KR20170072062A - 표시 장치를 검사하기 위한 장치 - Google Patents

표시 장치를 검사하기 위한 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20170072062A
KR20170072062A KR1020150180440A KR20150180440A KR20170072062A KR 20170072062 A KR20170072062 A KR 20170072062A KR 1020150180440 A KR1020150180440 A KR 1020150180440A KR 20150180440 A KR20150180440 A KR 20150180440A KR 20170072062 A KR20170072062 A KR 20170072062A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connector
display
inspection
printed circuit
circuit board
Prior art date
Application number
KR1020150180440A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102639116B1 (ko
Inventor
장민욱
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020150180440A priority Critical patent/KR102639116B1/ko
Publication of KR20170072062A publication Critical patent/KR20170072062A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102639116B1 publication Critical patent/KR102639116B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

표시 장치를 검사하기 위한 장치가 제공된다. 표시 장치는 인쇄 회로 기판을 포함한다. 표시 장치는 검사 커넥터를 포함한다. 검사 커넥터는 인쇄 회로 기판 상에 배치되고, 표시 장치에 전기적 신호를 전달하는 표시 커넥터에 결합 가능하도록 구성된다. 표시 장치는 가이드 부재를 포함한다. 가이드 부재는 검사 커넥터 주위에 배치된다. 가이드 부재는 표시 커넥터와 검사 커넥터의 결합을 용이하게 하는 구조를 갖는다. 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 커넥터를 가이드 하는 가이드 부재를 가짐으로써, 표시 커넥터 및 검사 커넥터의 결합을 용이하게 하며, 표시 커넥터 및 검사 커넥터의 손상을 저감시킬 수 있다.

Description

표시 장치를 검사하기 위한 장치{APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY APPARATUS}
본 발명은 표시 장치를 검사하기 위한 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 표시 장치와의 결합이 용이하여 불량이 감소될 수 있는 구조를 갖는 표시 장치를 검사하기 위한 장치에 관한 것이다.
일반적으로 근래의 표시 장치는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display)와 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display Device)로 크게 분류 할 수 있다. 통상의 액정 표시 장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여 액정 표시 장치는 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열된 액정 표시 모듈과 액정 표시 모듈을 구동하기 위한 구동회로 및 광원인 백 라이트 유닛을 포함한다.
유기 발광 표시 장치는 자체 발광형 표시 장치로서, 액정 표시 장치와는 달리 별도의 광원이 필요하지 않아 경량 박형으로 제조 가능하다. 또한, 유기 발광 표시 장치는 저전압 구동에 따라 소비 전력 측면에서 유리할 뿐만 아니라, 응답 속도, 시야각 및 명암 대비비(Contrast ratio)도 우수하여, 차세대 디스플레이로서 연구되고 있다.
이러한 액정 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 불량 여부를 검사하기 위하여, 액정 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 패널들은 표시 장치를 검사하기 위한 장치에 연결되어 검사된다.
이 때, 각 표시 장치의 패널에 연결된 표시 커넥터를 통해 각 표시 장치의 패널에 패턴 신호가 입력된다. 그리고 표시 장치를 검사하기 위한 장치에는 이러한 표시 커넥터와 연결되는 검사 커넥터가 구비되어 있다. 이에 따라, 표시 장치의 표시 커넥터와 검사 장치의 검사 커넥터가 전기적으로 연결되어 검사 장치의 검사 패턴 신호가 표시 장치의 패널로 인가될 수 있다.
검사 장치의 검사 커넥터와 표시 장치의 표시 커넥터 연결시, 검사 장치의 검사 커넥터와 표시 장치의 표시 커넥터가 X축 방향 또는 Y축 방향으로 약 0.3mm 이상 어긋나게 배치될 수 있다. 이 경우, 적은 힘에도 표시 커넥터의 연결핀이 휘거나 검사 커넥터에 손상이 일어나는 문제점이 있다. 이에 따라, 작업자의 체결 숙련도에 따라 검사 커넥터 및 표시 커넥터의 손상과 제품 수율에도 많은 영향을 미치게 되는 문제점이 있다.
이에, 상술한 문제를 해결하기 위해, 표시 장치를 검사하기 위한 장치에 표시 커넥터를 연결할 때에 검사 커넥터 및 표시 장치의 표시 커넥터의 손상을 저감시킬 수 있는 표시 장치를 검사하기 위한 장치에 대한 요구가 발생하고 있다.
본 발명의 발명자는 상술한 바와 같이 표시 커넥터와 검사 커넥터가 소정의 거리 이상으로 어긋나게 배치되는 경우, 적은 힘에도 표시 커넥터 및 검사 커넥터에 손상이 일어나는 문제점을 인식하였다. 이에 본 발명의 발명자는 표시 커넥터와 검사 커넥터가 어긋나게 배치되지 않도록 하여 표시 커넥터 및 검사 커넥터가 체결될 때, 표시 장치의 표시 커넥터 및 검사 장치의 검사 커넥터의 손상을 저감시킬 수 있는 새로운 구조의 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 새로운 구조를 발명하였다.
