KR20160136282A - 자벽 로직 디바이스들 및 인터커넥트 - Google Patents
자벽 로직 디바이스들 및 인터커넥트 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20160136282A KR20160136282A KR1020167022288A KR20167022288A KR20160136282A KR 20160136282 A KR20160136282 A KR 20160136282A KR 1020167022288 A KR1020167022288 A KR 1020167022288A KR 20167022288 A KR20167022288 A KR 20167022288A KR 20160136282 A KR20160136282 A KR 20160136282A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- free magnetic
- layer
- layers
- magnetic
- magnetic layers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
-
- H01L43/08—
-
- H01L43/02—
-
- H01L43/10—
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/18—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
- H10N50/85—Materials of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/20—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits characterised by logic function, e.g. AND, OR, NOR, NOT circuits
- H03K19/23—Majority or minority circuits, i.e. giving output having the state of the majority or the minority of the inputs
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
Abstract
Description
도 1a는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 강자성 재료를 통해 자벽들의 자율이동(automotion)을 생성하기 위한 장치를 도시한다.
도 1b는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 도 1a의 장치에 대한 전류 펄스 응답을 보여주는 그래프를 도시한다.
도 2는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 자벽 중계기를 도시한다.
도 3은 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 자벽 인버터를 도시한다.
도 4는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 출력을 제공하기 위한 자기 터널링 접합 디바이스를 갖는 자벽 중계기를 도시한다.
도 5는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 캐스케이드형 자벽 게이트를 도시한다.
도 6a는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 링 토폴로지에서의 스핀-토크 다수결 자벽 게이트의 평면도를 도시한다.
도 6b는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 링 토폴로지에서의 스핀-토크 다수결 게이트의 다차원도를 도시한다.
도 7은 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 링 토폴로지에서의 스핀-토크 다수결 자벽 게이트에서 자기 방향들에 대한 시뮬레이션 결과를 시간에 대해 도시한다.
도 8a는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 링 토폴로지에서의 3개의 팬-아웃을 갖는 스핀-토크 자벽 게이트의 평면도를 도시한다.
도 8b는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 링 토폴로지에서의 3개의 팬-아웃을 갖는 스핀-토크 자벽 게이트의 다방향도를 도시한다.
도 9는 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 3개의 팬-아웃을 갖는 스핀-토크 자벽 게이트에서 자기 방향들에 대한 시뮬레이션 결과를 시간에 대해 도시한다.
도 10은 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 링 토폴로지들에서의 스핀-토크 다수결 자벽 게이트들을 사용하는 1-비트 가산기를 도시한다.
도 11은 본 개시내용의 일 실시예에 따른, 자벽 로직 디바이스들 및 인터커넥트를 갖는 스마트 디바이스 또는 컴퓨터 시스템 또는 SoC(system-on-chip)이다.
Claims (24)
- 제1, 제2, 및 제3 자유 자기층들;
상기 제1 및 제3 자유 자기층들에 연결되는 제1 재료의 제1 금속층; 및
상기 제1 재료와 상이한 제2 재료의 제2 금속층- 상기 제2 금속층은 상기 제2 및 제3 자유 자기층들에 연결됨 -
을 포함하는 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제3 자유 자기층에 연결되는 전원 콘택트를 더 포함하는 장치. - 제2항에 있어서,
상기 제2 자유 자기층에 연결되는 접지 콘택트를 더 포함하는 장치. - 제3항에 있어서,
상기 전원 콘택트는 중계기의 기능을 달성하도록 포지티브 전원에 연결되는 장치. - 제3항에 있어서,
상기 전원 콘택트는 인버터의 기능을 달성하도록 네거티브 전원에 연결되는 장치. - 제2항에 있어서,
상기 제1 금속층은 입력을 형성하고, 상기 제2 금속층은 출력을 형성하는 장치. - 제2항에 있어서,
상기 제1 금속층은 로직 유닛에 연결되어 자벽(domain wall)으로 하여금 상기 제1 금속층을 통해 전파하게 하는 전류 펄스를 제공하는, 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 금속층은 주기율표의 백금족으로부터의 전이 금속으로 구성되는 장치. - 제8항에 있어서,
상기 주기율표의 백금족으로부터의 전이 금속은 루테늄(Ru)인 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제2 금속층은 구리(Cu)로 구성되는 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제3 자유 자기층은 상기 제1 및 제2 자기층들의 두께보다 두꺼운 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 금속층들은 서로 분리(decoupled)되는 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 또는 제2 자유 자기층들에 연결되는 자벽 디바이스를 더 포함하는 장치. - 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스(spin torque majority gate device)로서,
링으로 구성되는 자유 자기층; 및
상기 자유 자기층에 연결되는 제1, 제2, 제3 및 제4 자유 자기층들
을 포함하는 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 제14항에 있어서,
상기 제1 및 제3 자유 자기층들은 실질적으로 서로 평행한 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 제15항에 있어서,
