영상의 사진이 게제되어 있다.
이때, 상기 기준값은 분석대상 이미지에서 렌즈모듈(10)에 대응되는 부분의 픽셀보다 색 밝기 값이 높고, 이물질에 대응되는 부분의 픽셀보다 색 밝기 값이 낮은 것이 바람직하다.
제2마스킹 단계는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 패턴부에 대응되는 영역이 마스킹된 제2마스트 이미지를 생성하는 단계이다. 마스크 이미지를 생성하는, 종래에 일반적으로 사용되는 영상처리 디바이스를 사용하여 제2마스크 이미지를 생성하며, 도 13에는 제2마스킹 단계를 통해 생성된 제2마스크 이미지가 도시되어 있다. 한편, 작업자가 분석대상 이미지에서 패턴부 영역을 직접 표시하여 제2마스크 이미지를 생성할 수도 있다.
제2차영상 획득단계는 상기 분석대상 이미지와 제2마스트 이미지 간의 차영상인 제2차영상을 획득하는 단계이다. 이때, 획득된 제2차영상의 픽셀들 중 색 밝기가 기설정된 기준 값 미만의 픽셀들은 제1색상인 흑색으로 변환하고, 제2차영상의 픽셀들 중 색 밝기가 상기 기준값 이상의 픽셀들은 제2색상인 백색으로 변환한다. 도 14에는 상술된 바와 같이 변환된 제2차영상의 사진이 게제되어 있다.
중첩단계는 상기 제1 및 제2차영상을 상호 중첩시켜 중첩이미지를 획득하는 단계이다. 이때, 렌즈모듈(10) 사이즈를 고려하여 렌즈모듈(10)을 벗어난 범위의 중첩이미지는 분석 범위에서 제외하는 것이 바람직하다.
흑점 검출단계는 상기 중첩단계를 통해 획득된 상기 중첩이미지에는 이물질에 대응되는 부분을 검출하는 단계이다. 상기 중첩이미지는 도 15에 도시된 바와 같이 흑색과 백색으로 이루어지는데, 흑색은 렌즈모듈(10)에 대응되는 부분이고, 백색은 렌즈모듈(10)에 안착된 이물질이다. 상기 중첩이미지는 모니터와 같은 디스플레이장치(미도시)를 통해 작업자에게 출력하며, 작업자는 중첩이미지를 토대로 렌즈모듈(10)로부터 이물질을 제거한다.
이때, 제1차영상 및 제2차영상에서 각각 흑점 즉, 이물질 부분을 검출할 경우, 실제 이물질보다 제1 및 제2차영상에서의 이물질이 더 작게 측정되어 검사의 정확도가 떨어지는데, 본 발명과 같이 중첩단계를 통해 제1 및 제2차영상을 상호 중첩시킨 중첩이미지를 생성하면, 생성된 중첩이미지에서 이물질이 실제 이물질의 크기와 유사하게 나타나므로 이물질 검출의 정확도를 향상시킬 수 있다.
문자 판독단계(S160)는 상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 상면에 소정의 문자 형상을 갖도록 형성된 문자패턴을 판독하는 단계이다. 작업자는 OCR(optical character reader/recognition) 기기를 이용하여 렌즈모듈(10)의 상면에 형성된 문자패턴을 판독한다. 이때, 판독된 문자가 설계시 렌즈모듈(10)에 설정된 문자와 동일하지 않으면 불량으로 판단한다.
한편, 도 16과 같이 문자들이 렌즈모듈(10)의 중심점을 기준으로 소정의 반경으로 갖는 호형을 따라 배열될 경우, 상기 문자들을 일직선상으로 재배열하여 모니터와 같은 디스플레이장치(미도시)를 통해 작업자에게 출력한다.
상술된 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 렌즈 모듈 비전 검사 방법은 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 획득한 분석대상 이미지를 영상처리하여 렌즈모듈(10)의 외형을 검사하므로 렌즈모듈(10) 검사에 소요되는 시간 및 인력을 절감할 수 있고, 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다는 장점이 있다.
제시된 실시예들에 대한 설명은 임의의 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 이용하거나 또는 실시할 수 있도록 제공된다. 이러한 실시예들에 대한 다양한 변형들은 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자에게 명백할 것이며, 여기에 정의된 일반적인 원리들은 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 다른 실시예들에 적용될 수 있다. 그리하여, 본 발명은 여기에 제시된 실시예들로 한정되는 것이 아니라, 여기에 제시된 원리들 및 신규한 특징들과 일관되는 최광의의 범위에서 해석되어야 할 것이다.