이에, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 검사 커넥터의 주위에 배치되고, 표시 커넥터가 검사 커넥터에 결합할 때 표시 커넥터를 가이드 하는 가이드 구조물을 구비하여, 표시 커넥터가 검사 커넥터와 올바르게 체결되지 않는 경우에도 표시 커넥터의 연결핀 및 검사 커넥터의 손상을 감소시킬 수 있는 표시 장치를 검사하기 위한 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치가 제공된다. 표시 장치는 인쇄 회로 기판을 포함한다. 표시 장치는 검사 커넥터를 포함한다. 검사 커넥터는 인쇄 회로 기판 상에 배치되고, 표시 장치에 전기적 신호를 전달하는 표시 커넥터에 결합 가능하도록 구성된다. 표시 장치는 가이드 부재를 포함한다. 가이드 부재는 검사 커넥터 주위에 배치된다. 가이드 부재는 표시 커넥터와 검사 커넥터의 결합을 용이하게 하는 구조를 갖는다. 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 커넥터를 가이드 하는 가이드 부재를 가짐으로써, 표시 커넥터 및 검사 커넥터의 결합을 용이하게 하며, 표시 커넥터 및 검사 커넥터의 손상을 저감시킬 수 있다.
가이드 부재는 상기 검사 커넥터가 인입될 수 있는 개구부를 구비하며, 상기 인쇄 회로 기판과 결합시 상기 검사 커넥터의 적어도 일부를 둘러싸는 플레이트, 및 상기 플레이트에서 하측으로 연장되어, 상기 인쇄 회로 기판에 결합되는 결합부를 포함할 수 있다.
인쇄 회로 기판은 가이드 부재의 결합부의 적어도 일부가 통과되도록 구성된 홀을 구비할 수 있다.
플레이트는 개구부의 하단부는 검사 커넥터와 대응되는 크기를 가지며, 개구부의 상단부로 갈수록 개구부의 크기가 커지도록 구성될 수 있다.
플레이트는, 검사 커넥터의 전체를 둘러싸며, 개구부를 정의하는 내측면을 따라 표시 커넥터가 개구부에 인입되는 경우, 검사 커넥터에 표시 커넥터가 가이드되도록 경사지게 구성되는 가이드면을 포함할 수 있다.
가이드면을 포함하는 가이드부의 적어도 일부는, 기결정된 외력 이상에서 변형 가능한 탄성재질로 이루어질 수 있다.
플레이트는 검사 커넥터의 길이 방향의 양단에 배치되고, 결합부가 배치되는 베이스부, 및 베이스부를 연결하며, 검사 커넥터의 길이 방향으로 연장되는 리브(Rib)부를 포함할 수 있다.
베이스부 및 리브부 중 적어도 하나는, 이동 가능하게 구성된 상부 유닛, 상부 유닛의 하부에 배치되고, 상부 유닛이 이동하는 과정중에 걸림되도록 돌출부를 갖는 하부 유닛 및 상부 유닛 및 돌출부 사이에 개재되는 탄성부재를 포함하고, 상부 유닛에 외력에 의해 이동됨에 따라 검사 커넥터에 결합되어 있는 표시 커넥터가 탈거되고, 외력이 사라지면, 상부 유닛은 원래의 자리로 복원될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치는 인쇄 회로 기판, 검사 커넥터 및 가이드 돌출부를 포함한다. 검사 커넥터는 인쇄 회로 기판 상에 배치되고 표시 장치에 전기적 신호를 전달하는 표시 커넥터에 겨합 가능하도록 구성된다. 가이드 돌출부는 검사 커넥터의 적어도 일부를 둘러싸며, 인쇄 회로 기판에서 돌출된다. 가이드 돌출부는 표시 커넥터가 검사 커넥터에 대응되어 결합하는 것이 용이하도록 표시 커넥터를 가이드한다.
가이드 돌출부의 검사 커넥터에 대향하는 면은 검사 커넥터에 표시 커넥터가 가이드되도록 적어도 일부가 경사지게 이루어질 수 있다.
가이드 돌출부의 검사 커넥터에 대향하는 면은 기결정된 외력 이상에서 용이하게 변형 가능한 탄성재질로 구성될 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명은 검사 커넥터 주위에 배치되고, 검사 커넥터에 결합되는 표시 커넥터를 가이드 할 수 있는 구조를 갖는 가이드 부재 또는 가이드 돌출부를 구비함으로써, 표시 커넥터가 검사 커넥터에 결합되는 과정에서 표시 커넥터와 검사 커넥터가 서로 어긋나게 장착되는 것을 최소화하고, 이에 따라 표시 커넥터 및 검사 커넥터의 손상을 저감시키고 나아가 검사 과정에서 생길 수 있는 불량을 최소화시킬 수 있는 표시 장치를 검사하기 위한 장치를 제작할 수 있다.
본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치, 표시 장치 및 패턴 발생기의 개략적인 사시도이다.
도 2a는 도 1의 표시 커넥터가 검사 커넥터로 결합하는 모습을 II-II'을 따라 절단한 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 개략적인 단면도이다.