상기 제2 및 제4 자유 자기층들은 상기 제2 및 제4 자유 자기층들이 상기 제1 및 제3 자유 자기층들에 실질적으로 수직이도록 실질적으로 서로 평행한 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 제14항에 있어서,
상기 제1, 제2, 및 제4 자유 자기층들은 상기 자유 자기층에 각각의 스핀 토크들을 제공하고, 상기 제3 자유 자기층은 상기 제1, 제2, 및 제4 자유 자기층들에서의 각각의 스핀 방향들에 따라서 로직 기능을 표시하는 출력을 제공하는 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 제14항에 있어서,
상기 제1 자유 자기층은 상기 자유 자기층에 스핀 토크를 제공하고, 상기 제2, 제3, 및 제4 자유 자기층들은 상기 제1 자유 자기층에서의 스핀 방향에 따라서 각각의 출력들을 제공하는 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 제14항에 있어서,
상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 자유 자기층들 각각은 장치 청구항들 1 내지 13 중 어느 한 항의 장치를 포함하는 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 제19항에 있어서,
상기 링으로 구성되는 자유 자기층은 각각의 제2 금속층들을 통해 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 자유 자기층들에 연결되는 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스. - 시스템으로서,
메모리;
상기 메모리에 연결되는 프로세서- 상기 프로세서는 장치 청구항들 1 내지 13 중 어느 한 항의 장치를 가짐 -; 및
상기 프로세서가 다른 디바이스에 연결되는 것을 허용하는 무선 인터페이스
를 포함하는 시스템. - 제21항에 있어서,
디스플레이 유닛을 더 포함하는 시스템. - 시스템으로서,
메모리;
상기 메모리에 연결되는 프로세서- 상기 프로세서는 청구항들 14 내지 20 중 어느 한 항의 스핀 토크 다수결 게이트 디바이스를 가짐 -; 및
상기 프로세서가 다른 디바이스에 연결되는 것을 허용하는 무선 인터페이스
를 포함하는 시스템. - 제23항에 있어서,
디스플레이 유닛을 더 포함하는 시스템.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/US2014/031781 WO2015147807A1 (en) | 2014-03-25 | 2014-03-25 | Magnetic domain wall logic devices and interconnect |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20160136282A true KR20160136282A (ko) | 2016-11-29 |
| KR102244098B1 KR102244098B1 (ko) | 2021-04-26 |
Family
ID=54196128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020167022288A Active KR102244098B1 (ko) | 2014-03-25 | 2014-03-25 | 자벽 로직 디바이스들 및 인터커넥트 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9847475B2 (ko) |
| EP (1) | EP3123537A4 (ko) |
| KR (1) | KR102244098B1 (ko) |
| CN (1) | CN106030840B (ko) |
| TW (1) | TWI565112B (ko) |
| WO (1) | WO2015147807A1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210098098A (ko) | 2020-01-31 | 2021-08-10 | 한국과학기술원 | 자구벽 논리소자 및 이의 제조방법 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3123537A4 (en) * | 2014-03-25 | 2018-02-14 | Intel Corporation | Magnetic domain wall logic devices and interconnect |
| US10217522B2 (en) * | 2016-05-23 | 2019-02-26 | Regents Of The University Of Minnesota | Fast magnetoelectric device based on current-driven domain wall propagation |
| US10553268B2 (en) * | 2016-09-30 | 2020-02-04 | Intel Corporation | Methods and apparatus to perform complex number generation and operation on a chip |
| EP3339871B1 (en) * | 2016-12-21 | 2019-08-07 | IMEC vzw | Inline wave majority gate device |
| US10361292B2 (en) * | 2017-02-17 | 2019-07-23 | Intel Corporation | Magneto-electric logic devices using semiconductor channel with large spin-orbit coupling |
| CN107732005B (zh) * | 2017-10-11 | 2020-08-18 | 华中科技大学 | 一种自旋多数门器件及逻辑电路 |
| CN109308924B (zh) | 2018-08-10 | 2021-01-01 | 复旦大学 | 一种计算器件及其计算方法 |
| US11043592B2 (en) * | 2018-08-17 | 2021-06-22 | Georgia Tech Research Corporation | Antiferromagnet field-effect based logic circuits including spin orbital coupling channels with opposing preferred current paths and related structures |
| EP3882995A1 (en) * | 2020-03-17 | 2021-09-22 | Antaios | Magnetoresistive element comprising discontinuous interconnect segments and magnetic memory comprising a plurality of the magnetoresistive element |
| JP7666919B2 (ja) * | 2020-12-15 | 2025-04-22 | Tdk株式会社 | 磁壁移動素子及び磁気アレイ |
| CN116491245A (zh) * | 2020-12-30 | 2023-07-25 | 华为技术有限公司 | 一种逻辑芯片及电子设备 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006060003A (ja) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Nec Corp | 磁性メモリ |
| JP2006128410A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子及びその製造方法 |
| KR20120098832A (ko) * | 2009-12-18 | 2012-09-05 | 인텔 코포레이션 | 스핀 토크 자성 집적 회로 및 그 디바이스 |