S110: 촬영단계
S120: 변형 판별단계
S130: 모떼기 판별단계
S140: 동심도 산출단계
S150: 이물 검사 단계
S160: 문자 판독단계
S120: 변형 판별단계
S130: 모떼기 판별단계
S140: 동심도 산출단계
S150: 이물 검사 단계
S160: 문자 판독단계
Claims (8)
- 중앙부에 노출구가 형성된 렌즈 모듈의 상면을 촬영하여 분석대상 이미지를 획득하는 촬영단계와;
상기 분석대상 이미지에서 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 검출하고, 검출된 상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리를 토대로 상기 렌즈 모듈 외형의 변형 유무를 판별하는 변형 판별단계;를 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 변형 판별단계는
상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 전방 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제1가상선, 상기 렌즈 모듈의 후방 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제2가상선, 상기 렌즈 모듈의 좌측 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제3가상선 및 상기 렌즈 모듈의 우측 가장자리를 따라 직선 형태로 연장된 가상의 제4가상선을 산출하는 직선 산출단계와;
상기 렌즈 모듈의 전후 가장자리 및 좌우 가장자리 중 상기 제1 내지 제4가상선으로부터 기 설정된 공차거리 이상으로 이격된 부분을 검출하거나 상기 제1 내지 제4가상선의 기울기를 통해 상기 렌즈 모듈의 불량 여부를 판단하는 이상 검출단계;를 포함하고, - 제2항에 있어서,
상기 직선 산출단계는
상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 전방 가장자리에 대응되는 다수의 제1경계점을 검출하고, 상기 렌즈 모듈의 후방 가장자리에 대응되는 다수의 제2경계점을 검출하고, 상기 렌즈 모듈의 좌측 가장자리에 대응되는 다수의 제3경계점을 검출하고, 상기 렌즈 모듈의 우측 가장자리에 대응되는 다수의 제4경계점을 검출하는 제1경계점 검출단계와,
상기 제1 내지 제4경계점들을 기반으로 연장선 산출 알고리즘을 이용하여 상기 제1 내지 제4가상선을 각각 산출하는 제1가상선 산출단계를 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사 방법.
- 제2항에 있어서,
상기 분석대상 이미지를 토대로 상기 렌즈 모듈의 모서리에 호형으로 모떼기된 모떼기부의 불량 발생 여부를 판별하는 모떼기 판별단계;를 더 포함하고,
상기 모떼기 판별단계는
상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 모떼기부 가장자리를 따라 곡선 형태로 연장된 가상의 검출곡선을 검출하는 곡선 검출단계와;
상기 직선 산출단계를 통해 산출된 상기 제1 내지 제4가상선의 교차점들 중 상기 검출곡선에 인접된 교차점으로부터 상기 검출곡선까지의 거리인 제1검출반경을 산출하는 제1반경 산출단계와;
상기 제1반경 산출단계를 통해 산출된 제1검출반경과 기설정된 상기 렌즈 모듈의 모떼기부의 반경을 비교하는 비교 단계;를 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사 방법.
- 제4항에 있어서,
상기 곡선 검출단계는
상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 모떼기부 가장자리에 대응되는 다수의 제5경계점을 검출하는 제2경계점 검출단계와,
상기 제5경계점들을 기반으로 연장선 산출 알고리즘을 이용하여 상기 검출곡선을 산출하는 제2가상선 산출단계를 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사 방법.
- 제2항에 있어서,
상기 분석대상 이미지를 토대로 상기 렌즈 모듈의 상면에서 하방으로 갈수록 내경이 감소하도록 형성된 노출구의 상단부 내경 및 하단부 내경을 산출하여 상기 노출구의 동심도를 측정하는 동심도 산출단계;를 더 포함하고,
상기 동심도 산출단계는
상기 분석대상 이미지에서 상기 노출구의 상단부 가장자리에 대응되는 다수의 제6경계점과, 상기 노출구의 하단부 가장자리에 대응되는 다수의 제7경계점을 검출하는 제3경계점 검출단계와,
상기 제6경계점들을 따라 원형으로 연장된 제1가상원과, 상기 제7경계점들을 따라 원형으로 연장된 제2가상원을 산출하는 제3가성선 검출단계와,
상기 직선 산출단계를 통해 산출된 상기 제1 내지 제4가상선들을 토대로 상기 렌즈 모듈의 중심점을 산출하는 중심점 산출단계와,
상기 중심점 산출단계를 통해 산출된 중심점으로부터 상기 제1 및 제2가상원까지의 이격 거리인 제2검출반경 및 제3검출반경을 산출하는 제2반경 산출단계를 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사방법.
- 제6항에 있어서,
상기 동심도 산출단계는
상기 제2반경 산출단계를 통해 산출된 제2 및 제3검출반경과 상기 렌즈 모듈의 상하방향 두께 정보를 토대로 상기 노출구의 내측면의 경사도를 산출하는 경사도 산출단계;를 더 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사방법.