도 2b는 도 2a의 표시 커넥터가 검사 커넥터에 결합된 모습을 설명하기 위한 단면도이다.
도 2c은 도 2b의 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 상부 유닛이 내측으로 이동되어, 표시 커넥터를 검사 커넥터로부터 분리하는 모습을 나타낸 개략적인 단면도이다.
도 3는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 개략적인 사시도이다.
도 4a는 도 3의 검사 커넥터에 표시 커넥터가 결합하는 모습을 Ⅳ-Ⅳ'를 따라 절단한 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 개략적인 단면도이다.
도 4b는 도 4a의 검사 커넥터에 표시 커넥터가 결합된 모습을 설명하기 위한 단면도이다.
도 4c은 도 4b의 검사 장치에서 표시 커넥터를 검사 커넥터로부터 분리하는 모습을 나타낸 개략적인 단면도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.
위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
소자 또는 층이 다른 소자 또는 층 위 (on)로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.
명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 발명이 도시된 구성의 크기 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하며, 당업자가 충분히 이해할 수 있듯이 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치, 표시 장치 및 패턴 발생기의 개략적인 사시도이다. 도 2a는 도 1의 표시 커넥터가 검사 커넥터로 결합하는 모습을 II-II'을 따라 절단한 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 개략적인 단면도이다. 도 2b는 도 2a의 표시 커넥터가 검사 커넥터에 결합된 모습을 설명하기 위한 단면도이다. 도 2c은 도 2b의 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 상부 유닛이 내측으로 이동되어, 표시 커넥터를 검사 커넥터로부터 분리하는 모습을 나타낸 개략적인 단면도이다.
도 1 내지 도 2c을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치(100)는 인쇄 회로 기판(110), 신호 발생기 연결부(120), 검사 커넥터(130) 및 가이드 부재(140)를 포함한다.
인쇄 회로 기판(110)은 회로가 인쇄되어 있는 절연의 보드(Board)를 이룬다. 이러한 인쇄 회로 기판(110) 상에 신호 발생기 연결부(120) 및 검사 커넥터(130)가 배치된다. 신호 발생기 연결부(120) 및 검사 커넥터(130)는 인쇄 회로 기판(110)에 인쇄된 회로를 통해 서로 전기적으로 연결되어 있다. 신호 발생기 연결부(120)로부터 수신되는 신호는 배선을 통해 검사 커넥터(130)로 전달된다.
신호 발생기 연결부(120)는 신호 발생기(30)와 연결되어 신호 발생기(30)로부터 발생되는 표시 장치(10)의 검사를 위한 여러가지 패턴 신호들을 수신받는다. 신호 발생기 연결부(120)는 신호 발생기(30)와 결합할 수 있다. 신호 발생기 연결부(120)에서 수신받은 패턴 신호들은 인쇄 회로 기판(110)의 배선을 통해 검사 커넥터(130)로 전송된다.
검사 커넥터(130)는 인쇄 회로 기판(110) 상에 배치되고 표시 장치(10)에 전기적 신호를 전달하는 표시 장치(10)의 표시 커넥터(20)에 결합 가능하도록 구성된다. 구체적으로 표시 장치(10)를 생산한 이후에 표시 장치(10)의 불량 등을 검사하기 위하여, 표시 장치(10)에는 표시 커넥터(20)가 연결될 수 있다. 표시 커넥터(20) 및 표시 장치(10)는 연성 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit, 15)로 연결될 수 있다. 표시 장치(10)의 표시 커넥터(20)는 장치(100)의 검사 커넥터(130)에 결합한다.
여기서 표시 장치(10)는 액정 표시 장치이거나 유기 발광 다이오드를 포함하는 유기 발광 표시 장치일 수 있다.
상술한 바와 같이, 신호 발생기(30)로부터 발생된 패턴 신호는 신호 발생기 연결부(120)를 통해 표시 장치를 검사하기 위한 장치(100)로 입력된다. 입력된 패턴 신호는 검사 커넥터(130)로 전달되고, 검사 커넥터(130)에 연결된 표시 커넥터(20)를 통해 패턴 신호가 표시 장치(10)로 입력된다. 입력된 패턴 신호가 정상적으로 표시 장치(10)를 통해 출력되는지를 확인하여, 표시 장치(10)의 불량 여부를 판단한다.
도면에 도시된 것에 제한되지 않고, 상술한 신호 발생기 연결부(120) 및 검사 커넥터(130)는 인쇄 회로 기판(110) 상에 다양한 위치나 방식으로 배치될 수 있다. 또한 도 1에 제한되지 않고, 신호 발생기 연결부(120)는 인쇄 회로 기판(110) 상에 배치되는 것이 아니라, 인쇄 회로 기판(110)과 연결된 연성 인쇄 회로 기판의 타단에 연결된 연결부로 분리되어 구성될 수도 있다.