Family Cites Families (37)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004051629A1 (ja) * | 2002-12-05 | 2004-06-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 磁気ディスク装置及びその製造方法 |
| KR100835275B1 (ko) * | 2004-08-12 | 2008-06-05 | 삼성전자주식회사 | 스핀 주입 메카니즘을 사용하여 자기램 소자를 구동시키는방법들 |
| JP2005268570A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
| US6977181B1 (en) * | 2004-06-17 | 2005-12-20 | Infincon Technologies Ag | MTJ stack with crystallization inhibiting layer |
| KR100647319B1 (ko) * | 2005-02-05 | 2006-11-23 | 삼성전자주식회사 | 스핀 분극 전류를 이용한 멀티 비트 자기 메모리 소자와그 제조 및 구동 방법 |
| CN100514694C (zh) * | 2006-04-11 | 2009-07-15 | 中国科学院物理研究所 | 基于双势垒磁性隧道结的逻辑元件和磁逻辑元件阵列 |
| US7643332B2 (en) * | 2006-06-23 | 2010-01-05 | Infineon Technologies Ag | MRAM cell using multiple axes magnetization and method of operation |
| US8368421B2 (en) * | 2006-08-10 | 2013-02-05 | The Trustees Of Dartmouth College | Micromagnetic elements, logic devices and related methods |
| JP2008192827A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Alps Electric Co Ltd | トンネル型磁気検出素子 |
| JPWO2009014027A1 (ja) * | 2007-07-20 | 2010-09-30 | アルプス電気株式会社 | 入力装置 |
| EP2206119B1 (en) | 2007-10-19 | 2012-12-05 | SNU R&DB Foundation | Method for recording of information in magnetic recording element and method for recording of information in magnetic random access memory |
| US7898849B2 (en) * | 2007-12-05 | 2011-03-01 | Seagate Technology, Llc | Compound cell spin-torque magnetic random access memory |
| JP2009152333A (ja) * | 2007-12-20 | 2009-07-09 | Fujitsu Ltd | 強磁性トンネル接合素子、磁気ヘッド、及び磁気記憶装置 |
| US7893511B2 (en) * | 2008-07-17 | 2011-02-22 | Qimonda Ag | Integrated circuit, memory module, and method of manufacturing an integrated circuit |
| US7881104B2 (en) | 2008-08-08 | 2011-02-01 | Seagate Technology Llc | Magnetic memory with separate read and write paths |
| US8085581B2 (en) | 2008-08-28 | 2011-12-27 | Qualcomm Incorporated | STT-MRAM bit cell having a rectangular bottom electrode plate and improved bottom electrode plate width and interconnect metal widths |
| US7859892B2 (en) * | 2008-12-03 | 2010-12-28 | Seagate Technology Llc | Magnetic random access memory with dual spin torque reference layers |
| US20140062530A1 (en) | 2010-03-16 | 2014-03-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Switching mechanism of magnetic storage cell and logic unit using current induced domain wall motions |
| US8324697B2 (en) * | 2010-06-15 | 2012-12-04 | International Business Machines Corporation | Seed layer and free magnetic layer for perpendicular anisotropy in a spin-torque magnetic random access memory |
| US8604886B2 (en) | 2010-12-20 | 2013-12-10 | Intel Corporation | Spin torque oscillator having multiple fixed ferromagnetic layers or multiple free ferromagnetic layers |
| JP2012146727A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Sony Corp | 記憶素子及び記憶装置 |
| US8933521B2 (en) * | 2011-03-30 | 2015-01-13 | Intel Corporation | Three-dimensional magnetic circuits including magnetic connectors |
| JP5796349B2 (ja) * | 2011-05-23 | 2015-10-21 | ソニー株式会社 | 記憶素子の製造方法 |
| US8766383B2 (en) * | 2011-07-07 | 2014-07-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and system for providing a magnetic junction using half metallic ferromagnets |
| WO2013025994A2 (en) * | 2011-08-18 | 2013-02-21 | Cornell University | Spin hall effect magnetic apparatus, method and applications |
| JP2013115399A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-10 | Sony Corp | 記憶素子、記憶装置 |
| JP5867030B2 (ja) * | 2011-12-01 | 2016-02-24 | ソニー株式会社 | 記憶素子、記憶装置 |
| US8981503B2 (en) | 2012-03-16 | 2015-03-17 | Headway Technologies, Inc. | STT-MRAM reference layer having substantially reduced stray field and consisting of a single magnetic domain |