- 제1항에 있어서,
상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 상면에 소정의 문양을 갖도록 형성된 패턴부에 대응되는 영역을 제외한 영역이 마스킹된 제1마스크 이미지를 생성하는 제1마스킹 단계와;
상기 분석이미지와 제1마스크 이미지 간의 차영상인 제1차영상을 획득하고, 상기 제1차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 기설정된 기준 값 미만의 픽셀들을 제1색상으로 변환하며, 상기 제1차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 상기 기준값 이상의 픽셀들을 상기 제1색상과 상이한 제2색상으로 변환하는 제1차영상 획득단계와;
상기 분석대상 이미지에서, 상기 렌즈 모듈의 패턴부에 대응되는 영역이 마스킹된 제2마스트 이미지를 생성하는 제2마스킹 단계와;
상기 분석대상 이미지와 제2마스트 이미지 간의 차영상인 제2차영상을 획득하고, 상기 제2차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 기설정된 기준 값 미만의 픽셀들을 상기 제1색상으로 변환하며, 제2차영상을 이루는 픽셀들 중 색 밝기가 상기 기준값 이상의 픽셀들을 상기 제2색상으로 변환하는 제2차영상 획득단계와;
상기 제1 및 제2차영상을 상호 중첩시켜 중첩이미지를 획득하는 중첩단계와;
상기 중첩단계를 통해 획득된 상기 중첩이미지에는 이물질에 대응되는 부분을 검출하는 흑점 검출단계;를 더 포함하는,
렌즈 모듈 비전 검사장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020160177990A KR101959765B1 (ko) | 2016-12-23 | 2016-12-23 | 렌즈 모듈 비전 검사 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102132111B1 (ko) | 2019-01-18 | 2020-07-09 | 주식회사 에이티엠테크놀로지 | 디스플레이를 통한 모니터링 기능을 갖는 카메라의 렌즈모듈 검사장비 |
| CN114113129A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-03-01 | 中科计算技术西部研究院 | 一种镜片微小缺陷识别抓取系统及方法 |
| CN116862912A (zh) * | 2023-09-04 | 2023-10-10 | 山东恒信科技发展有限公司 | 基于机器视觉的原料油杂质检测方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101375213B1 (ko) * | 2013-11-08 | 2014-03-18 | 박지암 | 동심원방식을 이용한 led모듈의 렌즈편심 검사방법 |
| KR20140100811A (ko) * | 2013-02-07 | 2014-08-18 | (주)아이엠에스나노텍 | 엘이디 패키지의 렌즈 외관 검사장치 |
| KR20140120821A (ko) * | 2013-04-02 | 2014-10-14 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판의 이물질 검사방법 |
| KR20150099956A (ko) * | 2014-02-24 | 2015-09-02 | 라온피플 주식회사 | 렌즈 검사 장치 |
| KR20150104381A (ko) * | 2014-03-05 | 2015-09-15 | 주식회사 루멘스 | 렌즈 표면 검사 장치와, 렌즈 센터 검사 장치와, 렌즈 이물질 및 스크래치 검사 장치 및 이를 갖는 렌즈 검사 시스템 |
| KR20160043233A (ko) * | 2014-10-10 | 2016-04-21 | 엔엠시스템(주) | 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법 |
| KR20160043236A (ko) | 2014-10-10 | 2016-04-21 | 엔엠시스템(주) | 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법 |
| KR20160087600A (ko) * | 2015-01-14 | 2016-07-22 | 한화테크윈 주식회사 | 불량 검사 장치 및 방법 |
-
2016
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Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20140100811A (ko) * | 2013-02-07 | 2014-08-18 | (주)아이엠에스나노텍 | 엘이디 패키지의 렌즈 외관 검사장치 |
| KR20140120821A (ko) * | 2013-04-02 | 2014-10-14 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판의 이물질 검사방법 |
| KR101375213B1 (ko) * | 2013-11-08 | 2014-03-18 | 박지암 | 동심원방식을 이용한 led모듈의 렌즈편심 검사방법 |
| KR20150099956A (ko) * | 2014-02-24 | 2015-09-02 | 라온피플 주식회사 | 렌즈 검사 장치 |
| KR20150104381A (ko) * | 2014-03-05 | 2015-09-15 | 주식회사 루멘스 | 렌즈 표면 검사 장치와, 렌즈 센터 검사 장치와, 렌즈 이물질 및 스크래치 검사 장치 및 이를 갖는 렌즈 검사 시스템 |
| KR20160043233A (ko) * | 2014-10-10 | 2016-04-21 | 엔엠시스템(주) | 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법 |
| KR20160043236A (ko) | 2014-10-10 | 2016-04-21 | 엔엠시스템(주) | 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법 |
| KR20160087600A (ko) * | 2015-01-14 | 2016-07-22 | 한화테크윈 주식회사 | 불량 검사 장치 및 방법 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102132111B1 (ko) | 2019-01-18 | 2020-07-09 | 주식회사 에이티엠테크놀로지 | 디스플레이를 통한 모니터링 기능을 갖는 카메라의 렌즈모듈 검사장비 |
| CN114113129A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-03-01 | 中科计算技术西部研究院 | 一种镜片微小缺陷识别抓取系统及方法 |
| CN114113129B (zh) * | 2021-12-03 | 2024-04-30 | 中科计算技术西部研究院 | 一种镜片微小缺陷识别抓取系统及方法 |
| CN116862912A (zh) * | 2023-09-04 | 2023-10-10 | 山东恒信科技发展有限公司 | 基于机器视觉的原料油杂质检测方法 |
| CN116862912B (zh) * | 2023-09-04 | 2023-11-24 | 山东恒信科技发展有限公司 | 基于机器视觉的原料油杂质检测方法 |
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|---|---|
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