가이드 부재(140)는 검사 커넥터(130) 주위에 배치되고, 표시 커넥터(20)와 검사 커넥터(130)의 결합을 용이하게 하는 구조를 갖는다. 가이드 부재(140)는 인쇄 회로 기판(110)에 탈착 가능하게 부착될 수 있다. 가이드 부재(140)는 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 연결될 때, 표시 커넥터(20)에서 돌출된 여러 핀들이 손상되지 않고 검사 커넥터(130)에 안착되어 결합될 수 있도록, 표시 커넥터(20)를 가이드하는 구조를 갖는다. 예를 들어 도 2b에 도시된 바와 같이, 가이드 부재(140)는 하부로 갈수록 폭이 좁아지는 경사로된 면을 가질 수 있다. 이러한 경사로된 면을 가이드면(146a1)이라고 지칭한다. 또한, 고무와 같은 연성 재질로 형성되어 표시 커넥터(20)의 핀이 가이드 부재(140)에 부딪혀도 표시 커넥터(20)의 핀이 꺽이거나 휘지 않도록 구성될 수도 있다.
한편, 가이드 부재(140)는 플레이트 및 결합부(143)를 포함할 수 있다.
플레이트는 베이스부(145)와 리브(Rib)부(146)를 포함할 수 있다. 베이스부(145)는 검사 커넥터(130)의 길이 방향의 양단에 배치되고, 리브부(146)는 베이스부(145)에서 연장되어 양측에 배치된 베이스부(145)를 서로 연결한다. 플레이트는 외력에 의해 변형되거나 인쇄 회로 기판(110)으로부터 탈거되지 않도록 충분한 강성을 가진다. 이 때, 플레이트의 두께는 0.6mm 이상인 것이 바람직하다.
플레이트는 검사 커넥터(130)가 인입될 수 있는 개구부(140a)를 구비하며, 인쇄 회로 기판(110)과 결합시 검사 커넥터(130)의 적어도 일부를 둘러싸도록 구성될 수 있다. 예를 들어 도 1에 도시된 것과 같이, 플레이트는 검사 커넥터(130)의 전체를 둘러쌀 수도 있다. 다만 도 1에 제한되지 않고, 플레이트는 검사 커넥터(130)의 일부만 둘러싸도록 플레이트의 부분들이 서로 이격되어 구성될 수도 있다.
베이스부(145)는 검사 커넥터(130)의 길이 방향의 양단에 배치되고, 하측으로 결합부(143)가 연장될 수 있다. 베이스부(145)의 양단에는 하측으로 연장되며 인쇄 회로 기판(110)에 착탈되는 결합부(143)가 구성될 수 있다. 베이스부(145)의 바닥면은 인쇄 회로 기판(110)에 접촉되어 지지될 수 있다. 가이드 부재(140)가 인쇄 회로 기판(110)에 결합되는 경우 베이스부(145)가 인쇄 회로 기판(110)에 접촉되어 지지됨으로써, 가이드 부재(140)가 인쇄 회로 기판(110)과 견고하게 결합될 수 있다. 또한, 베이스부(145)의 하면이 인쇄 회로 기판(110)에 접촉되기 위해 적어도 일부의 베이스부(145)의 두께는 리브부(146)의 두께보다 더 두꺼울 수 있다.
리브부(146)는 검사 커넥터(130)의 길이 방향으로 연장되어 양측의 베이스부(145)를 연결할 수 있다. 베이스부(145)의 결합부(143)가 인쇄 회로 기판(110)에 장착되면, 리브부(146)는 인쇄 회로 기판(110) 상에 떠 있는 상태로 유지될 수 있다. 구체적으로 도 2b를 참조하면, 리브부(146)는 하면이 검사 커넥터(130)의 상면과 같은 레벨에 위치하도록 배치될 수 있다. 표시 커넥터(20)는 검사 커넥터(130)와의 결합을 위해 베이스부(145) 및 리브부(146) 사이에 형성되는 개구부(140a)를 통해 인입될 수 있다. 표시 커넥터(20)가 인입되는 동안 리브부(146)의 경사면(146a1)에 의해 표시 커넥터(20)의 인입 위치가 조정된다. 이에 따라, 표시 커넥터(20)는 검사 커넥터(130)에 안착될 수 있다.
플레이트의 개구부(140a)의 하단부는 검사 커넥터(130)와 대응되는 크기를 가지며, 개구부(140a)의 상단부로 갈수록 개구부(140a)의 크기가 커지도록 구성된다. 예를 들어 도 2b 및 도 2c에 도시된 바와 같이, 플레이트의 개구부(140a)의 하단부는 커넥터 연결부의 크기와 대응되는 크기를 가지며, 개구부(140a)의 상단부로 갈수록 개구부(140a)의 크기가 커지도록 구성된다. 이러한 구성은 표시 커넥터(20)가 플레이트의 개구부(140a)를 통과하며, 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로 가이드할 수 있다. 도면에 제한되지 않고, 개구부(140a)의 측면이 평면으로된 경사가 아닌 곡면으로 이루어질 수도 있다.