| JP2013232497A (ja) | 2012-04-27 | 2013-11-14 | Renesas Electronics Corp | 磁性体装置及びその製造方法 |
| JP2014072393A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Sony Corp | 記憶素子、記憶装置、磁気ヘッド |
| US8933522B2 (en) * | 2012-09-28 | 2015-01-13 | Intel Corporation | Repeated spin current interconnects |
| US8988109B2 (en) * | 2012-11-16 | 2015-03-24 | Intel Corporation | High speed precessionally switched magnetic logic |
| US8966521B2 (en) * | 2013-03-14 | 2015-02-24 | The Nielsen Company (Us), Llc | Methods and apparatus to present supplemental media on a second screen |
| JP6322976B2 (ja) * | 2013-11-29 | 2018-05-16 | 富士通株式会社 | 情報処理装置及びユーザ認証方法 |
| EP3123537A4 (en) * | 2014-03-25 | 2018-02-14 | Intel Corporation | Magnetic domain wall logic devices and interconnect |
| US9634241B2 (en) * | 2014-08-06 | 2017-04-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and system for providing magnetic junctions including Heusler multilayers |
| US9842988B2 (en) * | 2015-07-20 | 2017-12-12 | Headway Technologies, Inc. | Magnetic tunnel junction with low defect rate after high temperature anneal for magnetic device applications |
-
2014
- 2014-03-25 EP EP14887532.1A patent/EP3123537A4/en not_active Withdrawn
- 2014-03-25 WO PCT/US2014/031781 patent/WO2015147807A1/en not_active Ceased
- 2014-03-25 US US15/119,380 patent/US9847475B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-03-25 KR KR1020167022288A patent/KR102244098B1/ko active Active
- 2014-03-25 CN CN201480076331.1A patent/CN106030840B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-02-16 TW TW104105341A patent/TWI565112B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006060003A (ja) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Nec Corp | 磁性メモリ |
| JP2006128410A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子及びその製造方法 |
| KR20120098832A (ko) * | 2009-12-18 | 2012-09-05 | 인텔 코포레이션 | 스핀 토크 자성 집적 회로 및 그 디바이스 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210098098A (ko) | 2020-01-31 | 2021-08-10 | 한국과학기술원 | 자구벽 논리소자 및 이의 제조방법 |
| KR20210119941A (ko) | 2020-01-31 | 2021-10-06 | 한국과학기술원 | 자구벽 논리소자 및 이의 제조방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20170069831A1 (en) | 2017-03-09 |
| US9847475B2 (en) | 2017-12-19 |
| TWI565112B (zh) | 2017-01-01 |
| WO2015147807A1 (en) | 2015-10-01 |
| TW201603341A (zh) | 2016-01-16 |
| KR102244098B1 (ko) | 2021-04-26 |
| CN106030840B (zh) | 2019-03-01 |
| EP3123537A1 (en) | 2017-02-01 |
| EP3123537A4 (en) | 2018-02-14 |
| CN106030840A (zh) | 2016-10-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102244098B1 (ko) | 자벽 로직 디바이스들 및 인터커넥트 | |
| US10333523B2 (en) | Exclusive-OR logic device with spin orbit torque effect | |
| CN107004759B (zh) | 磁电器件和互连件 | |
| US10679782B2 (en) | Spin logic with spin hall electrodes and charge interconnects | |
| KR101802882B1 (ko) | 저항성 메모리를 사용하는 기억을 갖는 메모리 셀 | |
| CN107660304B (zh) | 用于逻辑器件和存储器件的金属自旋超晶格 | |
| US9805790B2 (en) | Memory cell with retention using resistive memory | |
| KR101753648B1 (ko) | 자기 상태 엘리먼트 및 회로 | |
| KR20160022809A (ko) | Mtj 스핀 홀 mram 비트-셀 및 어레이 | |
| US9997227B2 (en) | Non-volatile ferroelectric logic with granular power-gating | |
| US20150035070A1 (en) | Method and layout of an integrated circuit | |
| US9712171B2 (en) | Clocked all-spin logic circuit | |
| Sharad et al. | Spintronic switches for ultralow energy on-chip and interchip current-mode interconnects | |
| US11764786B2 (en) | Magnetoelectric majority gate device | |
| US10418975B2 (en) | Low clock supply voltage interruptible sequential | |
| US9755660B2 (en) | Apparatus for generating digital thermometer codes |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0105 | International application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A15-nap-PA0105 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U12-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