결합부(143)는 플레이트에서 하측으로 연장되어 인쇄 회로 기판(110)에 결합된다. 구체적으로 도 1 내지 도 2c을 참조하면, 결합부(143)는 베이스부(145)의 양단에서 하측으로 연장된다. 그리고, 결합부(143)는 단부측에 외측으로 돌출된 돌출부(141)가 구성된다. 돌출부(141)는 인쇄 회로 기판(110)에 형성된 홀(105)을 관통하여 인쇄 회로 기판(110)에 결합될 수 있다. 다만, 도면에 제한되지 않고, 인쇄 회로 기판(110)에 형성된 홀(105)은 인쇄 회로 기판(110)의 두께를 모두 관통하지 않을 수도 있다. 즉, 인쇄 회로 기판(110)에 형성된 홀(105)은 인쇄 회로 기판(110)의 두께보다 얇게 형성되고, 결합부(143)는 이에 결합하는 형상을 구비할 수 있다.
인쇄 회로 기판(110)은 가이드 부재(140)의 결합부(143)가 통과되도록 구성된 홀(105)을 구비한다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 인쇄 회로 기판(110)은 가이드 부재(140)의 결합부(143)가 통과되도록 구성된 홀(105)을 구비한다. 홀(105)의 개수는 결합부(143)의 개수와 동일하다. 다만, 도면에 제한되지 않고, 가이드 부재(140)의 결합부(143)가 인쇄 회로 기판(110)에 완전히 통과되어 가이드 부재(140)의 결합부(143)가 인쇄 회로 기판(110)에 장착되는 것이 아니라, 인쇄 회로 기판(110)을 관통하는 홀(105)이 아닌 홈이 구비되어 이러한 홈으로 가이드 부재(140)의 결합부(143)가 삽입되는 형식으로 가이드 부재(140) 및 인쇄 회로 기판(110)이 결합할 수도 있다. 한편, 도면에 제한되지 않고, 홀과 결합부의 개수는 제한되지 않은 복수개 일 수 있다.
플레이트는 검사 커넥터(130)의 전체 둘러싸며, 개구부(140a)를 정의하는 내측면을 따라 표시 커넥터(20)가 개구부(140a)에 인입되는 경우, 검사 커넥터(130)에 표시 커넥터(20)가 가이드되도록 경사지게 구성되는 가이드면(146a1)을 포함할 수 있다. 가이드면(146a1)은 표시 커넥터(20)가 가이드되도록 경사지게 구성된다. 다만, 도면에 제한되지 않고, 가이드면(146a1)은 평면 형태로 경사지는 것이 아니라, 내측으로 볼록하거나 외측으로 볼록하게 곡면으로 경사질 수도 있다.
가이드면(146a1)을 포함한 가이드 부재(140)의 적어도 일부는 기결정된 외력 이상에서 변형 가능한 탄성재질로 이루어질 수 있다. 표시 커넥터(20)에서 돌출된 연결핀(20a)은 가이드면(146a1)에 접촉될 수 있어 이 경우 연결핀(20a)이 휘거나 구부러질 수 있다. 그런데 가이드면(146a1)이 탄성재질로 이루어진 경우 연결핀(20a)이 가이드면(146a1)에 접촉되어 일정 이상의 힘을 받기 전에는 탄성재질로 이루어진 가이드면(146a1)이 변형되어 연결핀(20a)에 가해지는 힘이 줄어들어 연결핀(20a)의 손상을 막을 수 있다. 또한, 가이드면(146a1)이 탄성재질로 이루어진 경우, 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로부터 분리할 때에, 손가락 등이 가이드면(146a1)에 접촉되는 경우, 가이드면(146a1)이 변형되어 표시 커넥터(20)와 손가락이 접촉할 수 있는 면적이 넓어져 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로부터 쉽게 분리시킬 수 있다.
또한, 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 연결되는 과정에서 표시 커넥터(20)의 연결핀(20a)은 가이드면(146a1)을 따라 이동할 수 있다. 예를 들어 도 2a에 도시된 바와 같이, 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 연결되는 과정에서 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 정확하게 정렬되지 않는 경우, 표시 커넥터(20)의 연결핀(20a)은 가이드면(146a1)에 접촉될 수 있다. 이때, 표시 커넥터(20)의 연결핀(20a)은 가이드면(146a1)을 따라 검사 커넥터(130)에 연결될 수 있도록 이동될 수 있다. 따라서, 가이드면(146a1)은 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 대응되어 연결될 수 있도록, 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 결합되는 과정에서 표시 커넥터(20)를 가이드한다.
리브부(146)는, 이동 가능하게 구성된 상부 유닛(146a), 상부 유닛(146a)의 하부에 배치되고, 상부 유닛(146a)이 이동하는 과정중에 걸림되도록 돌기부를 갖는 하부 유닛(146b), 및 상부 유닛(146a) 및 돌기부 사이에 개재되는 탄성부재(146c)를 포함하고, 상부 유닛(146a)에 외력에 의해 이동됨에 따라 검사 커넥터(130)에 결합되어 있는 표시 커넥터(20)가 탈거되고, 외력이 사라지면, 상부 유닛(146a)은 원래의 자리로 복원되도록 구성될 수 있다.
예를 들어 도 2b 및 도 2c에 도시된 바와 같이, 검사 커넥터(130)에 결합된 표시 커넥터(20)를 분리하는 경우 다음과 같이 분리할 수 있다. 표시 커넥터(20)와 검사 커넥터(130)에 결합된 사이로 리브부(146)의 상부 유닛(146a)의 경사면 단부가 향해 있다. 이 때, 리브부(146)의 상부 유닛(146a)을 표시 커넥터(20)와 표시 커넥터(20)의 연결부 사이를 향해 가압한다. 이 경우, 상부 유닛(146a)의 단부가 표시 커넥터(20)와 검사 커넥터(130) 사이로 삽입되면서, 표시 커넥터(20)가 상부로 들어올려지게 된다. 이 과정에서 검사 커넥터(130) 내부에 삽입되었던 표시 커넥터(20)의 핀이 검사 커넥터(130)의 외부로 탈거된다. 또한, 리브부(146)의 상부 유닛(146a) 양쪽을 내측으로 가압하여 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로부터 분리할 수 있다. 한편, 내측으로 이동하는 상부 유닛(146a)은 하부 유닛(146b), 및 상부 유닛(146a)과 하부 유닛(146b) 사이에 개재된 탄성부재(146c)에 의해 외측으로 가압되어 더 이상 내측으로 이동하지 않게 된다. 이 때, 표시 커넥터(20) 연결핀(20a)을 보호하기 위하여 상부 유닛(146a)의 단부가 표시 커넥터(20) 연결핀(20a)보다 내측으로 이동하지 않게 하는 것이 바람직하다.
한편 도면에 제한되지 않고, 상술하였던 상부 유닛(146a), 하부 유닛(146b) 및 탄성부재(146c)는 리브부(146)가 아닌, 플레이트 양측에 배치되는 베이스부(145)에 구성될 수도 있다. 또한, 리브부(146) 및 베이스부(145) 양측에 구성될 수도 있다.
도 3는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 개략적인 사시도이다. 도 4a는 도 3의 검사 커넥터에 표시 커넥터가 결합하는 모습을 Ⅳ-Ⅳ'를 따라 절단한 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치를 검사하기 위한 장치의 개략적인 단면도이다. 도 4b는 도 4a의 검사 커넥터에 표시 커넥터가 결합된 모습을 설명하기 위한 단면도이다. 도 4c은 도 4b의 검사 장치에서 표시 커넥터를 검사 커넥터로부터 분리하는 모습을 나타낸 개략적인 단면도이다.
도 3 내지 도 4c을 참조하면, 표시 장치를 검사하기 위한 장치(200)는 인쇄 회로 기판(110), 신호 발생기 연결부(120), 검사 커넥터(130) 및 가이드 돌출부(240)를 포함한다. 도 3 내지 도 4c에 도시된 표시 장치를 검사하기 위한 장치(200)는 도 1 내지 도 2c에 도시된 표시 장치를 검사하기 위한 장치(100)와 비교하였을 때 가이드 돌출부(240)에서만 차이가 있을 뿐, 다른 구성들은 실질적으로 동일하므로, 중복 설명은 생략한다.
가이드 돌출부(240)는 검사 커넥터(130)의 주위를 둘러싸도록 구성된다. 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이 검사 커넥터(130)의 주위를 한바퀴 둘러가며 가이드 돌출부(240)가 인쇄 회로 기판(110)으로부터 돌출될 수 있다. 다만, 도 3에 제한되지 않고, 가이드 돌출부(240)는 검사 커넥터(130)의 적어도 일부만 둘러싸며 구성될 수 있다. 즉, 가이드 돌출부(240)는 연속적으로 검사 커넥터(130)의 주위를 둘러싸는 것이 아니라, 중간에 홈이 있거나, 검사 커넥터(130)를 둘러싸지 않는 부분이 존재할 수 있다. 이러한 부분은 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)에 연결하거나, 탈거하는 경우 사용자의 손가락이 인입되거나, 기계 장치가 인입될 수 있는 공간을 마련하기 위함일 수도 있다.
가이드 돌출부(240)는 인쇄 회로 기판(110)에서 돌출되고, 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)에 대응되어 결합하는 것이 용이하도록 표시 커넥터(20)를 가이드한다. 예를 들어 도 4b에 도시된 바와 같이, 가이드 돌출부(240)는 검사 커넥터(130)를 바라보는 내측면에 경사지게 형성되는 가이드면(242a)을 포함할 수 있다.
가이드면(242a)은 가이드 돌출부(240)의 검사 커넥터(130)에 대향하는 면이다. 예를 들어 도 3 및 도 4b에 도시된 바와 같이 가이드 돌출부(240)가 검사 커넥터(130)의 주위를 둘러싸고 돌출되는 경우, 가이드면(242a)은 4면으로 구성될 수 있다. 그리고, 가이드면(242a)은 검사 커넥터(130)에 표시 커넥터(20)가 가이드되도록 경사지게 이루어진다. 이 때, 가이드면(242a)의 경사진 각도는 인쇄 회로 기판(110)과 가이드면(242a)이 이루는 각도로 볼 수 있다. 다만, 가이드면(242a)은 전체적으로 경사지게 이루어지지 않고, 적어도 일부가 경사지게 이루어질 수도 있다. 예를 들어 상단측 일부만 경사지게 이루어지거나, 하단측 일부만 경사지게 이루어질 수도 있다. 또한, 가이드면(242a)의 경사는 평면 형태로 이루어질수도 있고, 곡면 형태일 수도 있다.
이러한 가이드면(242a)은 표시 커넥터(20)가 검사 커넥터(130)로 삽입 시, 표시 커넥터(20)를 가이드 하는 역할을 한다. 예를 들어 도 4a에 도시된 바와 같이, 표시 커넥터(20)는 단부로부터 돌출되는 연결핀(20a)을 구비한다. 표시 커넥터(20)가 가이드 돌출부(240)의 개구부(240a) 측으로 인입 시, 가이드 돌출부(240)의 연결핀(20a)은 가이드면(242a)에 접촉될 수 있다. 이러한 경우, 가이드면(242a)이 경사져 있으므로 연결핀(20a)이 가이드 돌출부(240) 바깥으로 나가기 어렵다. 또한, 표시 커넥터(20)가 가이드 돌출부(240)의 개구부(240a) 내측으로 계속하여 인입시 개구부(240a)의 면적이 점점 좁아지므로, 표시 커넥터(20)의 연결핀(20a)이 검사 커넥터(130)와 어긋나는 경우, 연결핀(20a)은 가이드면(242a)에 접촉된다. 이에 따라, 표시 커넥터(20)는 검사 커넥터(130)에 대응되어 삽입될 수 있도록, 오정렬되어 인입되어도 가이드면(242a)을 따라 이동될 수 있다.
또한, 가이드면(242a)은 기결정된 외력 이상에서 용이하게 변형 가능한 탄성재질로 구성될 수 있다. 예를 들어 도 4c에 도시된 바와 같이, 사용자가 손가락을 가이드면(242a)과 표시 커넥터(20) 사이로 끼워넣어 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로부터 탈거시키거나, 사용자가 손가락을 가이드면(242a)과 표시 커넥터(20) 사이로 끼워넣어 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로 장착시킬 수 있다. 이때, 가이드면(242a)이 탄성재질로 구성되는 경우, 사용자의 손가락에 의해 외력을 받는 가이드면(242a)과 그 주위는 탄성변형을 일으킬 수 있다. 이러한 탄성변형에 의해 가이드 돌출부(240) 또는 가이드면(242a)과 표시 커넥터(20) 사이에 공간이 늘어날 수 있다. 이러한 공간으로 사용자는 손가락을 삽입하여, 표시 커넥터(20)를 검사 커넥터(130)로 연결하거나, 검사 커넥터(130)로부터 표시 커넥터(20)를 탈거시킬 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10 : 표시 장치
20 : 표시 커넥터
30 : 신호 발생기
100 : 표시 장치를 검사하기 위한 장치
110 : 인쇄 회로 기판
120 : 신호 발생기 연결부
130 : 검사 커넥터
140 : 가이드 부재
146a1 : 가이드면
240 : 가이드 돌출부
242a : 가이드면

Claims (11)

  1. 인쇄 회로 기판;
    상기 인쇄 회로 기판 상에 배치되고 표시 장치에 전기적 신호를 전달하는 표시 커넥터에 결합 가능하도록 구성된 검사 커넥터; 및
    상기 검사 커넥터 주위에 배치되고, 상기 표시 커넥터와 상기 검사 커넥터의 결합을 용이하게 하는 구조를 갖는 가이드 부재를 포함하는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 가이드 부재는,
    상기 검사 커넥터가 인입될 수 있는 개구부를 구비하며, 상기 인쇄 회로 기판과 결합시 상기 검사 커넥터의 적어도 일부를 둘러싸는 플레이트; 및
    상기 플레이트에서 하측으로 연장되어, 상기 인쇄 회로 기판에 결합되는 결합부를 포함하는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 인쇄 회로 기판은,
    상기 가이드 부재의 상기 결합부의 적어도 일부가 통과되도록 구성된 홀을 구비하는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 플레이트는,
    상기 개구부의 하단부는 상기 검사 커넥터와 대응되는 크기를 가지며, 상기 개구부의 상단부로 갈수록 개구부의 크기가 커지는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 플레이트는,
    상기 검사 커넥터의 전체를 둘러싸며,
    상기 개구부를 정의하는 내측면을 따라 상기 표시 커넥터가 상기 개구부에 인입되는 경우, 상기 검사 커넥터에 상기 표시 커넥터가 가이드되도록 경사지게 구성되는 가이드면을 포함하는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 가이드면을 포함하는 상기 가이드부의 적어도 일부는,
    기결정된 외력 이상에서 변형 가능한 탄성재질로 이루어지는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  7. 제2 항에 있어서,
    상기 플레이트는,
    상기 검사 커넥터의 길이 방향의 양단에 배치되고, 상기 결합부가 배치되는 베이스부; 및
    상기 베이스부를 연결하며, 상기 검사 커넥터의 길이 방향으로 연장되는 리브(Rib)부를 포함하는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 베이스부 및 리브부 중 적어도 하나는,
    이동 가능하게 구성된 상부 유닛;
    상기 상부 유닛의 하부에 배치되고, 상기 상부 유닛이 이동하는 과정중에 걸림되도록 돌출부를 갖는 하부 유닛; 및
    상기 상부 유닛 및 상기 돌출부 사이에 개재되는 탄성부재를 포함하고,
    상기 상부 유닛에 외력에 의해 이동됨에 따라 상기 검사 커넥터에 결합되어 있는 표시 커넥터가 탈거되고, 상기 외력이 사라지면, 상기 상부 유닛은 원래의 자리로 복원되는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  9. 인쇄 회로 기판;
    상기 인쇄 회로 기판 상에 배치되고 표시 장치에 전기적 신호를 전달하는 표시 커넥터에 결합 가능하도록 구성된 검사 커넥터; 및
    상기 검사 커넥터의 적어도 일부를 둘러싸며, 상기 인쇄 회로 기판에서 돌출되고, 상기 표시 커넥터가 상기 검사 커넥터에 대응되어 결합하는 것이 용이하도록 상기 표시 커넥터를 가이드하는 가이드 돌출부를 포함하는, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 가이드 돌출부의 상기 검사 커넥터에 대향하는 면은,
    상기 검사 커넥터에 상기 표시 커넥터가 가이드되도록 적어도 일부가 경사진, 표시 장치를 검사하기 위한 장치
  11. 제10항에 있어서,
    상기 가이드 돌출부의 상기 검사 커넥터에 대향하는 면은,
    기결정된 외력 이상에서 용이하게 변형 가능한 탄성재질로 구성된, 표시 장치를 검사하기 위한 장치.
KR1020150180440A 2015-12-16 2015-12-16 표시 장치를 검사하기 위한 장치 KR102639116B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150180440A KR102639116B1 (ko) 2015-12-16 2015-12-16 표시 장치를 검사하기 위한 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150180440A KR102639116B1 (ko) 2015-12-16 2015-12-16 표시 장치를 검사하기 위한 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170072062A true KR20170072062A (ko) 2017-06-26
KR102639116B1 KR102639116B1 (ko) 2024-02-20

Family

ID=59282681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150180440A KR102639116B1 (ko) 2015-12-16 2015-12-16 표시 장치를 검사하기 위한 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102639116B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09304655A (ja) * 1996-05-09 1997-11-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 光コネクタおよび光コネクタアダプタ
JPH10239378A (ja) * 1997-02-24 1998-09-11 Sumitomo Wiring Syst Ltd オートロック式導通検査ユニット
KR20010062623A (ko) * 1999-12-24 2001-07-07 윌리엄 비. 켐플러 전기 소켓 장치
KR20080025834A (ko) * 2006-09-19 2008-03-24 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 구동 검사용 지그

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09304655A (ja) * 1996-05-09 1997-11-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 光コネクタおよび光コネクタアダプタ
JPH10239378A (ja) * 1997-02-24 1998-09-11 Sumitomo Wiring Syst Ltd オートロック式導通検査ユニット
KR20010062623A (ko) * 1999-12-24 2001-07-07 윌리엄 비. 켐플러 전기 소켓 장치
KR20080025834A (ko) * 2006-09-19 2008-03-24 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 구동 검사용 지그

Also Published As

Publication number Publication date
KR102639116B1 (ko) 2024-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR200461758Y1 (ko) 프로브블록
US8400177B2 (en) Device and method for testing display panel
US9103957B2 (en) Back light module and display device using the same
KR20160092366A (ko) 핀블록 및 이를 구비하는 검사 장치
KR101271216B1 (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
KR101322725B1 (ko) 프로브 유닛
KR101441618B1 (ko) 디스플레이 패널 검사용 프로버
KR101160076B1 (ko) 패널 테스트를 위한 필름타입 프로브블록
KR20160011734A (ko) 연성 인쇄회로 케이블 및 케이블 커넥터 어셈블리
KR20170009078A (ko) 카메라 모듈
KR200458537Y1 (ko) 패널 테스트를 위한 프로브블록
KR102500663B1 (ko) 하이브리드 핀보드
KR102233097B1 (ko) 액정 표시 장치
US9307644B2 (en) Connector assembly with an asymmetrically disposed alignment unit
KR100767191B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
CN111721979A (zh) 探针卡测试装置及其信号转接模块
KR101621062B1 (ko) 필름형 프로브 유닛
KR20170072062A (ko) 표시 장치를 검사하기 위한 장치
KR20100103332A (ko) 필름형 패키지를 테스트하기 위한 프로브 카드
JP2011060581A (ja) 基板固定部材及びバックライト装置
KR101529265B1 (ko) 전자 디바이스의 검사장치
KR20140110443A (ko) 프로브 카드
KR101895034B1 (ko) 논-포고 타입 커넥터를 포함하는 프로브 검사 장치
KR102484421B1 (ko) 인터페이스, 및 그 인테페이스를 포함하는 테스트 소켓과 테스트 소켓 모듈
KR101000456B1 (ko) 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant